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走査型電子顕微鏡・電子プローブ

走査型電子顕微鏡・電子プローブは全部で 182 項標準に関連している。

走査型電子顕微鏡・電子プローブ 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、分析化学、光学および光学測定、語彙、教育する、長さと角度の測定、空気の質、犯罪予防、熱力学と温度測定、電子表示装置、塗料とワニス、表面処理・メッキ、鉄鋼製品、金属材料試験、建材、電磁両立性 (EMC)、道路車両装置、セラミックス、塗料成分、医療科学とヘルスケア機器の統合。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂岩サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
GB/T 30834-2014 鋼中の非金属介在物の評価と統計走査型電子顕微鏡法
GB/T 30834-2022 鋼中の非金属介在物の評価と統計走査型電子顕微鏡法
GB/T 17361-1998 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法による堆積岩中の自生粘土鉱物の同定法
GB/T 17361-2013 マイクロビーム分析を用いた堆積岩中の自生粘土鉱物の同定のための走査型電子顕微鏡とエネルギー分光計法
GB/T 19267.6-2003 犯罪手法における微量証拠の物理的および化学的検査パート 6; 走査電子顕微鏡法
GB/T 17360-1998 鋼中の低含有Si、Mnの電子プローブ定量分析法
GB/T 17360-2008 鋼中の低含有Si、Mnの電子プローブ定量分析法
GB/T 28873-2012 ナノ粒子の生体形態効果に対する環境走査型電子顕微鏡検出法の一般原理

International Organization for Standardization (ISO), 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
ISO 18115-2:2010 表面化学分析用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
ISO 18115-2:2013 表面化学分析用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
ISO 13083:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、2D ドーピングイメージングなどの用途向けの SSRM や SCM など、走査型電子プローブ顕微鏡 (ESPM) における空間分解能と校正標準の定義。
ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
ISO 9220:1988 金属皮膜膜厚測定走査型電子顕微鏡
ISO 21222:2020 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順
ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
ISO 19749:2021 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
ISO 14966:2019 周囲空気無機繊維粒子の濃度数値測定走査型電子顕微鏡法
ISO 14966:2002 周囲空気無機繊維粒子の濃度数値測定走査型電子顕微鏡法

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理
JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法

British Standards Institution (BSI), 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

BS ISO 18115-2:2021 表面化学分析用語集走査型プローブ顕微鏡で使用される用語
BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析用語集走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
BS ISO 13083:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、2D ドーピングイメージングなどの用途向けの SSRM や SCM など、走査型電子プローブ顕微鏡 (ESPM) における空間分解能と校正標準の定義。
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 表面化学分析の用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語
BS EN ISO 9220:1989 金属皮膜皮膜厚さ測定走査型電子顕微鏡法
BS EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定
BS ISO 21222:2020 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順
BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の決定手順
21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属コーティングのコーティング厚さの測定走査型電子顕微鏡
BS ISO 19749:2021 ナノテクノロジーでは走査型電子顕微鏡を使用して粒子サイズと形状分布を測定します
BS EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
BS ISO 14966:2019 走査型電子顕微鏡による大気中の無機繊維粒子の濃度数値測定
18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
18/30351679 DC BS ISO 19749 ナノテクノロジー走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
BS ISO 14966:2002 周囲空気無機繊維粒子の濃度数値測定走査型電子顕微鏡法
18/30375050 DC BS ISO 14966 周囲空気中の無機繊維粒子の数値濃度の測定走査型電子顕微鏡
19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Professional Standard - Machinery, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

JB/T 6842-1993 走査型電子顕微鏡検査方法
JB/T 5384-1991 走査型電子顕微鏡。技術的条件

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

JJG(教委) 11-1992 走査型電子顕微鏡の校正手順
JJG 550-1988 走査型電子顕微鏡のパイロット校正手順

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

KS I 0051-1999(2019) 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS M 0044-1999 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS I 0051-1999 走査型電子顕微鏡検査法の一般原則
KS D ISO 22493-2012(2017) マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡用語集
KS D ISO 22493:2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
KS D ISO 9220:2009 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
KS D ISO 9220-2009(2022) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
KS D ISO 9220-2009(2017) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
KS D ISO 16700-2013(2018) マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像倍率校正ガイド

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法

KR-KS, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡画像倍率校正ガイド
KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
KS C ISO 19749-2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定

Professional Standard - Education, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

JY/T 0584-2020 走査型電子顕微鏡分析法の一般原則
JY/T 010-1996 分析走査型電子顕微鏡法の一般原理

RU-GOST R, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

GOST 8.593-2009 国家測定均一性保証制度原子間力走査型プローブ顕微鏡識別方法
GOST R 8.635-2007 国家測定均一性保証制度原子間力走査型プローブ顕微鏡校正方法
GOST R 8.594-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム走査型電子顕微鏡
GOST R 8.636-2007 国家測定均一性保証制度走査型電子顕微鏡校正方法
GOST 8.594-2009 国家測定均一性保証制度走査型電子顕微鏡識別方法
GOST R 8.631-2007 国家測定均一性保証制度走査型電子測定顕微鏡検証方法
GOST R 8.700-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度原子間力走査型プローブ顕微鏡を用いた表面粗さ効果高度測定法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E986-04 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E986-04(2010) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E986-97 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E986-04(2017) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
ASTM E2142-08(2015) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
ASTM E2142-08 走査型電子顕微鏡を使用した鉄中の介在物を等級分けおよび分類するための標準的な試験方法
ASTM E2142-08(2023) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
ASTM C1723-16(2022) 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM C1723-10 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM C1723-16 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
ASTM E2142-01 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の不純物の評価と分類のための標準試験方法
ASTM B748-90(1997) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM B748-90(2006) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM D8231-19 屋根や防水膜の亀裂を検出して位置を特定するための低電圧電子スキャンシステムの使用
ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
ASTM D605-82(1996)e1 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
ASTM D6059-96(2011) 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
ASTM B748-90(2010) 走査型電子顕微鏡による断面の測定による金属コーティングの厚さを測定するための標準試験方法
ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM B748-90(2021) 走査型電子顕微鏡を使用して断面を測定することにより、金属コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
ASTM E1588-95(2001) 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-08 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-10 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-95 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
ASTM B748-90(2016) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを測定する試験方法

