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X線光電子分光法の応用

X線光電子分光法の応用は全部で 335 項標準に関連している。

X線光電子分光法の応用 国際標準分類において、これらの分類：光学および光学測定、分析化学、非破壊検査、総合電子部品、長さと角度の測定、電気、磁気、電気および磁気測定、原子力工学、犯罪予防、半導体材料、医療科学とヘルスケア機器の統合、放射線測定、光学機器、非鉄金属、医療機器、表面処理・メッキ、金属腐食、計測学と測定の総合、食用油脂、油糧種子、環境保護、健康と安全、石油製品総合、物理学、化学、塗料とワニス、非金属鉱物、耐火物、潤滑剤、工業用油および関連製品、土壌品質、土壌科学、化学製品、金属鉱石、無駄、セラミックス、紙とボール紙、放射線防護、ゴム・プラスチック製品。

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線光電子分光法の応用

ASTM E995-11 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド除去技術の適用に関する標準ガイド
ASTM E995-16 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド減算技術の標準ガイド
ASTM E996-04 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-10 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E2108-16 X線光電子分光計の電子結合エネルギースケールの標準的な手法
ASTM E996-10(2018) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-19 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E2735-14(2020) X線光電子分光法に必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法
ASTM E902-94(1999) X線光電子分光装置の動作特性を確認するための標準的な方法
ASTM E1523-97 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E1523-15 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E1588-10e1 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
ASTM E995-04 ヘリカル電子分光法およびX線光電子分光法におけるバックグラウンド減算の標準ガイド
ASTM E1588-16 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM E2108-10 X線光電子分光計を使用した電子エネルギー束スケールの決定の標準的な手法
ASTM E1217-11(2019) オージェ電子分光計および一部の X 線光電子分光計で検出される信号のサンプル領域を決定するための標準的な手法
ASTM E1217-11 X線光電子分光器およびオージェ電子分光器を使用して、検出信号に影響を与えるサンプルの領域を決定するための標準的な操作手順
ASTM E2735-14 線光電子分光法 40;XPS 41 テストに必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
ASTM E2735-13 X線光電子分光法（XPS）実験に必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
ASTM E902-05 X線光電子分光装置の動作特性を確認するための標準的な方法
ASTM E1588-07 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-07e1 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM E1217-00 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法
ASTM E1217-05 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法
ASTM E1588-16a 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
