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さまざまな機器パラメータ

さまざまな機器パラメータは全部で 380 項標準に関連している。

さまざまな機器パラメータ 国際標準分類において、これらの分類：金属材料試験、 石油およびガス産業の機器、 歯車と歯車伝動装置、 放射線測定、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 電子管、 地質学、気象学、水文学、 天文学、測地学、地理学、 建物付属品、 グラフィックシンボル、 原子力工学、 建設技術、 非破壊検査、 パイプ部品とパイプ、 電気、磁気、電気および磁気測定、 光ファイバー通信、 長さと角度の測定、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 粒度分析、スクリーニング、 牛乳および乳製品、 光学および光学測定、 分析化学、 機械、設備、装置の特性と設計、 光学機器、 語彙、 無線通信、 総合電子部品、 電磁両立性 (EMC)、 船内機器および計器類、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 人間工学、 産業用オートメーションシステム、 機械的試験、 インターフェースおよび相互接続機器、 地上サービスおよび修理設備、 計測学と測定の総合、 空気の質、 建物内の設備、 電子および通信機器用の電気機械部品、 通信機器の部品および付属品、 殺虫剤およびその他の農薬。

Professional Standard - Machinery, さまざまな機器パラメータ

• JB/T 10574-2006 光学式測長器の基本パラメータ
• JB/T 9399-1999 X線分析装置主要パラメータシリーズ
• JB/T 9399-2010 X線分析装置主要パラメータシリーズ
• JB/T 10574-2013 光学式測長器の基本パラメータ
• JB/T 9330-1999 光学機器用可変光学系の基本パラメータ
• JB/T 8387-2010 工業用非破壊検査装置用X線管の主なパラメータ
• JB/T 7808-2010 非破壊検査装置工業用X線探傷器主要パラメータシリーズ

YU-JUS, さまざまな機器パラメータ

• JUS M.A1.032-1980 機器の分類および表面処理の幾何学的パラメータの測定および推定機器

Professional Standard - Petroleum, さまざまな機器パラメータ

• SY/T 5377-2013 掘削液パラメータ試験装置の技術条件
• SY 5377-2013 掘削液パラメータ試験装置の技術条件

AT-ON, さまざまな機器パラメータ

• ONORM M 6773-2001 歯の表面の表面特性。 粗さパラメータ、触針による粗さパラメータの決定、測定器および測定条件

RU-GOST R, さまざまな機器パラメータ

• GOST 25851-1983 放射線測定器の主要パラメータの測定方法
• GOST 25678-1983 パルスレーザーエネルギー測定器の種類基本パラメータ基本パラメータの測定方法
• GOST 20271.1-1991 超高周波電子機器、温度パラメータの測定方法
• GOST 28953-1991 移動放電用の感光性機器、パラメータの測定方法
• GOST 14213-1989 電気測定器ケーブルヘッド、ボール盤プローブの種類、基本パラメータおよび寸法、技術条件
• GOST 20271.3-1991 超高周波電子機器、変調パルスパラメータの測定方法
• GOST R 50355-1992 イミッタンスパラメータを測定するデジタル機器の一般的な技術要件とテスト方法
• GOST 10387-1981 小型モジュール円筒歯車の試験装置 種類と基本パラメータ 精度仕様
• GOST R 57395-2017 角度デジタルコンバーター 測定器の一般要件、入出力パラメータのテストとモニタリング
• GOST 5368-1981 円筒歯車の試験装置 種類と基本パラメータ 精度仕様
• GOST 19300-1986 形状測定法による表面粗さ測定器 接触式表面光度計 種類、基本パラメータ
• GOST 32255-2013 牛乳および乳製品赤外線分析装置を使用した物理的および化学的識別パラメータの機器表現
• GOST 11357-1989 小型モジュールかさ歯車および歯車ペアを試験するための装置、種類と基本パラメータ、精度仕様
• GOST 9459-1987 かさ歯車および歯車対を検出するための機器、種類、基本パラメータ、精度仕様
• GOST 15150-1969 機械、器具、その他の工業製品 さまざまな気候帯に応じた構造形態 外部環境や気候に応じた分類、使用条件、保管、輸送
• GOST 18230-1972 電離放射線半導体検出器用分光器用電源の種類と基本パラメータ
• GOST 29180-1991 技術ツールの電磁両立性 超高周波電気真空機器 パラメータと特性 決定方法
• GOST R 51747-2001 航空機のマイクロ波無線航行ビーコン計器進入および着陸システム 主なパラメータと測定方法
• GOST 25165-1982 機器および装置と外部空気圧パイプラインとの接続 タイプ、基本パラメータおよび寸法 技術的要件
• GOST R 51503-1999 情報表示計器インジケータライトの技術的特性測定装置、タイプ、基本パラメータ、一般的な技術要件
• GOST 11102-1975 ディーゼルエンジン自動制御用の受け入れおよび動作する機器および装置の種類、基本パラメータおよび技術要件
• GOST 26114-1984 非破壊検査 荷電粒子加速器に基づく探傷器 基本パラメータと一般的な技術要件
• GOST 28387-1989 航空機のマイクロ波無線ビーコン計器進入および着陸システムの主要パラメータと測定技術
• GOST 18229-1981 電離放射線半導体検出器用分光器用電荷感応型プリアンプの種類、基本パラメータ、測定方法
• GOST 25164-1996 機器および装置と外部の油圧およびガスパイプラインとの接続 タイプ、基本パラメータおよび寸法 技術的要件
• GOST 9776-1982 円筒ウォーム、ウォームギヤ、ウォームギヤドライブの測定器 種類と基本パラメータ 精度仕様
• GOST 25164-1982 外部の油圧およびガスパイプラインとの機器および装置の接続タイプ、基本パラメータおよび寸法技術要件
• GOST 8.296-1978 ГСИ. (0.025~1600) μm の範囲で粗さパラメーター Rmax および Rz を測定するための国家特別ベンチマークおよび全ソ連校正システム
• GOST 8.661-2018 測定の一貫性を確保するための国家システム 200 mm 以内の光学表面平坦度パラメータの測定機器用の国家校正テーブル
• GOST R 51139-1998 テレビ放送用の各種 VHF および UNF 帯域送信機の信号結合装置 基本パラメータ 技術要件 測定方法
• GOST 8.413-1981 ГСИ. 動作拡張寸法が (0.40 ～ 0.75) m の (8.2 ～ 40.0) GHZ アンテナ システムの放射場パラメータの測定機器用の国家特別ベンチマークおよび全ソ連校正システム
• GOST 8.414-1981 ГСИ. 動作拡張が 0.5m ～ 3.0m (2.5 ～ 40) GHZ のアンテナ システムの放射界パラメータの測定機器用の国家特別ベンチマークおよび全ソ連校正システム
• GOST R 8.748-2011 国家測定一貫性保証システム 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 1: 試験方法
• GOST 8.648-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム 回転形状および位置パラメータの偏差を測定するための測定機器に関する国家特別基準および国家検証スキーム

