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電子エネルギースペクトル -

電子エネルギースペクトル -は全部で 152 項標準に関連している。

電子エネルギースペクトル - 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、総合電子部品、非破壊検査、長さと角度の測定、光学および光学測定、電気、磁気、電気および磁気測定、光学機器、金属材料試験、電気および電子試験、半導体材料、非鉄金属。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子エネルギースペクトル -

GB/T 41072-2021 表面化学分析電子分光法 UV光電子分光法ガイド
GB/T 41073-2021 表面化学分析の基本要件電子エネルギー分光法 X 線光電子分光法ピークフィッティングレポート
GB/T 41064-2021 表面化学分析深さ方向プロファイリング単層膜および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法および二次イオン質量分析法における深さ方向プロファイリングのスパッタリング率を決定する方法
GB/T 36504-2018 プリント基板の表面汚染物質の分析オージェ電子分光法
GB/T 36533-2018 オージェ電子分光法によるケイ酸塩中の微粒子鉄の化学状態の測定
GB/T 36401-2018 表面化学分析報告書 X線光電子分光法による薄膜分析結果
GB/T 29732-2021 表面化学分析用中分解能オージェ電子分光計の元素分析用エネルギースケールの校正

Professional Standard - Electron, 電子エネルギースペクトル -

SJ/T 10458-1993 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法におけるサンプルハンドリングの標準ガイド
SJ/T 10457-1993 オージェ電子分光法の詳細な分析のための標準ガイドライン
SJ/T 10714-1996 X線光電子分光装置の動作特性を確認する標準的な方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子エネルギースペクトル -

KS D 2518-2005 カドミウム光電子分光法
KS D 2518-1982 カドミウム光電子分光法
KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性
KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
KS D ISO 19319:2005 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析における均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイドラインオージェ電子分光法および X 線光電子分光法
KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光法帯電制御・帯電補正法レポート
KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法 - 選択された機器の性能パラメータの説明
KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化学分析における中分解能オージェ電子分光計の元素分析用のエネルギースケールの校正
KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化学分析用の高分解能オージェ電子分光計の元素および化学状態分析のためのエネルギースケールの校正

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 電子エネルギースペクトル -

JJG(教委) 09-1992 電子エネルギー分光計の校正手順

Professional Standard - Education, 電子エネルギースペクトル -

JY/T 013-1996 電子分光計法の一般原理

Professional Standard - Agriculture, 電子エネルギースペクトル -

JJG(教委) 013-1996 電子エネルギー分光計の校正手順

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子エネルギースペクトル -

ASTM E996-10(2018) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-19 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E995-11 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド除去技術の適用に関する標準ガイド
ASTM E2108-16 X線光電子分光計の電子結合エネルギースケールの標準的な手法
ASTM E1217-11(2019) オージェ電子分光計および一部の X 線光電子分光計で検出される信号のサンプル領域を決定するための標準的な手法
ASTM E995-16 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド減算技術の標準ガイド
ASTM E1127-91(1997) オージェ電子分光法における深さプロファイリングの標準ガイド
ASTM E1127-08(2015) オージェ電子分光法における深さプロファイリングの標準ガイド
ASTM E1127-08 オージェ電子分光法における深さプロファイリングの標準ガイド
ASTM E996-04 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-10 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E2735-14(2020) X線光電子分光法に必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
ASTM E1523-97 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E1523-15 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E902-94(1999) X線光電子分光装置の動作特性を確認するための標準的な方法
ASTM E984-95(2001) オージェ電子分光法における化学効果とマトリックス効果を特定するための標準ガイド
ASTM E984-95 オージェ電子分光法における化学効果とマトリックス効果を特定するための標準ガイド
ASTM E984-12(2020) オージェ電子分光法における化学効果とマトリックス効果を特定するための標準ガイド
ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法
ASTM E984-06 化学効果およびマトリックス効果の同定におけるオージェ電子分光法の応用に関する標準ガイド
ASTM E984-12 オージェ電子分光法を使用して化学効果とマトリックス効果を特定するための標準ガイド

International Organization for Standardization (ISO), 電子エネルギースペクトル -

ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピークフィッティングの最小レポート要件
ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
ISO 17109:2022 表面化学分析、深さプロファイリング、単層および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、および二次イオン質量分析法におけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO/TR 19319:2003 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
ISO/TR 18394:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、化学情報の抽出
ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 線光電子分光法バックグラウンド測定手順
ISO 29081:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、帯電制御および帯電調整のためのレポート方法。
ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
ISO 16242:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポート
ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
ISO 14701:2011 表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
ISO/DIS 17973:2023 表面化学分析における元素分析エネルギー準位の分解能オージェ電子分光計の校正
ISO/CD 17973 表面化学分析における分解能オージェ電子分光計の元素分析のためのエネルギースケールの校正
ISO 20903:2019 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - ピーク強度と結果報告時に必要な情報を決定するために使用される方法
ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
ISO 19668:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、均質材料の元素検出限界の推定と報告。

