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X線結晶解析

X線結晶解析は全部で 500 項標準に関連している。

X線結晶解析 国際標準分類において、これらの分類：教育する、 金属材料試験、 光学および光学測定、 無機化学、 分析化学、 化学製品、 金属の生産、 空気の質、 塗料成分、 非破壊検査、 粒度分析、スクリーニング、 放射線測定、 非鉄金属、 ブラックメタル、 半導体材料、 耐火物、 語彙、 標準化の一般原則、 合金鉄、 医療機器、 発電所総合、 放射線防護、 原子力工学、 建材、 鉄鋼製品、 電気および電子試験、 金属鉱石、 非金属鉱物、 労働安全、労働衛生、 石油製品総合、 電子管、 検査医学、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 太陽工学、 プラスチック、 整流器、コンバータ、安定化電源、 燃料、 長さと角度の測定、 非鉄金属製品、 総合電子部品、 土工、掘削、基礎工事、地下工事、 絶縁流体、 天然ガス、 ジュエリー、 半導体ディスクリートデバイス、 消防、 光学機器、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 微生物学、 電子機器用機械部品、 無駄、 石炭、 航空宇宙エンジンおよび推進システム。


Professional Standard - Education, X線結晶解析

  • JY/T 0588-2020 単結晶X線回折装置を用いた低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理
  • JY/T 008-1996 円単結晶 X 線回折装置を使用した低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理。
  • JY/T 0587-2020 多結晶X線回折法の一般規則
  • JY/T 009-1996 回転ターゲット多結晶X線誘導体化法の一般原理
  • JY/T 0567-2020 誘導結合プラズマ発光分光分析法の一般原理

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線結晶解析

  • GB/T 42676-2023 半導体単結晶結晶品質検査X線回折法
  • GB/T 30904-2014 無機化学製品の結晶構造解析のためのX線回折法
  • GB/T 43610-2023 マイクロビーム分析と電子顕微鏡を使用して線状結晶の見かけの成長方向を決定する透過型電子顕微鏡法
  • GB/T 19421.1-2003 層状結晶性二ケイ酸ナトリウムの試験方法 デルタ相の定性分析 層状結晶性二ケイ酸ナトリウム X 線回折法
  • GB/T 38532-2020 マイクロビーム分析 電子後方散乱回折 平均粒径の決定
  • GB/T 42360-2023 水の表面化学分析 全反射蛍光X線分光分析
  • GB/T 19140-2003 セメントの蛍光X線分析の一般原則
  • GB 16355-1996 X線回折装置および蛍光分析装置の放射線防護基準
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
  • GB/T 13710-1992 分析用X線管ブランク詳細仕様
  • GB/T 19500-2004 X線光電子分光分析法の一般原理
  • GB/T 25923-2010 オンラインガス分析装置の技術条件
  • GB/T 25924-2010 オンラインガス分析計のテスト方法
  • GB/T 43088-2023 マイクロビーム分析と電子顕微鏡による金属薄結晶試料の転位密度の測定方法
  • GB/T 13971-1992 UVガス分析計の技術条件
  • GB/T 13971-2013 UVガス分析計の技術条件
  • GB/T 25929-2010 赤外線ガス分析計の技術条件
  • GB/T 25930-2010 赤外線ガス分析計の試験方法
  • GB/T 42518-2023 グロー放電質量分析法によるゲルマニウム酸ビスマス (BGO) 結晶の微量元素化学分析
  • GB/T 16597-1996 冶金製品の分析のための蛍光 X 線分析の一般原理
  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 5275.4-2014 ガス分析 ダイナミックボリューム法 校正用混合ガスの準備 その4：連続注入法
  • GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/Z 42520-2023 鉄鉱石蛍光X線分析実験室操作ガイド
  • GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
  • GB/T 26070-2010 化合物半導体研磨ウェーハの表面下損傷の反射差分スペクトル検査方法
  • GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理

Professional Standard - Machinery, X線結晶解析

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X線結晶解析

  • GB/T 34612-2017 サファイア結晶のX線双結晶回折のロッキングカーブの測定方法
  • GB/T 36017-2018 非破壊検査装置 蛍光X線分析管

Association of German Mechanical Engineers, X線結晶解析

KR-KS, X線結晶解析

  • KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析 – 全反射蛍光X線分析装置によりシリコンウェーハ表面の元素不純物を測定
  • KS D 1655-2008(2019)(英文版) 鋼の蛍光X線分析方法
  • KS D ISO 22489-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析
  • KS D ISO 22489-2018(2023) マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • KS D ISO 3815-1-2021 亜鉛および亜鉛合金 パート 1: 発光分光分析による固体サンプルの分析

