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単結晶X線回折装置による分析

単結晶X線回折装置による分析は全部で 168 項標準に関連している。

単結晶X線回折装置による分析 国際標準分類において、これらの分類：教育する、分析化学、放射線防護、金属材料試験、非破壊検査、無機化学、労働安全、労働衛生、化学製品、金属の生産、非鉄金属、耐火物、非金属鉱物、放射線測定、建材、セラミックス、発電所総合、空気の質、塗料成分、語彙、金属鉱石、原子力工学、土工、掘削、基礎工事、地下工事、半導体材料、光学および光学測定、長さと角度の測定。

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 単結晶X線回折装置による分析

JJG 629-2014 多結晶X線回折装置の校正手順
JJG 629-1989 多結晶X線回折装置の校正手順
JJG(地质) 1014-1990 多結晶X線回折装置の校正手順

PT-IPQ, 単結晶X線回折装置による分析

E E 14-1971 X線回折分析

Professional Standard - Education, 単結晶X線回折装置による分析

JY/T 0588-2020 単結晶X線回折装置を用いた低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理
JY/T 008-1996 円単結晶 X 線回折装置を使用した低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 単結晶X線回折装置による分析

KS M 0043-2009 X線回折分析
KS M 0043-2009(2019) X線回折分析の一般規則
KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析 – 全反射蛍光X線分析装置によりシリコンウェーハ表面の元素不純物を測定
KS E 3076-2002 ワンパスシリカとシリカの蛍光X線分析
KS D ISO 15472:2003 表面化学分析、X線光電分光装置、エネルギースケールの校正
KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
KS D ISO 15632:2012 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 単結晶X線回折装置による分析

GB 16355-1996 X線回折装置および蛍光分析装置の放射線防護基準
GB/T 42676-2023 半導体単結晶結晶品質検査X線回折法
GB/T 30904-2014 無機化学製品の結晶構造解析のためのX線回折法
GB/T 19421.1-2003 層状結晶性二ケイ酸ナトリウムの試験方法デルタ相の定性分析層状結晶性二ケイ酸ナトリウム X 線回折法
GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置エネルギースケールの校正
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
GB/T 6609.32-2009 アルミナの化学分析法と物性測定法第32回 α-アルミナ含有量の測定 X線回折法
GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法選択された機器の性能パラメーターの表現

British Standards Institution (BSI), 単結晶X線回折装置による分析

BS EN 13925-3:2005(2009) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
BS EN 13925-3:2005 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
BS ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクノロジーセラミックス）平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法
20/30360821 DC BS ISO 22278 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス）平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質を判定する試験方法
BS ISO 16258-2:2015 職場の空気 X 線回折を用いた呼吸可能な石英の分析間接分析法
BS EN 15305:2008 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法
BS ISO 16258-1:2015 職場の空気 X 線回折を使用した呼吸可能な石英の分析直接濾過法
BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
BS ISO 21270:2005 表面化学分析、X 線光電子およびオージェ電子分光計、強度スケールの直線性

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, 単結晶X線回折装置による分析

GBZ 115-2002 X線回折装置および蛍光分析装置の衛生保護基準

German Institute for Standardization, 単結晶X線回折装置による分析

DIN EN 13925-3:2005 非破壊検査多結晶およびアモルファス材料の X 線回折パート 3: 機器
DIN EN 13925-3:2005-07 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
DIN EN 13925-2:2003 非破壊検査多結晶および非晶質材料の X 線回折パート 2: 手順
DIN EN 13925-1:2003 非破壊検査多結晶材料および非晶質材料の X 線回折パート 1: 一般原理
DIN EN 13925-2:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 2: 手順
DIN EN 13925-1:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 1: 一般原理
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
DIN EN 15305:2009-01 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
DIN EN 1330-11:2007-09 非破壊検査用語第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
DIN EN 15305:2009 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法。
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X線回折解析による非破壊検査残留応力解析の検査方法
DIN EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折で使用される用語
DIN IEC 62495:2011 核機器、小型 X 線管を使用したポータブル蛍光 X 線分析装置 (IEC 62495-2011)
DIN EN 12698-2:2007 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析その2：X線回折（XRD）法
DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
DIN ISO 15632:2015 マイクロビーム分析半導体検出器を備えたエネルギー発散 X 線分光計の機器仕様 (ISO 15632-2012)

European Committee for Standardization (CEN), 単結晶X線回折装置による分析

EN 13925-3:2005 非破壊検査多結晶およびアモルファス材料の X 線回折パート 3: 機器
EN 13925-2:2003 非破壊検査多結晶および非晶質材料の X 線回折パート 2: 手順
EN 13925-1:2003 非破壊検査多結晶材料および非晶質材料の X 線回折パート 1: 一般原理
EN 12698-2:2007 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析その2：X線回折（XRD）法
EN 15305:2008 非破壊検査 X 線回折を用いた残留応力解析の試験方法正誤表の組み込み - 2009 年 1 月

