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電界放出型スキャン スキャン

電界放出型スキャン スキャンは全部で 312 項標準に関連している。

電界放出型スキャン スキャン 国際標準分類において、これらの分類：交通機関、 写真撮影のスキル、 物理学、化学、 医療機器、 非破壊検査、 電子表示装置、 光学機器、 光ファイバー通信、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 非鉄金属製品、 語彙、 犯罪予防、 非鉄金属、 電磁両立性 (EMC)、 道路車両装置、 印刷技術、 情報技術の応用、 電子管、 音響および音響測定、 乗用車、キャラバン、軽トレーラー、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 計測学と測定の総合、 放射線防護、 土壌品質、土壌科学、 光学および光学測定、 塗料とワニス、 地質学、気象学、水文学、 無駄、 原子力工学、 分析化学、 空気の質、 潤滑剤、工業用油および関連製品、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング。


Professional Standard - Medicine, 電界放出型スキャン スキャン

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 電界放出型スキャン スキャン

  • GJB 2666-1996 走査型反射ベリリウムミラーの仕様
  • GJB 2666A-2018 走査型反射ベリリウムミラーの仕様
  • GJB 8683.11-2015 火工品の物理パラメータの試験方法 パート 11: 自然発火温度の決定 示差熱分析および示差走査熱量測定

IN-BIS, 電界放出型スキャン スキャン

  • IS 9782-1981 テレビスキャンジェネレーターの仕様

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 電界放出型スキャン スキャン

Indonesia Standards, 電界放出型スキャン スキャン

  • SNI 03-7066-2005 空港乗客および貨物スキャン システム
  • SNI IEC/TR 61948-3:2012 核医学機器 - 定期テスト - パート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー
  • SNI IEC/TR 61948-2:2012 核医学機器 - 定期テスト - パート 2: シンチレーション カメラと単一光子放出コンピュータ断層撮影イメージング

能源部, 電界放出型スキャン スキャン

  • SY/T 5564-1993 バイブロセイス コード化スキャン ジェネレーター

TIA - Telecommunications Industry Association, 電界放出型スキャン スキャン

  • 455-164-1986 走査型ファーフィールドファイバーシングルモードモードフィールド径測定
  • EIA/TIA-455-164A-1991 FOTP-164 シングルモード光ファイバーファーフィールド走査モードフィールド径測定
  • EIA/TIA-455-165A-1993 FOTP-165 ニアフィールドスキャン技術によりモードフィールド径を測定

ESD - ESD ASSOCIATION, 電界放出型スキャン スキャン

  • SP14.5-2015 近接場イミュニティ スキャン コンポーネント/モジュール/PCB レベル

British Standards Institution (BSI), 電界放出型スキャン スキャン

  • BS ISO 16067-1:2003 写真撮影、写真イメージング用電子スキャナの空間解像度の測定、反射媒体用スキャナ
  • PD IEC/TR 61948-3:2018 核医学機器 日常検査 陽電子放出断層撮影
  • PD IEC/TS 61967-3:2014 電磁放射測定用集積回路からの放射を測定するための表面走査法
  • BS ISO 15708-1:2017 非破壊検査 コンピュータ断層撮影放射線法 用語
  • BS ISO 15708-4:2017 非破壊検査 コンピュータ断層撮影放射線法 識別
  • BS EN IEC 61675-1:2022 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 陽電子放射断層撮影装置
  • BS EN 16016-1:2011 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、用語
  • BS EN 16016-4:2011 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、身元確認
  • BS PD IEC/TS 61967-3:2014 集積回路 電磁放射線の測定 放射放射線の測定 表面走査法
  • BS ISO 15708-3:2017 非破壊検査 CT照射法 操作方法と注意事項
  • BS ISO 23159:2020 非破壊検査用プロセスカラムのガンマ線走査法
  • PD IEC/TR 61967-1-1:2015 集積回路の電磁放射測定の一般条件と定義、ニアフィールドスキャンデータ交換フォーマット
  • BS EN 16016-3:2011 非破壊検査、放射線照射法、コンピュータ断層撮影法、操作および説明書
  • BS EN ISO 15708-1:2019 放射線法 非破壊検査の用語 コンピュータ断層撮影法
  • 19/30373364 DC BS ISO 23159 非破壊検査用プロセスカラムのガンマ線スキャン方法
  • BS EN ISO 15708-4:2019 非破壊検査用CTの放射線照射法の認定
  • BS DD IEC/TS 61967-3:2005 集積回路 150kHz ～ 1GHz の電磁放射の測定 放射状放射の測定 表面走査法
  • BS ISO 15708-2:2017 非破壊検査、コンピュータ断層撮影放射線法、原理、装置、サンプル
  • PD IEC TR 61948-2:2019 核医学機器の日常検査 シンチレーションカメラと単一光子放出コンピュータ断層撮影イメージング
  • BS EN ISO 15708-3:2019 非破壊検査用CTの放射線法の操作と解釈
  • 20/30423980 DC BS EN IEC 61675-1。 放射性核種イメージング装置。 特性と試験条件。 パート 1. 陽電子放射断層撮影法
  • BS EN 12543-1:1999 非破壊検査 非破壊検査用工業用X線装置の焦点特性 スキャン方式
  • BS EN 12543-1:1999(2008) 非破壊検査 非破壊検査用工業用X線装置の焦点特性 スキャン方式
  • BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 集積回路、電磁放射線管理、パート 1-1: 定義と一般条件、おおよそのフィールド スキャン データ交換フォーマット
  • 18/30335408 DC BS IEC 62963 放射線防護器具瓶/缶液体 X 線コンピュータ断層撮影 (CT) 検査システム
  • BS PD IEC/TS 62132-9:2014 集積回路 電磁イミュニティの測定 放射イミュニティの測定 表面走査法
  • BS EN ISO 15708-2:2019 非破壊検査用CTの放射線照射法の原理、装置、サンプル
  • PD IEC/TS 62132-9:2014 集積回路の電磁イミュニティの測定 放射イミュニティ測定のための表面走査法
  • BS IEC 62963:2020 放射線防護計器 ボトル/缶入り液体用の X 線コンピュータ断層撮影 (CT) 検出システム
  • BS IEC 62945:2018 放射線防護計器の測定 X 線コンピュータ断層撮影 (CT) 保安検査システムの画像性能
  • BS ISO 17123-9:2018 光学および光学機器 測地および測量機器のフィールド試験手順 地上レーザースキャナ
  • BS ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡における横方向分解能の定義と校正
  • BS EN 60601-2-44:2009+A2:2016 医用電気機器のコンピュータ断層撮影装置および X 線装置の基本的な安全性と基本性能に関する特別な要件
  • BS EN 60601-2-44:2009 医用電気機器 - コンピューター断層撮影 X 線装置の基本的な安全性と必須性能に関する詳細な要件
  • BS EN 60601-2-44:2009+A11:2011 医用電気機器 - コンピューター断層撮影 X 線装置の基本的な安全性と必須性能に関する詳細な要件
  • BS EN 60601-2-44:2009+A1:2012 医用電気機器 - コンピューター断層撮影 X 線装置の基本的な安全性と必須性能に関する詳細な要件
  • DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。
  • BS CWA 16008-10:2009 Java プラットフォーム用の J/Extensions for Financial Services (J/XFS) 2009 年リリース 紙幣リーダー/スキャナー用のデバイス レベルのインターフェイス プログラマーズ リファレンス

