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電子顕微鏡における回折

電子顕微鏡における回折は全部で 180 項標準に関連している。

電子顕微鏡における回折 国際標準分類において、これらの分類:光学機器、 光学および光学測定、 分析化学、 金属材料試験、 長さと角度の測定、 繊維製品、 非鉄金属、 化学製品、 金属の生産、 非破壊検査、 水質、 語彙、 化学装置、 建材、 無機化学、 耐火物、 パイプ部品とパイプ、 半導体材料、 空気の質、 塗料成分、 塗料とワニス、 紙とボール紙、 保護具、 エアゾールタンク、 写真撮影のスキル、 映画。


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子顕微鏡における回折

  • GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
  • GB/T 18907-2013 マイクロビーム解析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、選択電子回折分析法
  • GB/T 26140-2023 非破壊検査における残留応力測定のための中性子回折法
  • GB/T 26140-2010 非破壊検査 - 中性子回折法による残留応力測定
  • GB/T 36165-2018 電子後方散乱回折 (EBSD) 法による金属の平均粒径の測定
  • GB/T 38532-2020 マイクロビーム分析 電子後方散乱回折 平均粒径の決定
  • GB/T 24576-2009 GaAs基板上に成長させたAlGaAs中のAl組成の高分解能X線回折測定の試験方法
  • GB/T 20724-2006 結晶厚が薄い場合の収束電子回折測定法
  • GB/T 42208-2022 ナノテクノロジーの多相系におけるナノ粒子サイズを測定するための透過型電子顕微鏡画像法
  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 2679.11-1993 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光分析
  • GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 17361-1998 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法による堆積岩中の自生粘土鉱物の同定法
  • GB/T 27510-2011 DLP、CRT、LCOS、LCD プロジェクション TV スクリーンのフレネル レンズ
  • GB/T 28044-2011 ナノマテリアルの生物学的影響の透過型電子顕微鏡検出法の一般規則
  • GB/T 30834-2014 鋼中の非金属介在物の評価と統計走査型電子顕微鏡法
  • GB/T 30834-2022 鋼中の非金属介在物の評価と統計走査型電子顕微鏡法

Professional Standard - Commodity Inspection, 電子顕微鏡における回折

  • SN/T 2731-2010 非金属鉱物中のアスベストの定性法 X線回折顕微鏡観察
  • SN/T 2649.1-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その1:X線回折・走査型電子顕微鏡法
  • SN/T 3231-2012 タルク中のアスベスト含有量の測定 偏光顕微鏡 - X 線回折分析
  • SN/T 2649.2-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その2:X線回折・偏光顕微鏡法
  • SN/T 3131-2012 自転車ブレーキスキンのアスベスト含有量の測定 偏光顕微鏡-X線回折分光分析
  • SN/T 3974-2014 ポストカラム誘導体化イオンクロマトグラフィーによる電気めっき製品中の微量の六価クロムの定量

IET - Institution of Engineering and Technology, 電子顕微鏡における回折

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡における回折

  • ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • ISO 23749:2022 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、鋼中のオーステナイトの定量
  • ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 13067:2020 マイクロビーム分析 - 電子後方散乱回折 - 平均粒径の測定
  • ISO 23071:2021 耐火物 X 線回折法による炭素含有耐火物中の還元種の測定
  • ISO 24173:2009 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折を使用した指向性測定ガイド
  • ISO/DIS 24173:2023 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折を使用した配向測定ガイド
  • ISO/TS 21432:2005 非破壊検査 中性子回折による残留応力を測定するための標準的な検査方法
  • ISO 21432:2019 非破壊検査のための中性子回折による残留応力測定の標準検査方法
  • ISO 20203:2005 アルミニウム製造に使用される炭素材料 か焼コークス か焼石油コークスのX線回折による結晶粒径の測定
  • ISO/CD 6868:2023 職場の空気中での粉末X線回折を使用した、バルク材料中の石英とクリストバライトの定量測定
  • ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
  • ISO 20263:2017 マイクロビーム解析 - 分析透過型電子顕微鏡 - 層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
  • ISO 23703:2022 マイクロビーム解析電子後方散乱回折 (EBSD) を使用したオーステナイト系ステンレス鋼の機械的損傷評価のための方位解析ガイド
  • ISO/TS 21432:2005/cor 1:2008 非破壊試験 中性子回折を使用した残留応力測定の標準試験法 技術訂正事項 1
  • ISO 21363:2020 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡における回折

  • BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • BS ISO 23749:2022 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量的測定 後方散乱電子回折
  • 21/30398224 DC BS ISO 23749 マイクロビーム分析による後方散乱電子回折による鋼中のオーステナイトの定量的測定
  • BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • BS ISO 13067:2020 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径の測定
  • BS ISO 24173:2009 マイクロビーム解析、後方散乱電子回折を使用した方位角測定の基準
  • 19/30365236 DC BS ISO 13067 マイクロビーム分析 後方散乱電子回折 平均粒径の測定
  • BS DD CEN ISO/TS 21432:2006 非破壊検査 中性子回折による残留応力を測定するための標準的な検査方法
  • 23/30435799 DC BS ISO 24173 マイクロビーム分析による後方散乱電子回折を使用した配向測定のガイド
  • BS EN ISO 21432:2020 中性子回折による残留応力の非破壊検査の標準試験方法
  • 18/30372101 DC BS ISO 21432 非破壊試験のための中性子回折による残留応力測定の標準試験方法

工业和信息化部, 電子顕微鏡における回折

  • YB/T 4677-2018 鋼の電子後方散乱回折 (EBSD) 法における集合組織の決定
  • YB/T 4676-2018 透過型電子顕微鏡による鋼中の析出相の分析
  • HG/T 5705-2020 X線回折法による水素化触媒中の二酸化チタン相含有量の測定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子顕微鏡における回折

  • GB/T 41076-2021 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量分析電子後方散乱回折
  • GB/T 20724-2021 マイクロビーム分析 収束ビーム電子回折 薄い結晶の厚さの測定
  • GB/T 35098-2018 マイクロビーム解析 透過電子顕微鏡法 透過電子顕微鏡法 植物ウイルスの形態の同定

RU-GOST R, 電子顕微鏡における回折

  • GOST R 8.696-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度 結晶の面間隔と回折パターンの輝度分布 電子線回折装置による測定
  • GOST R ISO 13067-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム マイクロビーム分析 後方散乱電子回折 平均粒子径の測定
  • GOST R 8.697-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度 結晶の面間隔 透過型電子顕微鏡による測定方法
  • GOST 24724-1981 映画用カメラおよびカメラ用レンズ 散乱係数の決定方法

AGMA - American Gear Manufacturers Association, 電子顕微鏡における回折

  • 08FTM12-2008 中性子回折による浸炭歯車の応力のその場測定

American Gear Manufacturers Association, 電子顕微鏡における回折

Group Standards of the People's Republic of China, 電子顕微鏡における回折

  • T/CNTAC 21-2018 繊維中のグラフェン材料の同定方法 透過型電子顕微鏡法
  • T/CSTM 00229-2020 走査型電子顕微鏡とエネルギー分光法による塗料中のグラフェン材料の測定

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 電子顕微鏡における回折

  • YB/T 5336-2006 X線回折法を用いたハイス中の炭化物相の定量分析

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 電子顕微鏡における回折

  • YS/T 976-2014 α型アルミナ焼成物中のα-Al2O3含有量の測定 X線回折法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子顕微鏡における回折

  • JIS H 7805:2005 X線回折装置を用いた金属結晶の粒径測定方法
  • JIS A 1481-3:2014 建材製品中のアスベストの測定その3:X線回折によるアスベスト含有量の定量分析
  • JIS K 3850-3:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 3: 間接転写透過型電子顕微鏡
  • JIS K 3850-2:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 2: 直接転写透過型電子顕微鏡
  • JIS A 1481-3 AMD 1:2022 建材製品中のアスベストの定量 その3:X線回折によるアスベスト含有量の定量分析(修正1)
  • JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定 パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡

Professional Standard - Agriculture, 電子顕微鏡における回折

  • SN/T 5499-2023 鉱物製品中のタルク含有量の測定 X 線回折フルスペクトルフィッティング法
  • SN/T 3797-2014 建築用耐火物中のジルコニア繊維のスクリーニング方法 X線回折

IX-IX-IEC, 電子顕微鏡における回折

  • IEC TS 62607-6-17:2023 ナノファブリケーションの主要な制御特性 パート 6-17: グラフェンベースの材料の秩序パラメーター: X 線回折および透過型電子顕微鏡

Association Francaise de Normalisation, 電子顕微鏡における回折

IT-UNI, 電子顕微鏡における回折

  • UNI 6966-1971 X線回折による多結晶の極性パターンの数の決定
  • UNI EN ISO 21432:2021 非破壊検査のための中性子回折を使用した残留応力測定の標準的な検査方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡における回折

  • ASTM D934-80(2003) 水堆積物中の結晶性化合物を同定するためのX線回折法
  • ASTM D7708-23a 堆積岩中に分散したビトリナイトの反射率を顕微鏡で測定するための標準試験方法
  • ASTM D934-80(1999) X線回折によるヒドロホルム堆積物中の結晶性化合物の同定のための標準的な手法
  • ASTM D2798-99(2004) 石炭の研磨試験片のビトリナイト反射率を顕微鏡で検査するための標準試験方法
  • ASTM D2798-09 石炭の研磨試験片のビトリナイト反射率を顕微鏡で検査するための標準試験方法
  • ASTM D2798-21 石炭の研磨試験片のビトリナイト反射率を顕微鏡で検査するための標準試験方法
  • ASTM D7708-11 堆積岩中に拡散した鏡石の反射率顕微鏡測定のための標準試験方法
  • ASTM D934-08 線回折を使用した水堆積物中の結晶化した化合物の測定の標準的な手法
  • ASTM E2627-13 完全に再結晶化された多結晶材料の電子後方散乱回折 (EBSD) を使用して平均粒子サイズを決定するための標準的な手法
  • ASTM E2627-13(2019) 電子後方散乱回折 (EBSD) による完全に再結晶化された多結晶材料の平均粒径を決定するための標準的な方法
  • ASTM D934-22 線回折による水性堆積物中の結晶性化合物の同定のための標準的な手法
  • ASTM D934-13 線回折による水堆積物中の結晶性化合物の同定のための標準的な手法
  • ASTM E2627-10 完全に再結晶化した多結晶材料の電子後方反射回折 (EBSD) を使用した平均粒子サイズの決定のための標準的な手法
  • ASTM D3720-90(2005) X線回折による二酸化チタン顔料のアナターゼとルチルの比率を測定するための試験方法
  • ASTM E1426-14 X線回折法による残留応力測定におけるX線弾性定数の標準試験方法
  • ASTM D5380-93(2003) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM D3720-90(1999) X線回折による二酸化チタン顔料のアナターゼ対ルチル比を決定するための標準試験方法
  • ASTM D5380-93(2021) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM D4926-89(2001) 粉末X線回折によるシリコンおよびボーキサイトを含む石炭接触剤中のガンマアルミニウム含有量の試験方法
  • ASTM D4926-06 粉末X線回折によるシリコンおよびボーキサイトを含む石炭接触剤中のガンマアルミニウム含有量の試験方法
  • ASTM D3720-90(2019) X線回折による二酸化チタン顔料のアナターゼ対ルチル比を測定するための標準試験方法
  • ASTM D3720-90(2011) X線回折による二酸化チタン顔料のアナターゼ対ルチル比を測定するための標準試験方法
  • ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
  • ASTM D2798-99 磨かれた石炭試験片のビトリナイト反射率を顕微鏡で測定するための標準的な試験方法
  • ASTM D4926-06(2011) 粉末X線回折によるシリコンとボーキサイトを含む石炭接触剤中のガンマボーキサイト含有量の標準試験方法
  • ASTM E3143-18a リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
  • ASTM E3143-18 リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
  • ASTM E3143-18b リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
  • ASTM D4926-89(1994)e1 粉末X線回折によるケイ素含有触媒およびアルミナ含有触媒中のガンマアルミナ含有量を測定するための標準試験方法
  • ASTM D7708-14 堆積岩中に分散したビトリナイトの反射率を顕微鏡で測定するための標準試験方法
  • ASTM D7708-23 堆積岩中に分散したビトリナイトの反射率を顕微鏡で測定するための標準試験方法
  • ASTM D6281-98 透過型電子顕微鏡直接転写法(TEM)によって測定される、周囲および屋内環境における浮遊アスベスト濃度の標準試験方法
  • ASTM E2872-14 レーザー回折計を使用してダクト設備における平均スプレー断面特性を決定するための標準ガイド
  • ASTM D6056-96(2011) 作業条件下の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を透過型電子顕微鏡で測定するための標準試験方法
  • ASTM E3143-18b(2023) リポソームの低温透過電子顕微鏡検査を実行するための標準的な手法
  • ASTM E2872-14(2019) 風洞装置でレーザー回折計を使用して噴霧断面の平均特性を決定するための標準ガイド
  • ASTM C1365-18 粉末X線回折分析を使用したポルトランドセメントおよびポルトランドセメントクリンカー中の相の割合を決定するための標準試験方法
  • ASTM D4926-15 X線回折によるシリコンおよびボーキサイトを含む触媒および触媒担体中のガンマアルミナ含有量の標準試験方法
  • ASTM D4616-95(2000) 反射光による瀝青メソフェーズの顕微鏡分析および測定のための標準的な試験方法
  • ASTM D4616-95 反射光による瀝青メソフェーズの顕微鏡分析および測定のための標準的な試験方法
  • ASTM D4616-95(2018) 反射光による瀝青メソフェーズの顕微鏡分析および測定のための標準的な試験方法

