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高倍率電子顕微鏡

高倍率電子顕微鏡は全部で 262 項標準に関連している。

高倍率電子顕微鏡 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 光学および光学測定、 分析化学、 熱力学と温度測定、 計測学と測定の総合、 語彙、 溶接、ロウ付け、低温溶接、 空気の質、 教育する、 電子部品および部品、 総合電子部品、 金属材料試験、 長さと角度の測定、 犯罪予防、 製図、 表面処理・メッキ、 電子表示装置、 複合強化素材、 建材、 ゴムやプラスチックの原料、 物理学、化学、 包括的なテスト条件と手順、 鉄鋼製品、 セラミックス。


American Society for Testing and Materials (ASTM), 高倍率電子顕微鏡

  • ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
  • ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
  • ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
  • ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
  • ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
  • ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
  • ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
  • ASTM E986-97 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E986-04(2017) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM E2530-06 Si(111) 単一原子レベルを使用したサブナノメートル変位による原子間力顕微鏡の Z 倍率校正の標準手順
  • ASTM E3143-18a リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
  • ASTM E3143-18 リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
  • ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
  • ASTM E3143-18b リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
  • ASTM C1723-16(2022) 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
  • ASTM C1723-10 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
  • ASTM C1723-16 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
  • ASTM D3849-13 電子顕微鏡を使用したカーボンブラックの形態学的特性の標準試験方法
  • ASTM D3849-14 電子顕微鏡を使用したカーボンブラックの形態学的特性の標準試験方法
  • ASTM E986-04 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM D3849-95a(2000) 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態学的特性を測定するための標準試験方法
  • ASTM D3849-07 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態学的特性を測定するための標準試験方法
  • ASTM E986-04(2010) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
  • ASTM D3849-22 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態学的特性を測定するための標準試験方法
  • ASTM E3143-18b(2023) リポソームの低温透過電子顕微鏡検査を実行するための標準的な手法
  • ASTM D7201-06(2020) 位相差顕微鏡（透過型電子顕微鏡オプションあり）による職場内のアスベスト繊維を含む浮遊繊維のサンプリングと計数の標準的な実施方法
  • ASTM D3849-02 カーボンブラックの標準試験法 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態特性の解析
  • ASTM D3849-04 カーボンブラックの標準試験法 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態特性の解析
  • ASTM B748-90(1997) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
  • ASTM B748-90(2006) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
  • ASTM D7201-06(2011) 位相差顕微鏡 (オプションで透過型電子顕微鏡) を使用して職場をサンプリングし、空気繊維 (アスベスト繊維を含む) 含有量を計算するための標準操作手順
  • ASTM E2142-08(2015) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
  • ASTM E2142-08 走査型電子顕微鏡を使用した鉄中の介在物を等級分けおよび分類するための標準的な試験方法
  • ASTM D3849-14a カーボンブラックの標準試験法 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態的特性の測定
  • ASTM E2142-08(2023) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
  • ASTM B748-90(2010) 走査型電子顕微鏡による断面の測定による金属コーティングの厚さを測定するための標準試験方法

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 高倍率電子顕微鏡

Professional Standard - Machinery, 高倍率電子顕微鏡

British Standards Institution (BSI), 高倍率電子顕微鏡

  • BS ISO 11884-2:2007 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 高性能顕微鏡
  • BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
  • BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
  • BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • BS ISO 29301:2017 分析電子顕微鏡用の周期構造を有する標準物質を使用して画像倍率を校正するためのマイクロビーム解析法
  • BS ISO 29301:2023 分析電子顕微鏡用の周期構造を有する標準物質を使用して画像倍率を校正するためのマイクロビーム解析法
  • BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
  • BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
  • BS EN ISO 9220:1989 金属皮膜 皮膜厚さ測定 走査型電子顕微鏡法
  • BS EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定
  • BS ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、電子顕微鏡分析、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
  • BS ISO 24639:2022 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
  • BS ISO 13794:1999 周囲空気 アスベスト繊維の測定 間接転写電子顕微鏡法
  • PD ISO/TS 10797:2012 ナノテクノロジーでは透過型電子顕微鏡を使用して単層カーボン ナノチューブの特性を評価します
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属コーティングのコーティング厚さの測定 走査型電子顕微鏡
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 マイクロビーム分析 電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 エネルギー分解能の測定
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
  • BS ISO 19749:2021 ナノテクノロジーでは走査型電子顕微鏡を使用して粒子サイズと形状分布を測定します
  • 15/30292710 DC BS ISO 19214 透過型電子顕微鏡による線形結晶成長方向の決定に関するガイド
  • BS ISO 13794:2019 間接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • BS ISO 10312:2019 直接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • BS EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジーは透過型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • BS EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • BS ISO 21363:2020 ナノテクノロジーは透過型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • BS ISO 20263:2017 マイクロビーム解析と電子顕微鏡を用いた層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
  • PD ISO/TS 22292:2021 ナノテクノロジーでは、透過型電子顕微鏡を使用して棒状のナノオブジェクトの 3D 画像を再構成します。
  • BS ISO 14966:2019 走査型電子顕微鏡による大気中の無機繊維粒子の濃度数値測定
  • BS PD ISO/TS 22292:2021 ナノテクノロジーでは、透過型電子顕微鏡を使用してロッドで支持されたナノオブジェクトの 3D 画像を再構成します。
  • 18/30351714 DC BS ISO 21363 ナノテクノロジー 透過型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749 ナノテクノロジー 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定