ASTM E1588-17 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
ASTM E1523-03 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E2108-00 X線光電子分光計の電子結合エネルギースケール校正の標準操作手順
ASTM E1523-09 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E2108-05 X線光電分光計の電子結合エネルギースケールの校正の標準的な手法
ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法
ASTM F1467-11 半導体デバイスおよび集積回路用電離放射線効果X線試験装置の使用に関する標準ガイド（約10keVの光子量）
ASTM C1255-93(1999) エネルギー分散型蛍光X線分析法による土壌中のウランおよびトリウムの分析の標準試験法
ASTM C1255-18 エネルギー分散型蛍光X線分析法による土壌中のウランおよびトリウムの分析の標準試験法
ASTM C1255-93(2005) エネルギー分散型蛍光X線分析法による土壌中のウランおよびトリウムの分析の標準試験法
ASTM C1255-11 エネルギー分散型蛍光X線分析法による土壌中のウランおよびトリウムの分析の標準試験法
ASTM E3309-21 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析法 (SEM/EDS) による法医学準備済み銃撃残渣 (pGSR) 分析の報告に関する標準ガイド
ASTM E2120-10 塗膜中の鉛含有量を測定するポータブル蛍光X線分析計の性能評価の標準操作手順
ASTM D4294-21 エネルギー分散型蛍光 X 線分析法による石油および石油製品中の硫黄の定量のための標準試験方法
ASTM D6481-14 エネルギー拡散蛍光X線分析法による潤滑油中のリン、硫黄、カルシウム、亜鉛の測定のための標準試験法
ASTM D5839-15 エネルギー分散型蛍光X線分析法による有害廃油中の微量元素分析の標準試験法
ASTM D5839-15(2023) エネルギー分散型蛍光X線分析法による有害廃棄物燃料中の微量元素分析の標準試験法
ASTM E2994-21 スパーク原子発光分析法およびグロー放電原子発光分析法によるチタンおよびチタン合金の分析の標準試験法（物性ベース法）
ASTM F1375-92(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態のエネルギー分散型 X 線分光分析の試験方法
ASTM E2120-00 塗膜中の鉛含有量を測定するためのポータブル蛍光X線分析計の性能評価の標準的な手法
ASTM D6481-99(2004) エネルギー拡散蛍光X線分析法による潤滑油中のリン、硫黄、カルシウム、亜鉛の定量のための標準試験法
ASTM D6481-99 エネルギー拡散蛍光X線分析法による潤滑油中のリン、硫黄、カルシウム、亜鉛の定量のための標準試験法
ASTM F1467-99(2005)e1 マイクロ電子デバイスに対する電離放射線の影響をテストする際の X 線テスター (10 keV の放射線量子にほぼ等しい) の使用に関する標準ガイド
ASTM E3284-23 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) を使用したプライマー残基 (pGSR) の法医学的検査のトレーニングの標準的な実践方法
ASTM D4294-16 エネルギー拡散蛍光X線分析法による石油および石油製品中の硫黄含有量の測定のための標準試験法
ASTM D4294-16e1 エネルギー拡散蛍光X線分析法による石油および石油製品中の硫黄含有量の測定のための標準試験法
ASTM E2994-16 スパーク原子発光分析法およびグロー放電原子発光分析法によるチタンおよびチタン合金の分析の標準試験法（性能基準法）
ASTM E720-11 電子放射線強度試験における中性子分光測定のための中性子センサーの選択と応用に関する標準ガイド
ASTM F2617-08 エネルギー分散型 X 線分光法を使用したポリマー材料中のクロム、臭素、カドミウム、水銀、鉛の測定のための標準試験方法
ASTM F3078-15 エネルギー分散型蛍光X線分光法（EDXRF）を使用した、塗料および4種類の塗料中の鉛の同定および定量のための標準試験方法
ASTM F3078-15(2023) エネルギー分散型蛍光 X 線分光法 (EDXRF) を使用した、塗料および類似の塗装材料中の鉛の同定および定量のための標準試験方法