Association Francaise de Normalisation, 単結晶X線回折装置による分析

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 非破壊検査多結晶およびアモルファス材料の X 線回折パート 3: 機器
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査第2部：手順
NF EN 1330-11:2007 非破壊検査 - 用語 - パート 11: 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 非破壊検査多結晶材料および非晶質材料の X 線回折パート 1: 基本原理
NF EN 13925-2:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 2: 手順
NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 X線回折による職場空気の吸入性結晶性シリカの分析その2：間接分析法
NF EN 15305:2009 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 3: 装置
NF EN 13925-1:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 1: 一般原則
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶および非晶質材料の X 線回折に関する用語。
NF T25-111-3:1991 炭素繊維 - 組織と構造 - パート 3: X 線回折の方位角分析
NF A09-185*NF EN 15305:2009 非破壊検査 - X線回折による残留応力解析の検査方法
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 X線回折による職場空気の吸入性結晶質シリカの分析その1：直接ろ過法
NF A09-285:1999 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法
NF ISO 16258-2:2015 職場空気中の X 線回折による結晶質シリカの呼吸可能成分の測定パート 2: 間接分析法
NF ISO 16258-1:2015 作業場空気X線回折法による結晶性シリカの吸入性フラクションの測定その1：直接ろ過分析法
NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析パート 2: X 線回折 (XRD) 法。
NF X21-055:2006 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
NF X21-008:2012 マイクロビーム分析半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様

Danish Standards Foundation, 単結晶X線回折装置による分析

DS/EN 13925-3:2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
DS/EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査第2部：手順
DS/EN 13925-1:2003 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
DS/EN 15305/AC:2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
DS/EN 15305:2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法

Lithuanian Standards Office , 単結晶X線回折装置による分析

LST EN 13925-3-2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
LST EN 13925-2-2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査第2部：手順
LST EN 13925-1-2004 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
LST EN 15305-2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
LST EN 15305-2008/AC-2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法

AENOR, 単結晶X線回折装置による分析

UNE-EN 13925-3:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
UNE-EN 13925-2:2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査第2部：手順
UNE-EN 13925-1:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
UNE-EN 15305:2010 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
UNE-EN 1330-11:2008 非破壊検査用語第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 単結晶X線回折装置による分析

JIS H 7805:2005 X線回折装置を用いた金属結晶の粒径測定方法
JIS K 0131:1996 X線回折装置測定分析通則
JIS M 8205:2000 鉄鉱石蛍光X線分析装置
JIS A 1481-3:2014 建材製品中のアスベストの測定その3：X線回折によるアスベスト含有量の定量分析
JIS A 1481-3 AMD 1:2022 建材製品中のアスベストの定量その3：X線回折によるアスベスト含有量の定量分析（修正1）
JIS K 0148:2005 表面化学分析全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用した、シリコンウェーハ上の主な表面汚染物質の測定。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 単結晶X線回折装置による分析

GB/T 37983-2019 結晶材料X線回折装置回転配向性試験方法
GB/T 36923-2018 真珠粉の識別方法 X線回折分析
GB/T 40407-2021 ポルトランドセメントクリンカーの鉱物相のX線回折分析法

工业和信息化部, 単結晶X線回折装置による分析

YS/T 1178-2017 アルミニウムスラグの相分析 X線回折法
YB/T 172-2020 X線回折法による珪石れんがの定量相分析
YS/T 1344.3-2020 錫ドープ酸化インジウム粉末の化学分析法その３：相分析Ｘ線回折分析法
YS/T 1160-2016 工業用シリコン粉末の定量相分析シリカ含有量の定量 X線回折K値法

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 単結晶X線回折装置による分析

YB/T 172-2000 珪石れんがの定量相分析。 X線回折法
YB/T 5336-2006 X線回折法を用いたハイス中の炭化物相の定量分析
YB/T 5320-2006 X線回折K値法による金属材料の相定量分析

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 単結晶X線回折装置による分析

JJF 1256-2010 X線単結晶配向装置の校正仕様
JJF 1133-2005 蛍光X線分析装置の金含有量分析装置の校正仕様

American National Standards Institute （ANSI), 単結晶X線回折装置による分析

ANSI N43.2-2001 X線回折・蛍光分析装置の放射線安全性

Professional Standard - Energy, 単結晶X線回折装置による分析

NB/SH/T 6015-2020 X線回折法によるZSM-23モレキュラーシーブの単位胞パラメータの決定
NB/SH/T 6033-2021 X線回折法によるZSM-22モレキュラーシーブの単位格子パラメータの決定
NB/SH/T 6024-2021 X線回折法によるZSM-5モレキュラーシーブの相対結晶化度の測定
NB/SH/T 0339-2021 X線回折法を用いたフォージャサイト型ゼオライトの単位格子パラメータの決定