International Organization for Standardization (ISO), 高倍率電子顕微鏡

  • ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
  • ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • ISO 11884-2:2007 光学とフォトニクス 実体顕微鏡の最小要件 パート 2: 高性能顕微鏡
  • ISO 15932:2013 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、語彙
  • ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
  • ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
  • ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 19214:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡による糸状結晶の顕著な成長方向の決定方法
  • ISO/FDIS 29301:2023 マイクロビーム解析 周期構造を有する標準物質を使用した画像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法
  • ISO 29301:2023 マイクロビーム解析 周期構造を有する標準物質を使用した画像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法
  • ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
  • ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
  • ISO 9220:2022 金属皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法
  • ISO 9220:1988 金属皮膜膜厚測定走査型電子顕微鏡
  • ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
  • ISO 13794:1999 間接転写電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • ISO 10312:1995 直接転写電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • ISO 21363:2020 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル
  • ISO 13794:2019 周囲空気 - アスベスト繊維の測定 - 間接転写透過型電子顕微鏡
  • ISO 10312:2019 周囲空気 アスベスト繊維の測定 直接転写透過電子顕微鏡法
  • ISO 19749:2021 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
  • ISO 24639:2022 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光法による元素分析のためのエネルギースケーリング手順。
  • ISO/CD 20263:2023 マイクロビーム解析と電子顕微鏡を用いた層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
  • ISO 14966:2019 周囲空気 無機繊維粒子の濃度数値測定 走査型電子顕微鏡法
  • ISO/TS 10797:2012 ナノテクノロジー: 透過型電子顕微鏡を使用した単層カーボン ナノチューブの特性評価
  • ISO/TS 22292:2021 ナノテクノロジー: 透過型電子顕微鏡を使用したロッド支持ナノオブジェクトの 3 次元画像の再構成
  • ISO 20263:2017 マイクロビーム解析 - 分析透過型電子顕微鏡 - 層状材料の断面画像における界面位置の決定方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 高倍率電子顕微鏡

  • JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理
  • JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定 パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
  • JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
  • JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • JIS K 3850-3:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 3: 間接転写透過型電子顕微鏡
  • JIS K 3850-2:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 2: 直接転写透過型電子顕微鏡
  • JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 高倍率電子顕微鏡

KR-KS, 高倍率電子顕微鏡

  • KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
  • KS D 2716-2023 ナノ粒子径の測定 - 透過型電子顕微鏡
  • KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡画像倍率校正ガイド
  • KS C ISO 19749-2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
  • KS C ISO 21363-2023 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定

Association Francaise de Normalisation, 高倍率電子顕微鏡

  • NF ISO 15932:2014 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡の用語
  • NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
  • XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
  • NF A91-108:1995 金属皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
  • NF EN ISO 9220:2022 金属皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法
  • FD T16-209:2012 ナノテクノロジーでは透過型電子顕微鏡を使用して単層カーボン ナノチューブの特性を評価します
  • NF T16-404:2020 ナノテクノロジー、透過型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジーは透過型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • NF T25-111-4:1991 炭素繊維 - テクスチャーと構造 - パート 4: 走査型電子顕微鏡によるフラクトグラフィー
  • NF ISO 13794:2020 間接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • NF ISO 10312:2020 直接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
  • NF X43-050:2021 透過型電子顕微鏡間接法による大気質のアスベスト繊維濃度の測定
  • NF EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
  • NF EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定
  • NF X43-050:1996 大気の質 電子顕微鏡透過法によるアスベスト繊維密度の測定 間接法