German Institute for Standardization, X線光電子分光法の応用

DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 表面化学分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト
DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計の仕様と検査のための、選択された機器の性能パラメータのマイクロビーム分析
DIN EN ISO 13032:2023-06 石油および関連製品の車両燃料中の低濃度硫黄の測定エネルギー分散型蛍光 X 線分析
DIN 6827-1:2020-10 電離放射線の医療応用記録第1部電子加速器とX線・ガンマ線治療装置による治療
DIN EN ISO 20565-3:2009 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（オプションの蛍光X線法）パート3：フレーム原子吸光分析法（FAAS）および誘導結合プラズマ発光分析法（ICP-AES）
DIN EN ISO 21587-3:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物製品の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析
DIN EN ISO 21587-3:2007-12 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) - パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析
DIN EN 60601-2-54:2010 医療用電子機器パート 2-54: X 線撮影および X 線透視用 X 線装置の基本的な安全性と必須性能に関する特別要件
DIN 6809-6:2020-11 臨床線量測定パート 6: 遠隔放射線療法における高エネルギー光子および電子放射線の使用
DIN 6809-6:2020 臨床線量測定パート 6: 遠隔放射線療法における高エネルギー光子および電子放射線の使用

British Standards Institution (BSI), X線光電子分光法の応用

BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
BS ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピークフィッティングの最小レポート要件
BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
BS ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析シリコン酸化膜厚測定
BS ISO 14701:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、シリカ厚さ測定
BS ISO 21270:2005 表面化学分析、X 線光電子およびオージェ電子分光計、強度スケールの直線性
BS ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法のレポート
BS ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
BS ISO 17109:2022 表面化学分析深さプロファイリング単層膜および多層膜の X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
BS ISO 20903:2019 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法ピーク強度の決定方法と結果報告時に必要な情報
20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法の報告
BS ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光計、エネルギー準位の校正
PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析全反射蛍光X線分光法生物および環境分析への応用
BS ISO 18118:2015 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
BS ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。
BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X 線光電子分光法均質材料における元素検出限界の推定と報告
23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析実験的に決定された相対感度係数を使用したオージェ電子分光法および X 線光電子分光法を使用した均質材料の定量分析のためのガイド
BS ISO 24237:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、強度スケールの再現性と安定性
BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析：電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用に選択された機器の仕様と性能パラメータ
BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機器性能パラメータ
BS ISO 18118:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、均質材料の定量分析のための相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイド。
BS EN ISO 10058-3:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火製品の化学分析 (オプションで蛍光 X 線分析) フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-AES)
BS EN ISO 10058-3:2008 マグネサイトおよびドロマイト耐火製品の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-AES)
BS EN ISO 20565-3:2009 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（蛍光X線法はオプション）フレーム原子吸光分析法（FAAS）および誘導結合プラズマ原子発光分析法（ICP-AES）
BS EN ISO 20565-3:2008 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析 (蛍光X線法はオプション) フレーム原子吸光分析法 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析法 (ICP-AES)
BS EN ISO 21587-3:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物製品の化学分析 (蛍光 X 線法はオプション)、誘導結合プラズマおよび原子吸光分析
BS DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用した単層カーボンナノチューブの特性評価。
IEC 62607-6-21:2022 ナノ製造の重要な制御特性第6-21回：グラフェン系材料の元素組成、C/O比：X線光電子分光法
BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
BS ISO 17470:2014 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光分析を使用した定性点分析のガイド。
19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ
BS EN 60601-2-54:2009 医療用電子機器 - X 線撮影および X 線透視用 X 線装置の基本的な安全性と主な性能に関する詳細な要件
BS EN 60601-2-54:2010 医療用電子機器のX線撮影およびX線透視用X線装置の基本的な安全性および主な性能に関する詳細な要件
PD ISO/TS 9516-4:2021 溶融前処理法を用いた鉄鉱石中の蛍光X線分析による各種元素定量の性能ベースのアプローチ
BS EN 61262-5:1995 医用電気機器用電子光学式 X 線イメージ増倍管の特性.. 検出量子効率の決定
BS 6043-2.4:2000 アルミニウム製造に使用される炭素質材料のサンプリングおよび試験方法コークス電極蛍光X線分析法
23/30409204 DC BS EN IEC 62321-3-1 電子技術製品中の特定物質の測定パート 3-1 蛍光 X 線分析による元素スクリーニング
PD IEC/TR 63098-1:2017 無線通信用送信装置光ファイバー無線技術とその性能基準光ファイバー無線技術の体系的応用
BS ISO 13196:2013 土壌の品質：手持ち式または携帯型の機器を使用したエネルギー分散型蛍光 X 線分光分析法を使用して、選択された元素を土壌スクリーニングします。
BS ISO 22581:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法測定スキャンからのほぼリアルタイムの情報炭素質化合物の表面汚染の特定と修正ルール