Group Standards of the People's Republic of China, 電界放出型スキャン スキャン

  • T/SAS 0003-2018 陽電子放出断層撮影用ゲルマニウム酸ビスマスシンチレーション結晶
  • T/CAB 0144-2022 CTスキャン装置 X線管再生陽極金属ターゲットディスク
  • T/CI 185-2023 パイプライン溶接 X 線写真のデジタル スキャン、識別、およびアーカイブに関する技術仕様
  • T/CIRA 42-2022 放射線加工用アルミニウム棒の電子加速器走査均一性検出法
  • T/CSIQ 3103-2015 陶芸作品の内部微細構造検査法 X線CT検査

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電界放出型スキャン スキャン

  • GB/T 39867-2021 陽電子放出断層撮影用ゲルマニウム酸ビスマスシンチレーション結晶

RU-GOST R, 電界放出型スキャン スキャン

  • GOST R 56109-2014 医用電気機器 陽電子放射断層撮影装置とコンピュータ断層撮影用 X 線装置を組み合わせたもの 政府調達の技術要件
  • GOST R 56123-2014 医用電気機器、単一光子放出コンピュータ断層撮影法、政府調達の技術要件
  • GOST R 56108-2014 医療用電気機器、陽電子放射断層撮影法、政府調達の技術要件

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), 電界放出型スキャン スキャン

  • NEMA NU 2-2001 NU 1:1994 に取って代わられる位置放射断層撮影スキャナーの性能測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電界放出型スキャン スキャン

  • KS A ISO 16067-1:2005 写真. 写真画像用の電子スキャナ. 空間解像度の決定. パート 1: 反射スキャナ.
  • KS A ISO 16067-1-2005(2020) 写真画像用電子スキャナの空間解像度の測定 - パート 1: 反射媒体用スキャナ
  • KS B ISO 23159:2022 非破壊検査 - プロセスカラムのガンマ線スキャン法
  • KS D 2713-2016 NSOM（近接場走査型光学顕微鏡）の空間分解能の評価
  • KS D 2713-2016(2021) NSOM（近接場走査型光学顕微鏡）の空間分解能の評価
  • KS C IEC TR 61948-3:2020 核医学機器の定期テスト パート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー
  • KS C IEC TR 61948-3:2017 核医学機器の定期テスト パート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー
  • KS B ISO 15708-1:2008 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、パート 1: 原則
  • KS C IEC 61675-2:2018 放射性核種イメージング装置 - 特性と試験条件 - 第 2 部: 単一光子放出コンピュータ断層撮影装置
  • KS B ISO 15708-1:2018 非破壊検査 - CTの放射線照射法 - 第1部：用語
  • KS B ISO 15708-2:2018 非破壊検査 - CTの放射線照射法 - 第2部：主な装置とサンプル
  • KS C IEC 61053-2:2005 タイプ B フォーマット 12.65 mm (0.5 インチ) テープを使用したスパイラル スキャン カセット ビデオ記録システム、FM 記録、パート 2: 525-60、フィールド システム
  • KS C IEC 61053-2-2005(2020) 12.65 mm (0.5 インチ) ベータフォーマットテープを使用したスパイラルスキャンカセットビデオシステムの FM 録音パート 2: 525 ライン 60 フィールドシステム

