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走査型電子顕微鏡の使い方

走査型電子顕微鏡の使い方は全部で 20 項標準に関連している。

走査型電子顕微鏡の使い方 国際標準分類において、これらの分類:分析化学、 物理学、化学、 光学および光学測定、 塗料とワニス、 空気の質、 繊維。


International Organization for Standardization (ISO), 走査型電子顕微鏡の使い方

  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
  • ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアーム カーボン ナノチューブの特性評価。

BE-NBN, 走査型電子顕微鏡の使い方

  • NBN EN ISO 9220:1995 金属保護層。 保護層の厚さの測定: 走査型電子顕微鏡 (ISO 9220-1988) を使用

American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査型電子顕微鏡の使い方

  • ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E2090-06 光学顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用した、クリーンルームのワイパーから放出された粒子と繊維のサイズ区別計数のための標準的な試験方法
  • ASTM E2090-12(2020) 光学顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用した、クリーンルームのワイパーから放出された粒子と繊維のサイズ区別計数のための標準的な試験方法
  • ASTM E3284-23 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) を使用したプライマー残基 (pGSR) の法医学的検査のトレーニングの標準的な実践方法

German Institute for Standardization, 走査型電子顕微鏡の使い方

  • DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法

British Standards Institution (BSI), 走査型電子顕微鏡の使い方

  • DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。
  • BS ISO 21915-1:2020 一部のセルロース系繊維 (リヨセル、キュプラ) および織物中のそれらの混合物の定性および定量分析 走査型電子顕微鏡および分光分析法を使用した繊維の同定
  • 19/30366978 DC BS ISO 21915-1 テキスタイル 特定のセルロース繊維 (リヨセル、キュプラ) およびその混合物の定性および定量分析 パート 1: 走査型電子顕微鏡および分光分析法を使用した繊維の同定

Danish Standards Foundation, 走査型電子顕微鏡の使い方

  • DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。

Association Francaise de Normalisation, 走査型電子顕微鏡の使い方

  • FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。

BELST, 走査型電子顕微鏡の使い方

  • STB 2210-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料のパラメータを決定する方法
  • STB 2209-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料の元素組成を決定する技術

KR-KS, 走査型電子顕微鏡の使い方

  • KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 走査型電子顕微鏡の使い方

  • JIS L 1030-4-1:2023 一部のセルロース系繊維 (リヨセル、キュプラ) および繊維製品中のそれらの混合物の定性および定量分析 パート 4-1: 走査型電子顕微鏡および分光分析法を使用した繊維の同定




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