IET - Institution of Engineering and Technology, X線結晶解析

HU-MSZT, X線結晶解析

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線結晶解析

Professional Standard - Aviation, X線結晶解析

  • HB 6742-1993 X線裏面照射ラウエ写真による単結晶ブレードの結晶方位の決定

International Organization for Standardization (ISO), X線結晶解析

  • ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
  • ISO 16258-2:2015 職場の空気 X 線回折による吸入性結晶質シリカの分析 パート 2: 間接分析法
  • ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
  • ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
  • ISO 17867:2015 粒子径分析、小角X線散乱
  • ISO 20289:2018 表面化学分析 - 水の全反射蛍光X線分析
  • ISO 13067:2020 マイクロビーム分析 - 電子後方散乱回折 - 平均粒径の測定
  • ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線スパッタリング法
  • ISO 17867:2020 粒子径分析、小角X線散乱(SAXS)
  • ISO 16258-1:2015 職場の空気 X 線回折による吸入性結晶質シリカの分析 その 1: 直接濾過法
  • ISO 14706:2000 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
  • ISO 14706:2014 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
  • ISO 19214:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡による糸状結晶の顕著な成長方向の決定方法
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
  • ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
  • ISO 16087:2013 外科用インプラント、整形外科用インプラントの評価、レントゲン線立体写真測量解析。
  • ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用
  • ISO 15632:2021 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
  • ISO 15632:2012 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
  • ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
  • ISO 15632:2002 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
  • ISO 17470:2004 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型X線分光法による質点分析のガイド。
  • ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
  • ISO 23749:2022 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、鋼中のオーステナイトの定量
  • ISO 20203:2005 アルミニウム製造に使用される炭素材料 か焼コークス か焼石油コークスのX線回折による結晶粒径の測定
  • ISO 23703:2022 マイクロビーム解析電子後方散乱回折 (EBSD) を使用したオーステナイト系ステンレス鋼の機械的損傷評価のための方位解析ガイド
  • ISO 17470:2014 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分散型 X 線分光法による定性点分析ガイド
  • ISO 22489:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
  • ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
  • ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）パート2：湿式化学分析
  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
  • ISO 29581-2:2010 セメント 試験方法 第2部 蛍光X線法による化学分析
  • ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
  • ISO 15472:2001 表面化学分析 X線光電子分光計のエネルギースケール校正
  • ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順

PT-IPQ, X線結晶解析

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, X線結晶解析

  • JJF 1256-2010 X線単結晶配向装置の校正仕様
  • JJF 1079-2002 ブラウン管カラーアナライザーの校正仕様
  • JJF 1133-2005 蛍光X線分析装置の金含有量分析装置の校正仕様

Association Francaise de Normalisation, X線結晶解析

  • NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 X線回折による職場空気の吸入性結晶性シリカの分析その2：間接分析法
  • NF X20-301:1978 非分散型赤外線吸収を利用したガス分析法
  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • NF EN 1330-11:2007 非破壊検査 - 用語 - パート 11: 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折
  • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 基本原理
  • NF EN 13925-2:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 2: 手順
  • NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 X線回折による職場空気の吸入性結晶質シリカの分析その1：直接ろ過法
  • NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 3: 装置
  • NF EN 13925-1:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 1: 一般原則
  • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶および非晶質材料の X 線回折に関する用語。
  • NF ISO 16258-2:2015 職場空気中の X 線回折による結晶質シリカの呼吸可能成分の測定パート 2: 間接分析法
  • NF X20-361:1976 ガス分析、非分散赤外線の吸収による一酸化炭素の測定
  • NF ISO 16258-1:2015 作業場空気X線回折法による結晶性シリカの吸入性フラクションの測定その1：直接ろ過分析法
  • NF X21-071:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
  • NF S92-501:2006 医療生物分析研究所、人体放射線計測、人体放射線計数、高エネルギーアルファ線放射体 (200 keV 以上) の測定
  • NF C93-621-7*NF EN 60444-7:2004 水晶部品のパラメータ測定 その7：水晶部品の放射能と周波数低下の測定
  • NF EN 15305:2009 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • NF X11-683:1981 液体内のさまざまな高さで重力により堆積した粉末粒子の分析 X 線吸光分析
  • NF T51-223:1985 プラスチック製品 半結晶材料 熱分析による従来の融点の測定。
  • NF X21-008:2012 マイクロビーム分析 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
  • NF S92-502:2006 医療生物分析研究所、人間の放射線学、肺の計数、低エネルギー X 線およびアルファ線放射体 (200 keV 未満)
  • NF T25-111-3:1991 炭素繊維 - 組織と構造 - パート 3: X 線回折の方位角分析
  • NF X21-003:2006 マイクロビーム分析 電子プローブ微量分析 波長分布定量分析ガイド X線分光分析
  • NF A09-185*NF EN 15305:2009 非破壊検査 - X線回折による残留応力解析の検査方法
  • NF EN ISO 12677:2011 蛍光X線法～溶融ビーズ法による耐火物の化学分析
  • NF A06-012*NF EN 14242:2005 アルミニウムおよびアルミニウム合金の化学分析 誘導結合プラズマ発光分光法
  • A08-652:1994 チタンおよびチタン合金の化学分析およびプラズマ発光分光分析で従うべきルール
  • NF A09-285:1999 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法
  • NF EN ISO 6145-4:2008 ガス分析 動的容積法を使用した校正ガス混合物の調製 パート 4: 連続注入シリンジ法
  • NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析 パート 2: X 線回折 (XRD) 法。
  • NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）その2：湿式化学分析
  • XP A06-379-1999 波長散乱蛍光X線分光法の日常使用のための標準の開発ガイドライン
  • NF X21-055:2006 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 蛍光X線分析による石油製品中のバナジウムおよびニッケル含有量の測定
  • NF A11-103:1977 フェロニオブ合金の化学分析、蛍光X線分析によるニオブの定量
  • NF X21-006:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法によるバルクサンプルの定量点分析。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線結晶解析