International Organization for Standardization (ISO), X線光電子分光法の応用

ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピークフィッティングの最小レポート要件
ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 線光電子分光法バックグラウンド測定手順
ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
ISO 14701:2011 表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
ISO/TR 18392:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、バックグラウンド測定手順
ISO 17109:2022 表面化学分析、深さプロファイリング、単層および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、および二次イオン質量分析法におけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO 16795:2004 原子力エネルギー蛍光 X 線分析によるガドリニウム燃料ペレットの Gd2O3 含有量の測定
ISO 20903:2019 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - ピーク強度と結果報告時に必要な情報を決定するために使用される方法
ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
ISO 15472:2001 表面化学分析 X線光電子分光計のエネルギースケール校正
ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO 9167-2:1994 菜種中のグルコシノレート含有量の測定その 2: 蛍光 X 線分析による
ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
ISO 24237:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、強度の再現性と安定性
ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
ISO 18118:2004 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、均質材料の定量分析のための相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイド。
ISO 18118:2015 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、均質材料の定量分析のための相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイド。
ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子エネルギー分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果の報告に必要な情報
ISO/TR 19319:2003 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
ISO 19668:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、均質材料の元素検出限界の推定と報告。
ISO 20903:2006 表面化学分析、スパイラル電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度を決定する方法、および結果を報告する際に必要な情報を使用する方法。
ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
ISO 22489:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
ISO 10058-3:2008 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-AES)
ISO 17470:2014 マイクロビーム分析電子プローブ微量分析波長分散型 X 線分光法による定性点分析ガイド
ISO 20565-3:2008 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（オプションの蛍光X線法）パート3：フレーム原子吸光分析法（FAAS）および誘導結合プラズマ発光分析法（ICP-AES）
ISO/TS 9516-4:2021 鉄鉱石蛍光X線分析による各種元素の測定第4部性能に基づく溶湯調製方法
ISO 22309:2006 微小電子線分析、エネルギー分散分析装置（EDS）による定量分析
ISO 21587-3:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析による測定
ISO 13196:2013 土壌品質。ハンドヘルドまたはポータブル機器を使用したエネルギー分散型蛍光 X 線分光法を使用した、選択された元素の土壌スクリーニング
ISO 22581:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による測定とスキャンほぼリアルタイムの情報炭素質化合物の表面汚染の特定と修正ルール
ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアームカーボンナノチューブの特性評価。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線光電子分光法の応用

GB/T 25184-2010 X線光電子分光装置による識別方法
GB/T 19500-2004 X線光電子分光分析法の一般原理
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
GB/T 31470-2015 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法検査における検出信号に対応する試料面積を決める一般則
GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置エネルギースケールの校正
GB/Z 32490-2016 表面化学分析のためのX線光電子分光法を使用したバックグラウンド測定手順
GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法選択された機器の性能パラメーターの表現
GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
GB/T 25188-2010 X線光電子分光法によるシリコンウェーハ表面の極薄酸化シリコン層の厚さの測定
GB/T 28633-2012 表面化学分析、X 線光電子分光法、強度スケールの再現性と一貫性
GB/T 25185-2010 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
GB/T 17507-1998 生物学的薄い標準サンプルの電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
GB/T 43598-2023 X線光電子分光法によるナノテクノロジーグラフェン粉末の酸素含有量と炭素酸素比の測定
GB/Z 21277-2007 電子・電気製品に含まれる制限物質である鉛、水銀、クロム、カドミウム、臭素を迅速にスクリーニングします。
GB/T 30702-2014 表面化学分析均質材料の定量分析におけるオージェ電子分光法および X 線光電子分光法の実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド
GB/T 29556-2013 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法分析装置で検出できる横分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
GB/T 17361-1998 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法による堆積岩中の自生粘土鉱物の同定法
GB/T 2679.11-2008 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線分光分析
GB/T 2679.11-1993 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光分析
GB/T 19267.6-2008 犯罪技術的痕跡証拠の物理的および化学的検査第 6 部: 走査型電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光法
GB/T 32869-2016 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によるナノテクノロジー単層カーボンナノチューブの特性評価方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X線光電子分光法の応用

GB/T 33352-2016 電子・電気製品含有制限物質スクリーニング一般適用規則蛍光X線分析法
GB/T 22571-2017 表面化学分析用X線光電子分光装置のエネルギースケールの校正
GB/T 33502-2017 表面化学分析のための X 線光電子分光法 (XPS) データの記録とレポートの仕様要件

Professional Standard - Electron, X線光電子分光法の応用

SJ/T 10458-1993 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法におけるサンプルハンドリングの標準ガイド
SJ/T 10714-1996 X線光電子分光装置の動作特性を確認する標準的な方法

