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レーザー法

レーザー法は全部で 60 項標準に関連している。

レーザー法 国際標準分類において、これらの分類：保護具、粒度分析、スクリーニング、オプトエレクトロニクス、レーザー装置、道路車両装置、金属材料試験、建材、光学および光学測定、ガラス、工作機械、オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアルエンジニアリング、光ファイバー通信、半導体ディスクリートデバイス。

PT-IPQ, レーザー法

NP EN 208-2000 個人用の目の保護具。レーザー法およびレーザー制御手順用のゴーグル (レーザー制御操作用の目の保護具)

Association Francaise de Normalisation, レーザー法

NF EN ISO 22007-4:2017 プラスチックの熱伝導率と熱拡散の測定第 4 部: フラッシュレーザー法
NF EN ISO 13695:2005 光学とフォトニクス。レーザーおよびレーザー関連機器。レーザースペクトル特性の試験方法
NF S10-122*NF EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー装置のレーザービームパラメーターのテスト方法: ビーム位置の安定性

British Standards Institution (BSI), レーザー法

BS ISO 13320:2010 粒度分析レーザー回折法
BS ISO 13320:2009 粒度分析 - レーザー回折法
BS ISO 13320-1:2000 粒度分析、レーザー回折法、一般規則

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), レーザー法

KS A ISO 13320-2014(2019) 粒度分析 - レーザー回折法
KS A ISO 13320:2014 粒子径分析、レーザー回折法
KS B 8400-2-2015(2020) レーザーおよびレーザー関連機器 - 変位測定用レーザー干渉計のテスト方法パート 2: テスト方法レーザー干渉計
KS C 6705-1993(1998) レーザー出力測定方法
KS A ISO 13320-1-2004(2009) 粒度分析 - レーザー回折法 - 第 1 部: 概要
KS B ISO 12005:2003 レーザーおよびレーザー装置レーザービームパラメータの試験方法偏光
KS B ISO 12005:2013 レーザーおよびレーザー装置レーザービームパラメータの試験方法偏光
KS B ISO 12005:2015 レーザーおよびレーザー装置のレーザービームパラメータの試験方法偏光
KS B ISO 11146-2015(2020) レーザーおよびレーザー関連機器 - 試験方法レーザー BAEM パラメータ - ビーム幅、発散角、およびビーム伝播係数
KS A ISO 13320-1:2004 粒子径分析、レーザー回折法、パート 1: 一般原理
KS A ISO 13320-1:2014 粒子サイズ分析のためのレーザー回折法パート 1: 一般原則
KS B 8400-2-2010 レーザーおよびレーザー関連機器レーザー変位測定干渉計の試験方法第 2 部レーザー干渉計の試験方法
KS B 8400-2-2015 レーザーおよびレーザー関連機器レーザー変位測定干渉計の試験方法第 2 部レーザー干渉計の試験方法
KS L 2106-2009 ガラス均一性測定法レーザー干渉法
KS B ISO 11670:2013 レーザーおよびレーザー装置レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
KS B ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー装置レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
KS B ISO 11670:2015 レーザーおよびレーザー装置のレーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性

International Organization for Standardization (ISO), レーザー法

ISO 13320:2020 粒度分析 - レーザー回折法
ISO 12005:1999 レーザーおよびレーザー装置のレーザービームパラメータの試験方法偏光
ISO 12005:2003 レーザーおよびレーザー装置レーザービームパラメータの試験方法偏光
ISO/TS 17915:2013 光学およびオプトエレクトロニクス - センシング用の半導体レーザーの測定方法
ISO 17915:2018 光学およびフォトニクス - センシング用の半導体レーザーの測定方法
ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー装置レーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性
ISO 11670:1999 レーザーおよびレーザー装置のレーザービームパラメータの試験方法ビーム位置の安定性

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, レーザー法

GB/T 31359-2015 半導体レーザーの試験方法
GB/T 27665-2011 Ndドープイットリウムアルミニウムガーネットレーザーロッドのレーザー性能測定方法
GB/T 4799-2001 レーザーモデルの命名方法
GB/T 4799-2011 レーザーモデルの命名方法
GB/T 7257-2013 ヘリウム・ネオンレーザーパラメータ測定法
GB/T 13863-1992 レーザー照射出力試験方法

European Committee for Standardization (CEN), レーザー法

EN ISO 11670:1999 レーザーおよびレーザー関連機器レーザー光パラメータの試験方法レーザー光の位置安定性
EN ISO 11670:2003 レーザーおよびレーザー関連機器レーザー光パラメータの試験方法レーザー光の位置安定性
EN ISO 11670:2003/AC:2004 レーザーおよびレーザー関連機器、レーザービームパラメータの試験方法、修正を含むレーザービーム位置安定性 AC、2004 年

German Institute for Standardization, レーザー法

DIN 51866-1:2000-04 温度測定パート 1: レーザー分光法の概要

Group Standards of the People's Republic of China, レーザー法

T/CAAMTB 58-2021 車載ライダー検出方式
T/CAMS 102-2022-2022 レーザー三次元マーキング検出方式
T/CVIA 79-2020 レーザーテレビのエネルギー効率測定方法
T/ZBH 019-2021 ガラス応力測定法 - レーザー偏光散乱法

RU-GOST R, レーザー法

GOST R 52891-2007 技術的応力誤差を制御するためのレーザー干渉法一般要件

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, レーザー法

GJB 2427-1995 レーザージャイロスコープの試験方法
GJB 2427A-2020 レーザージャイロスコープの試験方法
GJB 1487-1992 レーザー光学部品の試験方法
GJB 9250-2017 爆発圧力試験法レーザー干渉試験法

PL-PKN, レーザー法

PN T06591-1990 光放射の防止レーザー放射の測定方法

Professional Standard - Building Materials, レーザー法

JC/T 721-2006 セメント粒子の濃淡判定法レーザー法

Professional Standard - Electron, レーザー法

SJ 20762-1999 ガスレーザーパラメータ試験方法
SJ 2749-1987 半導体レーザーダイオードの試験方法

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), レーザー法

IEEE 2065-2020 産業用ファイバーレーザーのテスト方法とパラメーター要件のガイド

中华人民共和国环境保护部, レーザー法

GB 12377-1990 空気中の微量ウランの分析方法：レーザー蛍光法

Danish Standards Foundation, レーザー法

DS/EN ISO 13695:2004 光学レーザーおよびフォトニクスレーザーおよびレーザー関連機器のレーザースペクトル特性の試験方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), レーザー法

JIS C 5943:1997 記録再生用レーザーダイオードの測定方法
JIS C 5943:2010 記録再生用レーザーダイオードの測定方法

工业和信息化部, レーザー法

SJ/T 2749-2016 半導体レーザーダイオードの試験方法