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X線光電子分光装置:

X線光電子分光装置:は全部で 23 項標準に関連している。

X線光電子分光装置: 国際標準分類において、これらの分類:分析化学、 電気、磁気、電気および磁気測定、 光学および光学測定、 長さと角度の測定。


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線光電子分光装置:

  • GB/T 25184-2010 X線光電子分光装置による識別方法
  • GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置 エネルギースケールの校正
  • GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性

German Institute for Standardization, X線光電子分光装置:

  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
  • DIN ISO 15472:2020 表面化学分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト

British Standards Institution (BSI), X線光電子分光装置:

  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性

International Organization for Standardization (ISO), X線光電子分光装置:

  • ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
  • ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性

Professional Standard - Electron, X線光電子分光装置:

  • SJ/T 10714-1996 X線光電子分光装置の動作特性を確認する標準的な方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X線光電子分光装置:

  • GB/T 22571-2017 表面化学分析用X線光電子分光装置のエネルギースケールの校正

KR-KS, X線光電子分光装置:

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線光電子分光装置:

  • ASTM E2108-16 X線光電子分光計の電子結合エネルギースケールの標準的な手法
  • ASTM E902-94(1999) X線光電子分光装置の動作特性を確認するための標準的な方法
  • ASTM E1217-11(2019) オージェ電子分光計および一部の X 線光電子分光計で検出される信号のサンプル領域を決定するための標準的な手法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線光電子分光装置:

  • KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
  • KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性
  • KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性

未注明发布机构, X線光電子分光装置:

  • BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性




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