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X線結晶解析

  • GB/T 37983-2019 結晶材料X線回折装置回転配向性試験方法
  • GB/T 20724-2021 マイクロビーム分析 収束ビーム電子回折 薄い結晶の厚さの測定
  • GB/T 41076-2021 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量分析電子後方散乱回折
  • GB/T 5832.4-2020 ガス分析 微量水分の定量 その4：水晶振動子法
  • GB/T 36923-2018 真珠粉の識別方法 X線回折分析
  • GB/T 40407-2021 ポルトランドセメントクリンカーの鉱物相のX線回折分析法
  • GB/T 37182-2018 ガス分析プラズマ発光ガスクロマトグラフィー
  • GB/T 36401-2018 表面化学分析報告書 X線光電子分光法による薄膜分析結果
  • GB/T 16597-2019 冶金製品の分析のための蛍光 X 線分析の一般原理
  • GB/T 40485-2021 石炭のビトリナイトランダム反射率を自動決定するための画像解析法

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線結晶解析

  • ASTM D5380-93(2009) X線回折分析による塗料中の結晶性顔料およびフィラーの同定のための標準的な試験方法
  • ASTM D5380-93(2003) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM D5380-93(1998) X線回折分析による塗料中の結晶性顔料およびフィラーの同定のための標準的な試験方法
  • ASTM D5380-93(2021) X線回折分析によるコーティング中の結晶性顔料および増量剤の同定のための標準試験方法
  • ASTM D5380-93(2014) X線回折分析による塗料中の結晶性顔料およびフィラーの同定のための標準的な試験方法
  • ASTM E1621-21 X線発光分光分析の標準ガイド
  • ASTM E975-00 結晶方位がほぼランダムな鋼中の残留オーステナイトを X 線で測定するための標準的な手法
  • ASTM E1621-05 X線発散分光分析の標準ガイド
  • ASTM E1085-95(2004) 金属のX線放射分光分析の分析試験方法
  • ASTM E1085-95(2000) 金属のX線放射分光分析の分析試験方法
  • ASTM E1085-95(2004)e1 金属のX線放射分光分析の分析試験方法
  • ASTM E572-94(2000) ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-02a(2006)e1 ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-02a(2006) ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E572-02a ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E1361-90(1999) X線分光分析における入射影響補正の標準ガイド
  • ASTM E572-94(2000)e1 ステンレス鋼のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM E1361-02(2021) X線分光分析における入射影響補正の標準ガイド
  • ASTM E322-96e1 低合金鋼および鋳鉄のX線発光分析の分析方法
  • ASTM E975-03(2008) ほぼランダムに結晶化した配向鋼における残留オーステナイトの X 線測定の標準的な手法
  • ASTM E975-03 ほぼランダムに結晶化した配向鋼における残留オーステナイトの X 線測定の標準的な手法
  • ASTM E975-22 結晶配向がほぼランダムな鋼の残留オーステナイトを X 線で測定するための標準試験方法
  • ASTM E975-13 ほぼランダムな結晶配向を持つ鋼中の残留オーステナイトを X 線で測定するための標準的な手法
  • ASTM D5381-93(2003) 顔料および充填剤の蛍光 X 線 (XRF) 分光分析
  • ASTM D5381-93(1998) 顔料および充填剤の蛍光 X 線 (XRF) 分光分析
  • ASTM F1375-92(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態のエネルギー分散型 X 線分光分析の試験方法
  • ASTM E322-96(2004) 低合金鋼および鋳鉄のX線発光分光分析の標準試験方法
  • ASTM D6052-97(2016) エネルギー分散型蛍光 X 線による液体有害廃棄物の調製および元素分析の標準試験方法
  • ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法
  • ASTM E1588-10e1 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E2125-01 フェンシクリジンおよびその類似体の法医学分析における微結晶検査の標準ガイド
  • ASTM E2125-07 フェンシクリジンおよびその類似体の法医学分析における微結晶検査の標準ガイド
  • ASTM E3294-22 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
  • ASTM C1271-99(2006) 石灰および石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM C1271-99 石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM C1271-99(2020) 石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM D6052-97 エネルギー分散型蛍光X線による液体有害廃棄物の調製および元素分析の標準試験方法
  • ASTM D6052-97(2003) エネルギー分散型蛍光X線による液体有害廃棄物の調製および元素分析の標準試験方法
  • ASTM D6052-97(2008) エネルギー分散型蛍光X線による液体有害廃棄物の調製および元素分析の標準試験方法
  • ASTM D6052-97(2023) エネルギー分散型蛍光 X 線による液体有害廃棄物の調製および元素分析の標準試験方法
  • ASTM E539-90(1996)e1 6アルミニウム4バナジウムチタン合金のX線放射分光分析の標準試験方法
  • ASTM E539-02 6アルミニウム4バナジウムチタン合金のX線放射分光分析の標準試験方法
  • ASTM E539-06 6アルミニウム4バナジウムチタン合金のX線放射分光分析の標準試験方法
  • ASTM E3294-23 粉末X線回折による地質物質の法医学分析のための標準ガイド
  • ASTM E1968-11 コカインの法医学分析における微結晶検査の標準ガイド
  • ASTM E2465-11e1 X線分光法によるニッケル基合金の分析のための標準試験方法
  • ASTM C1271-99(2012) 石灰および石灰石のX線分光分析の標準試験方法
  • ASTM E1097-03 直流プラズマ発光分光分析法の分析方法に関する標準ガイド

