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DE전자 에너지 분광계 AES
모두 345항목의 전자 에너지 분광계 AES와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 전자 에너지 분광계 AES와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 길이 및 각도 측정, 비파괴 검사, 계측 및 측정 합성, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 내화물, 방사선방호, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 수질, 광학 및 광학 측정, 종합 전자 부품, 비금속 광물, 비료, 절연유체, 원자력공학, 사진 기술, 전기 및 전자 테스트, 토양질, 토양과학, 연료, 광학 장비, 조잡한, 농업 및 임업, 도로 차량 장치, 화학 제품, 밥을 먹이다, 금속 재료 테스트, 광전자공학, 레이저 장비, 공기질, 의료 장비, 반도체 개별 장치, 방사선 측정, 고무 및 플라스틱 제품, 범죄 예방, 설탕, 설탕제품, 전분, 석유제품 종합, 우유 및 유제품, 소독 및 살균, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 반도체 소재, 정보 기술 응용.
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광계 AES
Professional Standard - Education, 전자 에너지 분광계 AES
Professional Standard - Agriculture, 전자 에너지 분광계 AES
Association Francaise de Normalisation, 전자 에너지 분광계 AES
- NF ISO 16242:2012 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 로깅 및 보고
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고
- NF ISO 16796:2022 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 분말 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠릿에서 Gd2O3의 원자력 측정
- NF U42-418/IN1*NF EN 16317/IN1:2017 비료 및 석회 물질의 왕수 용해 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 비소 측정
- NF U42-418*NF EN 16317+A1:2017 비료 및 석회 물질의 왕수 용해 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 비소 측정
- NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
- NF M60-461*NF ISO 16796:2022 유도 결합 플라즈마 소스(ICP-AES)를 사용하는 원자 방출 분광법을 통한 가돌리늄 연료 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠릿의 Gd2O3 함량 측정
- NF U42-419/IN1*NF EN 16319/IN1:2016 비료 및 석회 물질의 왕수 용해 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈 측정
- NF U42-419*NF EN 16319+A1:2016 비료 및 석회 물질의 왕수 용해 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈 측정
- NF M60-461:2006 원자력 유도 결합 플라즈마 소스 원자 방사선 분광법(ICP-AES)을 통한 가돌리늄 연료 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠렛의 Gd2O3 함량 측정
- NF U42-418:2013 비료 미량 원소 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통해 왕수에 용해된 후 비소 측정.
- NF X21-054*NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- NF ISO 17974:2009 원소 및 화학적 상태 분석을 위한 표면 화학 분석을 위한 고해상도 Auger 전자 분광계의 에너지 스케일 교정
- NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
- NF V18-245:2012 동물 사료 고압 용해 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 칼슘, 나트륨, 인, 마그네슘, 칼륨, 황, 철, 아연, 구리, 망간 및 코발트 측정
- NF U42-419:2014 비료 미량 원소 측정 ICP-AES(유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법)를 통해 용해된 왕수 내 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈 측정.
- NF V04-445*NF EN ISO 15151:2020 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 우유, 유제품, 유아용 조제분유 및 성인용 영양 제품의 미네랄 및 미량 원소 측정
- NF ISO 24236:2006 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 스펙트럼 에너지 준위의 반복성과 불변성
- NF V18-213:2007 동물 사료 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 칼슘, 나트륨, 인, 마그네슘, 칼륨, 철, 아연, 구리, 망간, 코발트, 몰리브덴, 비소, 납 및 카드뮴 측정
- NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 에너지 분광계 AES
International Organization for Standardization (ISO), 전자 에너지 분광계 AES
- ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
- ISO 16242:2011 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고
- ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
- ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
- ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES(원자 방출 분광학) 및 XPS(광전자 분광학)의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 보정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
- ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
- ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
- ISO/DIS 17973:2023 표면 화학 분석에서 원소 분석 에너지 분해능 수준의 교정 오거 전자 분광계
- ISO/CD 17973 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
- ISO 16796:2022 원자력 유도 결합 플라즈마 소스(ICP-AES)를 사용하는 원자 방출 분광법을 통해 가돌리늄 연료 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠렛의 Gd2O3 함량 측정.
- ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
- ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- ISO 17973:2016 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- ISO 17973:2002 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- ISO 16796:2004 원자력 유도 결합 플라즈마 소스 원자 방사선 분광법(ICP-AES)을 통한 가돌리늄 연료 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠릿의 삼산화 가돌리늄 함량 측정
- ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
- ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
- ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
- ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
- ISO 23420:2021 마이크로빔 분석분석용 전자 현미경전자 에너지 손실 분광학 분석을 위한 에너지 분해능 결정 방법
- ISO 15151:2018 | IDF 229:2018 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 우유, 유제품, 유아용 조제분유 및 성인용 영양 제품의 미네랄 및 미량 원소 측정
- ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
- ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- ISO/DIS 18118:2023 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
- ISO/FDIS 18118:2023 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
- ISO 15151:2018 우유 유제품 유아용 조제분유 및 성인용 영양 제품 - 미네랄 및 미량 원소 측정 - 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법
- ISO/TR 19319:2003 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
- ISO/TR 18394:2016 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 화학 정보 추출
- ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
- ISO 24639:2022 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광법을 통한 원소 분석을 위한 에너지 스케일링 절차
- ISO 29081:2010 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 전하 제어 및 전하 조정 보고 방법.
- ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
- ISO 8769-2:1996 표면 오염 모니터 교정을 위한 기준 소스 2부: 0.15MeV 미만의 에너지를 갖는 전자 및 1.5MeV 미만의 에너지를 갖는 광자
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자 에너지 분광계 AES
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 에너지 분광계 AES
- GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
- GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
- GB/T 32266-2015 원자형광분광기 성능 측정 방법
- GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
- GB/T 25187-2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
- GB/T 36244-2018 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광계
- GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
- GB/T 32179-2015 내화물의 화학 분석을 위한 습식 분석법, 원자 흡수 분광법(AAS) 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)에 대한 일반 요구 사항
- GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정
- GB/T 24794-2009 사진용 화학물질, 유기물의 미량 원소 분석, 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법
- GB/T 27598-2011 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 이용한 사진용 화학 물질의 무기 물질 내 미량 원소 분석
- GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
- GB/T 29731-2013 표면 화학 분석 고해상도 오거 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 스케일 교정
- GB/T 26533-2011 Auger 전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
- GB/T 29732-2013 표면 화학 분석을 위한 중해상도 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정
- GB/T 31470-2015 오제(Auger) 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 테스트에서 검출 신호에 해당하는 샘플 영역을 결정하기 위한 일반 규칙
- GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
- GB/T 17361-2013 마이크로빔 분석을 이용한 퇴적암 내 진위성 점토광물의 동정을 위한 주사형 전자현미경 및 에너지 분광계 방법
- GB/T 28893-2012 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
- GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
- GB/T 29556-2013 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X-선 광전자 분광법 분석기로 감지할 수 있는 측면 분해능, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
- GB/T 18932.11-2002 유도결합플라즈마원자방출분광법(ICP-AES)을 이용하여 꿀 내 칼륨, 인, 철, 칼슘, 아연, 알루미늄, 나트륨, 마그네슘, 붕소, 망간, 구리, 바륨, 티타늄, 바나듐, 니켈, 코발트 및 크롬 측정) 법
- GB/T 31472-2015 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
- GB/T 25189-2010 마이크로빔 분석주사형 전자현미경 에너지 분광계의 정량 분석 매개변수 결정 방법
- GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
- GB/T 30702-2014 표면 화학 분석 균질 물질의 정량 분석에서 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에 대해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자를 사용하는 방법에 대한 가이드
- GB/T 24582-2009 산성 침출 유도 결합 플라즈마 질량 분석기를 사용하여 다결정 실리콘 표면의 금속 불순물을 측정합니다.