Association Francaise de Normalisation, X線光電子分光法の応用

NF X21-071:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
NF X21-061:2008 表面化学分析、スパイラル電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート
NF M60-512:1984 原子力エネルギー X および R 標準線を使用した放射線量計と流量計の校正、および光子エネルギーを使用したそれらの応答の測定
NF M60-513:1990 線およびγ線の標準光線による放射線量計および流量計の校正、および X 線およびγ線の 2 光子エネルギーに対する反応の測定 4 MeV ～ 9 MeV のエネルギーを持つ標準光子放射線
NF M60-460*NF ISO 16795:2006 原子力用蛍光X線分析法を用いたガドリニウム燃料ペレットのGd2O3含有量の測定
NF X21-055:2006 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
NF X21-058:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定に使用される方法および結果の報告に必要な情報
NF M60-512-1:1998 線量計および線量率計の校正、および光子エネルギー相互作用反応としてのX線およびガンマ線の基準放射線の測定
FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。
NF A09-230-3:1999 非破壊検査 X線管電圧の測定と評価その3：分光測定
NF B40-670-3*NF EN ISO 21587-3:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）パート3：誘導結合等電子および原子吸光分析法
NF X21-003:2006 マイクロビーム分析電子プローブ微量分析波長分布定量分析ガイド X線分光分析
NF B49-329-3*NF EN ISO 10058-3:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火製品の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-AES)
NF B49-435-3*NF EN ISO 20565-3:2009 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（蛍光X線法もオプション）第3部：フレーム原子吸光分析法（FAAS）および誘導結合プラズマ発光分析法（ICP-AES）
NF X21-006:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法によるバルクサンプルの定量点分析。
NF M60-512-3:2000 線量計と線量計の校正、および光子エネルギー効果に対する反応としての X 線とガンマ線の測定のための基準放射線パート 3: 範囲および人員線量計の校正、エネルギー効果としての反応の測定および入射角の決定
NF M60-512-2:2000 線量計と線量率計を校正し、光子エネルギー相互作用反応として使用される X 線とガンマ線の基準放射線を測定します。パート 2: エネルギー範囲 8KeV ～ 13MeV および 4 ～ 9MeV における放射線防護のための線量測定法。
NF X31-013:2013 土壌品質。ハンドヘルドまたはポータブル機器を使用したエネルギー分散型蛍光 X 線分光法を使用した、選択された元素の土壌スクリーニング
NF EN ISO 13196:2015 土壌品質 – ポータブルまたはハンドヘルドのエネルギー分散型蛍光 X 線分析計を使用して、土壌中の選択した元素を迅速に分析します