CZ-CSN, さまざまな機器パラメータ

• CSN 35 6535-1983 電子測定器。 連続プロセススペクトラムアナライザ。 パラメータの命名
• CSN 25 2300-1972 機器および装置の分類または表面仕上げの幾何学的パラメータの測定
• CSN 85 2104 Zb-1987 この機器は、麻酔と人工肺換気に使用されます。 技術的パラメータと試験方法
• CSN 36 6150-1987 5ユニットコードを備えた通信機器。 基本パラメータ、技術要件、試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, さまざまな機器パラメータ

• GB/T 15966-2007 水文学機器の基本パラメータと一般的な技術条件
• GB/T 15966-1995 水文学機器の基本パラメータと一般的な技術条件
• GB/T 15406-1994 地盤工学機器の基本パラメータと一般的な技術条件
• GB/T 15406-2007 地盤工学機器の基本パラメータと一般的な技術条件
• GB/T 16492-1996 光学および光学機器、気候帯およびそのパラメータの環境要件の一般原則と定義
• GB/T 25187-2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメータの表現
• GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 選択された機器の性能パラメーターの表現
• GB/T 21838.1-2008 金属材料 硬度と材料パラメータの計器による押し込み試験 パート 1: 試験方法
• GB/T 22067.3-2008 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
• GB/T 21838.3-2008 金属材料 硬度と材料パラメータの計装された押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
• GB/T 21838.3-2022 金属材料の硬度と材料パラメータの計装による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
• GB/T 22067.2-2008 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計器付き押し込み試験 パート 2: 試験機の検査と校正
• GB/T 21838.2-2008 金属材料 硬度と材料パラメータの計装による押し込み試験 パート 2: 試験機の検査と校正
• GB/T 21838.2-2022 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計器付き押し込み試験 パート 2: 試験機の検査と校正
• GB/T 21838.4-2008 金属材料 硬度および材料パラメータの計器による押し込み試験 パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, さまざまな機器パラメータ

• T/CECS 10101-2020 民間建築物用マルチパラメータ室内環境監視装置
• T/GDCKCJH 065-2022 酸化亜鉛アレスタDCパラメータテスターの性能要件と検出方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, さまざまな機器パラメータ

• GB/T 15966-2017 水文学機器の基本パラメータと一般的な技術条件

Association Francaise de Normalisation, さまざまな機器パラメータ

• FD P16-120-4*FD CEN/TR 1295-4:2015 さまざまな荷重条件下での埋設パイプラインの構造設計パート 4: 設計信頼性パラメータ
• FD CEN/TR 1295-4:2015 さまざまな荷重条件下での埋設パイプラインの機械抵抗の計算パート 4: 設計信頼性パラメーター
• NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 光増幅器. 試験方法. パート 1-2: 光パワーパラメータと利得パラメータ. 電気スペクトラムアナライザ方法
• NF X11-622:1977 ガス吸着法による粉体の単位質量当たりの面積（特殊表面）の測定 基本的な方法についての各種機器説明書
• NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 光増幅器の試験方法 パート 3-1: ノイズ デジタル パラメータ スペクトラム アナライザ方法
• NF EN 61290-3-1:2004 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指数パラメトリック スペクトラム アナライザの方法
• NF EN 61290-3-2:2009 光増幅器の試験方法 パート 3-2: 雑音指数パラメトリック電気スペクトラム アナライザ方法
• NF EN 60444-5:2001 水晶振動子パラメータの測定 パート 5: 自動ネットワーク アナライザと誤差修正を使用して等価電気パラメータを決定する方法
• NF C42-100-1*NF EN 60051-1:2017 指示目的の直動アナログ電気測定器および付属品 パート 1: さまざまな部品の一般定義と一般要件
• NF C42-100:1999 直動表示目的のアナログ電気測定器および付属品 パート 1: さまざまな部品の一般定義および一般要件
• NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 光増幅器の試験方法 パート 5-2: 反応パラメータ 電気スペクトラム アナライザ法
• NF EN 61290-5-2:2004 光増幅器の試験方法 パート 5-2: 反射率パラメータ電気スペクトラム アナライザ方法
• NF EN 61290-5-1:2006 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射率パラメータ スペクトル アナライザ法
• NF C93-805-1-1:2020 光増幅器. テスト方法. パート 1-1: パワーとゲインのパラメータ. スペクトル アナライザー方法
• NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• NF A03-155-1*NF EN ISO 14577-1:2015 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 1: 試験方法
• NF EN IEC 61290-1-1:2020 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• NF C93-805-1-1:2007 光ファイバ増幅器 試験方法 パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータ 光スペクトラムアナライザ方法
• NF A03-155-1:2003 金属材料 硬度と材料パラメータを測定するための機器による押し込み試験 パート 1: 試験方法
• NF EN 61290-1-2:2006 光アンプのテスト方法 パート 1-2: パワーおよびゲインのパラメータ 電気スペクトラム アナライザの方法
• NF C93-805-5-1:2001 光ファイバ増倍管 基本仕様 パート 5-1: 反射パラメータの試験方法 光スペクトル アナライザ
• NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 光ファイバエンハンサの基本仕様 第 2-2 部：光電子パラメータの試験方法 電気スペクトラムアナライザ
• NF C93-805-1-2:1998 光ファイバーブースタ 基本仕様 パート 1-2: ゲインパラメータの試験方法 電気スペクトラムアナライザ
• NF A03-155-3*NF EN ISO 14577-3:2015 金属材料 硬度と材料パラメータを決定するための機器による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
• NF A03-155-3:2003 金属材料 硬度と材料パラメータを決定するための機器による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
• NF C93-805-2-1:1998 光ファイバ増倍管 基本仕様 パート 2-1: 光電子パラメータの試験方法 光スペクトラム アナライザ
• NF C93-805-1-1:1998 光ファイバーブースタ 基本仕様 パート 1-1: ゲインパラメータの試験方法 光スペクトラムアナライザ
• NF EN 61290-10-2:2008 光アンプの試験方法 パート 10-2: ストロボ スペクトラム アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 光ファイバ増幅器の試験方法 パート 10-4: マルチチャネル パラメータ スペクトラム アナライザの補間音源低減方法
• NF A03-155-2*NF EN ISO 14577-2:2015 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計器を備えた押し込み試験パート 2: 試験機の検証と校正
• NF EN 61290-10-4:2007 光アンプの試験方法 パート 10-4: スペクトラム アナライザを使用した多チャネル パラメータの補間ソース減算方法
• NF C93-805-10-2:2003 光増幅器. テスト方法. パート 10-2: マルチチャネルパラメータ. ゲート光スペクトラムアナライザを使用したパルス法
• NF A03-155-2:2003 金属材料 硬さと材料パラメータを決定するための機器による押し込み試験 パート 2: 試験機の検証と校正
• NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 光増幅器のテスト方法 パート 10-2: ゲート付き光スペクトラム アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• NF EN 61290-10-1:2009 光アンプの試験方法 パート 10-1: 光スイッチとスペクトル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• NF A03-155-4:2007 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法
• NF A03-155-4*NF EN ISO 14577-4:2017 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法
• NF C23-595-2*NF EN 50379-2:2012 暖房設備からの燃焼排気パラメータを測定するための携帯型電気機器の仕様 パート 2: 法定試験および評価に使用される機器の性能要件
• NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 光ファイバ増幅器 基本仕様 パート 5-3: 反射パラメータの試験方法 電気スペクトラム アナライザを使用した反射許容差の検出
• NF EN 61290-5-3:2002 光ファイバ増幅器の基本仕様 パート 5-3: 電気スペクトラム アナライザを使用した反射率パラメータの試験方法 反射率許容差

