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X線エネルギー分光器の分析方法

X線エネルギー分光器の分析方法は全部で 172 項標準に関連している。

X線エネルギー分光器の分析方法 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、金属鉱石、長さと角度の測定、光学および光学測定、原子力工学、放射線測定、光学機器、非破壊検査、半導体材料、医療科学とヘルスケア機器の統合、石油製品総合、耐火物、非鉄金属、化学製品、合金鉄、無駄、燃料、紙とボール紙、物理学、化学。

German Institute for Standardization, X線エネルギー分光器の分析方法

DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 表面化学分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト
DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計の仕様と検査のための、選択された機器の性能パラメータのマイクロビーム分析
DIN ISO 15632:2015 マイクロビーム分析半導体検出器を備えたエネルギー発散 X 線分光計の機器仕様 (ISO 15632-2012)
DIN 51577-4:1994 鉱物油および類似製品中の炭化水素の検査塩素および臭素含有量の測定低価格機器のエネルギー散乱 X 線分析装置による分析
DIN 51577-4:2023-07 鉱油炭化水素および類似製品の試験。塩素および臭素含有量の測定。低コストの装置によるエネルギー分散型 X 線分光法
DIN 51577-4:1994-02 鉱油炭化水素および類似製品の試験、塩素および臭素含有量の測定、低コストの装置を使用したエネルギー分散型 X 線分光法
DIN 51577-4:2023-11 鉱油および類似製品中の炭化水素の検査塩素および臭素含有量の測定パート 4: 低コストの機器を使用したエネルギー分散型 X 線分光法

British Standards Institution (BSI), X線エネルギー分光器の分析方法

BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析：電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用に選択された機器の仕様と性能パラメータ
BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機器性能パラメータ
BS ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
BS ISO 21270:2005 表面化学分析、X 線光電子およびオージェ電子分光計、強度スケールの直線性
BS ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピークフィッティングの最小レポート要件
BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析シリコン酸化膜厚測定
BS ISO 14701:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、シリカ厚さ測定
BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ
BS ISO 17109:2022 表面化学分析深さプロファイリング単層膜および多層膜の X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
BS ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
BS 1902-9.2:1987 耐火物の試験方法パート 9.2: 機器化学分析法セクション 2: 蛍光 X 線分析による珪質耐火物の分析
BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X 線光電子分光法均質材料における元素検出限界の推定と報告
BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法のレポート
BS ISO 18118:2015 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析実験的に決定された相対感度係数を使用したオージェ電子分光法および X 線光電子分光法を使用した均質材料の定量分析のためのガイド
BS ISO 20903:2019 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法ピーク強度の決定方法と結果報告時に必要な情報
DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。
20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法の報告
BS ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
BS DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用した単層カーボンナノチューブの特性評価。

International Organization for Standardization (ISO), X線エネルギー分光器の分析方法

ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
ISO 15472:2001 表面化学分析 X線光電子分光計のエネルギースケール校正
ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 線光電子分光法バックグラウンド測定手順
ISO 15632:2021 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
ISO 15632:2012 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピークフィッティングの最小レポート要件
ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
ISO 15632:2002 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
ISO 14701:2011 表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
ISO/TR 19319:2003 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアームカーボンナノチューブの特性評価。
ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
ISO 17109:2022 表面化学分析、深さプロファイリング、単層および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、および二次イオン質量分析法におけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO 19668:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、均質材料の元素検出限界の推定と報告。
ISO 20903:2019 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - ピーク強度と結果報告時に必要な情報を決定するために使用される方法
ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子エネルギー分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果の報告に必要な情報

工业和信息化部/国家能源局, X線エネルギー分光器の分析方法

JB/T 12962.2-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析装置その2：元素分析装置
JB/T 12962.3-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析装置その3：膜厚測定装置
JB/T 12962.1-2016 エネルギー分散型蛍光X線分析装置第1部：一般的な技術

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線エネルギー分光器の分析方法

JIS M 8205:2000 鉄鉱石蛍光X線分析装置
JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
JIS K 0152:2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析強度スケールの再現性と一貫性
JIS K 0167:2011 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法均質材料の定量分析における相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイドライン

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線エネルギー分光器の分析方法

KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性
KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
KS D ISO 15472:2003 表面化学分析、X線光電分光装置、エネルギースケールの校正
KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
KS D ISO 15632:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
KS D ISO 15632:2012 マイクロビーム分析 - 半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
KS D ISO 19319:2005 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光法帯電制御・帯電補正法レポート
KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析における均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイドラインオージェ電子分光法および X 線光電子分光法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線エネルギー分光器の分析方法

GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置エネルギースケールの校正
GB/T 19500-2004 X線光電子分光分析法の一般原理
GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法選択された機器の性能パラメーターの表現
GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
GB/Z 32490-2016 表面化学分析のためのX線光電子分光法を使用したバックグラウンド測定手順
GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
GB/T 17507-1998 生物学的薄い標準サンプルの電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
GB/T 29556-2013 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法分析装置で検出できる横分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
GB/T 28633-2012 表面化学分析、X 線光電子分光法、強度スケールの再現性と一貫性
GB/T 25185-2010 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告
GB/T 2679.11-2008 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線分光分析
GB/T 2679.11-1993 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光分析
GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
GB/T 30702-2014 表面化学分析均質材料の定量分析におけるオージェ電子分光法および X 線光電子分光法の実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド
GB/T 6609.30-2009 アルミナの化学分析および物性測定方法第 30 部：蛍光 X 線分析による微量元素含有量の測定

未注明发布机构, X線エネルギー分光器の分析方法

BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の横方向分解能の測定

Association Francaise de Normalisation, X線エネルギー分光器の分析方法

NF X21-055:2006 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
NF X21-071:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
NF X21-008:2012 マイクロビーム分析半導体検出器を備えたエネルギー分散型 X 線分光計の機器仕様
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート
NF EN ISO 13196:2015 土壌品質 – ポータブルまたはハンドヘルドのエネルギー分散型蛍光 X 線分析計を使用して、土壌中の選択した元素を迅速に分析します
FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。
NF X21-058:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定に使用される方法および結果の報告に必要な情報

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X線エネルギー分光器の分析方法

GB/T 22571-2017 表面化学分析用X線光電子分光装置のエネルギースケールの校正
GB/T 33502-2017 表面化学分析のための X 線光電子分光法 (XPS) データの記録とレポートの仕様要件

KR-KS, X線エネルギー分光器の分析方法

KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析・X線光電子分光装置・エネルギースケールの校正
KS D ISO 15632-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査
KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

Professional Standard - Nuclear Industry, X線エネルギー分光器の分析方法

EJ/T 684-2016 ポータブルエネルギー分散型蛍光X線分析装置

IN-BIS, X線エネルギー分光器の分析方法

IS 12803-1989 蛍光X線分析装置を用いた水硬性セメントの分析方法

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), X線エネルギー分光器の分析方法

IEEE 759-1984 半導体X線エネルギースペクトル分析装置の試験手順

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, X線エネルギー分光器の分析方法

JJF 1133-2005 蛍光X線分析装置の金含有量分析装置の校正仕様

Standard Association of Australia （SAA）, X線エネルギー分光器の分析方法

AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明
AS ISO 15472:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。エネルギースケールの校正
AS ISO 19319:2006 表面化学分析。オーギュル電子分光法とX線光電子分光法。分析者の横方向解像度の目視検査、分析領域とサンプル領域
AS ISO 18118:2006 表面化学分析。オージェ電子分光法とX線光電子分光法。均質材料の定量分析における実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X線エネルギー分光器の分析方法

GB/T 36401-2018 表面化学分析報告書 X線光電子分光法による薄膜分析結果
GB/T 41073-2021 表面化学分析の基本要件電子エネルギー分光法 X 線光電子分光法ピークフィッティングレポート
GB/T 41064-2021 表面化学分析深さ方向プロファイリング単層膜および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法および二次イオン質量分析法における深さ方向プロファイリングのスパッタリング率を決定する方法
GB/T 6609.30-2022 アルミナの化学分析および物性測定方法第30部：微量元素含有量の測定波長分散型蛍光X線分析法