Professional Standard - Petroleum, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

DB31/T 297-2003 走査型電子顕微鏡の倍率校正方法

国家能源局, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Association of German Mechanical Engineers, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

VDI 3866 Blatt 5-2004 走査型電子顕微鏡による技術製品中のアスベストの測定
VDI 3866 Blatt 5-2017 走査型電子顕微鏡による技術製品中のアスベストの測定
VDI 3861 Blatt 2-2008 走査型電子顕微鏡による固定発生源から排出される排ガス中の無機繊維粒子の測定
VDI 3492-2004 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡
VDI 3492-2013 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡

Association Francaise de Normalisation, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
NF A91-108:1995 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
NF EN ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
NF T25-111-4:1991 炭素繊維 - テクスチャーと構造 - パート 4: 走査型電子顕微鏡によるフラクトグラフィー
NF EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定

Professional Standard - Judicatory, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

SF/T 0139-2023 土壌検査走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分析

Group Standards of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

T/QGCML 1940-2023 走査電子顕微鏡その場高温機械試験装置
T/CSTM 00229-2020 走査型電子顕微鏡とエネルギー分光法による塗料中のグラフェン材料の測定
T/SPSTS 030-2023 走査型電子顕微鏡を使用したグラフェン材料のシートサイズ測定
T/CSTM 00346-2021 鋼中の介在物の自動分類と統計走査型電子顕微鏡分光法

SE-SIS, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

SIS SS-ISO 9220:1989 金属コーティング。膜厚測定。走査型電子顕微鏡法
SIS SS CECC 00013-1985 基本仕様。半導体チップの走査型電子顕微鏡観察

European Committee for Standardization (CEN), 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

EN ISO 9220:2022 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
EN ISO 9220:1994 金属被覆コーティング厚さ測定走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220-1988)
EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
prEN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

Danish Standards Foundation, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

DS/EN ISO 9220:1995 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
DS/ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します

German Institute for Standardization, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

DIN EN ISO 9220:2022-05 金属皮膜 - 皮膜厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡
DIN EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法
DIN EN ISO 19749:2023-07 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定 (ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995 金属コーティング、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)、ドイツ語版 EN ISO 9220:1994

Professional Standard - Public Safety Standards, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1938-2021 法医学金属検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1937-2021 法医学ゴム検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1522-2018 法医学銃撃残渣検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1521-2018 法医学プラスチック元素組成検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1519-2018 法医学トナー元素組成検査走査電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 909-2010 痕跡証拠の抽出およびパッケージング方法射撃残渣を検出するための走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法
GA/T 1520-2018 法医学黒色火薬および火工品火薬の元素組成検査走査型電子顕微鏡/X 線エネルギー分光法

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

DB32/T 3459-2018 グラフェンフィルムの微小領域の被覆率をテストするための走査型電子顕微鏡法

ES-UNE, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

UNE-EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定方法
UNE-EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します

Society of Automotive Engineers (SAE), 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

SAE J1752-2-2003 集積回路の放射エミッション測定表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz
SAE J1752/2-1995 集積回路の放射性エミッション測定表面走査法（ループプローブ法） 10Mhz～3Ghz
SAE J1752/2-2011 集積回路からの放射妨害波の測定表面走査法（ループプローブ法） 10 MHz ～ 3 GHz
SAE J1752/2-2016 集積回路からの放射妨害波の測定表面走査法（ループプローブ法） 10 MHz ～ 3 GHz
SAE J1752/2-2003 集積回路からの放射妨害波の測定表面走査法（ループプローブ法） 10 MHz ～ 3 GHz

SAE - SAE International, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

SAE J1752-2-2016 集積回路の放射エミッション測定表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz

AENOR, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

UNE-EN ISO 9220:1996 走査型電子顕微鏡による金属コーティングのコーティング厚さの測定 (ISO 9220:1988)

Lithuanian Standards Office , 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

LST EN ISO 9220:2001 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)

American National Standards Institute （ANSI), 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

ANSI/ASTM D6059:2001 走査型電子顕微鏡を使用して作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカーの濃度を測定する方法

AT-ON, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

OENORM EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

Professional Standard - Commodity Inspection, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

SN/T 2649.1-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その1：X線回折・走査型電子顕微鏡法

PT-IPQ, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

NP 3081-1985 電子部品。マイクロエレクトロニクススキャニングにおける半導体チップ検査、基本仕様

未注明发布机构, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

BS CECC 13:1985(1999) 電子部品の品質評価連携体制：基本仕様：半導体チップの走査型電子顕微鏡検査

Professional Standard - Aviation, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

HB 8422-2014 合金中の微量元素の電子プローブ定量分析法

BE-NBN, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

NBN EN ISO 9220:1995 金属保護層。保護層の厚さの測定: 走査型電子顕微鏡 (ISO 9220-1988) を使用

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 走査型電子顕微鏡・電子プローブ

GB/T 35099-2018 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡・エネルギー分光法大気微粒子の単一粒子形態および元素分析