IT-UNI, 電界放出型スキャン スキャン

国家能源局, 電界放出型スキャン スキャン

US-FCR, 電界放出型スキャン スキャン

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電界放出型スキャン スキャン

  • ASTM E986-04 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E986-04(2010) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E1588-10e1 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
  • ASTM F1512-94(2011) スパッタターゲットバッキングコンポーネントの超音波 C-Scan 結合評価の標準手法
  • ASTM E1728-02 ワイプスキャンサンプリングを使用して鉛含有量を測定する現場での粉塵サンプル収集の標準的な方法
  • ASTM E1588-16 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析による撮影残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E1588-16a 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
  • ASTM E1588-17 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
  • ASTM C1718-10(2019) 断層撮影による放射性物質の非破壊測定のための標準検査法
  • ASTM C1718-10 トモグラフィーガンマスキャンを使用した放射性物質の非破壊分析のための標準的な検査方法
  • ASTM E1588-07 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-07e1 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
  • ASTM D7706-11 マイクロキャビティを使用して製品からの揮発性有機化合物の排出を迅速にスキャンするための標準操作手順
  • ASTM D8315-20 走査型平面電極発光分光法による使用済み工業用油中の摩耗金属および汚染元素を測定するための標準試験方法
  • ASTM E1728-99 原子分光法技術を使用して鉛含有量を測定するための走査サンプリングを使用した塵サンプルの現場収集の標準的な方法
  • ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法
  • ASTM D6966-13 原子分光法技術を使用して鉛含有量を測定するための走査サンプリングを使用した、塵サンプルの現場収集の標準試験方法
  • ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E2767-13(2018) 線コンピュータ断層撮影 (CT) 検査法の非破壊評価におけるデジタル画像および通信の標準的な実践 (DICOND)
  • ASTM E2767-21 線コンピュータ断層撮影 (CT) 検査法の非破壊評価におけるデジタル画像および通信の標準的な実践 (DICONDE)

American National Standards Institute （ANSI), 電界放出型スキャン スキャン

  • ANSI/EIA 455-174:1988 ファーフィールドナイフエッジスキャン法を使用したシングルモード光ファイバーのモードフィールド直径の決定
  • ANSI/EIA 455-174A:1994 ファーフィールドナイフエッジスキャン法を使用したシングルモード光ファイバーのモードフィールド直径の決定
  • ANSI/ASME B89.4.23-2020 X線コンピュータ断層撮影(CT)の性能評価
  • ANSI IT8.7/2-1993 グラフィカルなテクニック: スキャナーのキャリブレーション用に色付きの反射率インジケーターを入力します。
  • ANSI/ESD SP14.5-2021 静電気放電感度テスト近傍界イミュニティ コンポーネント/モジュール/PCB レベルのスキャン
  • ANSI/EIA 501-A:1990 ラスタースキャンビジュアルデジタルディスプレイを使用した陰極線管の X 線放射測定の推奨方法
  • ANSI N42.45-2010 X線コンピュータ断層撮影（CT）安全性スクリーニングシステムの画質評価基準

International Organization for Standardization (ISO), 電界放出型スキャン スキャン

  • ISO 16067-1:2003 写真：写真イメージング用電子スキャナの空間解像度の測定パート 1: 反射媒体用スキャナ
  • ISO 23159:2020 非破壊検査 プロセスカラムのガンマ線走査法
  • ISO 15708-4:2017 非破壊検査、コンピュータ断層撮影放射線法、パート 4: 識別
  • ISO 15708-1:2017 非破壊検査 コンピュータ断層撮影放射線法 第 1 部: 用語
  • ISO 15708-1:2002 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、パート 1: 原則
  • ISO/CD 15708-4:2023 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影放射線法 第 4 部: 資格
  • ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアーム カーボン ナノチューブの特性評価。
  • ISO 15708-3:2017 非破壊検査 CT 照射法 第 3 部 操作と指示
  • ISO/CD 15708-3:2023 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影照射法 第 3 部: 操作と解釈
  • ISO 15708-2:2017 非破壊検査 コンピュータ断層撮影放射線法 パート 2: 原理、装置、サンプル
  • ISO/CD 15708-2:2023 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影放射線照射法 第 2 部：原理、装置、サンプル
  • ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡の横方向分解能の定義と校正
  • ISO 17123-9:2018 光学および光学機器 - 測地機器を測定するための現場手順 - パート 9: 地上レーザー スキャナ