- GB/Z 32494-2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 화학 정보 해석
- GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
British Standards Institution (BSI), 전자 에너지 분광계 AES
- BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
- BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
- BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
- BS ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 광전자 분광법(XPS) 및 원자 방출 분광법(AES)의 깊이 프로파일링에서 이온 빔 교정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
- BS ISO 15471:2016 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 분광법을 위해 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- BS EN 16317:2013+A1:2017 비료 및 석회 물질의 왕수 용해 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 비소 측정
- BS ISO 17973:2016 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
- BS ISO 16796:2022 유도 결합 플라즈마 소스(ICP-AES)를 사용하는 원자 방출 분광법을 통한 가돌리늄 연료 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠릿의 Gd2O3 함량 측정
- BS EN ISO 16796:2023 유도 결합 플라즈마 소스(ICP-AES)를 사용하는 원자 방출 분광법을 통한 가돌리늄 연료 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠릿의 Gd2O3 함량 측정
- BS ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
- BS EN ISO 26845:2009 내화물의 화학 분석 습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법(AAS) 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법에 대한 일반 요구 사항
- BS EN ISO 26845:2008 내화물의 화학 분석 습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법(AAS) 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법에 대한 일반 요구 사항
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
- BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- BS ISO 22036:2008 토양 질량의 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 토양 추출물의 미량 원소 측정
- BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
- BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
- 20/30415219 DC BS ISO 16796 원자력 유도 결합 플라즈마 소스(ICP-AES)를 사용하는 원자 방출 분광법을 통한 가돌리늄 연료 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠렛의 Gd2O3 함량 측정
- BS EN 16319:2013+A1:2015 비료 및 석회 물질의 왕수 용해 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈 측정
- BS EN 16317:2013 비료 미량 원소 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통해 왕수에 용해된 후 비소 측정.
- BS ISO 17973:2003 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
- BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
- BS EN 16319:2013 비료 미량 원소 측정 ICP-AES(유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법)를 통해 용해된 왕수 내 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈 측정.
- BS EN 15621:2012 동물 사료 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 칼슘, 나트륨, 인, 마그네슘, 칼륨, 황, 철, 아연, 구리, 망간 및 코발트 함량 측정
- BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
- BS DD CEN/TS 15621:2007 동물 사료 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 칼슘, 나트륨, 인, 마그네슘, 칼륨, 황, 철, 아연, 구리, 망간, 코발트 및 몰리브덴 함량 측정
- BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
- BS EN ISO 15151:2020 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 우유, 유제품, 유아용 조제분유 및 성인용 영양 제품의 미네랄 및 미량 원소 측정
- BS EN IEC 61010-2-061:2021 측정, 제어 및 실험실용 전기 장비에 대한 안전 요구 사항 열 원자화 및 이온화 기능을 갖춘 실험실 원자 분광계에 대한 특별 요구 사항
- BS ISO 20903:2019 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고 시 필요한 정보
- BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
- BS ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
- BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
- BS ISO 18118:2015 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
- 20/30380369 DC BS ISO 23420 마이크로빔 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 에너지 분해능 결정
- BS EN 15510:2007 동물 사료 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 칼슘, 나트륨, 인, 마그네슘, 칼륨, 철, 아연, 구리, 망간, 코발트, 몰리브덴, 비소, 납 및 카드뮴 측정
- BS EN 1786:1997 식품 조사된 뼈 함유 식품의 검사 전자스핀공명분광법
- 21/30404763 DC BS ISO 24639 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정 절차
- BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
- PD ISO/TR 18394:2016 표면 화학 분석 오거 전자 분광법을 통한 화학 정보 도출
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 표면 화학 분석 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용하는 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 사용하여 균질 물질의 정량 분석을 위한 가이드
- PD ISO/TR 23173:2021 표면 화학 분석 전자 분광학 나노입자 코팅의 두께 및 조성 측정
- BS ISO 29081:2010 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 전하 제어 및 전하 조정 보고 방법.
未注明发布机构, 전자 에너지 분광계 AES
German Institute for Standardization, 전자 에너지 분광계 AES
- DIN ISO 16242:2020-05 표면 화학 분석은 AES(Auger Electron Spectroscopy)로 데이터를 기록하고 보고합니다.
- DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
- DIN ISO 16242:2020 표면 화학 분석을 위한 AES(Auger 전자 분광학)의 데이터 기록 및 보고(ISO 16242:2011), 영어 텍스트
- DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
- DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
- DIN EN 16317:2017-05 왕수에 비료 및 석회 물질을 용해시킨 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용한 비소 측정
- DIN EN ISO 26845:2008-06 내화물의 화학 분석 습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법(AAS) 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법에 대한 일반 요구 사항
- DIN ISO 22036:2009-06 토양 품질 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용한 토양 추출물의 미량 원소 측정
- DIN EN 16319:2016-03 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 비료와 석회 물질을 왕수에 용해시킨 후 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈을 측정했습니다.
