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X線回折装置の主なパラメータ

X線回折装置の主なパラメータは全部で 36 項標準に関連している。

X線回折装置の主なパラメータ 国際標準分類において、これらの分類：金属材料試験、 非破壊検査、 分析化学、 長さと角度の測定、 化学製品、 情報技術の応用。

Professional Standard - Machinery, X線回折装置の主なパラメータ

• JB/T 9399-1999 X線分析装置主要パラメータシリーズ
• JB/T 9399-2010 X線分析装置主要パラメータシリーズ
• JB/T 8387-2010 工業用非破壊検査装置用X線管の主なパラメータ
• JB/T 7808-2010 非破壊検査装置工業用X線探傷器主要パラメータシリーズ

Professional Standard - Nuclear Industry, X線回折装置の主なパラメータ

• EJ/T 553-1991 粉末X線回折法による鉱物単位胞パラメータの決定

RU-GOST R, X線回折装置の主なパラメータ

• GOST 22091.0-1984 線装置 - パラメータ測定の一般要件
• GOST R 8.698-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度 ナノ粒子および膜の空間パラメータ 小角X線散乱回折装置を用いた測定方法

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, X線回折装置の主なパラメータ

• YB/T 5337-2006 金属格子定数の決定方法 X線回折装置法

Professional Standard - Energy, X線回折装置の主なパラメータ

• NB/SH/T 6015-2020 X線回折法によるZSM-23モレキュラーシーブの単位胞パラメータの決定
• NB/SH/T 6033-2021 X線回折法によるZSM-22モレキュラーシーブの単位格子パラメータの決定
• NB/SH/T 0339-2021 X線回折法を用いたフォージャサイト型ゼオライトの単位格子パラメータの決定

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線回折装置の主なパラメータ

• ASTM E1426-98 有効弾性パラメータを決定するための残留応力の X 線回折測定の標準試験方法
• ASTM E1426-98(2009)e1 有効弾性パラメータを決定するための残留応力の X 線回折測定の標準試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線回折装置の主なパラメータ

• KS D 0287-2005(2020) 有効弾性パラメータを決定するための残留応力の X 線回折測定の標準試験方法
• KS D 0287-2005 X線回折によって測定される残留応力の有効弾性パラメータを決定するための標準的な試験方法
• KS D ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• KS D ISO 16413:2021 線反射率計による膜厚、密度、界面幅の評価、機器要件、校正と位置決め、データ収集、データ分析、レポート作成
• KS D ISO 15632:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線回折装置の主なパラメータ

• GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
• GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 選択された機器の性能パラメーターの表現

International Organization for Standardization (ISO), X線回折装置の主なパラメータ

• ISO 19950:2015 主にアルミニウムの製造に使用されるアルミナ αアルミナ含有量の測定 X線回折の正味ピーク面積を用いる方法
• ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 16413:2020 X線反射率測定による膜厚密度と界面幅の評価 - 機器の位置合わせと位置決めが必要 データ収集 データ分析とレポート作成

British Standards Institution (BSI), X線回折装置の主なパラメータ

• BS ISO 19950:2015 主にアルミニウムの製造に使用されるアルミナ αアルミナ含有量の測定 X線回折の正味ピーク面積を用いる方法
• BS ISO 15470:2005 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 16413:2013 線反射率測定を使用した膜厚、密度、界面幅の評価 機器要件 校正と位置決め、データ収集、データ分析とレポート
• BS ISO 16413:2020 X 線反射率測定によるフィルムの厚さ、密度、界面幅の評価 機器要件、位置合わせと位置決め、データ収集、データ分析、およびレポート作成
• BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析：電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用に選択された機器の仕様と性能パラメータ
• BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機器性能パラメータ

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線回折装置の主なパラメータ

• JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Standard Association of Australia （SAA）, X線回折装置の主なパラメータ

• AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。 選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明

German Institute for Standardization, X線回折装置の主なパラメータ

• DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計の仕様と検査のための、選択された機器の性能パラメータのマイクロビーム分析

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X線回折装置の主なパラメータ

• GB/T 36053-2018 線反射率測定による膜厚、密度、界面幅の測定 機器要件、視準と位置決め、データ収集、データ分析とレポート

KR-KS, X線回折装置の主なパラメータ

• KS D ISO 16413-2021 線反射率計による膜厚、密度、界面幅の評価、機器要件、校正と位置決め、データ収集、データ分析、レポート作成
• KS D ISO 15632-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

その他：   X線回折装置の測定パラメータ, X線回折装置の日常寸法, X線回折装置の主なパラメータ, X線回折装置の校正, X線回折装置は何を測定しますか?, X線回折装置, 回折装置の主なパラメータ, X線回折装置のパラメータ, X線回折装置の主なパラメータ.