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全反射X蛍光

全反射X蛍光は全部で 14 項標準に関連している。

全反射X蛍光 国際標準分類において、これらの分類：金属材料試験、 半導体材料、 分析化学。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 全反射X蛍光

• GB/T 24578-2015 全反射蛍光X線分光法によるシリコンウェーハ表面の金属汚染検査方法
• GB/T 24578-2009 全反射蛍光X線分光法によるシリコンウェーハ表面の金属汚染検査方法
• GB/T 42360-2023 水の表面化学分析 全反射蛍光X線分光分析

German Institute for Standardization, 全反射X蛍光

• DIN 51003:2004 全反射蛍光X線 一般原理と定義

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 全反射X蛍光

• JIS K 0181:2021 表面化学分析 水の全反射蛍光X線分析

International Organization for Standardization (ISO), 全反射X蛍光

• ISO 20289:2018 表面化学分析 - 水の全反射蛍光X線分析
• ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用

British Standards Institution (BSI), 全反射X蛍光

• BS ISO 20289:2018 表面化学分析 水の全反射蛍光X線分析
• PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 全反射蛍光X線分光法 生物および環境分析への応用
• BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 全反射X蛍光

• GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射蛍光 X 線分析 (TXRF) によるシリコン ウェーハ表面の元素汚染の測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 全反射X蛍光

• KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析 – 全反射蛍光X線分析装置によりシリコンウェーハ表面の元素不純物を測定
• KS D ISO 14706:2003 表面化学分析 全反射蛍光X線分析法を使用したシリコンウェーハ表面の主な汚染物質の測定

KR-KS, 全反射X蛍光

• KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析 – 全反射蛍光X線分析装置によりシリコンウェーハ表面の元素不純物を測定

その他：   全反射蛍光X線, ポータブル全反射 X 蛍光, 全反射蛍光X線分析, 全反射蛍光X線, 全反射蛍光X線分光法, 全反射蛍光X線分析, 全反射X蛍光, 全反射X蛍光分析, 全反射X線, 全反射蛍光, 全反射蛍光X線, X線全反射, X線全反射, 全反射蛍光X線分析と蛍光X線分析, 全反射蛍光X線分析, 全反射蛍光分析, 全反射X蛍光, 全反射X線蛍光計, 全反射蛍光X線分光法, 全反射×.