British Standards Institution (BSI), 電子エネルギースペクトル -

BS ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピークフィッティングの最小レポート要件
BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 20903:2019 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法ピーク強度の決定方法と結果報告時に必要な情報
BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
BS ISO 18118:2015 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析からの化学情報の導出オージェ電子分光法
BS ISO 17109:2022 表面化学分析深さプロファイリング単層膜および多層膜の X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析実験的に決定された相対感度係数を使用したオージェ電子分光法および X 線光電子分光法を使用した均質材料の定量分析のためのガイド
BS ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
BS ISO 29081:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、帯電制御および帯電調整のためのレポート方法。
BS ISO 15471:2016 表面化学分析用のオージェ電子分光法用に選択された機器の性能パラメーターの説明
BS ISO 16242:2011 表面化学分析 - オージェ電子分光法 (AEC) のデータの記録と報告
BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析シリコン酸化膜厚測定
BS ISO 14701:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、シリカ厚さ測定
PD ISO/TR 23173:2021 表面化学分析電子分光法ナノ粒子コーティングの厚さと組成の測定
BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法のレポート
BS ISO 17973:2016 表面化学分析における分解能オージェ電子分光計の元素分析のためのエネルギースケールの校正
20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法の報告
BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X 線光電子分光法均質材料における元素検出限界の推定と報告
BS ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子エネルギースペクトル -

GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
GB/T 31470-2015 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法検査における検出信号に対応する試料面積を決める一般則
GB/T 26533-2011 オージェ電子分光分析法の一般原理
GB/T 25184-2010 X線光電子分光装置による識別方法
GB/T 19500-2004 X線光電子分光分析法の一般原理
GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
GB/T 29556-2013 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法分析装置で検出できる横分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
GB/T 31472-2015 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
GB/T 30702-2014 表面化学分析均質材料の定量分析におけるオージェ電子分光法および X 線光電子分光法の実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド
GB/Z 32494-2016 表面化学分析オージェ電子分光法化学情報の解釈
GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置エネルギースケールの校正
GB/Z 32490-2016 表面化学分析のためのX線光電子分光法を使用したバックグラウンド測定手順
GB/T 25187-2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメータの表現
GB/T 25185-2010 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
GB/T 29558-2013 表面化学分析用のオージェ電子分光強度スケールの再現性と一貫性
GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法選択された機器の性能パラメーターの表現
GB/T 25188-2010 X線光電子分光法によるシリコンウェーハ表面の極薄酸化シリコン層の厚さの測定
GB/T 28633-2012 表面化学分析、X 線光電子分光法、強度スケールの再現性と一貫性
GB/T 43598-2023 X線光電子分光法によるナノテクノロジーグラフェン粉末の酸素含有量と炭素酸素比の測定
GB/T 29731-2013 表面化学分析高分解能オージェ電子分光計元素および化学状態分析のためのエネルギースケール校正

未注明发布机构, 電子エネルギースペクトル -

BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の横方向分解能の測定
BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
BS ISO 17974:2002(2010) 表面化学分析および元素および化学状態分析用の高分解能オージェ電子分光計のエネルギー準位の校正

German Institute for Standardization, 電子エネルギースペクトル -

DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
DIN ISO 16242:2020-05 界面化学分析は、オージェ電子分光法 (AES) でデータを記録および報告します。
DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 表面化学分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト
DIN ISO 16242:2020 表面化学分析のためのオージェ電子分光法 (AES) によるデータの記録とレポート (ISO 16242:2011)、英語テキスト

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電子エネルギースペクトル -

GB/T 35158-2017 オージェ電子分光計の校正方法
GB/T 22571-2017 表面化学分析用X線光電子分光装置のエネルギースケールの校正
GB/T 32998-2016 表面化学分析のためのオージェ電子分光法による帯電制御および補正方法の報告に関する仕様要件
GB/T 32565-2016 表面化学分析のためのオージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポートの仕様要件
GB/T 33502-2017 表面化学分析のための X 線光電子分光法 (XPS) データの記録とレポートの仕様要件

Professional Standard - Machinery, 電子エネルギースペクトル -

JB/T 6976-1993 オージェ電子分光法による元素同定法

Association Francaise de Normalisation, 電子エネルギースペクトル -

NF X21-071:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
NF ISO 16242:2012 界面化学分析オージェ電子分光法 (AES) データのログ記録とレポート作成
NF ISO 24236:2006 表面化学分析におけるオージェ電子スペクトルのエネルギー準位の再現性と一定性
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析、オージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポート
NF ISO 29081:2010 表面化学分析におけるオージェ電子分光法の帯電制御と補正に使用する方法の表示
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート
NF ISO 17973:2006 表面化学分析における分解能オージェ電子分光計の元素分析のためのエネルギースケールの校正
NF X21-058:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定に使用される方法および結果の報告に必要な情報
NF ISO 17974:2009 元素および化学状態分析のための表面化学分析用の高分解能オージェ電子分光計のエネルギースケール校正

KR-KS, 電子エネルギースペクトル -

KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析・X線光電子分光装置・エネルギースケールの校正

Group Standards of the People's Republic of China, 電子エネルギースペクトル -

T/ZSA 39-2020 グラフェンの試験方法仕事関数の決定 UV光電子分光法
T/ZGIA 002-2020 グラフェンの試験方法仕事関数の決定 UV光電子分光法
T/CSTM 01199-2024 多層金属薄膜の層構造測定・解析方法 X線光電子分光法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子エネルギースペクトル -

JIS K 0152:2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析強度スケールの再現性と一貫性
JIS K 0167:2011 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法均質材料の定量分析における相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイドライン

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 電子エネルギースペクトル -

YS/T 644-2007 白金 - ルテニウム合金膜の試験方法 X 線光電子分光法による合金化白金および合金化ルテニウムの含有量の測定。

Standard Association of Australia （SAA）, 電子エネルギースペクトル -

AS ISO 19319:2006 表面化学分析。オーギュル電子分光法とX線光電子分光法。分析者の横方向解像度の目視検査、分析領域とサンプル領域