European Committee for Standardization (CEN), さまざまな機器パラメータ

• CEN/TR 1295-4:2015 さまざまな荷重条件下での埋設パイプラインの構造設計パート 4: 設計信頼性パラメータ
• PD CEN/TR 1295-4:2015 さまざまな負荷条件における埋設パイプラインの構造設計 パート 4: 設計パラメータの信頼性
• prEN ISO 14577-1 rev 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 1: 試験方法
• prEN ISO 14577-3 rev 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
• prEN ISO 14577-2 rev 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計器付き押し込み試験パート 2: 試験機の検証と校正
• PD CEN/TR 16468:2013 食品分析 ガスクロマトグラフィー質量分析による残留農薬の測定 保持時間、質量分析パラメーターおよび検出器の応答情報

Professional Standard - Nuclear Industry, さまざまな機器パラメータ

• EJ/T 1050-1997 原子力機器の図記号、テキストコード、パラメータ記号
• EJ/T 1050-2012 原子力機器の図記号、テキストコード、パラメータ記号

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, さまざまな機器パラメータ

• JJG(电子) 31012-2007 統合オペアンプパラメータテスタの校正手順
• JJG(电子) 310002-2006 半導体ディスクリートデバイス用DCパラメータテスタの校正手順
• JJG(电子) 310003-2006 半導体ディスクリートデバイス用容量パラメータテスターの校正手順

GOSTR, さまざまな機器パラメータ

• GOST 24469-1980 レーザー放射パラメータを測定するための機器の一般的な技術要件

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, さまざまな機器パラメータ

• JJF(机械) 1070-2021 酸化亜鉛避雷器 DCパラメータテスターの校正仕様書
• JJF(机械)1070-2021 酸化亜鉛避雷器 DCパラメータテスターの校正仕様書

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, さまざまな機器パラメータ

• GJB 8361-2015 軍用レーザー出力エネルギー試験装置のパラメータ試験方法

PL-PKN, さまざまな機器パラメータ

• PN G03352-1972 ボーリング孔地球物理学。 ドリルビット器具。 主に水面下です。 主なパラメータ
• PN G03359-1989 放射性記録装置の分類。 基本パラメータと一般的な技術要件
• PN G02316-1991 水文地質測定器。 電子水位計の記録計付タイプです。 パラメータと技術的要件
• PN G02317-1991 水文地質測定器。 プロペラ付機械式水位測定器タイプ。 パラメータと技術的要件
• PN-EN IEC 61290-1-1-2021-06 E 光増幅器の試験方法 パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータのスペクトラムアナライザ方法 (IEC 61290-1-1:2020)

British Standards Institution (BSI), さまざまな機器パラメータ

• BS EN 61290-5-1:2006 光ファイバ増幅器、テスト方法、反射パラメータ、スペクトルアナライザ方法
• BS EN 61290-2-3:1998 光ファイバアンプ 基本仕様 光電子パラメータ試験方法 光電子機器
• BS ISO 14577-5:2022 金属材料の硬度および材料パラメータの計測器付き押し込み試験 線形弾性動的計測器付き押し込み試験 (DIIT)
• BS EN IEC 61290-1-1:2020 光アンプのテスト方法 パワーとゲインのパラメータ スペクトラム アナライザの方法
• BS EN 61290-3-2:2003 光ファイバ増幅器 基本仕様 雑音指数パラメータの試験方法 電気スペクトラムアナライザ法
• BS ISO 15471:2016 表面化学分析用のオージェ電子分光法用に選択された機器の性能パラメーターの説明
• BS EN 61290-3-1:2003 光ファイバ増幅器 基本仕様 ノイズのデジタルパラメータの試験方法 スペクトラムアナライザ法
• BS EN 61290-3-1:2004 光ファイバアンプ基本仕様 ノイズデジタルパラメータ試験方法 スペクトラムアナライザ方法
• BS ISO 10109-1:1994 光学および光学機器 環境要件 一般情報、定義、気候帯およびそのパラメータ
• BS EN 61290-10-2:2009 光アンプ試験法 マルチチャネルパラメータゲートスペクトラムアナライザパルス法
• BS EN 61290-10-2:2008 光増幅器、テスト方法、マルチチャネルパラメータ、ゲートスペクトラムアナライザパルス法
• BS ISO 10109-1:1995 光学および光学機器 環境要件 一般情報、定義、気候帯およびそのパラメータ
• BS EN 61290-5-2:2004 光ファイバ増幅器 基本仕様 反射パラメータの試験方法 電気スペクトラムアナライザ法
• BS ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 10109-1:2006 光学および光学機器 環境要件 概要、用語、定義、気候環境およびそのパラメータ
• 20/30383255 DC BS ISO 14577-5 金属材料の硬度および材料パラメータに関する計装押し込み試験パート 5: 線形弾性動的計器押し込み試験 (DIIT)
• BS EN 61290-10-2:2003 光ファイバ増幅器、テスト方法、マルチチャネルパラメータ、ゲート光スペクトラムアナライザパルス法
• BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS EN 61290-10-4:2007 光増幅器、テスト方法、マルチチャネルパラメータ、光スペクトラムアナライザを使用した補間光源低減方法。
• BS EN 61290-1-1:2006 光ファイバ増幅器 試験方法 パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータ 光スペクトラムアナライザ方法
• BS EN 61290-1-2:2005 光ファイバ増幅器、テスト方法、パート 1-2: パワーおよびゲインのパラメータ、電気スペクトラム アナライザの方法
• BS EN 61290-1-1:2015 光ファイバ増幅器 試験方法 パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータ 光スペクトラムアナライザ方法
• BS EN 61290-1-2:2007 ファイバ アンプのテスト方法パート 1-2: パワーおよびゲイン パラメータ電気スペクトラム アナライザ方法
• BS EN 61290-1-1:2007 ファイバ アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータの光スペクトラム アナライザ方法
• BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析：電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用に選択された機器の仕様と性能パラメータ
• BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機器性能パラメータ
• BS EN 61290-10-1:2003 光ファイバ増幅器、テスト方法、マルチチャネルパラメータ、光スイッチとスペクトルアナライザを使用したパルス法。
• 19/30398879 DC BS EN 61290-1-1 光増幅器の試験方法 パート 1-1 パワーおよびゲインパラメータ スペクトルアナライザ法
• BS EN 50379-2:2004 暖房設備からの燃焼排ガスパラメータを測定するための携帯型電気機器の仕様 法定試験および評価に使用される機器の性能要件
• BS EN 50379-2:2012 暖房設備からの燃焼排ガスパラメータを測定するための携帯型電気機器の仕様 法定試験および評価に使用される機器の性能要件
• BS EN ISO 14577-4:2007 金属材料 硬度および材料パラメータを測定するための機器による押し込み試験 金属および非金属コーティングの試験方法
• BS EN ISO 14577-4:2016 金属材料の硬度と材料パラメータに関する機器付き押し込み試験による、金属および非金属コーティングの試験方法
• BS EN 61290-5-3:2002 光ファイバ増幅器 基本仕様 反射パラメータの試験方法 電子スペクトルアナライザによる反射許容差の決定
• 18/30387381 DC BS EN 61290-1-1 Ed.4.0 光増幅器試験方法 パート 1-1 パワーおよびゲインパラメータ スペクトルアナライザ方法
• 19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析 電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ
• BS EN 61076-4-105:1998 DC、低周波アナログおよびデジタル高速データ アプリケーション向けの品質評価済みコネクタ プリント基板コネクタ さまざまなアプリケーション向けの 3 ～ 8 コンタクトを備えた 9 mm 丸型コネクタの詳細仕様
• BS EN 61290-10-1:2009 光増幅器、試験方法、パート 10-1: マルチパスパラメータ、光スイッチおよび光スペクトラムアナライザを使用したパルス法