German Institute for Standardization, X線結晶解析

  • DIN EN 13925-2:2003 非破壊検査 多結晶および非晶質材料の X 線回折 パート 2: 手順
  • DIN EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 一般原理
  • DIN EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-3:2005-07 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-2:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 2: 手順
  • DIN ISO 13067:2021-08 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径測定
  • DIN EN 13925-1:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 1: 一般原理
  • DIN 51418-2:2015 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN 51418-2:1996 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測定、校正、評価の定義と基本原理
  • DIN EN 1330-11:2007-09 非破壊検査用語 第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • DIN ISO 13067:2021 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径の測定 (ISO 13067:2020)
  • DIN 51418-1:2008-08 放射線分光法 X 線放射および蛍光 X 線分析 (XRF) 第 1 部: 定義と基本原理
  • DIN 50443-1:1988 半導体プロセスで使用される材料の検査その1：X線形状測定による半導体単結晶シリコンの結晶欠陥や不均一性の検出
  • DIN 51004:1994 熱分析 (TA) 示差熱分析 (DTA) を使用した結晶材料の融解温度の決定。
  • DIN 51418-1:2008 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折で使用される用語
  • DIN 51418-1:1996 X 線分光分析、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (RFA) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X線回折解析による非破壊検査 残留応力解析の検査方法
  • DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • DIN EN 15305:2009-01 非破壊検査 X線回折残留応力解析試験方法
  • DIN 55912-2 Bb.2:1999 顔料、二酸化チタン顔料、分析方法、蛍光 X 線分析による検量線の作成。
  • DIN 51729-10:1996 固体燃料の試験 燃料灰の化学組成の決定 パート 10: 蛍光 X 線分析 (RFA)
  • DIN 51729-10:2011-04 固体燃料の試験 燃料灰の化学組成の決定 第 10 部：蛍光 X 線分析
  • DIN 51729-10:2011 固体燃料の試験 燃料灰の化学組成の決定 パート 10: 蛍光 X 線分析
  • DIN 51418-2:2015-03 線分光分析 X 線発光および X 線蛍光分析 (XRF) 第 2 部: 測定、校正、および結果の評価の定義と基本原理
  • DIN EN 14242:2023-04 アルミニウムおよびアルミニウム合金 - 化学分析 - 誘導結合プラズマ発光分光分析
  • DIN EN 14242:2023 アルミニウムおよびアルミニウム合金。 化学分析。 誘導結合プラズマ発光分光分析
  • DIN IEC 62495:2011 核機器、小型 X 線管を使用したポータブル蛍光 X 線分析装置 (IEC 62495-2011)
  • DIN EN 15305:2009 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法。
  • DIN ISO 15632:2015 マイクロビーム分析半導体検出器を備えたエネルギー発散 X 線分光計の機器仕様 (ISO 15632-2012)
  • DIN EN 14242:2004 アルミニウムおよびアルミニウム合金、化学分析、誘導結合プラズマ発光分光分析。
  • DIN 6871-2:2005 陽電子放出断層撮影用のサイクロトロン システム パート 2: 放射線防護ラビリンス シールと欄干入口
  • DIN 55912-2 Bb.1:1999 顔料 二酸化チタン顔料 分析方法 蛍光 X 線分析による微量成分の測定例
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 線測光、X 線散乱および蛍光 X 線分析 (XRF)、パート 2: 測定、校正、結果の評価の定義と基本原理、追加情報と計算例
  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • DIN EN ISO 21587-2:2007-12 アルミノケイ酸塩耐火物の化学分析 (蛍光 X 線法の代替) - パート 2: 湿式化学分析
  • DIN EN ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）その2：湿式化学分析
  • DIN EN 12698-2:2007 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析その2：X線回折（XRD）法
  • DIN 50433-3:1982 半導体プロセス材料の検討 その3：ラウエ後方散乱法による単結晶方位の決定
  • DIN 6870-1:2009 放射線医療の品質管理システム パート 1: 放射線治療

