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유전체

모두 337항목의 유전체와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 유전체와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 단열재, 절연유체, 광섬유 통신, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 전기 및 전자 테스트, 종합 전자 부품, 반도체 개별 장치, 저항기, 통신 장비용 부품 및 액세서리, 소방, 전기공학종합, 어휘, 주파수 제어 및 선택을 위한 압전 및 유전체 장치, 전선 및 케이블, 항공우주 제조용 재료, 변압기, 리액터, 인덕터, 표면 처리 및 도금, 비철금속, 파이프 부품 및 파이프, 산업용로, 콘덴서, 전기 장치, 자성 재료, 금속 재료 테스트, 광전자공학, 레이저 장비, 페인트 및 바니시, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정.

GM North America, 유전체

• GM GM2707M-1988 마킹 잉크(유전체 및 비유전체)
• GM GM2710M-1993 유전체 접착 외장 부품
• GM GM9175P-2003 유전체 기판의 역률
• GM 9981405-1994 접착성 유전체 비닐 코팅지

International Truck and Engine Corporation (ITEC), 유전체

• INTERN TMS-6819-2008 유전체 그리스

International Federation of Trucks and Engines, 유전체

• NAVISTAR TMS-6819-2008 그리스, 유전체
• NAVISTAR TMS 6507-1979 VOID 유전체 압축 폼, 면 소재 뒷면

HU-MSZT, 유전체

• MSZ KGST 1134-1978 유전체의 정의
• MI 12747/3-1979 유전체 테스트 방법
• MSZ 4803/13.lap-1965 트램 유전체. 얇은 층의 건조(연소) 시간 감지
• MSZ 4803/2-1982 전력 매체 감지
• MSZ 4803/15.lap-1965 전력 매체. 발화점 감지. 충분히 두꺼운 층
• MSZ 4803/20.lap-1969 전기 매체가 실제 효과 테스트를 통과했습니다.

Indonesia Standards, 유전체

• SNI 04-6544-2001 액체 유전체 샘플링 방법
• SNI 04-3585-1994 전력 변압기 3부: 절연 특성 및 절연성 테스트

YU-JUS, 유전체

• JUS B.H3.566-1987 액체 유전체 샘플링 방법

US-FCR, 유전체

• FCR COE ETL 1110-3-347-1983 위험한 변압기 유전체

GM Europe, 유전체

• GME TM 170600-1996 유전체 충진 영어/독일어
• GME TM 170900-1996 유전체 충진 영어/독일어
• GME TM 171100-1996 유전체 충진 영어/독일어
• GME TM 170700-1996 유전체 필러 영어/독일어 [교체: GME TM 170800]
• GME TM 171000-1980 독일어로 된 합성 유전체 필러, 부록 포함
• GME GMI 60347-2012 차체 내부 장비 조립된 부품의 용접부에서 유전체로 생성된 결합 강도