- DIN CEN/TS 16317:2012 비료 내 미량 원소 측정 왕수 용해 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 비소 측정, 독일 버전 CEN/TS 16317:2012
- DIN EN 16319:2014 비료 미량 원소 측정 ICP-AES(유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법)를 사용하여 왕수에 용해된 후 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈을 측정합니다.
- DIN 6847-5:1998 의료용 전자가속기, 기기 성능 불변성 테스트
- DIN EN ISO 16796:2023 원자력 유도 결합 플라즈마 소스(ICP-AES)를 사용하는 원자 방출 분광법을 통한 가돌리늄 연료 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠렛의 GdO 함량 측정(ISO 16796:2022), 영어 버전 prEN ISO 16796:2023
- DIN EN 16317:2013 비료 미량 원소 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통해 왕수에 용해된 후 비소 측정 독일 버전 EN 16317-2013
- DIN CEN/TS 16319:2012 비료 내 미량 원소 측정: 왕수 용해 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용한 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈 측정, 독일 버전 CEN/TS 16319:2012
- DIN EN ISO 16796:2023-03 원자력 - 유도 결합 플라즈마 소스(ICP-AES)를 사용하는 원자 방출 분광법을 통한 Gd(지수) 2 O(지수) 3 측정(ISO 16796:2022)
- DIN EN 16319:2016 비료 및 석회 물질 왕수에 용해된 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈 측정, 독일 버전 EN 16319-2013+A1-2015
- DIN EN 16317:2017 비료 및 석회질 물질 왕수에 용해된 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 비소 함량 측정, 독일 버전 EN 16317-2013+A1-2017
- DIN EN ISO 15151:2020-10 우유, 유제품, 유아용 조제분유 및 성인용 영양 제품 - 미네랄 및 미량 원소 측정 - 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법
- DIN EN 61010-2-061:2004 측정, 제어 및 실험실 장비에 대한 안전 요구 사항 파트 2-061: 열 원자화 및 이온화 기능을 갖춘 실험실 원자 분광계에 대한 특정 요구 사항
- DIN 6847-6:2012 의료용 전자 가속기 6부: 전자 빔 이미징 장치(EPID) 장비 성능 불변성 테스트
- DIN EN ISO 15151:2020 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법(ISO 15151:2018)을 통해 우유, 유제품, 유아용 조제분유 및 성인용 영양 제품의 미네랄 및 미량 원소 측정
- DIN EN ISO 16796:2023-09 원자력 - 유도 결합 플라즈마 소스(ICP-AES)를 사용하는 원자 방출 분광법에 의한 Gd(지수) 2 O(지수) 3 측정(ISO 16796:2022), 영어 버전 E...
American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자 에너지 분광계 AES
Group Standards of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광계 AES
Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광계 AES
Professional Standard - Nuclear Industry, 전자 에너지 분광계 AES
KR-KS, 전자 에너지 분광계 AES
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 에너지 분광계 AES
Professional Standard - Commodity Inspection, 전자 에너지 분광계 AES
- SN/T 1112-2002 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법을 통한 알루미늄 잉곳의 화학 조성 측정
- SN/T 1427-2004 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 금속 망간의 실리콘, 철 및 인 함량 측정
- SN/T 1326-2003 수출입용 아연 정광 내 알루미늄, 비소, 카드뮴, 칼슘, 구리, 마그네슘, 망간 및 납 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법
- SN/T 1829-2006 석유 코크스의 알루미늄, 바륨, 칼슘, 철, 마그네슘, 망간, 니켈, 규소, 나트륨, 티타늄, 바나듐 및 아연 함량 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법
- SN/T 0750-1999 수출입 탄소강 및 저합금강의 알루미늄, 비소, 크롬, 코발트, 구리, 인, 망간, 몰리브덴, 니켈, 규소, 주석, 티타늄, 바나듐 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 법
Professional Standard - Electron, 전자 에너지 분광계 AES
AT-ON, 전자 에너지 분광계 AES
Professional Standard - Water Conservancy, 전자 에너지 분광계 AES
- SL 394.1-2007 납, 카드뮴, 바나듐, 인을 포함한 34개 원소 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)
RU-GOST R, 전자 에너지 분광계 AES
CZ-CSN, 전자 에너지 분광계 AES
Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광계 AES
- DB34/T 2001-2013 유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법(ICP-AES) 방법을 통한 탄산칼슘의 납, 카드뮴, 크롬, 비소 및 수은 측정
PL-PKN, 전자 에너지 분광계 AES
SE-SIS, 전자 에너지 분광계 AES
ES-UNE, 전자 에너지 분광계 AES
RO-ASRO, 전자 에너지 분광계 AES
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자 에너지 분광계 AES
European Committee for Standardization (CEN), 전자 에너지 분광계 AES
- prEN ISO 16796 유도 결합 플라즈마 소스(ICP-AES)를 사용한 원자 방출 분광법을 사용하여 가돌리늄 연료 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠렛의 Gd2O3 함량 측정(ISO 16796:2022)
- EN ISO 26845:2008 내화물의 화학 분석 습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법(AAS) 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)에 대한 일반 요구 사항 [교체: CEN ENV 955-4]
- EN 16317:2013 비료 미량 원소 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 통해 왕수에 용해된 후 비소 측정.