German Institute for Standardization, さまざまな機器パラメータ

• DIN 43751-4:1990-06 測定と制御、デジタル測定機器、時間基準量を測定するための機器、定義、テスト、およびデータシートの詳細
• DIN EN 61290-3-1:2004 光増幅器. 試験方法. パート 3-1: ノイズ指数パラメータ. スペクトル アナライザー方法
• DIN EN 61290-3-1:2004-05 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指数パラメトリック スペクトラム アナライザの方法
• DIN EN ISO 14577-3:2015-11 金属材料 - 硬度と材料パラメータの計測機器による押し込み試験 - パート 3: 基準ブロックの校正
• DIN EN 61290-3-2:2009-06 光増幅器の試験方法 パート 3-2: 雑音指数パラメトリック電気スペクトラム アナライザ方法
• DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計の仕様と検査のための、選択された機器の性能パラメータのマイクロビーム分析
• DIN EN 61290-5-1:2007 光ファイバ増幅器、テスト方法、パート 5-1: 反射パラメータ、スペクトル アナライザ
• DIN EN 61290-5-2:2004 光増幅器、試験方法、パート 5-2: 反射パラメータ、電気スペクトラム アナライザの方法
• DIN EN 61290-5-1:2007-03 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射率パラメータ スペクトル アナライザ法
• DIN EN ISO 14577-1:2003 金属材料 硬度と材料パラメータの機器押し込み試験 パート 1: 試験方法
• DIN EN 61290-1-1:2007 光ファイバ増幅器 テスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータ スペクトルアナライザ法
• DIN EN ISO 14577-1:2015-11 金属材料 - 硬度と材料パラメータの計器による押し込み試験 - パート 1: 試験方法
• DIN 2271-3:2000 幾何学的パラメータの検証 空気圧による長さ測定（空気圧測定器） 第 3 部：高圧領域で使用する測定器の特性 要件と検査
• DIN EN 61290-1-2:2006-07 光アンプのテスト方法 パート 1-2: パワーおよびゲインのパラメータ 電気スペクトラム アナライザの方法
• DIN EN 61290-10-4:2008 光ファイバ増幅器、テスト方法、パート 10-4: マルチチャネル パラメータ、光スペクトラム アナライザ用の内挿光源低減法。
• DIN EN ISO 14577-2:2003 金属材料 硬度と材料パラメータの機器押し込み試験 パート 2: 試験機の検証と校正
• DIN EN ISO 14577-3:2003 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
• DIN EN 61290-5-2:2004-12 光増幅器 - 試験方法 - パート 5-2: 反射パラメータ - 電気スペクトラム アナライザ方法 (IEC 61290-5-2:2003)
• DIN ISO 10109-1:2007 光学および光学機器 環境要件 パート 1: 一般的な概要、用語、定義、気候帯とそのパラメーター
• DIN EN ISO 14577-2:2015-11 金属材料 - 硬度と材料パラメータの計装による押し込み試験 - パート 2: 試験機の検証と校正
• DIN EN 61290-10-4:2008-02 光アンプの試験方法 パート 10-4: スペクトラム アナライザを使用した多チャネル パラメータの補間ソース減算方法
• DIN EN IEC 61290-1-1:2019 光増幅器の試験方法 パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータのスペクトラムアナライザ方法 (IEC 86C/1563/CD:2018)
• DIN EN 61290-10-2:2008-07 光アンプのテスト方法パート 10-2: ゲート付きスペクトル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• DIN EN IEC 61290-1-1:2022-07 光増幅器 - 試験方法 - パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータ - スペクトラムアナライザ方法 (IEC 61290-1-1:2020)
• DIN EN 61290-10-2:2008 ファイバアンプの試験方法 パート 10-2 ゲート光スペクトラムアナライザを使用したマルチチャネルパラメータパルス法
• DIN EN 61290-10-1:2010-01 光アンプの試験方法 パート 10-1: 光スイッチとスペクトル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• DIN EN 61290-1-2:2006 光アンプ、テスト方法、パート 1-2: パワーおよびゲインのパラメータ、電気スペクトラム アナライザの方法 (IEC 61290-1-2:2005)
• DIN EN ISO 14577-4:2017-04 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法
• DIN EN ISO 14577-4:2007 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法 (ISO 14577-4-2007)
• DIN EN ISO 14577-1:2015 金属材料. 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験. パート 1: 試験方法 (ISO 14577-1-2015); ドイツ語版 EN ISO 14577-1-2015
• DIN EN 61290-1-1:2016 光ファイバ増幅器. テスト方法. パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータ. スペクトルアナライザー方法 (IEC 61290-1-1-2015). ドイツ語版 EN 61290-1-1-2015
• DIN EN ISO 14577-2:2015 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 2: 試験機の検証および校正 (ISO 14577-2-2015)、ドイツ語版 EN ISO 14577-2-2015
• DIN EN ISO 14577-3:2015 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準の校正 (ISO 14577-3-2015)、ドイツ語版 EN ISO 14577-3-2015