International Electrotechnical Commission (IEC), 유전체

• IEC 60475:1974 액체 유전체 샘플링 방법
• IEC 49/849/CD:2009 주파수 제어 및 선택을 위한 압전 및 유전체 장치 용어집 2부: 압전 및 유전체 필터
• IEC 49/855/CD:2009 주파수 제어 및 선택을 위한 압전 및 유전체 장치 용어집 4-2부: 압전 및 유전체 재료 압전 세라믹
• IEC 60502:1994 정격 전압 1KV-30KV의 압출 고체 유전체 절연 전원 케이블
• IEC 60502:1983 정격 전압 1KV-30KV의 압출 고체 유전체 절연 전원 케이블
• IEC 60679-1:2017 압전, 유전체 및 정전기 발진기의 품질 평가 1부: 일반 사양
• IEC 62631-1:2011 고체 절연 재료의 유전 및 저항 특성 1부: 일반
• IEC PAS 61338-1-5:2010 도파관형 유전체 공진기 1-5부: 기본 정보 및 테스트 조건 마이크로파 주파수에서 도체층과 유전체 기판 사이의 인터페이스 전도성 측정 방법
• IEC 61308:2005 고주파 유전체 가열 장비 출력 전력 결정을 위한 테스트 방법
• IEC 61308:1994 고주파 유전체 가열 장비의 출력 전력 결정을 위한 테스트 방법
• IEC 49/922/DTS:2010 주파수 제어, 선택 및 감지를 위한 압전, 유전체 및 정전기 장치 용어집 2부: 압전 및 유전체 필터
• IEC 61196-10:2022 동축 통신 케이블 10부: 불소중합체 유전체를 포함하는 반경질 케이블 사양
• IEC 62374:2007 반도체 장치 게이트 유전막의 시간 의존적 유전 파괴(TDDB) 테스트
• IEC 61196-1-105:2005 동축 통신 케이블 파트 1-105: 전기 테스트 방법 케이블 유전체의 내전압 테스트
• IEC 60247:1978 절연액의 비유전율, 유전손실율, DC 저항률 측정
• IEC 61196-1-125:2022 동축 통신 케이블 파트 1-125: 전기 테스트 방법 유전체의 등가 유전율 및 등가 유전율 테스트
• IEC 61196-11:2016 동축 통신 케이블 11부: 폴리에틸렌(PE) 유전체를 사용한 반경질 케이블 사양
• IEC 60519-9:2005 전기 가열 장비의 안전 제9부: 고주파 유전 가열 장비에 대한 특별 요구사항
• IEC 61196-10-1:2022 동축 통신 케이블 파트 10-1: 불소중합체 유전체를 포함하는 반경질 케이블에 대한 공백 상세 사양
• IEC 60076-3:2000 전력 변압기 3부: 절연 수준, 절연 테스트 및 공기 중 외부 간격
• IEC 60076-3/COR1:2000 전력 변압기 3부: 절연 수준, 절연 테스트 및 공기 중 외부 간격
• IEC 60076-3:2013 전력 변압기 3부: 절연 수준, 절연 테스트 및 공기 중 외부 간격
• IEC 61196-8-1:2023 동축 통신 케이블 파트 8-1: 불소중합체 유전체 반유연성 케이블에 대한 공백 상세 사양
• IEC 61196-1-313:2009 동축 통신 케이블 파트 1-313 기계적 테스트 방법 유전체와 재킷의 접착

SE-SIS, 유전체

• SIS SEN 04 05 29 전기 도자기. 실험적 질적. 유전체
• SIS SS CECC 31200-1982 하위 표준. 금속 전극과 폴리프로필렌 유전체를 갖춘 고정 커패시터
• SIS SS CECC 31201-1982 자세한 사양은 공백입니다. 금속 전극과 폴리프로필렌 유전체를 갖춘 고정 커패시터

Association Francaise de Normalisation, 유전체

• NF C93-858:1997 광케이블용 절연내력 부재
• NF C52-123:1968 변압기 액체 유전체용 배수 밸브
• NF C52-122:1968 변압기 액체 유전 흐름 표시기
• NF C27-300:1988 연소 특성에 따른 액체 유전체 분류
• NF C17-300:1988 액체 유전체 사용 조건 1부: 화재 위험
• NF C32-090:1984 장비용 절연 케이블 및 도체 정격 전압 600/1000V용 비유전체 압출 절연 케이블
• NF C79-662*NF EN 61308:2006 고주파 유전 가열 장치 전력 출력 결정을 위한 테스트 방법
• NF C79-662:1997 고주파 유전 가열 장치 전력 출력 결정을 위한 테스트 방법
• NF C96-627-1-3*NF EN 61338-1-3:2000 도파관형 유전체 공진기 1-3부: 일반 정보 및 테스트 조건 마이크로파 주파수에서 유전체 공진기 재료의 복합 비유전율 측정 방법.
• NF C27-210:1979 절연유체의 비유전율, 유전손실, DC 저항률 측정
• NF C96-627-1-4*NF EN 61338-1-4:2006 도파관형 유전체 공진기 1-4부: 일반 정보 및 테스트 조건 밀리미터파 주파수에서 유전체 공진기 재료의 복합 비유전율 측정 방법
• NF C27-237*NF EN 61620:1999 절연 액체 전도도와 정전 용량을 측정하여 유전체의 소산 인자 결정
• NF C83-150:1981 전자 부품 품질 평가 조정 시스템 하위 사양 폴리에스테르 필름 유전체 커패시터
• NF C93-585-10*NF EN 61196-10:2016 동축 통신 케이블 파트 10: 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE) 유전체 반강체 케이블에 대한 하위 사양
• NF C52-176-3:2002 전력 변압기 3부: 절연 수준, 절연 테스트 및 공기 중 외부 간격
• NF C52-176-3*NF EN 60076-3:2014 전력 변압기 3부: 절연 수준, 절연 테스트 및 공기 중 외부 간격
• NF EN 61196-10:2016 통신 동축 케이블 파트 10: 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE) 유전체 반경질 케이블의 중간 사양
• NF C93-537-1-3*NF EN 50289-1-3:2001 통신 케이블의 테스트 방법 사양 1-3부: 전기적 테스트 방법 절연 내력
• NF C27-210*NF EN 60247:2004 절연액의 비유전율, 유전손실계수(tanδ), DC 저항률 측정
• NF C83-132:1981 전자 부품의 품질 평가를 위한 조정 시스템 하위 사양 세라믹 유전체 고정 등급 2 커패시터
• NF C83-120:1983 전자 부품 품질 평가 조정 시스템 하위 사양 DC 운모 유전체 고정 커패시터
• NF C79-639:1997 전기 가열 장치의 안전 제9부: 고주파 유전 가열 장치에 대한 특별 요구사항
• NF EN 60519-9:2006 전기 난방 설비의 안전 제9부: 고주파수에서 작동하는 유전체 설비에 대한 특별 요구 사항

