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電子顕微鏡法

電子顕微鏡法は全部で 14 項標準に関連している。

電子顕微鏡法 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 光学機器、 光学および光学測定、 空気の質。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子顕微鏡法

• GB/T 18907-2013 マイクロビーム解析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、選択電子回折分析法
• GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡法

• ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
• ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
• ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
• ISO 24639:2022 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光法による元素分析のためのエネルギースケーリング手順。

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡法

• BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
• BS ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、電子顕微鏡分析、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
• BS ISO 24639:2022 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
• 20/30380369 DC BS ISO 23420 マイクロビーム分析 電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 エネルギー分解能の測定
• 21/30404763 DC BS ISO 24639 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
• 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡法

• ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
• ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法

その他：   SEM, 電子顕微鏡法, SEM, 電子顕微鏡, 電子顕微鏡＋電子分光法, 電子顕微鏡, 電子顕微鏡法, 電子顕微鏡で観る, 透過型電子顕微鏡, 電子顕微鏡で観る, 電子顕微鏡 + エレクトロニクス, 電子顕微鏡 電子回折, 電子透過型電子顕微鏡, TEM, 電子顕微鏡法, TEM, TEM 電子, SEM, 電子顕微鏡電子分析, 電子回折電子顕微鏡.