International Electrotechnical Commission (IEC), さまざまな機器パラメータ

• IEC 61290-1-2:2005 光増幅器. 試験方法. パート 1-2: 光パワーパラメータと利得パラメータ. 電気スペクトラムアナライザ方法
• IEC 61290-3-1:2003 光増幅器、試験方法、パート 3-1: ノイズデジタルパラメータ、スペクトルアナライザ方法
• IEC 61290-3-2:2003 光増幅器 パート 3-2: ノイズのデジタルパラメータの試験方法 電気スペクトラムアナライザ法
• IEC 61290-5-2:2003 光増幅器、試験方法、パート 5-2: 反射パラメータ、電気スペクトラム アナライザの方法
• IEC 61290-1-1:2020 RLV 光増幅器. テスト方法. パート 1-1: パワーとゲインのパラメータ. スペクトル アナライザー方法
• IEC 61290-1-1:2020 光アンプ - テスト方法 - パート 1-1: パワーおよびゲインのパラメータ - スペクトラム アナライザの方法
• IEC 61290-1-1:2015 光アンプ、テスト方法、パート 1-1: パワーおよびゲインのパラメータ、光スペクトラム アナライザの方法
• IEC 61290-1-1:2006 光アンプ、テスト方法、パート 1-1: パワーおよびゲインのパラメータ、光スペクトラム アナライザの方法
• IEC 61290-10-2:2003 光増幅器. テスト方法. パート 10-2: マルチチャネルパラメータ. ゲート光スペクトラムアナライザパルス法
• IEC 61290-1-1:1998 光ファイバ増幅器の基本仕様 第1-1部 利得パラメータの測定方法 光スペクトラムアナライザ
• IEC 61290-1-2:1998 光ファイバ増幅器基本仕様 第1-2部 利得パラメータの測定方法 電気スペクトラムアナライザ
• IEC 61290-5-1:2000 光ファイバ増幅器基本仕様 第5-1部 反射パラメータの測定方法 光スペクトラムアナライザ
• IEC 61290-2-1:1998 光ファイバ増幅器の基本仕様 第2-1部 光パワーパラメータの測定方法 光スペクトラムアナライザ
• IEC 61290-2-2:1998 光ファイバ増幅器の基本仕様 第2-2部 光パワーパラメータの測定方法 電気スペクトラムアナライザ
• IEC 61290-10-2:2007 光ファイバ増幅器. テスト方法. パート 10-2: マルチチャネルパラメータ. ゲート光スペクトラムアナライザを使用したパルス法
• IEC 61290-10-1:2003 光増幅器. テスト方法. パート 10-1: マルチチャネルパラメータ. 光スイッチとスペクトルアナライザを使用したパルス法
• IEC 61290-10-4:2007 光ファイバ増幅器、テスト方法、パート 10-4: マルチチャネルパラメータ、光スペクトラムアナライザを使用した補間ラジエーター低減法。
• IEC 61290-10-1:2009 光アンプ、テスト方法、パート 10-1: マルチチャネルパラメータ、光スイッチとスペクトラムアナライザを使用したパルス法
• IEC 61290-5-3:2002 光ファイバ増幅器 基本仕様 パート 5-3: 反射パラメータの試験方法 電気スペクトラム アナライザを使用した反射耐性の試験方法

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., さまざまな機器パラメータ

• ASHRAE LO-09-022-2009 背面パネルゼロフローシングルバンドドア開口縦型冷蔵陳列キャビネットの透過性に対するさまざまなパラメータの影響に関する実験的研究

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), さまざまな機器パラメータ

• KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指数パラメータ スペクトル アナライザによる方法
• KS C IEC 61290-3-1:2005 光ファイバ増幅器、試験方法、パート 3-1: ノイズデジタルパラメータ、スペクトルアナライザ法
• KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射パラメータ スペクトル アナライザ法
• KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射パラメータ スペクトル アナライザ法
• KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法 - 選択された機器の性能パラメータの説明
• KS D ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) 光増幅器の試験方法 - パート 3-2: ノイズ指数パラメータ - 電気スペクトラム アナライザを使用した方法
• KS B ISO 14577-1:2004 金属材料 硬度と材料パラメータの機器押し込み試験 パート 1: 試験方法
• KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• KS B ISO 14577-1:2015 金属材料の硬度と材料パラメータに関する機器押し込み試験 - パート 1: 試験方法
• KS C IEC 61290-5-1:2007 光ファイバ増幅器 基本仕様 第5-1部 反射パラメータの試験方法 スペクトルアナライザ
• KS B ISO 10109-1-2002(2017) 光学および光学機器の環境要件 パート 1: 一般情報、定義、気候帯およびそのパラメーター
• KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) 光増幅器の試験方法 第 10-2 部：マルチチャネルパラメータゲートスペクトラムアナライザパルス法
• KS B ISO 10109-1-2002(2022) 光学および光学機器 環境要件 パート 1: 一般情報、定義、気候帯およびそのパラメーター
• KS C IEC 60444-5:2016 水晶コンポーネントのパラメータの測定 第 5 部: 自動ネットワーク アナライザ技術と誤り訂正技術を使用した等価電気パラメータの決定方法
• KS B ISO 10109-1:2002 光学および光学機器 環境要件 パート 1: 概要、用語と定義、気候帯とそのパラメータ
• KS B ISO 14577-3-2004(2009) 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
• KS B ISO 14577-3:2004 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
• KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) 光増幅器の試験方法 第10-1部：多チャンネルパラメトリック光スイッチおよびスペクトラムアナライザパルス法
• KS B ISO 14577-3:2017 金属材料の硬さと材料パラメータの機器押し込み試験 第 3 部: 硬さ標準ブロックの校正
• KS D ISO 15632:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
• KS B ISO 14577-2:2004 金属材料 硬度と材料パラメータの機器押し込み試験 パート 2: 試験機の検証と校正
• KS B ISO 14577-2-2004(2009) 金属材料 - 硬度と材料パラメータの機器押し込み試験 - パート 2: 試験機の検証と校正
• KS B ISO 14577-2:2017 金属材料の硬さと材料パラメータに関する機器による押し込み試験 パート 2: 試験機の検証と校正
• KS D ISO 14577-4:2011 金属材料 硬度および材料パラメータを測定するための機器による押し込み試験 金属および非金属コーティングの試験方法
• KS C IEC 61290-10-2:2005 光ファイバ増幅器. テスト方法. パート 10-2: マルチチャネルパラメータ. ゲート光スペクトラムアナライザを使用したパルス法
• KS C IEC 61290-10-1:2005 光ファイバ増幅器. テスト方法. パート 10-1: マルチチャネルパラメータ. 光スイッチとスペクトラムアナライザを使用したパルス法
• KS D ISO 14577-4-2011(2021) 金属材料の硬度および材料パラメータに関する機器押し込み試験 - パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法
• KS D ISO 14577-4-2011(2016) 金属材料の硬度および材料パラメータに関する機器押し込み試験パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法
• KS C IEC 61290-5-3:2003 光ファイバ増幅器 基本仕様 パート 5-3: 反射パラメータの試験方法 電気スペクトラム アナライザを使用した反射耐性の試験方法