U.S. Air Force, 유전체

• AIR FORCE QPL-87252-2011 냉각수, 가수분해 안정성, 유전체
• AIR FORCE MIL-PRF-87252 C (1)-2004 가수분해 안정성이 있는 유전성 냉각수

IN-BIS, 유전체

• IS 6855-1973 액체 유전체의 샘플링 방법
• IS 7265-1973 광학기기 산업에 사용되는 코팅재료(금속, 합금, 유전체)

RO-ASRO, 유전체

• STAS 9085-1971 폴리에스테르 필름 유전체 커패시터. 일반적인 요구 사항
• STAS 1703/3-1980 전력 변압기. 절연 등급 및 절연 테스트
• STAS SR CEI 502-1995 1kV ~ 30kV의 정격 전압을 위한 압착 고체 유전체 절연 전력 케이블

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 유전체

• CNS 8228-1987 건식 리드 스위치 검사 방법(유전체)
• CNS 7634-1981 마이크로파 주파수에서 비금속 자성체의 복소 유전율 테스트 방법

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), 유전체

• NEMA WC 62-1992 스파크/펄스 유전체 테스트 반복

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 유전체

• JJG(电子) 306002-2006 무선 주파수 유전체 표준 샘플 검증 절차

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 유전체

• JEDEC JESD35-A-2001 얇은 유전체에 대한 웨이퍼 레벨 테스트 절차
• JEDEC JESD35-2-1996 얇은 유전체를 결정하기 위한 웨이퍼 레벨 테스트 지침 JESD35의 부록 2
• JEDEC JESD35-1-1995 JESD35의 부록 1 - 얇은 유전체의 웨이퍼 레벨 테스트를 위한 테스트 구조 설계에 대한 일반 지침

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 유전체

• GB/T 5597-1999 고체 유전체의 마이크로파 복합 유전율 테스트 방법
• GB 7265.1-87 고체 유전체의 마이크로파 복합 유전율 테스트 방법 섭동 방법
• GB 7265.1-1987 고체 유전체의 마이크로파 복합 유전율 테스트 방법 섭동 방법
• GB 7265.2-1987 고체 유전체의 마이크로파 복합 유전율 테스트 방법 "개방형 공동" 방법

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 유전체

• ECA IS-36-1987 다층 칩 커패시터(세라믹 유전체)
• ECA 199-A-1972 고체 및 반고체 유전체 전송선
• ECA IS-39-1987 세라믹 유전체 축방향 커패시터(유리 부동태화 패키지)
• ECA 186-4E-1978 패시브 전자 부품 테스트 방법 4: 유전체 테스트(내전압)
• ECA EIA-198-1-F-2002 클래스 I, II, III 및 IV 세라믹 유전체 커패시터 - 파트 I: 수정된 특성 및 요구 사항 EIA-198-1-E