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線光電子分光法の応用

KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性
KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光法帯電制御・帯電補正法レポート
KS D ISO 15472:2003 表面化学分析、X線光電分光装置、エネルギースケールの校正
KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析における均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイドラインオージェ電子分光法および X 線光電子分光法
KS D ISO 15472-2003(2018) 表面化学分析-X線光電子分光装置-エネルギースケール補正
KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
KS D ISO 18118:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、均質材料の定量分析のための相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイド。
KS D ISO 19319:2005 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
KS D ISO 15632:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
KS L ISO 10058-3:2012 マグネサイトおよびドロマイト耐火製品の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ発光分析 (ICP.AES)
KS D ISO 22489:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
KS A ISO 4037-1-2003(2018) およびガンマ標準放射線を使用した光子エネルギー応答の決定と線量計および線量計の固定 - パート 1: 放射線の特性と生成方法
KS M ISO 12980:2004 アルミニウム製造用炭素質材料電極用未焼コークスおよび焼成コークス蛍光X線分析法による分析
KS M ISO 12980:2013 アルミニウム製造に使用される炭素質材料電極の蛍光X線分析による未焼コークスと焼成コークスの分析
KS L ISO 20565-3:2012 クロム含有耐火物およびクロム含有原材料の化学分析 (蛍光 X 線法はオプション) パート 3: フレーム原子吸光分析法 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析法 (ICP.AES)
KS L ISO 20565-3-2012(2017) クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（蛍光X線の代替法）第3部：フレーム原子吸光分析法（FAAS）および誘導結合プラズマ発光分析法（ICP-AES）
KS L ISO 20565-3-2012(2022) クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（蛍光X線の代替法）第3部：フレーム原子吸光分析法（FAAS）および誘導結合プラズマ発光分析法（ICP-AES）
KS L ISO 21587-3:2012 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析による測定
KS D ISO 22489:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析
KS L ISO 10058-3-2012(2022) マグネサイトおよびドロマイト耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代わり) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析 (ICP-AES)
KS C IEC 61262-5-2003(2018) 医療機器 - 電子光学X線画像における時間波の特徴 - 第5部：量子検出効率の決定
KS C IEC 61262-4-2003(2018) 医療機器 - 光学X線画像の時間波の特徴 - その4: 歪みの測定
KS C IEC 60601-2-54:2012 医療用電子機器パート 2-54: X 線撮影および X 線透視用 X 線装置の基本的な安全性と主な性能に関する特別要件
KS L ISO 10058-3-2012(2017) マグネサイトおよびドロマイト耐火物品の化学分析方法 (蛍光 X 線の代替) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析 (ICP-AES)
KS C IEC 61262-2-2003(2018) 医療用電気機器～電子光学的X線画像における時間波の特徴～その2：換算係数の決定

未注明发布机构, X線光電子分光法の応用

BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の横方向分解能の測定
YY 0457.5-2003 医用電気機器光電X線イメージ増倍管の特性第5部検出量子効率の求め方

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X線光電子分光法の応用

GB/T 41073-2021 表面化学分析の基本要件電子エネルギー分光法 X 線光電子分光法ピークフィッティングレポート
GB/T 36401-2018 表面化学分析報告書 X線光電子分光法による薄膜分析結果
GB/T 41064-2021 表面化学分析深さ方向プロファイリング単層膜および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法および二次イオン質量分析法における深さ方向プロファイリングのスパッタリング率を決定する方法
GB/T 39560.301-2020 電子・電気製品中の特定物質の定量パート 3-1: 蛍光 X 線分析法による鉛、水銀、カドミウム、全クロム、全臭素のスクリーニング

Professional Standard - Nuclear Industry, X線光電子分光法の応用

EJ/T 805-1993 蛍光X線分析用の低エネルギー光子源

Standard Association of Australia （SAA）, X線光電子分光法の応用

AS ISO 15472:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。エネルギースケールの校正
AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明
AS ISO 19318:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。充電制御および充電調整の報告方法
AS ISO 18118:2006 表面化学分析。オージェ電子分光法とX線光電子分光法。均質材料の定量分析における実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド
AS ISO 19319:2006 表面化学分析。オーギュル電子分光法とX線光電子分光法。分析者の横方向解像度の目視検査、分析領域とサンプル領域
AS ISO 24237:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。強度スケールの再現性と一定性
AS/NZS 4356.5:1996 医療用電気機器。電灯。 X線イメージインテンシファイアの特徴等価量子効率の決定

KR-KS, X線光電子分光法の応用

KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析・X線光電子分光装置・エネルギースケールの校正
KS D ISO 15632-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
KS D ISO 22489-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析
KS D ISO 22489-2018(2023) マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Professional Standard - Judicatory, X線光電子分光法の応用

SF/T 0139-2023 土壌検査走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分析

Group Standards of the People's Republic of China, X線光電子分光法の応用

T/CSTM 01199-2024 多層金属薄膜の層構造測定・解析方法 X線光電子分光法

工业和信息化部/国家能源局, X線光電子分光法の応用

JB/T 12962.1-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析装置第1部：一般的な技術

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線光電子分光法の応用

JIS K 0167:2011 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法均質材料の定量分析における相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイドライン
JIS T 0306:2002 X線光電子分光法を用いた金属系生体材料の不動態皮膜の状態解析
JIS K 0152:2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析強度スケールの再現性と一貫性
JIS K 0145:2002 表面化学分析 X線光電子分光装置エネルギースケールの校正
JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
JIS K 0190:2010 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
JIS K 0470:2008 エネルギー分散型蛍光X線分析法を用いた土砂中のヒ素と鉛の定量
JIS K 0189:2013 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法の実験パラメータの決定。