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線エネルギー分光器の分析方法

ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法
ASTM E1588-10e1 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
ASTM F1375-92(2012) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態をエネルギー分散型 X 線分光計 (EDX) で分析するための標準試験方法
ASTM E1588-16 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM C1255-93(1999) エネルギー分散型蛍光X線分析法による土壌中のウランおよびトリウムの分析の標準試験法
ASTM C1255-18 エネルギー分散型蛍光X線分析法による土壌中のウランおよびトリウムの分析の標準試験法
ASTM C1255-93(2005) エネルギー分散型蛍光X線分析法による土壌中のウランおよびトリウムの分析の標準試験法
ASTM C1255-11 エネルギー分散型蛍光X線分析法による土壌中のウランおよびトリウムの分析の標準試験法
ASTM E1588-16a 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
ASTM E1588-17 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法によるショット残留物分析の標準的な手法
ASTM F1375-92(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態のエネルギー分散型 X 線分光分析の試験方法
ASTM E1588-07 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-07e1 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM D5839-96(2001) エネルギー分散型蛍光X線分析法による有害廃油中の微量元素分析の標準試験法
ASTM D5839-96(2006) エネルギー分散型蛍光X線分析法による有害廃油中の微量元素分析の標準試験法
ASTM D5839-15(2023) エネルギー分散型蛍光X線分析法による有害廃棄物燃料中の微量元素分析の標準試験法
ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法
ASTM D5839-15 エネルギー分散型蛍光X線分析法による有害廃油中の微量元素分析の標準試験法
ASTM F1375-92(1999) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を調べるエネルギー分散型 X 線分光分析 (EDX) の標準試験方法
ASTM F1375-92(2020) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を調べるエネルギー分散型 X 線分光分析 (EDX) の標準試験方法
ASTM D5839-96 エネルギー分散型蛍光X線分析法による有害廃棄燃料の微量元素分析の標準試験法
ASTM E3309-21 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析法 (SEM/EDS) による法医学準備済み銃撃残渣 (pGSR) 分析の報告に関する標準ガイド

Group Standards of the People's Republic of China, X線エネルギー分光器の分析方法

T/CSTM 01199-2024 多層金属薄膜の層構造測定・解析方法 X線光電子分光法

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, X線エネルギー分光器の分析方法

DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法

Professional Standard - Machinery, X線エネルギー分光器の分析方法

JB/T 11602.3-2013 非破壊検査装置のX線管電圧の測定と評価第3部：エネルギースペクトル試験

Professional Standard - Non-ferrous Metal, X線エネルギー分光器の分析方法

YS/T 273.14-2008 氷晶石の化学分析法と物性第14回：蛍光X線分析による元素含有量の測定
YS/T 581.10-2006 フッ化アルミニウムの化学分析方法と物性第10回蛍光X線分析による硫黄分の定量
YS/T 273.11-2006 氷晶石の化学分析および物理的性質の測定方法第 11 部: 蛍光 X 線分析による硫黄含有量の測定
YS/T 581.16-2008 フッ化アルミニウムの化学分析法と物性第16部蛍光X線分析による元素含有量の測定
YS/T 581.18-2012 フッ化アルミニウムの化学分析法及び物性測定法第18回蛍光X線分析法による元素含有量の測定（打錠法）
YS/T 273.15-2012 氷晶石の化学分析および物性測定方法第15回蛍光X線分析法（打錠法）による元素含有量の測定
YS/T 820.19-2012 ラテライトニッケル鉱石の化学分析方法パート 19: アルミニウム、クロム、鉄、マグネシウム、マンガン、ニッケル、ケイ素の量の測定エネルギー分散型蛍光 X 線分析法

工业和信息化部, X線エネルギー分光器の分析方法

YS/T 581.15-2012 フッ化アルミニウムの化学分析及び物性測定方法第15回蛍光X線分析法による元素含有量の測定（打錠法）

Danish Standards Foundation, X線エネルギー分光器の分析方法

DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボンナノチューブの特性を評価します。

RU-GOST R, X線エネルギー分光器の分析方法

GOST R ISO 16243-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) データの記録と報告