Defense Logistics Agency, 유전체

• DLA MIL-C-5/1 H-2011 커패시터, 고정형, 운모 유전체, 유형 CM15
• DLA MIL-C-11015/11 F VALID NOTICE 2-2011 고정 세라믹 유전체(범용) 유형 CK62 커패시터
• DLA QPL-11015-QPD-2010 고정형 세라믹 유전체 커패시터의 일반 사양(범용)
• DLA QPL-5-117-2005 고정 커패시터 운모 유전체 일반 사양
• DLA QPL-5-QPD-2009 커패시터, 고정, MICA 유전체, 일반 사양
• DLA QPL-5-2011 커패시터, 고정, MICA 유전체, 일반 사양
• DLA QPL-81-QPD-2010 커패시터, 가변, 세라믹 유전체, 일반 사양
• DLA QPL-81-2011 커패시터, 가변, 세라믹 유전체, 일반 사양
• DLA MIL-C-11015/18 E VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정형, 세라믹 유전체(범용), 유형 CK05
• DLA MIL-C-11015/19 E VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정형, 세라믹 유전체(범용), 유형 CK06
• DLA MIL-C-11015/2 D VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정형, 세라믹 유전체(범용), 유형 CK22
• DLA MIL-C-11015/4 D VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정형, 세라믹 유전체(범용), 유형 CK27
• DLA MIL-C-11015/9 F VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정형, 세라믹 유전체(범용), 유형 CK60
• DLA MIL-C-11015/12 F VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정형, 세라믹 유전체(범용), 유형 CK63
• DLA QPL-11272-QPD-2012 커패시터 일반 사양, 고정형, 유리 유전체
• DLA QPL-11272-2012 커패시터 일반 사양, 고정형, 유리 유전체
• DLA QPL-11015-QPD-2009 커패시터, 고정, 세라믹 유전체(범용), 일반 사양
• DLA MIL-C-11015/23 D VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정, 세라믹 유전체(범용), (피드스루), 유형 CK72
• DLA MIL-C-11015/32 B VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정형, 세라믹 유전체, (범용) 유형 CK31 및 CK32
• DLA MIL-C-11015/13 E VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정, 세라믹 유전체(범용)(피드스루), 유형 CK70
• DLA MIL-DTL-23806 B VALID NOTICE 1-2011 케이블, RF, 동축, 반경질, 폼 유전체, 일반 사양
• DLA MIL-C-11015/20 D VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정형, 세라믹 유전체(범용), 모델 CK12, CK13, CK14, CK15 및 CK16
• DLA MIL-C-11015/21 F VALID NOTICE 2-2011 커패시터, 고정 세라믹 유전체(범용), 모델 CK64, CK65, CK66, CK67, CK68 및 CK69
• DLA QPL-23269-22-2012 커패시터, 고정, 유리 유전체, 확실한 신뢰성, 일반 사양
• DLA MIL-PRF-123/10 D VALID NOTICE 1-2010 커패시터, 고정, 세라믹 유전체,(온도 안정 및 범용), 고신뢰성, 무연, 유형 CKS51
• DLA MIL-PRF-123/11 E VALID NOTICE 1-2010 커패시터, 고정, 세라믹 유전체,(온도 안정 및 범용), 고신뢰성, 무연, 유형 CKS52
• DLA MIL-PRF-123/21 C VALID NOTICE 1-2010 커패시터, 고정, 세라믹 유전체,(온도 안정 및 범용), 고신뢰성, 무연, 유형 CKS55
• DLA MIL-PRF-123/22 C VALID NOTICE 1-2010 커패시터, 고정, 세라믹 유전체,(온도 안정 및 범용), 고신뢰성, 무연, 유형 CKS56
• DLA MIL-PRF-123/23 B VALID NOTICE 1-2010 커패시터, 고정, 세라믹 유전체,(온도 안정 및 범용), 고신뢰성, 무연, 유형 CKS57
• DLA QPL-123-QPD-2010 커패시터, 고정, 세라믹 유전체, (온도 안정 및 범용), 고신뢰성, 일반 사양
• DLA QPL-123-2012 커패시터, 고정, 세라믹 유전체, (온도 안정 및 범용), 고신뢰성, 일반 사양
• DLA QPL-123-2013 커패시터, 고정, 세라믹 유전체, (온도 안정 및 범용), 고신뢰성, 일반 사양
• DLA MIL-PRF-39022/11 D-2008 커패시터, 고정형, 금속화 플라스틱 유전체, DC, 밀봉형, 모델 CHR20, CHR21, CHR22, CHR23, CHR24, CHR25
• DLA MIL-PRF-123/12 D VALID NOTICE 1-2010 커패시터, 고정, 세라믹 유전체,(온도 안정 및 범용), 고신뢰성, 무연, 유형 CKS53
• DLA QPL-25-QPD-2011 커패시터, 고정형, 종이 또는 플라스틱 유전체, 직류, (금속 인클로저에 밀봉됨), 일반 사양

