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キャリアの寿命

キャリアの寿命は全部で 15 項標準に関連している。

キャリアの寿命 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 金属材料試験、 太陽工学、 非鉄金属。

German Institute for Standardization, キャリアの寿命

• DIN 50440:1998 半導体プロセス材料の検査 シリコン単結晶のキャリア寿命測定 光導電法によるマイクロジェットの複合キャリア寿命測定
• DIN V VDE V 0126-18-4-1:2007 ソーラーシリコンウェーハ その4-1：シリコンウェーハの電気的特性の測定手順 オンライン測定法による少数キャリア寿命の決定
• DIN V VDE V 0126-18-4-2:2007 ソーラーシリコンウェーハ パート 4-2: シリコンの電気的特性を測定する手順 少数キャリア寿命を決定するための実験室測定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), キャリアの寿命

• KS D 0265-1989(2019) 光伝導減衰法によるゲルマニウムの少数キャリア寿命の測定
• KS D 0257-2002(2017) 光伝導減衰法によるキャリア寿命単結晶シリコン - マイノリティ測定
• KS D 0257-2002(2022) シリコン単結晶の少数キャリア寿命を測定する光伝導減衰法
• KS D 0265-1989 光伝導減衰測定法、ゲルマニウムの少数キャリア寿命の測定法
• KS D 0257-2002 光伝導減衰測定法を用いたシリコン単結晶の少数キャリア寿命の求め方

Xinjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, キャリアの寿命

• DB65/T 3485-2013 ソーラーグレード多結晶シリコンブロックの少数キャリア寿命の測定方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, キャリアの寿命

• GB/T 1553-1997 シリコンおよびゲルマニウムの少数キャリア寿命を測定するための光導電率減衰法
• GB/T 1553-2009 シリコンおよびゲルマニウムの少数キャリア寿命を測定するための光導電率減衰法
• GB/T 1553-2023 シリコンおよびゲルマニウムの少数キャリア寿命の決定 光導電率減衰法

American Society for Testing and Materials (ASTM), キャリアの寿命

• ASTM F28-91(1997) シリコンおよびゲルマニウムの少数キャリア寿命を測定するための光導電率減衰法

Group Standards of the People's Republic of China, キャリアの寿命

• T/CASAS 026-2023 炭化珪素の少数キャリア寿命測定のためのマイクロ波光伝導減衰法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), キャリアの寿命

• JIS H 0604:1995 光伝導減衰法を用いたシリコン単結晶中の少数キャリアの寿命測定

その他：   キャリアの寿命, キャリア濃度, キャリア濃度, キャリア濃度電圧, キャリア濃度測定, 正味キャリア濃度, キャリア濃度測定, 金キャリア濃度, キャリア度, キャリア密度, キャリア, キャリア密度, UVキャリア, メタルキャリア, キャリアデバイス, キャリアの寿命, キャリアラマン, キャリア濃度、, ゲルマニウムキャリアの寿命, ゲルマニウムキャリアの寿命.