International Electrotechnical Commission (IEC), 電界放出型スキャン スキャン

  • IEC 47A/880/CD:2012 集積回路 電磁放射の測定 パート 3: 放射放射の測定 表面走査法
  • IEC 47A/900/CD:2013 IEC/TS 61967-3、第 2 版: 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射放射の測定、表面走査法
  • IEC 47A/925/DTS:2014 IEC/TS 61967-3、第 2 版: 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射放射の測定、表面走査法
  • IEC TR 61967-1-1:2015 集積回路、電磁放射の測定、パート 1-1: 一般条件と定義、近接場スキャン データ交換フォーマット
  • IEC 47A/912/CD:2013 IEC/TS 61967-3、第 2 版: 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射エミッションの測定、表面走査法
  • IEC 87/513/CD:2012 IEC/TS 62791: 超音波、パルス反射波スキャナ、センサータイプの広帯域グレースケール医療用超音波スキャナの性能テスト用の低エコー球体ファントム
  • IEC 87/526/CD:2013 IEC/TS 62791: 超音波、パルス反射波スキャナ、センサータイプの広帯域グレースケール医療用超音波スキャナの性能テスト用の低エコー球体ファントム
  • IEC TS 61967-3:2014 集積回路、電磁放射の測定、その 3: 放射状放射の測定、表面走査法
  • IEC 61675-2:2015 放射性核種イメージング装置 - 特性と試験条件 - 第 2 部: 単一光子放出コンピュータ断層撮影装置
  • IEC TR 61967-1-1:2010 集積回路、電磁放射線管理、パート 1: 定義と一般条件、おおよそのフィールド スキャン データ交換フォーマット
  • IEC 62963:2020 放射線防護機器、ボトル・缶入り液体のX線コンピュータ断層撮影（CT）検査装置
  • IEC 62945:2018 放射線防護機器 X 線コンピュータ断層撮影 (CT) セキュリティ検査システムの画像性能の測定
  • IEC 61967-1-1:2010 集積回路、電磁放射の測定、パート 1-1: 一般情報と定義、近接場スキャン データ交換フォーマット
  • IEC TS 61967-3:2005 集積回路 150 kHz ～ 1 GHz の電磁放射の測定 パート 3: 放射状放射の測定 表面走査法
  • IEC TS 62132-9:2014 集積回路 電磁イミュニティの測定 第9部 放射イミュニティの測定 表面走査法
  • IEC 47A/887/CD:2012 IEC/TS 62132-9、第 1 版: 基本回路、電磁イミュニティ測定、パート 9: 放射イミュニティ測定、表面走査法
  • IEC 47A/898/CD:2013 IEC/TS 62132-9、Ed1 集積回路、電磁イミュニティの測定 Part 9 放射イミュニティの測定 表面走査法
  • IEC 47A/924/DTS:2014 IEC/TS 62132-9、第 1 版: 集積回路、電磁イミュニティの測定、パート 9: 放射イミュニティの測定、表面走査法
  • IEC 61391-1:2017 超音波、パルス反射スキャナ、パート 1: 校正された空間測定システムとシステム点伝播関数応答の測定。
  • IEC 61391-1:2006 超音波、パルス反射スキャナ、パート 1: 校正された空間測定システムとシステム点伝播関数応答の測定。

American Society of Mechanical Engineers (ASME), 電界放出型スキャン スキャン

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), 電界放出型スキャン スキャン

  • SMPTE ST 2016-4-2014 パノラマスキャン情報の垂直補助データマッピング
  • SMPTE RP 199-2004 製品の元のアスペクト比を維持するために、ワイドスクリーン (16:9) でスキャンされた構造に画像をマッピングします。
  • SMPTE RP 199-1999 ワイドスクリーン (16:9) でスキャンされた構造で画像をマッピングし、作品の元のアスペクト比を維持

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電界放出型スキャン スキャン

  • GB/T 43618-2023 非破壊検査プロセスタワーガンマ線走査法
  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
  • GB/T 25758.1-2010 非破壊検査用工業用X線装置の特徴 その1：スキャン方式
  • GB/T 17361-1998 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法による堆積岩中の自生粘土鉱物の同定法
  • GB/T 19267.6-2008 犯罪技術的痕跡証拠の物理的および化学的検査 第 6 部: 走査型電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光法
  • GB/T 32869-2016 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によるナノテクノロジー単層カーボンナノチューブの特性評価方法

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 電界放出型スキャン スキャン

  • EIA-455-174-1988 FOTP-174. シングルモード光ファイバのモードフィールド径の遠視野ナイフエッジ走査試験

KR-KS, 電界放出型スキャン スキャン

  • KS B ISO 23159-2022 非破壊検査 - プロセスカラムのガンマ線スキャン法
  • KS C IEC TR 61948-3-2020 核医学機器の定期テスト パート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー
  • KS C IEC 61675-2-2018 放射性核種イメージング装置 - 特性と試験条件 - 第 2 部: 単一光子放出コンピュータ断層撮影装置
  • KS B ISO 15708-1-2018 非破壊検査 - CTの放射線照射法 - 第1部：用語
  • KS B ISO 15708-2-2018 非破壊検査 - CTの放射線照射法 - 第2部：主な装置とサンプル

GB-REG, 電界放出型スキャン スキャン

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電界放出型スキャン スキャン

  • JIS B 7442:2013 工業用 X 線コンピュータ断層撮影 (CT) システム。
  • JIS T 61675-1:2016 放射性核種イメージング装置 特性と試験条件 第1部 陽電子放射断層撮影装置