Danish Standards Foundation, さまざまな機器パラメータ

• DS/EN 61290-3-1:2004 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指数パラメトリック スペクトラム アナライザの方法
• DS/ISO 1878:1989 表面仕上げの幾何学的パラメータを測定および評価するための機器および装置の分類
• DS/EN 61290-3-2:2008 光増幅器の試験方法 パート 3-2: 雑音指数パラメトリック電気スペクトラム アナライザ方法
• DS/EN 61290-5-1:2006 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射パラメータ スペクトル アナライザ法
• DS/EN 61290-5-2:2004 光増幅器試験方法 第5-2部：反射パラメータ電気スペクトラムアナライザ法
• DS/EN 60315-7:1995 ラジオ受信機のさまざまな放射カテゴリの測定方法 パート 7: デジタル衛星ラジオ (DSR) 受信機の測定方法
• DS/EN 61290-1-1:2007 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• DS/EN IEC 61290-1-1:2020 光増幅器のテスト方法のパート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザ方法
• DS/EN ISO 14577-1:2003 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 1: 試験方法
• DS/EN 61290-1-2:2006 光アンプのテスト方法 パート 1-2: パワーおよびゲインのパラメータ 電気スペクトラム アナライザの方法
• DS/EN ISO 14577-3:2003 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 標準ブロックの校正
• DS/EN 61290-10-2:2008 光アンプの試験方法 パート 10-2: ゲート スペクトラル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• DS/EN 61290-10-4:2007 光アンプのテスト方法パート 10-4: スペクトラム アナライザの補間ソース減算を使用したマルチチャネル パラメータ
• DS/EN ISO 14577-2:2003 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計器付き押し込み試験パート 2: 試験機の検証と校正
• DS/EN 61290-10-1:2009 光アンプの試験方法 パート 10-1: 光スイッチとスペクトル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• DS/EN ISO 14577-4:2007 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法
• DS/EN 61290-5-3:2002 光ファイバ増幅器の基本仕様 パート 5-3: 電子スペクトラム アナライザを使用した反射率パラメータの試験方法 反射率許容差

未注明发布机构, さまざまな機器パラメータ

• BS EN 61290-3-1:2003(2004) 光増幅器 - テスト方法 パート 3-1: 雑音指数パラメータ - スペクトル アナライザの方法
• DIN EN IEC 61290-1-1:2022 光ファイバ増幅器の試験方法 パート 1 1: 光学性能と利得パラメータ スペクトラム アナライザの方法

ES-UNE, さまざまな機器パラメータ

• UNE-EN 61290-3-1:2003 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指数パラメトリック スペクトラム アナライザの方法
• UNE-EN ISO 14577-3:2016 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 基準ブロックの校正
• UNE-EN 61290-3-2:2008 光増幅器の試験方法 パート 3-2: 雑音指数パラメトリック電気スペクトラム アナライザ方法
• UNE-EN 61290-5-2:2004 光増幅器の試験方法 パート 5-2: 反射パラメータ電気スペクトラム アナライザ方法
• UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• UNE-EN 61290-1-1:2015 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• UNE-EN ISO 14577-1:2016 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 1: 試験方法
• UNE-EN 61290-1-2:2005 光アンプのテスト方法 パート 1-2: パワーおよびゲインのパラメータ 電気スペクトラム アナライザの方法
• UNE-EN 61290-5-1:2006 光増幅器の試験方法 第5-1部：反射パラメータスペクトラムアナライザ法（IEC 61290-5-1:2006）
• UNE-EN 61290-10-2:2008 光アンプのテスト方法パート 10-2: ゲート付きスペクトル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• UNE-EN ISO 14577-2:2016 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計器を備えた押し込み試験パート 2: 試験機の検証と校正
• UNE-EN 61290-10-1:2009 光アンプの試験方法 パート 10-1: 光スイッチとスペクトル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• UNE-EN 61290-5-3:2002 光ファイバ増幅器の基本仕様 パート 5-3: 電気スペクトラム アナライザを使用した反射率パラメータの試験方法 反射率許容差
• UNE-EN 61290-10-4:2007 光増幅器の試験方法 パート 10-4: スペクトラム アナライザを使用したマルチチャネル パラメータの補間ソース減算方法 (IEC 61290-10-4:2007)

TR-TSE, さまざまな機器パラメータ

• TS 2216-1976 表面粗さの幾何学的パラメータを測定および評価するための機器および装置の分類

International Organization for Standardization (ISO), さまざまな機器パラメータ

• ISO 1878:1974 表面仕上げの幾何学的パラメータを測定および評価するための機器および装置の分類
• ISO 1878:1983 表面仕上げの幾何学的パラメータを測定および評価するための機器および装置の分類
• ISO/CD 14577-3:2023 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 3: 基準ブロックの校正
• ISO 14577-5:2022 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 5: 線形弾性動的機器押し込み試験 (DIIT)
• ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
• ISO 15471:2004 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 15471:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 14577-1:2002 金属材料 硬度と材料パラメータの機器押し込み試験 パート 1: 試験方法
• ISO 14577-1:2015 金属材料 硬度と材料パラメータの機器押し込み試験 パート 1: 試験方法
• ISO/CD 14577-1:2023 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 1: 試験方法
• ISO 10109-1:1994 光学および光学機器の環境要件 パート 1: 一般情報、定義、気候帯およびそのパラメーター
• ISO 14577-3:2002 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
• ISO 14577-3:2015 金属材料 硬度および材料パラメータの機器押し込み試験 パート 3: 硬度標準ブロックの校正
• ISO 14577-2:2002 金属材料 硬度と材料パラメータの機器押し込み試験 パート 2: 試験機の検証と校正
• ISO 14577-2:2015 金属材料 硬度と材料パラメータの機器押し込み試験 パート 2: 試験機の検証と校正
• ISO/DTS 19096 押し込み力の違いを使用して応力変化を評価する、金属材料の硬度と材料パラメータの計測器付き押し込み試験
• ISO/CD 14577-2:2023 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計器を備えた押し込み試験パート 2: 試験機の検証と校正
• ISO/TS 19096:2023 押し込み力の違いを使用して応力変化を評価する、金属材料の硬度と材料パラメータの計測器付き押し込み試験
• ISO 14577-4:2007 金属材料 硬度および材料パラメータを測定するための機器による押し込み試験 パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法
• ISO 14577-4:2016 金属材料 硬度および材料パラメータを測定するための機器による押し込み試験 パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, さまざまな機器パラメータ