Professional Standard - Customs, 単結晶X線回折装置による分析

HS/T 12-2006 X線回折法によるタルク、亜塩素酸塩、マグネサイト混合相の定量分析

Professional Standard - Nuclear Industry, 単結晶X線回折装置による分析

EJ/T 767-1993 放射線源励起蛍光X線分析装置
EJ/T 684-1992 ポータブル線源励起蛍光X線分析装置
EJ/T 684-2016 ポータブルエネルギー分散型蛍光X線分析装置

International Organization for Standardization (ISO), 単結晶X線回折装置による分析

ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、先端産業用セラミックス）平行X線ビームX線回折法による単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法
ISO 16258-2:2015 職場の空気 X 線回折による吸入性結晶質シリカの分析パート 2: 間接分析法
ISO 16258-1:2015 職場の空気 X 線回折による吸入性結晶質シリカの分析その 1: 直接濾過法
ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
ISO 15472:2001 表面化学分析 X線光電子分光計のエネルギースケール校正
ISO 15632:2021 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
ISO 15632:2012 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
ISO 14706:2000 表面化学分析全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
ISO 14706:2014 表面化学分析全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
ISO 15632:2002 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明

Professional Standard - Electricity, 単結晶X線回折装置による分析

DL/T 1151.22-2012 火力発電所におけるスケール生成物および腐食生成物の分析方法第22部：蛍光X線分析法とX線回折分析法

Professional Standard - Building Materials, 単結晶X線回折装置による分析

JC/T 1085-2008 セメント用蛍光X線分析装置

KR-KS, 単結晶X線回折装置による分析

KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析 – 全反射蛍光X線分析装置によりシリコンウェーハ表面の元素不純物を測定
KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析・X線光電子分光装置・エネルギースケールの校正

American Society for Testing and Materials (ASTM), 単結晶X線回折装置による分析

ASTM D5380-93(2003) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
ASTM D5380-93(2021) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
ASTM E3294-22 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
ASTM E3294-23 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
ASTM D5380-93(2009) X線回折分析による塗料中の結晶性顔料およびフィラーの同定のための標準的な試験方法
ASTM D5380-93(1998) X線回折分析による塗料中の結晶性顔料およびフィラーの同定のための標準的な試験方法
ASTM D5380-93(2014) X線回折分析による塗料中の結晶性顔料およびフィラーの同定のための標準的な試験方法
ASTM C1365-06(2011) 粉末X線回折分析によるポルトランドセメントおよびポルトランドセメントスラグステージ比を決定するための標準試験方法
ASTM C1365-06 粉末X線回折分析によるポルトランドセメントおよびポルトランドセメントスラグステージ比を決定するための標準試験方法
ASTM C1365-98 粉末X線回折分析によるポルトランドセメントおよびポルトランドセメントスラグの段階比率を決定するための標準試験方法
ASTM C1365-98(2004) 粉末X線回折分析によるポルトランドセメントおよびポルトランドセメントスラグの段階比率を決定するための標準試験方法

Professional Standard - Petroleum, 単結晶X線回折装置による分析

SY/T 5163-1995 堆積岩中の粘土鉱物の相対含有量のX線回折分析法
SY/T 5163-2010 堆積岩中の粘土鉱物および一般的な非粘土鉱物のX線回折分析法
SY/T 6210-1996 堆積岩中の全粘土鉱物と一般非粘土鉱物のX線回折定量分析法

未注明发布机构, 単結晶X線回折装置による分析

BS EN 15305:2008(2009) 非破壊検査の試験方法 X線回折残留応力解析
BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性

Professional Standard - Machinery, 単結晶X線回折装置による分析

JB/T 9399-1999 X線分析装置主要パラメータシリーズ
JB/T 9399-2010 X線分析装置主要パラメータシリーズ

RU-GOST R, 単結晶X線回折装置による分析

GOST R ISO 16258-1-2017 X線回折による職場空気の吸入性結晶性シリカの分析その1. 直接ろ過法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 単結晶X線回折装置による分析

GB/T 36017-2018 非破壊検査装置蛍光X線分析管
GB/T 22571-2017 表面化学分析用X線光電子分光装置のエネルギースケールの校正
GB/T 35734-2017 ポータブル管励起蛍光 X 線分析装置の分類、安全要件、およびテスト

International Electrotechnical Commission (IEC), 単結晶X線回折装置による分析

IEC 62495:2011 核監視装置、マイクロX線管を利用したポータブル蛍光X線分析装置
IEC 61335:1997 原子力機器用掘削装置蛍光X線分析装置

国家能源局, 単結晶X線回折装置による分析

SY/T 5163-2018 堆積岩中の粘土鉱物および一般的な非粘土鉱物のX線回折分析法

工业和信息化部/国家能源局, 単結晶X線回折装置による分析

JB/T 12962.2-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析装置その2：元素分析装置
JB/T 12962.3-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析装置その3：膜厚測定装置

IN-BIS, 単結晶X線回折装置による分析

IS 12803-1989 蛍光X線分析装置を用いた水硬性セメントの分析方法