Group Standards of the People's Republic of China, 高倍率電子顕微鏡

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 高倍率電子顕微鏡

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 高倍率電子顕微鏡

Professional Standard - Education, 高倍率電子顕微鏡

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 高倍率電子顕微鏡

  • GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法
  • GB/T 34831-2017 ナノテクノロジー 貴金属ナノ粒子 電子顕微鏡イメージング 高角度環状暗視野法
  • GB/T 34331-2017 キュウリ緑斑モザイクウイルスの透過型電子顕微鏡検出法
  • GB/T 34002-2017 マイクロビーム解析透過型電子顕微鏡用周期構造標準物質を用いた像倍率の校正方法
  • GB/T 34168-2017 金および銀ナノ粒子材料の生物学的影響の透過型電子顕微鏡検出法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 高倍率電子顕微鏡

  • GB 7667-1996 電子顕微鏡 X線漏洩線量
  • GB 7667-2003 電子顕微鏡 X線漏洩線量
  • GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
  • GB/T 18907-2013 マイクロビーム解析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、選択電子回折分析法
  • GB/Z 21738-2008 一次元ナノ材料の基本構造 高分解能透過型電子顕微鏡検出法
  • GB/T 21637-2008 コロナウイルス透過型電子顕微鏡による形態学的識別法
  • GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂岩サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
  • GB/T 19267.6-2003 犯罪手法における微量証拠の物理的および化学的検査 パート 6; 走査電子顕微鏡法
  • GB/T 28044-2011 ナノマテリアルの生物学的影響の透過型電子顕微鏡検出法の一般規則
  • GB/T 17507-1998 生物学的薄い標準サンプルの電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 27760-2011 Si(111) 結晶面の原子ステップを使用した原子間力顕微鏡のサブナノメートルの高さ測定を校正する方法
  • GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 17361-2013 マイクロビーム分析を用いた堆積岩中の自生粘土鉱物の同定のための走査型電子顕微鏡とエネルギー分光計法
  • GB/T 19267.6-2008 犯罪技術的痕跡証拠の物理的および化学的検査 第 6 部: 走査型電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光法
  • GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 28873-2012 ナノ粒子の生体形態効果に対する環境走査型電子顕微鏡検出法の一般原理
  • GB/T 17361-1998 走査型電子顕微鏡とX線エネルギー分光法による堆積岩中の自生粘土鉱物の同定法

Association of German Mechanical Engineers, 高倍率電子顕微鏡

  • DVS 2803-1974 顕微鏡下での電子ビーム溶接（調査）
  • VDI 3861 Blatt 2-2008 走査型電子顕微鏡による固定発生源から排出される排ガス中の無機繊維粒子の測定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 高倍率電子顕微鏡

  • GB/T 35098-2018 マイクロビーム解析 透過電子顕微鏡法 透過電子顕微鏡法 植物ウイルスの形態の同定

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 高倍率電子顕微鏡

RU-GOST R, 高倍率電子顕微鏡

  • GOST 21006-1975 電子顕微鏡、用語、定義、およびアルファベット記号
  • GOST R 8.594-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム 走査型電子顕微鏡
  • GOST R 8.636-2007 国家測定均一性保証制度 走査型電子顕微鏡 校正方法
  • GOST 8.594-2009 国家測定均一性保証制度 走査型電子顕微鏡 識別方法
  • GOST R 8.631-2007 国家測定均一性保証制度 走査型電子測定顕微鏡 検証方法

Professional Standard - Petroleum, 高倍率電子顕微鏡

  • SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 高倍率電子顕微鏡

International Electrotechnical Commission (IEC), 高倍率電子顕微鏡

  • IEC PAS 62191:2000 非気密封止された電子部品の音響顕微鏡検査
  • ISO TS 10797:2012 ナノテクノロジー: 透過型電子顕微鏡を使用した単層カーボン ナノチューブの特性評価

国家能源局, 高倍率電子顕微鏡

  • SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

German Institute for Standardization, 高倍率電子顕微鏡

  • DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法
  • DIN EN ISO 9220:2022-05 金属皮膜 - 皮膜厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡
  • DIN EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定 (ISO 19749:2021)
  • DIN EN ISO 21363:2022-03 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定 (ISO 21363:2020)