Professional Standard - Non-ferrous Metal, X線光電子分光法の応用

YS/T 739-2010 蛍光X線分析によるアルミニウム電解質の分子比と主成分の測定
YS/T 644-2007 白金 - ルテニウム合金膜の試験方法 X 線光電子分光法による合金化白金および合金化ルテニウムの含有量の測定。

AT-ON, X線光電子分光法の応用

ONORM S 5233-1987 X線、G線、電子線による電離箱放射線療法用の線量計

Professional Standard - Public Safety Standards, X線光電子分光法の応用

GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1522-2018 法医学銃撃残渣検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1938-2021 法医学金属検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1937-2021 法医学ゴム検査走査型電子顕微鏡/X線分光分析
GA/T 1521-2018 法医学プラスチック元素組成検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1519-2018 法医学トナー元素組成検査走査電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
GA/T 1520-2018 法医学黒色火薬および火工品火薬の元素組成検査走査型電子顕微鏡/X 線エネルギー分光法
GA/T 823.3-2018 物理的塗料証拠の法医学科学的検査方法パート 3: 走査型電子顕微鏡/X 線分光法

GOSTR, X線光電子分光法の応用

PNST 507-2020 透過型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して特性評価されたナノテクノロジー単層カーボンナノチューブ
GOST 32139-2019 エネルギー分散型蛍光X線分析法を使用した石油および石油製品中の硫黄含有量の測定
PNST 508-2020 走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型 X 線分光法によって特徴付けられるナノテクノロジー単層カーボンナノチューブ

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, X線光電子分光法の応用

DB44/T 1216-2013 走査型電子顕微鏡とX線分光法を使用したグラフェンの特性評価
DB44/T 1215-2013 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法を使用した単層カーボンナノチューブの特性評価

European Committee for Standardization (CEN), X線光電子分光法の応用

EN ISO 9167-2:1997 菜種中のグルコシノレート含有量の測定その 2: 蛍光 X 線分析による
EN ISO 20565-3:2008 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（オプションの蛍光X線法）パート3：フレーム原子吸光分析法（FAAS）および誘導結合プラズマ発光分析法（ICP-AES）
EN ISO 21587-3:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析 (オプションの蛍光 X 線法) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析による測定 [代替: CEN ENV 955-4]
EN ISO 13196:2015 土壌品質：手持ち式またはポータブル機器の選択された要素を使用した土壌スクリーニングのためのエネルギー分散型蛍光 X 線分析法 (ISO 13196:2013)

VN-TCVN, X線光電子分光法の応用

TCVN 3172-2008 石油および石油製品 - エネルギー分散型蛍光X線分析法による硫黄の定量

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, X線光電子分光法の応用

DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, X線光電子分光法の応用

GJB 5814-2006 軍用電子機器のX線線量増加効果の測定方法

Professional Standard - Commodity Inspection, X線光電子分光法の応用

SN/T 2003.4-2006 電子・電気製品中の鉛、水銀、クロム、カドミウム、臭素の定量第4部：エネルギー分散型蛍光X線分析法による定性スクリーニング法
SN/T 2003.5-2006 電子・電気製品中の鉛、水銀、クロム、カドミウム、臭素の定量第5部：エネルギー分散型蛍光X線分析による定量スクリーニング法
SN/T 2003.1-2005 電子・電気製品中の鉛、水銀、カドミウム、クロム、臭素の定量その1：蛍光X線分析による定性スクリーニング法
SN/T 2003.3-2006 電子・電気製品中の鉛、水銀、カドミウム、クロム、臭素の測定その3：蛍光X線分析による定量スクリーニング法