Professional Standard - Judicatory, 電界放出型スキャン スキャン

  • SF/T 0139-2023 土壌検査 走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分析

Danish Standards Foundation, 電界放出型スキャン スキャン

  • DS/IEC/TR 61948-3:2006 核医学機器の定期テスト パート 3: 陽電子放出断層撮影スキャナー
  • DS/EN 61675-1/A1:2008 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第1部：陽電子放出断層撮影装置
  • DS/EN 61675-1:1998 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第1部：陽電子放出断層撮影装置
  • DS/EN 16016-1:2011 非破壊検査 放射線法 コンピュータ断層撮影法 第 1 部: 用語
  • DS/EN 16016-4:2011 非破壊検査 放射線法 コンピュータ断層撮影法 パート 4: 識別
  • DS/EN 61675-2/A1:2005 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第2部：単光子放射型コンピュータ断層撮影装置
  • DS/EN 61675-2:1998 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第2部：単光子放射型コンピュータ断層撮影装置
  • DS/EN 16016-3:2011 非破壊検査 放射線法 コンピュータ断層撮影法 パート 3: 操作と解釈
  • DS/IEC/TR 61948-2:2003 核医学機器 - 日常検査 - パート 2: シンチレーション カメラと単一光子放出コンピュータ断層撮影イメージング
  • DS/EN 16016-2:2011 放射線法コンピュータ断層撮影の非破壊検査その2：原理、装置、サンプル
  • DS/EN 12543-1:2002 非破壊検査非破壊検査用工業用X線装置の特徴を中心に 第1部：スキャン方式
  • DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。

Society of Automotive Engineers (SAE), 電界放出型スキャン スキャン

  • SAE J1752-2-2003 集積回路の放射エミッション測定 表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz
  • SAE J1752/2-1995 集積回路の放射性エミッション測定 表面走査法（ループプローブ法） 10Mhz～3Ghz
  • SAE J1752/2-2011 集積回路からの放射妨害波の測定 表面走査法（ループプローブ法） 10 MHz ～ 3 GHz
  • SAE J1752/2-2016 集積回路からの放射妨害波の測定 表面走査法（ループプローブ法） 10 MHz ～ 3 GHz
  • SAE J1752/2-2003 集積回路からの放射妨害波の測定 表面走査法（ループプローブ法） 10 MHz ～ 3 GHz
  • SAE J1492-1998 エンジン加速度走査法を用いた軽自動車定置排気システムの騒音レベル測定
  • SAE J1752-2-2011 10 MHz ～ 3 GHz の集積回路表面走査法 (ループ検出法) を使用した放射エミッション測定

SAE - SAE International, 電界放出型スキャン スキャン

  • SAE J1752-2-2016 集積回路の放射エミッション測定 表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 電界放出型スキャン スキャン

  • ASHRAE SF-98-29-1-1998 走査型放射計（RP-822）を使ったオフィス機器の輻射熱利得の測定

工业和信息化部, 電界放出型スキャン スキャン

  • JB/T 13467-2018 非破壊検査 走査型レーザー励起超音波現場外観検査法

German Institute for Standardization, 電界放出型スキャン スキャン

  • DIN 6871-1:2003-02 陽電子放射断層撮影サイクロトロン システム パート 1: 建物の放射線防護要件
  • DIN 6855-4:2016-11 核医学機器の安定性試験その4：陽電子放出断層撮影法（PET）
  • DIN IEC/TS 61967-3:2015 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射エミッションの測定、表面走査法 (IEC/TS 61967-3-2014)
  • DIN EN ISO 15708-4:2019-09 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影放射線法 第 4 部: 資格
  • DIN EN ISO 15708-1:2019-09 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影放射線照射法 第 1 部：用語
  • DIN IEC/TS 61967-3:2012 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射エミッションの測定、表面走査法、集積回路 (IEC 47A/880/CD-2012)
  • DIN EN 14664:2005-02 陽電子放射断層撮影用のサイクロトロン システム - パート 2: 放射線防護迷路と壁の入り口
  • DIN 6871-2:2005-02 陽電子放射断層撮影用のサイクロトロン システム - パート 2: 放射線防護迷路と壁の入り口
  • DIN EN 14437:2005-02 陽電子放射断層撮影用のサイクロトロン システム - パート 2: 放射線防護迷路と壁の入り口
  • DIN EN IEC 61675-1:2022-12 放射性核種イメージング装置 - 特性と試験条件 - 第 1 部: 陽電子放射断層撮影法 (IEC 61675-1:2022)
  • DIN EN ISO 15708-3:2019-09 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影照射法 第 3 部: 操作と解釈
  • DIN 6862-2:2019-09 医療診断における放射線画像の認識と特徴付け パート 2: デジタル X 線撮影、デジタル X 線透視検査、コーンビーム CT および CT における X 線写真および関連記録の送信
  • DIN 6855-2:2013-01 核医学測定システムの安定性試験その2：平面シンチグラフィー用単結晶ガンマカメラと単光子放出断層撮影用回転検出器ヘッドを備えたAngry型ガンマカメラ
  • DIN EN ISO 15708-1:2019 非破壊検査用コンピュータ断層撮影法における放射線法パート 1: 用語 (ISO 15708-1:2017)
  • DIN EN ISO 15708-4:2019 非破壊検査用コンピュータ断層撮影の放射線法パート 4: 認定 (ISO 15708-4:2017)
  • DIN EN ISO 15708-2:2019-09 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影放射線照射法 第 2 部：原理、装置、サンプル
  • DIN EN 12543-1:1999-12 非破壊検査 非破壊検査 工業用X線装置の焦点特性 その1: スキャン方法
  • DIN IEC 62963:2020 放射線防護機器、ボトル/缶入り液体用の X 線コンピューター断層撮影 (CT) 検査システム (IEC 62963-2020)
  • DIN EN 12543-1:1999 非破壊検査 工業用非破壊検査用X線装置の焦点の特徴 その1 スキャン方式
  • DIN EN ISO 15708-3:2019 非破壊検査用コンピュータ断層撮影の放射線法パート 3: 操作と解釈 (ISO 15708-3:2017)
  • DIN EN 16016-4:2012 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、パート 4: 資格、ドイツ語版 EN 16016-4-2011
  • DIN EN ISO 15708-2:2019 非破壊検査コンピュータ断層撮影のための放射線法パート 2: 原理、装置およびサンプル (ISO 15708-2:2017)
  • DIN IEC/TS 62132-9:2012 集積回路、電磁イミュニティ測定、パート 9: 放射イミュニティ測定、表面走査法 (IEC 47A/887/CD-2012)
  • DIN IEC/TS 62132-9:2015 集積回路、電磁イミュニティ測定、パート 9: 放射イミュニティ測定、表面走査法 (IEC/TS 62132-9-2014)
  • DIN EN 16016-1:2011 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、パート 1: 用語、三か国語版 EN 16016-1-2011
  • DIN EN 16016-3:2012 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、パート 3: 操作と解釈、ドイツ語版 EN 16016-3-2011
  • DIN 6862-2:2011 医療診断用放射線写真の識別と特性評価 パート 2: デジタル画像技術、デジタル透視スクリーン検査およびコンピュータ断層撮影による放射線写真の送信および関連記録
  • DIN EN 16016-2:2012 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、パート 2: 原理、装置、サンプル、ドイツ語版 EN 16016-2-2011

