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電子の回折

電子の回折は全部で 24 項標準に関連している。

電子の回折 国際標準分類において、これらの分類：金属材料試験、分析化学、長さと角度の測定、語彙、光学機器、光学および光学測定、消防。

工业和信息化部, 電子の回折

YB/T 4677-2018 鋼の電子後方散乱回折 (EBSD) 法における集合組織の決定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子の回折

GB/T 20724-2006 結晶厚が薄い場合の収束電子回折測定法
GB/T 36165-2018 電子後方散乱回折 (EBSD) 法による金属の平均粒径の測定
GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
GB/T 19501-2004 電子後方散乱回折分析法の一般原則
GB/T 19501-2013 マイクロビーム解析の一般原理電子後方散乱回折解析法
GB/T 38532-2020 マイクロビーム分析電子後方散乱回折平均粒径の決定

Association Francaise de Normalisation, 電子の回折

NF X21-014:2012 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、平均粒子径の測定
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 マイクロビーム分析のための電子後方散乱回折方向測定のガイド
NF ISO 24173:2009 マイクロビーム解析後方散乱電子回折方位測定ガイド

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子の回折

GB/T 20724-2021 マイクロビーム分析収束ビーム電子回折薄い結晶の厚さの測定
GB/T 41076-2021 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量分析電子後方散乱回折

British Standards Institution (BSI), 電子の回折

BS ISO 24173:2009 マイクロビーム解析、後方散乱電子回折を使用した方位角測定の基準
BS ISO 23749:2022 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量的測定後方散乱電子回折
21/30398224 DC BS ISO 23749 マイクロビーム分析による後方散乱電子回折による鋼中のオーステナイトの定量的測定
BS ISO 13067:2020 マイクロビーム解析電子後方散乱回折平均粒径の測定

RU-GOST R, 電子の回折

GOST R 8.696-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度結晶の面間隔と回折パターンの輝度分布電子線回折装置による測定
GOST R ISO 13067-2016 測定の一貫性を確保するための国家システムマイクロビーム分析後方散乱電子回折平均粒子径の測定

International Organization for Standardization (ISO), 電子の回折

ISO 23749:2022 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、鋼中のオーステナイトの定量
ISO/CD 23699 マイクロビーム解析—後方散乱電子回折—語彙

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電子の回折

GB/T 34172-2017 マイクロビーム解析後方散乱電子回折金属・合金の位相解析法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子の回折

ASTM E2627-13 完全に再結晶化された多結晶材料の電子後方散乱回折 (EBSD) を使用して平均粒子サイズを決定するための標準的な手法

United States Navy, 電子の回折

NAVY UFGS-01 33 29-2010 低エネルギー電子回折 (TM) ファイル

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子の回折

DB31/T 1156-2019 電気火災メルトマーク技術識別電子後方散乱回折法

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