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X線分子分光法

X線分子分光法は全部で 49 項標準に関連している。

X線分子分光法 国際標準分類において、これらの分類：非破壊検査、 分析化学、 光学および光学測定、 医療機器、 表面処理・メッキ、 金属腐食、 長さと角度の測定。

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線分子分光法

• ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法

International Organization for Standardization (ISO), X線分子分光法

• ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
• ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
• ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
• ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
• ISO/TR 18392:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、バックグラウンド測定手順
• ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 線光電子分光法 バックグラウンド測定手順
• ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
• ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
• ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
• ISO 14701:2011 表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
• ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
• ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性
• ISO 24237:2005 表面化学分析、X線光電子分光法、強度の再現性と安定性

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線分子分光法

• GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
• GB/T 19500-2004 X線光電子分光分析法の一般原理
• GB/Z 32490-2016 表面化学分析のためのX線光電子分光法を使用したバックグラウンド測定手順
• GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置 エネルギースケールの校正
• GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
• GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 選択された機器の性能パラメーターの表現
• GB/T 28633-2012 表面化学分析、X 線光電子分光法、強度スケールの再現性と一貫性

British Standards Institution (BSI), X線分子分光法

• BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
• BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
• BS ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
• BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
• BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析 シリコン酸化膜厚測定
• BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
• BS ISO 14701:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、シリカ厚さ測定
• BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性

Association Francaise de Normalisation, X線分子分光法

• NF X21-071:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
• NF X21-061:2008 表面化学分析、スパイラル電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
• NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X線分子分光法

• GB/T 36401-2018 表面化学分析報告書 X線光電子分光法による薄膜分析結果

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線分子分光法

• KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
• KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性
• KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線分子分光法

• JIS K 0152:2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析 強度スケールの再現性と一貫性
• JIS T 0306:2002 X線光電子分光法を用いた金属系生体材料の不動態皮膜の状態解析

Standard Association of Australia （SAA）, X線分子分光法

• AS ISO 15472:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。 エネルギースケールの校正
• AS ISO 19319:2006 表面化学分析。 オーギュル電子分光法とX線光電子分光法。 分析者の横方向解像度の目視検査、分析領域とサンプル領域
• AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。 選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明

German Institute for Standardization, X線分子分光法

• DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
• DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X線分子分光法

• GB/T 22571-2017 表面化学分析用X線光電子分光装置のエネルギースケールの校正

KR-KS, X線分子分光法

• KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析・X線光電子分光装置・エネルギースケールの校正

未注明发布机构, X線分子分光法

• BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性

その他：   X線スペクトル検出, X線スペクトル, X線スペクトル, エネルギーX線分光法, 蛍光X線スペクトル, 蛍光X線スペクトル, X線分光法, 銀のX線スペクトル, X線回折スペクトル, X線吸収スペクトル, X線回折スペクトル, X線分光法, X線分子, X線スペクトル, X線回折スペクトル, X線分子分光法, X線のスペクトル, X線管スペクトル, スペクトルX線, X線分光法の原理.