ECIA - Electronic Components Industry Association, 電界放出型スキャン スキャン

  • 502-A-1989 非ラスター走査型直視型陰極線管の X 線測定の推奨方法
  • 501-A-1990 ラスタースキャン直視データ表示を使用した陰極線管の X 線測定の推奨方法
  • EIA-501-A-1990 ラスタースキャン直視データ表示を使用した陰極線管の X 線測定の推奨方法

Association Francaise de Normalisation, 電界放出型スキャン スキャン

  • NF EN 12543-1:1999 非破壊検査 工業用X線管の非破壊検査における発光焦点特性 第1部：走査方式
  • NF EN IEC 61675-1:2022 放射性核種イメージング装置 ～特性と試験条件～ 第１部：陽電子放出断層撮影装置
  • NF EN ISO 15708-1:2019 非破壊検査 - コンピュータ断層撮影放射線法 - パート 1: 用語
  • NF EN ISO 15708-4:2019 非破壊検査 - コンピュータ断層撮影放射線法 - 第 4 部: 識別
  • NF A09-261-4*NF EN ISO 15708-4:2019 非破壊検査用の放射線法 コンピュータ断層撮影法 第 4 部: 識別
  • NF EN ISO 15708-3:2019 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影照射法 第 3 部: 操作と解釈
  • NF EN ISO 14096-2:2020 非破壊検査 - X 線フィルム スキャン システムの認定 - パート 2: 最小要件
  • NF C74-221*NF EN 61262-1:1994 医療用電気機器 電気光学式X線イメージインテンシファイアの特徴 その1 入射走査野寸法の決定
  • NF EN ISO 15708-2:2019 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影放射線照射法 第 2 部：原理、装置、サンプル
  • NF A09-231-1*NF EN 12543-1:1999 非破壊検査 非破壊検査用工業用X線装置の焦点の特徴 第1部：スキャン方法
  • NF C97-913-2*NF EN 61391-2:2011 超音波パルス反射スキャナー パート 2: 最大侵入深さとローカル ダイナミック レンジの測定
  • NF EN ISO 9614-2:1996 音響 - 強度測定による騒音源から発せられる音響パワーレベルの決定 - パート 2: スキャン測定。
  • NF EN IEC 63073-1:2020 核種イメージング専用装置 ～特徴と検査条件～ その1：心臓シンチグラフィーのSPECT
  • NF EN ISO 9614-3:2009 音響: 騒音源から発せられる音響パワーレベルの強度の決定 パート 3: スキャン測定の高精度な方法
  • FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。

CEN - European Committee for Standardization, 電界放出型スキャン スキャン

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 電界放出型スキャン スキャン

  • EN IEC 61675-1:2022 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第1部：陽電子放出断層撮影装置

Standard Association of Australia （SAA）, 電界放出型スキャン スキャン

  • AS/NZS IEC 61675.1:2022 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第1部：陽電子放出断層撮影装置
  • AS/NZS IEC 60601.2.44:2022 医用電気機器パート 2.44: コンピュータ断層撮影 X 線装置の基本的な安全性と必須性能に関する特別要件

ES-UNE, 電界放出型スキャン スキャン

  • UNE-EN 61675-1:2014 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第1部：陽電子放出断層撮影装置
  • UNE-EN IEC 61675-1:2022 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第1部：陽電子放出断層撮影装置
  • UNE-EN ISO 15708-4:2020 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影放射線法 第 4 部: 資格
  • UNE-EN ISO 15708-1:2020 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影放射線照射法 第 1 部：用語
  • UNE-EN ISO 15708-3:2020 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影照射法 第 3 部: 操作と解釈
  • UNE-EN ISO 15708-2:2020 非破壊検査のためのコンピュータ断層撮影放射線照射法 第 2 部：原理、装置、サンプル