Danish Standards Foundation, 電子顕微鏡における回折

  • DS/EN 1330-11:2007 非破壊検査用語 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • DS/CEN ISO/TS 21432/AC:2009 中性子回折により残留応力を測定する非破壊検査の標準的な検査方法
  • DS/CEN ISO/TS 21432:2005 非破壊試験のための中性子回折による残留応力を決定するための標準試験方法 (ISO 21432:2005)

Lithuanian Standards Office , 電子顕微鏡における回折

  • LST EN 1330-11-2007 非破壊検査用語 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • LST EN ISO 21432:2020 非破壊試験のための中性子回折による残留応力を決定するための標準試験方法 (ISO 21432:2019)

German Institute for Standardization, 電子顕微鏡における回折

  • DIN 28120:2021 主電源接続にサイトグラスを備えた丸型サイトグラスアクセサリ
  • DIN ISO 24173:2013-04 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折を使用した配向測定ガイド
  • DIN ISO 13067:2021 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径の測定 (ISO 13067:2020)
  • DIN EN 1330-11:2007-09 非破壊検査用語 第 11 部:多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • DIN ISO 24173:2013 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折を使用した指向性測定のガイドライン (ISO 24713-2009)
  • DIN EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折で使用される用語
  • DIN EN ISO 21432:2021-05 非破壊試験 - 中性子回折による残留応力を測定するための標準試験方法 (ISO 21432:2019)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子顕微鏡における回折

  • DB35/T 1914-2020 β結晶性ポリプロピレン管・継手のβ結晶含有量の測定(X線回折法)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電子顕微鏡における回折

  • GB/T 34172-2017 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折 金属・合金の位相解析法

European Committee for Standardization (CEN), 電子顕微鏡における回折

  • EN 1330-11:2007 非破壊検査 用語 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • EN ISO/TS 21432:2005 非破壊検査 中性子回折による残留応力を測定するための標準的な検査方法
  • EN ISO 21432:2020 非破壊検査のための中性子回折による残留応力測定の標準検査方法
  • CEN ISO/TS 21432:2005 非破壊試験 中性子回折による残留応力測定の標準試験法 ISO 21432-2005
  • CEN ISO/TS 21432/AC:2009 非破壊試験のための中性子回折による残留応力を決定するための標準試験方法 (ISO 21432:2005/Cor 1:2008)
  • EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子顕微鏡における回折