• EN 61290-3-2:2003 光増幅器パート 3-2: 雑音指数パラメータの試験方法 電気スペクトラム アナライザ方法
• EN 61290-5-1:2000 光増幅器の試験方法 パート5-1：反射パラメータ 光スペクトラムアナライザ法
• EN 61290-1-1:1998 光ファイバアンプの基本仕様 第 1-1 部：ゲインパラメータの試験方法 スペクトラムアナライザ
• EN 61290-1-2:1998 光増幅器のテスト方法 パート 1-2: パワーとゲインのパラメータ 電気スペクトラム アナライザの方法
• EN 61290-2-1:1998 光ファイバ増幅器の基本仕様 第 2-1 部：光パワーパラメータの試験方法 スペクトラムアナライザ
• EN 61290-2-2:1998 光ファイバ増幅器の基本仕様 第2-2部：光パワーパラメータおよび電気スペクトラムアナライザの試験方法
• EN 61290-10-2:2003 光アンプの試験方法 パート 10-2: ゲート スペクトラル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• EN 61290-10-2:2008 光アンプの試験方法 パート 10-2: ゲート スペクトラル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• EN 61290-10-1:2003 光アンプの試験方法 パート 10-1: 光スイッチとスペクトル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, さまざまな機器パラメータ

• EN 61290-3-2:2008 光増幅器の試験方法 パート 3-2: 雑音指数パラメトリック電気スペクトラム アナライザ方法
• EN 60444-5:1997 水晶振動子パラメータの測定 パート 5: 自動ネットワーク アナライザと誤差補正技術を使用した電気パラメータの評価のための測定方法
• EN 61290-1-1:2015 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• EN IEC 61290-1-1:2020 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• EN 61290-3-1:2003 光ファイバ増幅器の試験方法 パート 3-1: ノイズ指数パラメータ 光スペクトラム アナライザ方法 IEC 61290-3-1:2003
• EN 60315-7:1995 さまざまな放射タイプの無線受信機の測定方法パート 7: デジタル衛星ラジオ (DSR) 受信機の測定方法 (IEC 315-7-1995)
• EN 61290-5-2:2004 光ファイバ増幅器、試験方法、パート 5-2: 反射パラメータ、電気スペクトル アナライザ方法 IEC 61290-5-2-2003
• EN 61290-5-1:2006 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射パラメータ 光スペクトラム アナライザ方法 IEC 61290-5-1
• EN 61290-10-1:2009 光アンプの試験方法 パート 10-1: 光スイッチとスペクトル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法
• EN 61290-10-4:2007 光増幅器、テスト方法、パート 10-4: マルチチャネル パラメータ、光スペクトラム アナライザを使用した補間ラジエーター低減法。
• EN 61290-1-2:2005 光増幅器のテスト方法 パート 1-2: パワーおよびゲインのパラメータ 電気スペクトラム アナライザの方法 [代替: CENELEC EN 61290-2-1]

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), さまざまな機器パラメータ

• JIS C 6122-3-2:2006 光増幅器、試験方法、パート 3-2: ノイズデジタルパラメータ、電気スペクトラムアナライザ方法
• JIS C 1102-1:1997 アナログ電気測定器とその付属品を示す直接動作 第 1 部: 各種一般部品の定義と一般要件
• JIS C 1102-1:2007 アナログ電気測定器とその付属品を示す直接動作 第 1 部: 各種一般部品の定義と一般要件
• JIS C 6122-3-1:2011 光増幅器、試験方法、パート 3-1: ノイズ指数パラメータ、光スペクトラム アナライザの方法
• JIS K 0161:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• JIS C 6122-1-2:2011 光ファイバ増幅器、テスト方法、パート 1-2: ゲインパラメータとパワー、電気スペクトラムアナライザ法
• JIS C 6122-1-1:2011 光ファイバ増幅器 試験方法 パート 1-1: 利得パラメータとパワー 光スペクトラム アナライザ方法
• JIS C 6122-5-1:2001 光ファイバ増幅器 試験方法 パート 5-1: 反射パラメータ試験方法 スペクトル アナライザの試験方法
• JIS C 6122-10-2:2010 光ファイバ増幅器. テスト方法. パート 10-2: マルチチャネルパラメータ. ゲート光スペクトラムアナライザを使用したパルス法
• JIS C 6122-10-1:2007 光アンプ、テスト方法、パート 10-1: マルチチャネルパラメータ、光スイッチとスペクトラムアナライザを使用したパルス法。
• JIS C 6122-10-4:2012 光ファイバ増幅器、テスト方法、パート 10-4: マルチチャネルパラメータ、光スペクトラムアナライザを使用した補間ラジエーター低減法。

IEC - International Electrotechnical Commission, さまざまな機器パラメータ

• TS 62791-2015 さまざまなタイプのトランスデューサーに対する超音波パルスエコー スキャナー低エコー球モデルおよびグレースケール医療用超音波スキャナー性能テスト方法 (バージョン 1.0)

ZA-SANS, さまざまな機器パラメータ

• SANS 61290-5-1:2007 光増幅器、試験方法、パート 5-1: 反射パラメータ、スペクトル アナライザー方法
• SANS 14577-3:2009 冶金材料。 材料の硬度とパラメーターを測定するための機器による押し込み試験。 パート 3: 基準テストブロックの校正
• SANS 14577-1:2009 冶金材料。 材料の硬度とパラメーターを測定するための機器による押し込み試験。 パート 1: テスト方法
• SANS 14577-2:2009 冶金材料。 材料の硬度とパラメーターを測定するための機器による押し込み試験。 パート 2: 試験機の認証と校正

Professional Standard - Earthquake, さまざまな機器パラメータ

• DB/T 21-2007 地震観測装置のネットワークアクセス技術要件に対して一般的に使用される技術パラメータ表現と試験方法

AENOR, さまざまな機器パラメータ

• UNE 82302:1992 表面仕上げの幾何学的パラメータを測定および評価するための機器および装置の分類
• UNE-EN 60315-7:1997 ラジオ受信機のさまざまな放射レベルの測定方法 パート 7: デジタル衛星ラジオ (DSR) 受信機の測定方法
• UNE-EN ISO 14577-4:2017 金属材料 - 硬度および材料パラメータの計装による押し込み試験 - パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法 (ISO 14577-4:2016)