未注明发布机构, 電界放出型スキャン スキャン

  • DIN EN IEC 61675-1:2022 核医学イメージング装置の特徴と試験条件 第1部：陽電子断層撮影装置
  • SAE J1492-2023 軽自動車固定排気装置騒音レベル測定エンジン回転数走査法

Lithuanian Standards Office , 電界放出型スキャン スキャン

  • LST EN 16016-1-2011 非破壊検査 放射線法 コンピュータ断層撮影法 第 1 部: 用語
  • LST EN 16016-4-2011 非破壊検査 放射線法 コンピュータ断層撮影法 パート 4: 識別
  • LST EN 61675-1-2001 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第 1 部：陽電子放射断層撮影法（IEC 61675-1:1998）
  • LST EN 16016-3-2011 非破壊検査 放射線法 コンピュータ断層撮影法 パート 3: 操作と解釈
  • LST EN 61675-1-2001/A1-2008 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第1部：陽電子放射断層撮影法（IEC 61675-1:1998/A1:2008）
  • LST EN 16016-2-2011 放射線法コンピュータ断層撮影の非破壊検査その2：原理、装置、サンプル
  • LST EN 61675-2-2001 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第 2 部: 単一光子放出コンピュータ断層撮影スキャナー (IEC 61675-2:1998)
  • LST EN 61675-2-2001/A1-2005 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 パート 2: 単一光子放出コンピュータ断層撮影スキャナー (IEC 61675-2:1998/A1:2004)
  • LST EN 12543-1-2001 非破壊検査非破壊検査用工業用X線装置の特徴を中心に 第1部：スキャン方式

AENOR, 電界放出型スキャン スキャン

  • UNE-EN 16016-1:2012 非破壊検査 放射線法 コンピュータ断層撮影法 第 1 部: 用語
  • UNE-EN 16016-4:2012 非破壊検査 放射線法 コンピュータ断層撮影法 パート 4: 識別
  • UNE-EN 61675-2:1999/A1:2005 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第2部：単光子放射型コンピュータ断層撮影装置
  • UNE-EN 16016-3:2012 非破壊検査 放射線法 コンピュータ断層撮影法 パート 3: 操作と解釈
  • UNE-EN 16016-2:2012 放射線法コンピュータ断層撮影の非破壊検査その2：原理、装置、サンプル
  • UNE-EN 12543-1:2000 非破壊検査 非破壊検査用工業用X線装置の焦点特性 第1部：スキャン方式

Professional Standard - Public Safety Standards, 電界放出型スキャン スキャン

  • GA/T 1938-2021 法医学 金属検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1937-2021 法医学 ゴム検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1522-2018 法医学 銃撃残渣検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1521-2018 法医学 プラスチック元素組成検査 走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1519-2018 法医学 トナー元素組成検査 走査電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 909-2010 痕跡証拠の抽出およびパッケージング方法 射撃残渣を検出するための走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法
  • GA/T 1520-2018 法医学 黒色火薬および火工品火薬の元素組成検査 走査型電子顕微鏡/X 線エネルギー分光法
  • GA/T 823.3-2018 物理的塗料証拠の法医学科学的検査方法パート 3: 走査型電子顕微鏡/X 線分光法

国家食品药品监督管理局, 電界放出型スキャン スキャン

  • YY/T 1538-2017 放射線治療用自動走査水ファントムシステムの性能と試験方法

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 電界放出型スキャン スキャン

  • ST 2016-4:2007 ST 2016-4:2007 SMPTE 標準パンスキャン情報の垂直補助データ マッピング
  • ST 2016-4:2014 ST 2016-4:2014 SMPTE 標準パンスキャン情報の垂直補助データ マッピング
  • SMPTE ST 2016-4:2007 ST 2016-4:2007 パノラマ スキャン情報の SMPTE 標準垂直補助データ マッピング
  • ANSI N42.45-2021 線コンピュータ断層撮影 (CT) セキュリティ スクリーニング システムの画質を評価するための米国国家規格
  • IEEE/ANSI N42.45-2021 線コンピュータ断層撮影 (CT) セキュリティ スクリーニング システムの画質を評価するための米国国家規格
  • IEEE/ANSI N42.45-2011 線コンピュータ断層撮影 (CT) 安全シールド システムの画質評価に関する米国国家規格
  • IEEE N42.45-2011 線コンピュータ断層撮影 (CT) 安全シールド システムの画質評価に関する米国国家規格
  • RP 199:2004 RP 199:2004 作品の元のアスペクト比を維持するために、ワイドスクリーン (16:9) スキャン構造で画像をマッピングするための SMPTE 推奨プラクティス

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 電界放出型スキャン スキャン

  • ECA EIA-501-A-1990 ラスタースキャンされた直視データ表示を使用した陰極線管の X 線測定の推奨方法

Professional Standard - Electron, 電界放出型スキャン スキャン

  • SJ/T 11006-1996 半導体TV集積回路のラインとフィールド走査回路の試験方法の基本原理
  • SJ/T 11008-1996 電子部品の詳細仕様 半導体テレビ用集積回路 CD11235CP ラインアンドフィールド走査回路
  • SJ/T 10987-1996 電子部品詳細仕様 半導体テレビ用集積回路 CD5435CP 磁界走査回路
  • SJ/T 11087-1996 電子部品詳細仕様 半導体集積回路 CD7698CP ラインフィールド走査・色処理回路
  • SJ/T 10784-1996 電子部品用半導体集積回路詳細仕様書 CD7609CP ラインアンドフィールドスキャニング回路（認証取得可能）

