ZH
RU
EN
ES

走査型電子顕微鏡パラメータ

走査型電子顕微鏡パラメータは全部で 15 項標準に関連している。

走査型電子顕微鏡パラメータ 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 光学機器、 光学および光学測定。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 走査型電子顕微鏡パラメータ

• GB/T 25189-2010 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡エネルギー分光計の定量分析パラメータの決定方法

BELST, 走査型電子顕微鏡パラメータ

• STB 2210-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料のパラメータを決定する方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査型電子顕微鏡パラメータ

• ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正

Group Standards of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡パラメータ

• T/CSTM 00795-2022 材料実験データ走査電子顕微鏡写真要件
• T/SPSTS 032-2023 走査型電気化学顕微鏡の一般仕様

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 走査型電子顕微鏡パラメータ

• JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理

International Organization for Standardization (ISO), 走査型電子顕微鏡パラメータ

• ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡パラメータ

• JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Professional Standard - Machinery, 走査型電子顕微鏡パラメータ

• JB/T 6842-1993 走査型電子顕微鏡検査方法
• JB/T 5384-1991 走査型電子顕微鏡。 技術的条件

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡パラメータ

• JJG(教委) 11-1992 走査型電子顕微鏡の校正手順

Professional Standard - Commodity Inspection, 走査型電子顕微鏡パラメータ

• SN/T 4388-2015 革の識別走査型電子顕微鏡および光学顕微鏡

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 走査型電子顕微鏡パラメータ

• KS I 0051-1999(2019) 走査型電子顕微鏡の一般規則
• KS M 0044-1999 走査型電子顕微鏡の一般規則

その他：   走査型電子顕微鏡, 走査型電子顕微鏡,, 走査型電子顕微鏡,, 走査型電子顕微鏡の主なパラメータ, 走査型電子顕微鏡パラメータ, 走査型電子顕微鏡パラメータ, ++++SEM, 走査型電子顕微鏡パラメータ解析, 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡, SEMパラメータ, 環境走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡, SEMスキャンパラメータ, 走査電子顕微鏡パラメータについて, 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡, SEMパラメータ, SEM 位相パラメータ, 排ガスパラメータ, 走査型電子顕微鏡の主なパラメータ, 走査型電子顕微鏡パラメータ, 外国の走査型電子顕微鏡パラメータ.