- PD CEN/TS 16319:2012 비료의 미량 원소 측정 왕수를 용해시킨 후 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈을 측정합니다.
- EN 16319:2013 비료 미량 원소 측정 ICP-AES(유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법)를 사용하여 왕수에 용해된 후 카드뮴, 크롬, 납 및 니켈을 측정합니다.
- EN 16317:2013+A1:2017 비료 미량 원소 측정 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 왕수에 용해된 후 비소 측정 수정 A1 포함, 2017
- EN 15510:2007 동물 사료 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 칼슘, 나트륨, 인, 마그네슘, 칼륨, 철, 아연, 구리, 망간, 코발트, 몰리브덴, 비소, 납 및 카드뮴 측정
- EN 15510:2017 동물 사료 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법(ICP-AES)을 통한 칼슘, 나트륨, 인, 마그네슘, 칼륨, 철, 아연, 구리, 망간, 코발트, 몰리브덴, 비소, 납 및 카드뮴 측정
- EN ISO 15151:2020 우유 유제품 유아용 조제분유 및 성인용 영양 제품 - 미네랄 및 미량 원소 측정 - 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법
Danish Standards Foundation, 전자 에너지 분광계 AES
- DS/EN ISO 26845:2008 내화물의 화학 분석 습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법(AAS) 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법에 대한 일반 요구 사항
Standard Association of Australia （SAA）, 전자 에너지 분광계 AES
Guangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광계 AES
- DB45/T 719-2010 유도결합플라즈마광방출분광법(ICP-AES)법을 이용한 식물성 한약재의 크롬, 니켈, 안티몬, 주석 함량 측정
YU-JUS, 전자 에너지 분광계 AES
SAE - SAE International, 전자 에너지 분광계 AES
Society of Automotive Engineers (SAE), 전자 에너지 분광계 AES
Professional Standard - Machinery, 전자 에너지 분광계 AES
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광계 AES
Lithuanian Standards Office , 전자 에너지 분광계 AES
- LST EN ISO 26845:2008 내화물의 화학 분석 습식 화학 분석, 원자 흡수 분광법(AAS) 및 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법에 대한 일반 요구 사항(ISO 26845:2008)
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 전자 에너지 분광계 AES
NEMA - National Electrical Manufacturers Association, 전자 에너지 분광계 AES
Professional Standard - Military and Civilian Products, 전자 에너지 분광계 AES
Professional Standard - Judicatory, 전자 에너지 분광계 AES
Indonesia Standards, 전자 에너지 분광계 AES
Underwriters Laboratories (UL), 전자 에너지 분광계 AES
Professional Standard - Public Safety Standards, 전자 에너지 분광계 AES
International Electrotechnical Commission (IEC), 전자 에너지 분광계 AES
CH-SNV, 전자 에너지 분광계 AES
- SN EN ISO 15151:2020 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES) 방법(ISO 15151:2018)을 통해 우유, 유제품, 유아용 조제분유 및 성인용 영양 제품의 미네랄 및 미량 원소 측정
TH-TISI, 전자 에너지 분광계 AES
- TIS 2010-2000 측정, 제어 및 실험실용 전기 장비에 대한 안전 요구사항 파트 2-061: 열 원자화 및 이온화와 함께 실험실용 원자 분광계에 대한 특정 요구사항
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광계 AES