European Committee for Standardization (CEN), 電界放出型スキャン スキャン

  • EN 16016-4:2011 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法 第 4 部: 資格
  • EN 16016-3:2011 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、パート 3: 操作と解釈
  • EN 16016-2:2011 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、パート 2: 原理、装置、サンプル
  • EN 12543-1:1999 非破壊検査 非破壊検査用工業用X線装置の焦点特性 第1部：スキャン方式
  • EN 16016-1:2011 非破壊検査、放射線法、コンピュータ断層撮影法、パート 1: 用語、3 か国語版

Professional Standard - Post and Telecommunication, 電界放出型スキャン スキャン

  • YD/T 1690.3-2007 電気通信機器の内部電磁放射診断（150 kHz ～ 1 GHz）の技術要件と測定方法 第 3 部：放射妨害波測定のための表面走査法

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 電界放出型スキャン スキャン

  • DB44/T 1216-2013 走査型電子顕微鏡とX線分光法を使用したグラフェンの特性評価
  • DB44/T 1215-2013 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法を使用した単層カーボンナノチューブの特性評価

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 電界放出型スキャン スキャン

  • DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡 塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法

Professional Standard - Commodity Inspection, 電界放出型スキャン スキャン

  • SN/T 2649.1-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その1：X線回折・走査型電子顕微鏡法

AT-OVE/ON, 電界放出型スキャン スキャン

  • OVE EN IEC 61675-1:2021 放射性核種イメージング装置の特性と試験条件 第1部：陽電子放出断層撮影法（IEC 62C/811/CDV）（英語版）

(U.S.) Ford Automotive Standards, 電界放出型スキャン スキャン

  • FORD FLTM BJ 127-01-2001 低温エンジンオイルのポンパビリティーの走査型ブルックフィールド粘度計テスト、FLTM BJ 027-01 の代替品
  • FORD FLTM BJ 127-1-2001 低温エンジンオイルのポンピング性を確認するスキャンブルックフィールド粘度計テスト (FLTM BJ 027-01 の代替品)

IEC - International Electrotechnical Commission, 電界放出型スキャン スキャン

  • IEC 61675-2:2005 放射性核種イメージング装置「特性と試験条件」第 2 部：単一光子放出コンピュータ断層撮影スキャナ（バージョン 1.1、統合再版）
  • IEC 60601-2-44/AMD1:2001 修正 1 医療用電気機器パート 2-44: コンピュータ断層撮影 X 線装置の安全性に関する特別要件 (バージョン 2.0)

中国气象局, 電界放出型スキャン スキャン

  • QX/T 545-2020 風雲シリーズ極軌道気象衛星の赤外線放射の校正方法 軌道衛星搭載可視光赤外線走査型放射計

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 電界放出型スキャン スキャン

  • DB32/T 4451.7-2023 医療用画像機器の臨床使用管理および品質管理に関する仕様書パート 7: 単一光子放射コンピュータ断層撮影システム (SPECT)

GOSTR, 電界放出型スキャン スキャン

  • PNST 508-2020 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によって特徴付けられるナノテクノロジー単層カーボン ナノチューブ

Defense Logistics Agency, 電界放出型スキャン スキャン

  • DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 マイクロ回路、デジタル、高度なバイポーラ CMOS、18 ビット ユニバーサル バス トランシーバ付き 3.3 V ABT スキャン テスト装置、モノリシック シリコン
  • DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 マイクロ回路、デジタル、高度なバイポーラ CMOS、18 ビット ユニバーサル バス トランシーバ付き 3.3 V ABT スキャン テスト装置、モノリシック シリコン
  • DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 マイクロ回路、デジタル、高度なバイポーラ CMOS、18 ビット トランシーバおよびレジスタ付き 3.3 V ABT スキャン テスト装置、モノリシック シリコン
  • DLA SMD-5962-96812 REV B-2010 マイクロ回路、デジタル、高度なバイポーラCMOS、10ビットアドレス指定可能なスキャンポート、マルチポイントアドレス指定可能なIEEE STD 1149.1 (JTAG) TAPトランシーバー、モノリシックシリコン

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 電界放出型スキャン スキャン

  • GJB 5382.11-2005 火工品の物理パラメータの試験方法 パート 11: 自然発火温度の決定 示差熱分析および示差走査熱量測定

  フィールド走査型電子顕微鏡, フィールド走査型電子顕微鏡, フィールド走査型電子顕微鏡, 発光スキャン, 発光スキャン, フィールド走査型電子顕微鏡, フィールドスキャン倍率, フィールドエミッションスキャン, 電界放出型スキャン スキャン, フィールドエミッションスキャンと, フィールドエミッションスキャン, 電界電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡, 走査型電界電子顕微鏡, 電子場走査型電子顕微鏡, 電界電子プローブスキャン, フィールドスキャン回路の原理, スキャン送信機, フィールドスキャン原理, フィールドエミッションスキャン, 環境フィールド走査型電子顕微鏡.

 



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