European Committee for Standardization (CEN), X線結晶解析

  • EN 13925-2:2003 非破壊検査 多結晶および非晶質材料の X 線回折 パート 2: 手順
  • EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 一般原理
  • EN 14242:2004 アルミニウムおよびアルミニウム合金、化学分析、誘導結合プラズマ発光分光分析。
  • CEN/TR 10354:2011 鉄金属材料の化学分析 フェロシリコン分析 蛍光X線分析分析 シリコンとアルミニウムの定量
  • EN 12698-2:2007 窒化物結合炭化ケイ素耐火物の化学分析その2：X線回折（XRD）法
  • PD CEN/TR 10354:2011 鉄系材料の化学分析 フェロシリコンの分析 蛍光X線分析によるシリコンとアルミニウムの定量

Danish Standards Foundation, X線結晶解析

  • DS/EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • DS/EN 13925-3:2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DS/EN 13925-1:2003 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • DS/EN 15305/AC:2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • DS/EN 15305:2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • DS/EN ISO 6145-4:2008 ガス分析 ダイナミックボリューム法を使用した校正ガス混合物の調製 パート 4: 連続シリンジ注入法
  • DS/EN 14242:2004 アルミニウムおよびアルミニウム合金の化学分析 誘導結合プラズマ発光分光分析
  • DS/CEN/TR 10354:2012 鉄系金属材料の化学分析 フェロシリコン分析 蛍光X線分析分析 Si、Alの定量
  • DS/EN ISO 21587-2:2007 アルミノケイ酸塩耐火物品の化学分析 (蛍光 X 線の代替) パート 2: 湿式化学分析
  • DS/EN ISO 3815-1:2005 亜鉛および亜鉛合金 パート 1: 発光分光法による固体サンプルの分析

Lithuanian Standards Office , X線結晶解析

  • LST EN 13925-3-2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • LST EN 13925-2-2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • LST EN 13925-1-2004 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • LST EN 15305-2008 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • LST EN 15305-2008/AC-2009 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • LST EN 14242-2005 アルミニウムおよびアルミニウム合金の化学分析 誘導結合プラズマ発光分光分析
  • LST EN ISO 6145-4:2008 ガス分析 動的容量法を使用した校正ガス混合物の調製 パート 4: 連続シリンジ注入法 (ISO 6145-4:2004)

AENOR, X線結晶解析

  • UNE-EN 13925-2:2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • UNE-EN 13925-3:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • UNE-EN 13925-1:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • UNE-EN 1330-11:2008 非破壊検査用語 第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • UNE-EN 15305:2010 非破壊検査用X線回折による残留応力解析の試験方法
  • UNE-EN ISO 6145-4:2008 ガス分析 動的容量法を使用した校正ガス混合物の調製 パート 4: 連続シリンジ注入法 (ISO 6145-4:2004)

