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光線顕微鏡および電子顕微鏡

光線顕微鏡および電子顕微鏡は全部で 53 項標準に関連している。

光線顕微鏡および電子顕微鏡 国際標準分類において、これらの分類：物理学、化学、 光学および光学測定、 光学機器、 犯罪予防、 医療機器、 分析化学、 放射線測定、 保護具、 金属材料試験、 計測学と測定の総合、 放射線防護、 ガラス、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 語彙、 非破壊検査、 天文学、測地学、地理学、 教育する、 無線通信、 写真撮影のスキル。

International Organization for Standardization (ISO), 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアーム カーボン ナノチューブの特性評価。
• ISO 4851:1979 個人用ゴーグルの UV フィルターの用途と透過率の要件
• ISO 4852:1978 個人用ゴーグルの赤外線フィルターの用途と透過率の要件
• ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
• ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析

Association of German Mechanical Engineers, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• VDI/VDE 5575 Blatt 4-2011 光線光学系 X線ミラー 全反射ミラーおよび多層膜ミラー
• VDI/VDE 5575 Blatt 7-2011 光線光学系屈折X線レンズ
• VDI/VDE 5575 Blatt 3-2011 光線光学システム キャピラリ X 線レンズ

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• GB 7667-1996 電子顕微鏡 X線漏洩線量
• GB 7667-2003 電子顕微鏡 X線漏洩線量
• GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
• GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
• GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
• GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
• GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
• GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
• GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
• GB/T 17507-1998 生物学的薄い標準サンプルの電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
• GB/T 42557-2023 電波望遠鏡の電磁環境保護に関する技術仕様

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• JIS B 7144:1995 顕微鏡 透過光用集光レンズとサブステージ鏡筒の接続
• JIS Z 4324:2009 X線およびガンマ線の特定範囲の放射線検出器
• JIS Z 4324:2017 X線およびガンマ線用の放射線検出器の設置エリア

Professional Standard - Judicatory, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• SF/T 0139-2023 土壌検査 走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分析

British Standards Institution (BSI), 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• PD ISO/TR 20772:2018 眼科光学眼鏡レンズの短波長可視太陽放射と目
• BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
• 15/30292710 DC BS ISO 19214 透過型電子顕微鏡による線形結晶成長方向の決定に関するガイド

American National Standards Institute （ANSI), 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• ANSI N43.5-2013 X線撮影および非医療用X線撮影における1MeV未満のX線装置の放射線安全基準

Professional Standard - Public Safety Standards, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• GA/T 1522-2018 法医学 銃撃残渣検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
• GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
• GA/T 1938-2021 法医学 金属検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
• GA/T 1937-2021 法医学 ゴム検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析

Indonesia Standards, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• SNI 18-6938-2002 ポータブル X 線および γ 線放射線検出器。

American Society for Testing and Materials (ASTM), 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• ASTM E1734-23 鋳物のX線検査の標準的な方法

Professional Standard - Machinery, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• JB/T 9352-1999 透過型電子顕微鏡検査方法
• JB/T 5383-1991 透過型電子顕微鏡の技術条件

Group Standards of the People's Republic of China, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• T/CSTM 00162-2020 透過型電子顕微鏡の校正方法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• JJG(地质) 1016-1990 透過型電子顕微鏡の校正手順
• JJG(教委) 12-1992 透過型電子顕微鏡の校正手順

Professional Standard - Education, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• JY/T 011-1996 透過型電子顕微鏡法の一般原理
• JY/T 0581-2020 透過型電子顕微鏡分析法の通則

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡 塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• GB/T 33234-2016 光熱発電用ガラスミラーの反射率試験方法

European Committee for Standardization (CEN), 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• EN ISO 17636-1:2022 非破壊検査のための溶接部の X 線検査 - パート 1: X 線およびガンマ線技術とフィルム

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• GB/T 38010.1-2019 メガネフレームとサングラスの電子カタログと識別 パート 1: 製品識別と電子階層カタログ

PL-PKN, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• PN T06502-1986 陰極線オシロスコープ。 一般的な要件とテスト方法

Professional Standard - Commodity Inspection, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• SN/T 2649.1-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その1：X線回折・走査型電子顕微鏡法
• SN/T 3231-2012 タルク中のアスベスト含有量の測定 偏光顕微鏡 - X 線回折分析
• SN/T 2731-2010 非金属鉱物中のアスベストの定性法 X線回折顕微鏡観察

RU-GOST R, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• GOST 25541-1982 X線撮影、用語と定義
• GOST R 51529-1999 医療用 X 線診断カセット、X 線撮影用カセットおよびマンモグラフィー用カセット

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• GJB 2847-1997 X線およびガンマ線から保護するための鉛含有プレキシガラスシートの仕様

International Telecommunication Union (ITU), 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• ITU-R M.1583-2007 非静止移動衛星サービスまたは電波航行衛星サービスシステムと電波天文望遠鏡サイト間の干渉計算

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 光線顕微鏡および電子顕微鏡

• ITU-R M.1583-2002 非静止移動衛星サービスまたは電波航行衛星サービスシステムと電波天文望遠鏡サイト間の干渉計算

その他：   光線走査型電子顕微鏡, 電子顕微鏡とエネルギー分光法, 透過型電子顕微鏡と電子顕微鏡, 電子顕微鏡と透過型電子顕微鏡, SEM X 線, 走査型電子顕微鏡とX線, 電子顕微鏡X線, 電子顕微鏡特性X線, 電子顕微鏡+X線, X線および走査型電子顕微鏡, SEM光線, 光線と物質, 電子顕微鏡光線, X線走査型電子顕微鏡, 光線顕微鏡および電子顕微鏡, レーザーと光線, X線電子顕微鏡, 光線走査型電子顕微鏡, ガンマ線とX線の比較, X線とガンマ線.