Lithuanian Standards Office , さまざまな機器パラメータ

• LST EN 61290-3-1-2004 光増幅器試験方法 パート 3-1: 雑音指数パラメータ スペクトラム アナライザ方法 (IEC 61290-3-1:2003)
• LST EN ISO 14577-3:2003 金属材料の硬度および材料パラメータに関する計器付き押し込み試験パート 3: 基準試験ブロックの校正 (ISO 14577-3:2002)
• LST EN 61290-3-2-2008 光増幅器試験方法 パート 3-2: 雑音指数パラメータ電気スペクトラム アナライザ方法 (IEC 61290-3-2:2008)
• LST EN 61290-5-1-2006 光増幅器の試験方法 第5-1部：反射パラメータスペクトラムアナライザ法（IEC 61290-5-1:2006）
• LST EN 61290-5-2-2004 光増幅器試験方法 第5-2部：反射率パラメータ電気スペクトルアナライザ法（IEC 61290-5-2:2003）
• LST EN ISO 14577-1:2003 金属材料の硬度および材料パラメータに関する計装による押し込み試験パート 1: 試験方法 (ISO 14577-1:2002)
• LST EN 61290-1-1-2007 光増幅器の試験方法 パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータのスペクトラムアナライザ方法 (IEC 61290-1-1:2006)
• LST EN 61290-1-2-2006 光増幅器試験方法パート 1-2: パワーおよびゲインパラメータ電気スペクトラムアナライザ方法 (IEC 61290-1-2:2005)
• LST EN IEC 61290-1-1:2020 光増幅器の試験方法 パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータのスペクトラムアナライザ方法 (IEC 61290-1-1:2020)
• LST EN 60315-7-2002 無線受信機のさまざまな放射レベルの測定方法 パート 7: デジタル衛星ラジオ (DSR) 受信機の測定方法 (IEC 60315-7:1995)
• LST EN 61290-10-2-2008 光増幅器試験方法 パート 10-2: マルチチャネルパラメータ用のゲートスペクトラムアナライザを使用したパルス法 (IEC 61290-10-2:2007)
• LST EN 61290-10-4-2007 光増幅器試験方法パート 10-4: スペクトラム アナライザの補間ソース減算を使用したマルチチャネル パラメータ (IEC 61290-10-4:2007)
• LST EN ISO 14577-2:2003 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験パート 2: 試験機の検証と校正 (ISO 14577-2:2002)
• LST EN 61290-10-1-2009 光増幅器の試験方法パート 10-1: 光スイッチとスペクトル アナライザを使用したマルチチャネル パラメータ パルス法 (IEC 61290-10-1:2009)
• LST EN ISO 14577-4:2007 金属材料の硬度および材料パラメータに関する計器付き押し込み試験パート 4: 金属および非金属コーティングの試験方法 (ISO 14577-4:2007)
• LST EN 61290-5-3-2003 光ファイバ増幅器の基本仕様パート 5-3: 電気スペクトル アナライザの反射公差を使用した反射率パラメータの試験方法 (IEC 61290-5-3:2002)

Standard Association of Australia （SAA）, さまざまな機器パラメータ

• AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。 選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, さまざまな機器パラメータ

• GB/T 21838.1-2019 金属材料の硬度と材料パラメータに関する計装による押し込み試験 パート 1: 試験方法
• GB/T 21838.4-2020 金属材料の硬度および材料パラメータに関する計装押し込み試験パート 4: 金属および非金属被覆の試験方法

American National Standards Institute （ANSI), さまざまな機器パラメータ

• ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 光ファイバ増幅器 基本仕様 パート 5-1: 反射パラメータの試験方法 スペクトル アナライザ
• ANSI/TIA/EIA 455-206-2000 FOTP206-IEC 61290-1-2 - 光ファイバ増幅器、基本仕様、パート 1-1: ゲインパラメータ試験方法、光スペクトラムアナライザ
• ANSI/TIA-455-206-2000 FOTP206.IEC 61290-1-1. 光ファイバアンプ. 基本仕様. パート 1-1: ゲインパラメータのテスト方法. スペクトルアナライザ
• ANSI/TIA/EIA 455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2-光ファイバ増幅器 基本仕様 パート 2-2: 光パワーパラメータ試験方法 電気スペクトラムアナライザ
• ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209-IEC 61290-2-1-光ファイバ増幅器 基本仕様 第 2-1 部：光パワーパラメータ試験方法 光スペクトラムアナライザ
• ANSI/TIA/EIA 455-207-2000 FOTP207-IEC 61290-1-2-光ファイバ増幅器、基本仕様、パート 1-2: ゲインパラメータ試験量法、電気スペクトラムアナライザ
• ANSI/TIA-455-207-2000 FOTP207.IEC 61290-1-2. 光ファイバ増幅器. 基本仕様. パート 1-2: ゲインパラメータの試験方法. 電気スペクトラムアナライザ
• ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209.IEC 61290-2-1. 光ファイバ増幅器. 基本仕様. パート 2-1: 光パワーパラメータの試験方法. スペクトルアナライザ
• ANSI/TIA-455-210-2000 FOTP209.IEC 61290-2-1. 光ファイバ増幅器. 基本仕様. パート 2-2: 光パワーパラメータの試験方法. 電気スペクトラムアナライザ

International Telecommunication Union (ITU), さまざまな機器パラメータ

• ITU-T O.150-1996 デジタル伝送装置用性能測定器の一般要求事項 シリーズＯ：デジタルおよびアナログ／デジタルパラメトリック試験装置仕様書 研究会４ 24ページ

KR-KS, さまざまな機器パラメータ

• KS D ISO 15632-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
• KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

TIA - Telecommunications Industry Association, さまざまな機器パラメータ

• TIA/EIA-455-221-2001 FOTP-221-IEC 61290-5-1 光ファイバ増幅器の基本仕様パート 5-1: 反射パラメータの試験方法スペクトラムアナライザ (IEC 61290-5-1 を参照してください)
• TIA/EIA-455-207-2000 FOTP-207 IEC 61290-1-2 光ファイバ増幅器の基本仕様パート 1-2: ゲインパラメータのテスト方法 電気スペクトラムアナライザ (IEC 61290-1-2 を参照)

(U.S.) Telecommunications Industries Association , さまざまな機器パラメータ

• TIA/EIA-455-206-2000 FOTP-206 IEC 61290-1-1 光ファイバ増幅器の基本仕様パート 1-1: ゲインパラメータの試験方法スペクトラムアナライザ
• TIA/EIA-455-209-2000 FOTP-209 IEC 61290-2-1 光ファイバ増幅器の基本仕様パート 2-1: 光パワー パラメータの試験方法 スペクトラム アナライザ
• TIA/EIA-455-210-2000 FOTP-210 IEC 61290-2-2 光ファイバ増幅器の基本仕様パート 2-2: 光パワーパラメータの試験方法電気スペクトラムアナライザ

その他：   楽器のパラメータ, 電子顕微鏡走査における各種パラメータ, パラメータ試験器, 楽器のパラメータ, 各種機器分析法, 従来の各種器具, 各種映写機, さまざまな質量分析パラメータ, パラメータパラメータ測定器, 各種楽器カバー, 各種検査機器, 各種回折装置, 各種回折装置, さまざまな機器の動作パラメータ, パラメトリック計器, 各種測量・地図作成機器, アスファルト用各種器具, さまざまな機器パラメータ, 各種機器の精度, さまざまな土壌パラメータ.