British Standards Institution (BSI), X線結晶解析

  • BS ISO 17867:2015 粒子径分析、小角X線散乱
  • BS ISO 20289:2018 表面化学分析 水の全反射蛍光X線分析
  • BS ISO 13067:2020 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径の測定
  • BS ISO 17867:2020 粒子径分析 小角 X 線散乱 (SAXS)
  • DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線散乱
  • BS DD ISO/TS 13762:2002 粒子径分析 小角X線散乱法
  • 19/30365236 DC BS ISO 13067 マイクロビーム分析 後方散乱電子回折 平均粒径の測定
  • BS ISO 13424:2013 表面化学分析・X線分光分析・薄膜分析レポート
  • BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
  • BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
  • BS ISO 16258-2:2015 職場の空気 X 線回折を用いた呼吸可能な石英の分析 間接分析法
  • 15/30292710 DC BS ISO 19214 透過型電子顕微鏡による線形結晶成長方向の決定に関するガイド
  • PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 全反射蛍光X線分光法 生物および環境分析への応用
  • BS ISO 16087:2013 外科用インプラント、整形外科用インプラントの評価、レントゲン線立体写真測量解析。
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用
  • BS ISO 20203:2006 アルミニウム製造用炭素原料 か焼コークス か焼石油コークスのX線回折による結晶粒子径の測定
  • BS ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
  • BS ISO 23749:2022 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量的測定 後方散乱電子回折
  • BS 3156-11.5:1996 ガス分析、非製造ガス法、オンライン分析システムの性能評価
  • BS EN 15305:2008 非破壊検査 X線回折による残留応力解析の検査方法
  • BS ISO 24173:2009 マイクロビーム解析、後方散乱電子回折を使用した方位角測定の基準
  • BS EN 14242:2004 アルミニウムおよびアルミニウム合金、化学分析、誘導結合プラズマ光放射分光分析。
  • BS EN ISO 21587-2:2007 ケイ酸アルミニウム耐火物製品の化学分析（蛍光X線法はオプション）湿式化学分析
  • BS ISO 17470:2014 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光分析を使用した定性点分析のガイド。
  • BS ISO 29581-2:2010 セメント 試験方法 蛍光X線法による化学分析
  • BS ISO 23703:2022 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 (EBSD) によるオーステナイト系ステンレス鋼の機械的損傷を評価するための方向ずれ解析ガイド
  • 22/30444828 DC BS EN 14242 アルミニウムおよびアルミニウム合金の化学分析 - 誘導結合プラズマ発光分光分析
  • 21/30398224 DC BS ISO 23749 マイクロビーム分析による後方散乱電子回折による鋼中のオーステナイトの定量的測定
  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
  • BS EN 12698-2:2007 炭化ケイ素耐火物に結合した窒化物の化学分析 光線回折 (XRD) 法
  • BS EN ISO 10058-2:2009 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法） 湿式化学分析
  • BS EN ISO 10058-2:2008 マグネサイトおよびドロマイト耐火物の化学分析（オプションの蛍光X線法）湿式化学分析
  • BS ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光計、エネルギー準位の校正
  • BS ISO 16258-1:2015 職場の空気 X 線回折を使用した呼吸可能な石英の分析 直接濾過法
  • 21/30395106 DC BS ISO 23703 マイクロビーム解析電子後方散乱回折 (EBSD) によるオーステナイト系ステンレス鋼の機械的損傷の評価のための誤方位解析ガイド
  • BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), X線結晶解析

  • IEEE 759-1984 半導体X線エネルギースペクトル分析装置の試験手順

工业和信息化部, X線結晶解析

  • YS/T 1178-2017 アルミニウムスラグの相分析 X線回折法
  • YB/T 172-2020 X線回折法による珪石れんがの定量相分析
  • YS/T 1344.3-2020 錫ドープ酸化インジウム粉末の化学分析法その３：相分析Ｘ線回折分析法
  • HG/T 5831-2021 化学産業向けオンラインガス質量分析計アナライザー
  • YB/T 4144-2019 原子発光分光分析の化学分析曲線ルールを確立および管理する
  • YS/T 1160-2016 工業用シリコン粉末の定量相分析 シリカ含有量の定量 X線回折K値法
  • YS/T 273.17-2020 氷晶石の化学分析法と物性 第17回：誘導結合プラズマ発光分析法による元素含有量の測定

RU-GOST R, X線結晶解析

Professional Standard - Energy, X線結晶解析

  • NB/SH/T 6015-2020 X線回折法によるZSM-23モレキュラーシーブの単位胞パラメータの決定
  • NB/SH/T 6033-2021 X線回折法によるZSM-22モレキュラーシーブの単位格子パラメータの決定
  • NB/SH/T 6024-2021 X線回折法によるZSM-5モレキュラーシーブの相対結晶化度の測定
  • NB/SH/T 0339-2021 X線回折法を用いたフォージャサイト型ゼオライトの単位格子パラメータの決定

Professional Standard - Electron, X線結晶解析

  • SJ 20719-1998 蛍光X線によるテルル化水銀カドミウム結晶のX値測定法
  • SJ 50033/155-2002 半導体ディスクリートデバイス 3DG252タイプシリコンマイクロ波リニアトランジスタ 詳細仕様
  • SJ/Z 3206.13-1989 半導体材料の発光スペクトル解析法の一般原則