ECIA - Electronic Components Industry Association, 유전체

• IS-36-1987 칩 커패시터 다층(세라믹 유전체)
• 199-A-1972 고체 및 반고체 유전체 전송선
• EIA-364-35C-2012(R2017 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• EIA-364-27C-2011(2017) 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• EIA-60384-8-2017 전자 장비용 고정 커패시터 파트 8: 하위 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 1
• EIA-364-18B-2007.02.01(R2012) 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• EIA-364-70C-2014 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• EIA-364-21E-2014 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• EIA-364-110-2006 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• EIA-364-09D-2018 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• EIA-60384-8-2014 전자 장비용 고정 커패시터 "제8부: 하위 사양" 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 1
• EIA-60384-9-2014 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• EIA-60384-9-2017 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 하위 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2
• EIA-632-1999 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• EIA-364-26C-2014 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, 유전체

• PQC 86/IL 0001 ISSUE C-1989 고정 칩 커패시터 박막 유전체
• PQC 47/IN 0001-1990 상세 사양: 고정형 운모 유전체 DC 커패시터 성형 축방향
• QC 300601/ CN 0001-1992 세라믹 유전체 전자 부품용 고정 커패시터의 상세 사양 클래스 1 클래스 CC1 평가 레벨 E
• QC 300701/ US 0005-1988 전자 장비용 고정 커패시터: 상세 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2 평가 레벨 E
• QC 300601/US 0003-1988 전자 기기용 고정 콘덴서 : 상세 사양 : 세라믹 유전체 고정 콘덴서 1종 평가 레벨 E
• PQC 5-1994 전자 장비용 고정 커패시터 사양: 유리 고정 커패시터, 세라믹 유전체, 카테고리 2
• PQC 4-1994 전자 장비용 고정 커패시터 사양: 유리 고정 커패시터, 세라믹 유전체, 클래스 1
• QC 300701/CN 0001-1992 세라믹 유전체 전자 부품의 고정 커패시터에 대한 세부 사양 클래스 2 CT1 평가 수준 E(IEC 384-9-1 ED 1)

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 유전체

• IPC TM-650 2.4.22.2-1995 기판 곡률: 실리콘 웨이퍼 및 유전체 증착
• IPC TM-650 2.6.3.2-1988 유연한 유전체의 절연 및 내습성 개정 B 1988년 5월
• IPC TM-650 2.4.3.2-1991 유연한 금속 클래드 유전체 굽힘 피로 및 인성 개정판 C 1991년 3월

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 유전체

• IPC TM-650 2.6.3.2B-1988 절연 및 내습성 유연한 베이스 유전체
• IPC FC-231B-1986 유연한 인쇄 배선을 위한 유연한 베어 유전체
• IPC 4202B-2016 유연한 인쇄 기판용 유연한 베이스 유전체
• IPC 4202A AMD 2-2010 유연한 인쇄 회로용 유연한 베이스 유전체
• IPC 4202A-2010 유연한 인쇄 회로용 유연한 베이스 유전체
• IPC 4202A AMD 1-2014 유연한 인쇄 회로용 유연한 베이스 유전체
• IPC 4202A CHINESE-2010 유연한 인쇄 회로용 유연한 베이스 유전체
• IPC 4202A CD-2010 유연한 인쇄 회로용 유연한 베이스 유전체
• IPC 4202A CHINESE CD-2010 유연한 인쇄 회로용 유연한 베이스 유전체
• IPC FC-231C-1992 유연한 인쇄 회로용 유연한 베이스 유전체
• IPC TM-650 2.4.3.2C-1991 유연한 금속 피복 유전체의 굽힘 피로 및 연성
• IPC 4204B-2018 유연한 인쇄 기판 제조를 위한 유연한 금속 피복 유전체
• IPC 4204 CD-2002 유연한 인쇄 회로 제조를 위한 유연한 금속 피복 유전체
• IPC 4204A CHINESE-2011 유연한 인쇄 회로 제조를 위한 유연한 금속 피복 유전체
• IPC 4204A CHINESE CD-2011 유연한 인쇄 회로 제조를 위한 유연한 금속 피복 유전체
• IPC 4204A AMD 1-2013 유연한 인쇄 회로 제조에 사용되는 유연한 금속 피복 유전체(Incorporated Amd 1:10/2013)
• IPC 4204A-2011 유연한 인쇄 회로 제조에 사용되는 유연한 금속 피복 유전체(Incorporated Amd 1:10/2013)
• IPC 4204A CD-2011 유연한 인쇄 회로 제조에 사용되는 유연한 금속 피복 유전체(AMD 1:10/2013 포함)
• IPC FC-241-1995 유연한 인쇄 회로 제조에 사용되는 유연한 금속 피복 유전체(수정안 1 포함)