工业和信息化部, 高倍率電子顕微鏡

  • YB/T 4676-2018 透過型電子顕微鏡による鋼中の析出相の分析
  • SJ/T 11759-2020 太陽電池電極のグリッドラインのアスペクト比の測定 レーザー走査型共焦点顕微鏡

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 高倍率電子顕微鏡

  • DB32/T 3459-2018 グラフェンフィルムの微小領域の被覆率をテストするための走査型電子顕微鏡法

Professional Standard - Judicatory, 高倍率電子顕微鏡

  • SF/T 0139-2023 土壌検査 走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分析

SE-SIS, 高倍率電子顕微鏡

European Committee for Standardization (CEN), 高倍率電子顕微鏡

  • EN ISO 9220:2022 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
  • EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル
  • EN ISO 9220:1994 金属被覆 コーティング厚さ測定 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220-1988)
  • EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
  • prEN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
  • prEN ISO 21363:2021 透過型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布のナノテクノロジー測定 (ISO 21363:2020)

Danish Standards Foundation, 高倍率電子顕微鏡

  • DS/EN ISO 9220:1995 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
  • DS/ISO/TS 10797:2012 ナノテクノロジーでは透過型電子顕微鏡を使用して単層カーボン ナノチューブの特性を評価します
  • DS/ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します

ES-UNE, 高倍率電子顕微鏡

  • UNE-EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定方法
  • UNE-EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジーは透過型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
  • UNE-EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します

Professional Standard - Public Safety Standards, 高倍率電子顕微鏡

  • GA/T 1939-2021 法医学現在点検査走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1938-2021 法医学 金属検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1937-2021 法医学 ゴム検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 909-2010 痕跡証拠の抽出およびパッケージング方法 射撃残渣を検出するための走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法
  • GA/T 1522-2018 法医学 銃撃残渣検査 走査型電子顕微鏡/X線分光分析
  • GA/T 1521-2018 法医学 プラスチック元素組成検査 走査型電子顕微鏡/X線エネルギー分光法
  • GA/T 1519-2018 法医学 トナー元素組成検査 走査電子顕微鏡/X線エネルギー分光法

IT-UNI, 高倍率電子顕微鏡

  • UNI 7604-1976 レプリカを使用した金属材料の電子顕微鏡検査。 顕微鏡写真検査用のレプリカの作成
  • UNI 7329-1974 レプリカを使用した金属材料の電子顕微鏡検査。 微細構造検査用レプリカの作成

PH-BPS, 高倍率電子顕微鏡

  • PNS ISO 21363:2021 ナノテクノロジー、透過型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定

AENOR, 高倍率電子顕微鏡

  • UNE-EN ISO 9220:1996 走査型電子顕微鏡による金属コーティングのコーティング厚さの測定 (ISO 9220:1988)
  • UNE 77236:1999 直接転写透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定

Lithuanian Standards Office , 高倍率電子顕微鏡

  • LST EN ISO 9220:2001 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)

AT-ON, 高倍率電子顕微鏡

  • OENORM EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
  • OENORM EN ISO 21363:2021 透過型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布のナノテクノロジー測定 (ISO 21363:2020)

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 高倍率電子顕微鏡

  • GJB 5384.22-2005 火工品特性の試験方法 - パート 21: 電子顕微鏡による煙固体粒子数濃度の測定
  • GJB 5384.23-2005 火工品の性能の試験方法 - パート 23: 電子顕微鏡法による固体煙粒子の粒径の測定

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 高倍率電子顕微鏡

  • GJB 8684.22-2015 火工品特性の試験方法 - パート 22: 電子顕微鏡による煙固体粒子数濃度の測定
  • GJB 8684.23-2015 火工品特性の試験方法 - パート 23: 電子顕微鏡による煙固体粒子の粒径分布の測定

未注明发布机构, 高倍率電子顕微鏡

  • BS CECC 13:1985(1999) 電子部品の品質評価連携体制：基本仕様：半導体チップの走査型電子顕微鏡検査
  • DIN EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー – 透過型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと粒子形状分布の測定

BE-NBN, 高倍率電子顕微鏡

  • NBN EN ISO 9220:1995 金属保護層。 保護層の厚さの測定: 走査型電子顕微鏡 (ISO 9220-1988) を使用

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 高倍率電子顕微鏡

  • IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 非ハーメチックシールされた電子部品の音響顕微鏡検査 (修正 1 を含む: 2007 年 1 月)

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