IT-UNI, X線結晶解析

  • UNI 6966-1971 X線回折による多結晶の極性パターンの数の決定

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, X線結晶解析

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, X線結晶解析

American National Standards Institute （ANSI), X線結晶解析

Professional Standard - Non-ferrous Metal, X線結晶解析

  • YS/T 273.14-2008 氷晶石の化学分析法と物性 第14回：蛍光X線分析による元素含有量の測定
  • YS/T 273.11-2006 氷晶石の化学分析および物理的性質の測定方法 第 11 部: 蛍光 X 線分析による硫黄含有量の測定
  • YS/T 273.15-2012 氷晶石の化学分析および物性測定方法 第15回 蛍光X線分析法（打錠法）による元素含有量の測定
  • YS/T 869-2013 4Aゼオライトの化学組成分析方法 蛍光X線法

Professional Standard - Nuclear Industry, X線結晶解析

Professional Standard - Electricity, X線結晶解析

  • DL/T 1151.22-2012 火力発電所におけるスケール生成物および腐食生成物の分析方法 第22部：蛍光X線分析法とX線回折分析法

Professional Standard - Hygiene , X線結晶解析

  • WS/T 117-1999 X線、γ線、β線、電子線による眼の水晶体線量の推定基準

Professional Standard - Building Materials, X線結晶解析

IN-BIS, X線結晶解析

  • IS 4570 Pt.8-1985 水晶振動子ブラケット仕様その8 金属溶接3線式水晶振動子ブラケット タイプDK
  • IS 4570 Pt.7-1985 水晶振動子サポート仕様パート 7 マイクロ、メタル、はんだ封止、2 線式水晶振動子サポート タイプ DJ
  • IS 4570 Pt.12-1989 水晶振動子サポートの仕様 パート 12 マイクロ、金属、冷間溶接、2 線式水晶振動子サポート タイプ EB
  • IS 4570 Pt.5-1984 水晶振動子ホルダー仕様パート 5 ftfiETAL、はんだシール、2 線式水晶振動子ホルダー タイプ BF、EF/1 および BG、BG 1
  • IS 12803-1989 蛍光X線分析装置を用いた水硬性セメントの分析方法

Professional Standard - Chemical Industry, X線結晶解析

  • HG/T 6149-2023 水素化触媒およびその担体中のシリカ結晶相含有量の定量 X線回折法

CZ-CSN, X線結晶解析

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, X線結晶解析

  • GBZ 115-2002 X線回折装置および蛍光分析装置の衛生保護基準

Defense Logistics Agency, X線結晶解析

  • DLA SMD-5962-07218 REV A-2008 モノリシックシリコン超高周波NPN-PNP組み合わせトランジスタアレイ耐放射線性リニアマイクロ回路
  • DLA DSCC-DWG-85019 REV E-2008 ビット プログラマブル アクティブ遅延ライン、16 PIN および 3 ビット トランジスタ論理回路と互換性があり、送信機ロジックと結合
  • DLA SMD-5962-00521 REV E-2008 モノリシックシリコン相補型スイッチング電界効果トランジスタドライバー、耐放射線デジタルリニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-96521 REV B-2005 耐放射線相補型金属酸化物半導体トリプル 3 入力トランジスタ互換シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-96523 REV B-2005 耐放射線相補型金属酸化物半導体トリプル 3 入力トランジスタ互換シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-96517 REV D-2007 放射線耐性 相補型金属酸化物半導体 六角形インバータトランジスタ 互換入力 シリコンモノリシック回路 リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95683 REV B-2000 高速放射ハード相補型金属酸化物半導体クワッド2入力トランジスタ互換シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95745 REV D-2004 高速放射線耐性相補型金属酸化膜半導体、非反転八角形バスレシーバー、トランジスタ互換入力シリコンモノリシック回路ラインマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95721 REV B-2000 高速放射ハード相補型金属酸化膜半導体トリプル 3 入力、トランジスタ互換入力シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95732 REV B-2000 高速放射ハード相補型金属酸化物半導体六角形インバータトランジスタ互換入力シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95734 REV B-2000 高速放射ハード相補型金属酸化物半導体トリプル 3 入力トランジスタ互換入力シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95735 REV B-2000 高速放射ハード相補型金属酸化物半導体 8入力および非トランジスタ互換入力シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95736 REV B-2000 高速放射ハード相補型金属酸化膜半導体クワッド 2 入力トランジスタ互換入力シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95760 REV B-2000 高速放射線耐性相補型金属酸化物半導体、デュアル 4 入力トランジスタ互換入力シリコンモノリシック回路ラインマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95765 REV B-2000 高速放射ハード相補型金属酸化物半導体トリプル 3 入力トランジスタ互換入力シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-95766 REV A-1998 高速放射ハード相補型金属酸化物半導体デュアル 4 入力トランジスタ互換入力シリコンモノリシック回路リニアマイクロ回路

