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X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法は全部で 54 項標準に関連している。

X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、長さと角度の測定、非破壊検査、総合電子部品、電気、磁気、電気および磁気測定、光学および光学測定、物理学、化学。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

GB/T 25184-2010 X線光電子分光装置による識別方法
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置エネルギースケールの校正
GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法選択された機器の性能パラメーターの表現
GB/T 31470-2015 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法検査における検出信号に対応する試料面積を決める一般則
GB/T 25185-2010 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
GB/T 29556-2013 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法分析装置で検出できる横分解能、分析領域およびサンプル領域の決定

German Institute for Standardization, X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 表面化学分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト

British Standards Institution (BSI), X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法のレポート
BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析：電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用に選択された機器の仕様と性能パラメータ
BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機器性能パラメータ
20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法の報告
19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ
IEC 62607-6-21:2022 ナノ製造の重要な制御特性第6-21回：グラフェン系材料の元素組成、C/O比：X線光電子分光法

International Organization for Standardization (ISO), X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
ISO/TR 19319:2003 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性
KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光法帯電制御・帯電補正法レポート
KS D ISO 19319:2005 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
KS D ISO 15632:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

未注明发布机构, X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

ASTM E996-04 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-10 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E2108-16 X線光電子分光計の電子結合エネルギースケールの標準的な手法
ASTM E1217-11 X線光電子分光器およびオージェ電子分光器を使用して、検出信号に影響を与えるサンプルの領域を決定するための標準的な操作手順
ASTM E1217-11(2019) オージェ電子分光計および一部の X 線光電子分光計で検出される信号のサンプル領域を決定するための標準的な手法
ASTM E1217-00 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法
ASTM E1217-05 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法
ASTM E902-94(1999) X線光電子分光装置の動作特性を確認するための標準的な方法
ASTM E1523-97 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E1523-15 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド

Professional Standard - Electron, X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

SJ/T 10458-1993 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法におけるサンプルハンドリングの標準ガイド
SJ/T 10714-1996 X線光電子分光装置の動作特性を確認する標準的な方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

GB/T 22571-2017 表面化学分析用X線光電子分光装置のエネルギースケールの校正

KR-KS, X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析・X線光電子分光装置・エネルギースケールの校正
KS D ISO 15632-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Standard Association of Australia （SAA）, X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明
AS ISO 19319:2006 表面化学分析。オーギュル電子分光法とX線光電子分光法。分析者の横方向解像度の目視検査、分析領域とサンプル領域

International Electrotechnical Commission (IEC), X線光電子分光分析装置用サンプルの準備方法

IEC TS 62607-6-21:2022 ナノ製造、重要な制御特性、パート 6-21: グラフェンベースの材料、元素組成 C/O 比: X 線光電子分光法