  • KS I ISO 13794-2008(2018) 間接透過型電子顕微鏡による周囲空気中のアスベスト繊維含有量の測定
  • KS B ISO TS 21432:2017 非破壊検査のための中性子回折を使用した残留応力測定の標準的な検査方法
  • KS B ISO 21432:2007 非破壊検査 中性子回折による残留応力を測定するための標準的な検査方法
  • KS D 2716-2008(2018) ナノ粒子径の測定 - 透過型電子顕微鏡
  • KS B ISO TS 21432-2017(2022) 非破壊検査 中性子回折による残留応力を測定するための標準的な検査方法。
  • KS M ISO 20203:2011 アルミニウム製造に使用される炭素材料 か焼コークス か焼石油コークスの結晶サイズを決定するための X 線回折法。
  • KS M ISO 20203:2016 アルミニウム製造に使用される炭素材料である焼成コークス、焼成石油コークスの結晶サイズを決定するX線回折法
  • KS D 2716-2008 ナノ粒子径測定技術 透過型電子顕微鏡
  • KS I ISO 10312-2008(2018) 直接透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定

Professional Standard - Chemical Industry, 電子顕微鏡における回折

  • HG/T 6149-2023 水素化触媒およびその担体中のシリカ結晶相含有量の定量 X線回折法

AENOR, 電子顕微鏡における回折

  • UNE-EN 1330-11:2008 非破壊検査用語 第 11 部:多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • UNE 77253:2003 間接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定

KR-KS, 電子顕微鏡における回折

  • KS D 2716-2023 ナノ粒子径の測定 - 透過型電子顕微鏡
  • KS B ISO 21432-2023 非破壊検査のための中性子回折による残留応力測定の標準検査方法
  • KS B ISO TS 21432-2017 非破壊検査のための中性子回折による残留応力測定の標準検査方法

未注明发布机构, 電子顕微鏡における回折

  • BS ISO 21432:2019 非破壊検査 - 中性子回折による残留応力の標準検査方法

ES-UNE, 電子顕微鏡における回折

CO-ICONTEC, 電子顕微鏡における回折

  • ICONTEC 2979-1991 エレクトロニクス。 石油派生品の電子絶縁油の外観検査

ZA-SANS, 電子顕微鏡における回折

  • SANS 6154:2006 冶金水砕スラグ中のガラス含有量(透過型光学顕微鏡)
  • SANS 1400:1993 溶接や同様の作業によって発生する非電離放射線から目、顔、首を保護する装置(接眼レンズを含む)。 溶接帽子、ハンドマスク、ゴーグル、溶接メガネ

Association of German Mechanical Engineers, 電子顕微鏡における回折

AT-ON, 電子顕微鏡における回折

  • OENORM EN ISO 21432:2021 非破壊試験のための中性子回折による残留応力を決定するための標準試験方法 (ISO 21432:2019)

CH-SNV, 電子顕微鏡における回折

  • SN EN ISO 21432:2021 非破壊試験のための中性子回折による残留応力を決定するための標準試験方法 (ISO 21432:2019)

PL-PKN, 電子顕微鏡における回折

  • PN-EN ISO 21432-2021-03 E 非破壊試験のための中性子回折による残留応力を決定するための標準試験方法 (ISO 21432:2019)

GOSTR, 電子顕微鏡における回折

  • GOST R 58440-2019 直接燃料噴射を備えた定容積燃焼器を使用した中間留分燃料の導出セタン価の決定

ES-AENOR, 電子顕微鏡における回折

  • UNE 26-298-1985 二輪車及び自動二輪車用リフレクター組立品に関する統一規定

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 電子顕微鏡における回折

  • NEMA C78.1421-1992 プロジェクター ランプの寸法とセンタリング システム 35mm 一体型リフレクター エッジ リファレンス ランプ (GZ4 ベース付き)

Standard Association of Australia (SAA), 電子顕微鏡における回折

  • AS/NZS 1338.1:2012 ゴーグル用フィルター - 溶接および関連作業中に発生する放射線から保護するために使用されるフィルター

  電子顕微鏡における回折.

 




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