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サンプル上の原子間力顕微鏡

サンプル上の原子間力顕微鏡は全部で 52 項標準に関連している。

サンプル上の原子間力顕微鏡 国際標準分類において、これらの分類:物理学、化学、 分析化学、 長さと角度の測定、 光学および光学測定、 航空宇宙製造用の材料、 包括的なテスト条件と手順、 原子力工学、 セラミックス、 空気の質、 微生物学、 危険物保護。


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, サンプル上の原子間力顕微鏡

  • GB/T 32262-2015 原子間力顕微鏡検出用の DNA サンプルの調製方法
  • GB/T 33839-2017 炭素系ナノ材料の生物学的効果に基づく生体試料の透過型電子顕微鏡検出法

International Organization for Standardization (ISO), サンプル上の原子間力顕微鏡

  • ISO 23729:2022 表面化学分析、原子間力顕微鏡法、限られたプローブサイズの拡大原子間力顕微鏡画像の回復手順のガイド。
  • ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順
  • ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブ ハンドル プロファイルのオンサイト識別手順。

British Standards Institution (BSI), サンプル上の原子間力顕微鏡

  • BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子間力顕微鏡 有限プローブサイズ拡張のための画像回復手順のガイド
  • 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析のための原子間力顕微鏡 プローブサイズの拡張を制限した原子間力顕微鏡の画像回復手順のガイド
  • BS ISO 21222:2020 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順
  • 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の決定手順
  • BS ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブ ハンドル プロファイルのオンサイト識別手順。
  • 23/30461942 DC BS ISO 19606 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス) 原子間力顕微鏡を用いたファインセラミックス膜の表面粗さの測定方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), サンプル上の原子間力顕微鏡

  • ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド
  • ASTM E2382-04(2012) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムの標準ガイド
  • ASTM E2859-11(2017) 原子間力顕微鏡を使用してナノ粒子を測定するための標準ガイド
  • ASTM E285-08(2015) 原子間力顕微鏡を使用してナノ粒子を測定するための標準ガイド
  • ASTM E2382-04(2020) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナおよびチップ関連のアーティファクトに関する標準ガイド
  • ASTM E2859-11(2023) 原子間力顕微鏡を使用してナノ粒子サイズを測定するための標準ガイド
  • ASTM E2859-11 原子機械顕微鏡を使用した寸法測定の標準ガイド
  • ASTM E2530-06 Si(111) 単一原子レベルを使用したサブナノメートル変位による原子間力顕微鏡の Z 倍率校正の標準手順
  • ASTM D7201-06(2020) 位相差顕微鏡(透過型電子顕微鏡オプションあり)による職場内のアスベスト繊維を含む浮遊繊維のサンプリングと計数の標準的な実施方法
  • ASTM D5756-02 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト質量濃度の間接分析のための標準試験方法
  • ASTM D5756-95 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト質量濃度の間接分析のための標準試験方法
  • ASTM D5755-95 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト構造値濃度の間接分析のための標準的な試験方法
  • ASTM D5755-02 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト構造値濃度の間接分析のための標準的な試験方法
  • ASTM D5756-02(2008) 微小真空サンプリングの標準試験方法と透過型電子顕微鏡による粉塵中のアスベストブロックの表面負荷の間接分析
  • ASTM D5755-03 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
  • ASTM D5755-09 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
  • ASTM D5755-09(2014)e1 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
  • ASTM D7391-09 光学顕微鏡を使用した慣性衝撃サンプル中の空気真菌構造の分類と定量化のための標準的な試験方法
  • ASTM D7391-17 光学顕微鏡による慣性衝撃サンプル中の無負荷の真菌構造の分類と定量化のための標準的な試験方法
  • ASTM D7391-20 光学顕微鏡による慣性衝撃サンプル中の無負荷の真菌構造の分類と定量化のための標準的な試験方法
  • ASTM D7391-17e1 光学顕微鏡による慣性衝撃サンプル中の無負荷の真菌構造の分類と定量化のための標準的な試験方法
  • ASTM D6480-05(2010) 透過型電子顕微鏡による表面拭き取りサンプル中のアスベスト構造値濃度の間接的調製および分析のための標準試験方法
  • ASTM D6480-99 表面サンプリング、間接前処理、および透過型電子顕微鏡によるアスベスト構造数密度の分析のための標準的な試験方法
  • ASTM D6480-05 表面ワイプのサンプリング、間接的な準備、および透過型電子顕微鏡によるアスベスト構造数密度の分析のための標準試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, サンプル上の原子間力顕微鏡

  • GB/T 28872-2012 生細胞サンプル内のナノ構造を検出するための磁気駆動タッピングモード原子間力顕微鏡法
  • GB/T 27760-2011 Si(111) 結晶面の原子ステップを使用した原子間力顕微鏡のサブナノメートルの高さ測定を校正する方法
  • GB/T 31227-2014 原子間力顕微鏡を用いたスパッタ膜の表面粗さの測定方法
  • GB/T 32189-2015 原子間力顕微鏡による窒化ガリウム単結晶基板の表面粗さの検査方法

Group Standards of the People's Republic of China, サンプル上の原子間力顕微鏡

  • T/GDASE 0008-2020 原子間力顕微鏡によるグラフェンフィルムのヤング率の測定

German Institute for Standardization, サンプル上の原子間力顕微鏡

  • DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法

Professional Standard - Nuclear Industry, サンプル上の原子間力顕微鏡

  • EJ/T 20176-2018 原子間力顕微鏡によるダイヤモンド工具刃先鋭さの測定方法

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, サンプル上の原子間力顕微鏡

  • SPB-M2-1-2007 原子間力顕微鏡によるアスファルテンの界面特性とレオロジー特性の研究
  • SPB-M6-1-2010 8 月 4 日: 原子間力顕微鏡を使用したアスファルテンの界面およびレオロジー特性の研究
  • SPB-M14-1-2010 7 月 10 日: 原子間力顕微鏡によるアスファルテンの相互作用とレオロジー特性の研究
  • SPB-M6-2-2010 月 8 日: 原子間力顕微鏡 (AFM) によって測定されたアスファルテンとさまざまな表面の間のコロイド相互作用

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), サンプル上の原子間力顕微鏡

  • JIS R 1683:2007 原子間力顕微鏡によるセラミック膜の表面粗さを測定するための試験方法
  • JIS R 1683:2014 原子間力顕微鏡によるセラミック膜の表面粗さを測定するための試験方法
  • JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法

RU-GOST R, サンプル上の原子間力顕微鏡

  • GOST R 8.593-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム 原子間力走査型トンネル顕微鏡 校正手順
  • GOST R 8.700-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度 原子間力走査型プローブ顕微鏡を用いた表面粗さ効果高度測定法

NL-NEN, サンプル上の原子間力顕微鏡

  • NVN 5770-1993 土とシルト。 原子分光法による元素測定のための土壌およびシルトサンプルの調製。 電子レンジでの硝酸および塩酸を使用したサンプルの破壊




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