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エネルギースペクトルデータの分析方法

エネルギースペクトルデータの分析方法は全部で 20 項標準に関連している。

エネルギースペクトルデータの分析方法 国際標準分類において、これらの分類：非破壊検査、 分析化学、 情報技術の応用、 原子力工学。


American Society for Testing and Materials (ASTM), エネルギースペクトルデータの分析方法

  • ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法

Association Francaise de Normalisation, エネルギースペクトルデータの分析方法

  • NF ISO 16242:2012 界面化学分析 オージェ電子分光法 (AES) データのログ記録とレポート作成
  • NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析、オージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポート
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート

International Organization for Standardization (ISO), エネルギースペクトルデータの分析方法

  • ISO 16242:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポート
  • ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告

British Standards Institution (BSI), エネルギースペクトルデータの分析方法

  • BS ISO 16242:2011 表面化学分析 - オージェ電子分光法 (AEC) のデータの記録と報告
  • BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
  • 19/30364173 DC BS ISO 22581 XPS による表面化学分析 X 線光電子分光法調査スキャンからのほぼリアルタイムの情報のデータ管理と処理 表面汚染の特定と修正のルール

German Institute for Standardization, エネルギースペクトルデータの分析方法

  • DIN ISO 16242:2020-05 界面化学分析は、オージェ電子分光法 (AES) でデータを記録および報告します。
  • DIN ISO 16242:2020 表面化学分析のためのオージェ電子分光法 (AES) によるデータの記録とレポート (ISO 16242:2011)、英語テキスト

American National Standards Institute （ANSI), エネルギースペクトルデータの分析方法

  • ANSI/IEEE 1214:1992 核分光法用の標準マルチチャネル アナライザ周波数プロファイル データ交換フォーマット

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), エネルギースペクトルデータの分析方法

  • IEEE 1214-1992 核分光法用の標準マルチチャネル アナライザ周波数プロファイル データ交換フォーマット
  • IEEE Std 1214-1992 核分光法用の IEEE 標準マルチチャネル アナライザー (MCA) ヒストグラム データ交換形式

International Electrotechnical Commission (IEC), エネルギースペクトルデータの分析方法

  • IEC 61455:1995 原子力機器における核エネルギー分光測定用のマルチチャンネル アナライザー ヒストグラム データ交換フォーマット

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, エネルギースペクトルデータの分析方法

  • GB/T 32565-2016 表面化学分析のためのオージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポートの仕様要件
  • GB/T 33502-2017 表面化学分析のための X 線光電子分光法 (XPS) データの記録とレポートの仕様要件

RU-GOST R, エネルギースペクトルデータの分析方法

  • GOST R ISO 16242-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム 表面化学分析 オージェ電子分光法 (AES) データの記録と報告
  • GOST R ISO 16243-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) データの記録と報告

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