RU-GOST R, X線光電子分光法の応用

GOST 32139-2013 石油および石油製品エネルギー分散型蛍光 X 線分析法を使用した硫黄含有量の測定
GOST 33305-2015 潤滑油エネルギー分散型蛍光 X 線分析法によるリン、硫黄、カルシウム、亜鉛の測定
GOST R ISO 16243-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) データの記録と報告
GOST R IEC 61262-5-1999 医用電気機器光電式 X 線イメージ増倍管の特性第 5 部: 検出器の量子効果の測定
GOST IEC 61262-5-2011 医用電気機器光電X線イメージ増強管の特性第5部量子検出効率の決定

Danish Standards Foundation, X線光電子分光法の応用

DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。
DS/EN ISO 20565-3:2009 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（蛍光X線の代替）第3部：フレーム原子吸光分析法（FAAS）および誘導結合プラズマ原子発光分析法（ICP-
DS/EN ISO 21587-3:2007 アルミノケイ酸塩耐火物の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析
DS/EN ISO 10058-3:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析 (ICP-AES)

International Electrotechnical Commission (IEC), X線光電子分光法の応用

IEC TS 62607-6-21:2022 ナノ製造、重要な制御特性、パート 6-21: グラフェンベースの材料、元素組成 C/O 比: X 線光電子分光法
IEC 61262-2:1994 医用電気機器用光電X線イメージ増強管の特性その2 換算係数の決定
IEC 61262-5:1994 医用電気機器用光電X線イメージ増強管の特性その5：サブ量子係数の決定
IEC 60601-2-54:2015 医療用電子機器パート 2-54: X 線撮影および X 線透視用 X 線装置の基本的な安全性と主な性能に関する特別要件
IEC 60601-2-54:2018 医療用電子機器パート 2-54: X 線撮影および X 線透視用 X 線装置の基本的な安全性と主な性能に関する特別要件

Lithuanian Standards Office , X線光電子分光法の応用

LST EN ISO 20565-3:2009 クロム含有耐火物およびクロム含有原料の化学分析（蛍光X線の代替）第3部：フレーム原子吸光分析法（FAAS）および誘導結合プラズマ原子発光分析法（ICP-
LST EN ISO 10058-3:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 3: フレーム原子吸光分析 (FAAS) および誘導結合プラズマ原子発光分析 (ICP-AES) (ISO 10058-3 :20)
LST EN ISO 21587-3:2007 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析 (ISO 21587-3:2007)

SE-SIS, X線光電子分光法の応用

SIS SS-ISO 8963:1990 8キロ電子ボルトから1.3メガ電子ボルトの範囲のエネルギーによる放射線防護用のX線およびガンマ線関連の放射線量計

American National Standards Institute （ANSI), X線光電子分光法の応用

ANSI N43.3-2008 一般的な放射線の安全性非医療用 X 線および密封ガンマ線源の放射線安全エネルギーが 10Mev (メガ電子ボルト) 未満の装置の場合
ANSI N43.3-1993 一般放射線安全性に関する米国国家基準最大 10Mev (メガ電子ボルト) の放射線エネルギーを持つ非医療用 X 線および密封されたガンマ線源を利用する装置

Professional Standard - Medicine, X線光電子分光法の応用

YY/T 1766.3-2023 X線コンピュータ断層撮影装置の画質評価法第3部：デュアルエネルギーイメージングとエネルギースペクトル応用の性能評価
YY/T 0457.5-2003 医用電気機器光電X線イメージ増倍管の特性第5部検出量子効率の求め方

Professional Standard - Agriculture, X線光電子分光法の応用

SN/T 1732.22-2018 花火および爆竹用発火剤第 22 部：エネルギー分散型蛍光 X 線分析法による鉛、クロム、カドミウム、水銀およびヒ素の定性検出

AENOR, X線光電子分光法の応用

UNE-EN ISO 21587-3:2008 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 3: 誘導結合プラズマおよび原子吸光分析 (ISO 21587-3:2007)