International Electrotechnical Commission (IEC), X線結晶解析

  • IEC 60444-7:2004 水晶部品のパラメータの測定 その7: 水晶部品の放射能と周波数低下の測定
  • IEC 62495:2011 核監視装置、マイクロX線管を利用したポータブル蛍光X線分析装置
  • IEC 61335:1997 原子力機器用掘削装置 蛍光X線分析装置
  • IEC 60679-3:1989 水晶発振器 パート 3: 標準の概要とリード線の接続

Professional Standard - Aerospace, X線結晶解析

  • QJ 963-1986 α-AL2O3含有量のX線定量分析法
  • QJ 962-1986 二酸化ジルコニウムの立方晶相（安定相）含有量のX線分析法

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, X線結晶解析

Group Standards of the People's Republic of China, X線結晶解析

  • T/CPIA 0048.1-2022 生産ライン用結晶質シリコン標準太陽電池の製造に関するガイドライン 第 1 部: 均質な結晶質シリコン太陽電池
  • T/CPIA 0048.2-2023 生産ライン用の標準結晶シリコン太陽電池の製造に関するガイドライン パート 2: 異種結晶シリコン太陽電池
  • T/CSTM 01102-2023-2023 マイクロビーム蛍光X線分析法を用いた溶接継手部品のその場統計分布解析

Professional Standard - Petroleum, X線結晶解析

  • SY/T 5163-1995 堆積岩中の粘土鉱物の相対含有量のX線回折分析法
  • SY/T 5163-2010 堆積岩中の粘土鉱物および一般的な非粘土鉱物のX線回折分析法

未注明发布机构, X線結晶解析

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, X線結晶解析

  • GJB 9331-2018 固体ロケットモーターの工業用断層撮影 (CT) テスト要件
  • GJB 9763-2020 固体ロケットモーター燃焼室の高エネルギーX線トモグラフィー検出法

ES-UNE, X線結晶解析

  • UNE-EN 14242:2023 アルミニウムおよびアルミニウム合金の化学分析誘導結合プラズマ発光分光分析
  • UNE 53934:2016 プラスチック蛍光X線によるポリマー材料中の元素の分析

Professional Standard - Geology, X線結晶解析

  • DZ/T 0370-2021 ポータブル蛍光X線現場分析に関する技術基準

Professional Standard - Medicine, X線結晶解析

  • YY 0832.1-2011 線放射線治療定位および計画システム パート 1: 頭部 X 線放射線治療定位および計画システム

RO-ASRO, X線結晶解析

Professional Standard - Customs, X線結晶解析

  • HS/T 12-2006 X線回折法によるタルク、亜塩素酸塩、マグネサイト混合相の定量分析

工业和信息化部/国家能源局, X線結晶解析

  • JB/T 12962.2-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析装置 その2：元素分析装置

国家能源局, X線結晶解析

  • SY/T 5163-2018 堆積岩中の粘土鉱物および一般的な非粘土鉱物のX線回折分析法

Professional Standard - Commodity Inspection, X線結晶解析

  • SN/T 2079-2008 ステンレス鋼および合金鋼の分析方法 蛍光X線分析法

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., X線結晶解析

  • IEEE 1260-1996 電力線 AM 放送再放射の予測測定および分析に関するガイドライン
  • IEEE 1260-2018 電力線 AM 放送再放射の予測測定および分析に関するガイドライン

WRC - Welding Research Council, X線結晶解析

  • BULLETIN 259-1980 PCRC溶接試験片155、202、203、251JのX線撮影による評価分析

American Welding Society (AWS), X線結晶解析

  • WRC 259:1980 PRRC 溶接試験片 155、202、203、251J の X 線撮影による評価分析

Society of Automotive Engineers (SAE), X線結晶解析

Standard Association of Australia （SAA）, X線結晶解析

  • AS 4392.1:1996 重い鉱物の砂。 波長分散型蛍光X線分析。 チタン鉱石
  • ISO 7291:2010/Amd.1:2015 表面化学分析 シリコンウェーハ作業用標準物質の表面から元素を収集するための化学的方法と、全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法によるそれらの測定 修正 1

  結晶のX線回折, X線結晶回折, 結晶の分析方法, X線回折結晶, X線結晶回折, 結晶分析法, X線結晶分析:, 結晶X線回折, X線結晶, X線結晶, 光線結晶回折, X線結晶解析, X線回折結晶, 結晶X線の検出, X線結晶, X線結晶構造解析, 光線解析, 結晶分析, 光線結晶回折, 結晶分析.

 



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