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 유전체

• EN 130600:1992/PRA1:1996 하위 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 1
• EN 131200:2002 하위 사양: 금속화 전극과 폴리프로필렌 유전체가 있는 고정 커패시터
• EN 61308:1996 고주파 유전체 가열 장비 출력 전력 결정을 위한 테스트 방법
• EN 131201:2002 빈 세부 사양: 금속화 전극 및 폴리프로필렌 유전체를 갖춘 고정 커패시터
• EN IEC 62884-3:2018 압전 유전체 및 정전기 발진기의 측정 기술 3부: 주파수 노화 테스트 방법
• EN 60384-8:2005 전자 장비용 고정 커패시터 파트 8: 하위 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 1
• EN 60384-9:2005 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 하위 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2
• EN 131700:1997 하위 사양: 얇은 금속 호일 전극과 폴리카보네이트 필름 유전체를 갖춘 DC 고정 커패시터
• EN IEC 62884-4:2019 압전 유전체 및 정전기 발진기의 측정 기술 4부: 단기 주파수 안정성 테스트 방법

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 유전체

• IEEE 1222-2004 완전 유전체 자립형 광섬유 케이블에 대한 IEEE 표준
• IEEE 1591.2-2017 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광섬유 케이블의 하드웨어 테스트 및 성능
• IEEE 404-2000 정격 전압이 2500V ~ 500,000V인 압출 및 적층 유전체 차폐 케이블 글랜드에 대한 표준
• IEEE 400.1-2007 5kV 이상의 높은 DC 전압 정격에 맞는 적층 유전 차폐 전원 케이블 시스템의 현장 테스트 지침

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 유전체

• IEEE Std 1222-2004 완전 유전체 자립형 광섬유 케이블에 대한 IEEE 표준
• IEEE 1222-2003 완전 유전체 자립형 광섬유 케이블에 대한 IEEE 표준
• IEEE Std 1591.2-2017 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광 케이블의 하드웨어 테스트 및 성능에 대한 IEEE 표준
• IEEE Std P404/D13 2500V ~ 500,000V 정격의 압출 및 적층 유전체 차폐 케이블용 스플라이스에 대한 IEEE 표준 초안
• IEEE Std 404-2022 - Redline 2.5kV ~ 500kV 정격의 압출 및 적층 유전체 차폐 케이블 스플라이스에 대한 IEEE 표준 레드라인
• IEEE P404/D1, February 2022 2.5kV ~ 500kV 정격의 압출 및 적층 유전체 차폐 케이블용 스플라이스에 대한 IEEE 표준 초안
• IEEE Std 404-2006 2,500v ~ 500,000v 정격의 압출 및 적층 유전체 차폐 케이블용 스플라이스에 대한 IEEE 표준
• IEEE Std 404-2012 압출 및 적층 유전체 차폐 케이블의 접합에 대한 IEEE 표준 정격 전압 2.5kV ~ 500kV
• IEEE 404-2022 압출 및 적층 유전체 차폐 케이블의 접합에 대한 IEEE 표준 정격 전압 2.5kV ~ 500kV
• P1222/D5 January, 2011 전력선용 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광케이블의 테스트 및 성능에 대한 IEEE 초안 표준
• IEEE P1222/D1, May 2019 전력선용 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광케이블의 테스트 및 성능에 대한 IEEE 초안 표준
• IEEE P404/D2, February 2022 2.5kV ~ 500kV 정격의 압출 및 적층 유전체 차폐 케이블 스플라이스에 대한 IEEE 승인 초안 표준
• IEEE P404/DRev1 June 2011 정격 전압이 2.5kV ~ 500kV인 압출 및 적층 유전체 차폐 케이블용 스플라이스에 대한 IEEE 표준 초안
• IEEE P1591.2/D13, September 2016 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광 케이블의 하드웨어 테스트 및 성능에 대한 IEEE 승인 초안 표준
• IEEE P1591.2/D12, October 2015 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광 케이블의 하드웨어 테스트 및 성능에 대한 IEEE 승인 초안 표준
• IEEE No 54-1955 유도 및 유전체 가열 장비에 대한 IEEE 표준, 테스트 사양 및 권장 사례
• IEEE 54-1955 유도 및 유전체 가열 장비에 대한 IEEE 표준, 테스트 사양 및 권장 사례
• IEEE 1222-2019 전력선용 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광케이블의 테스트 및 성능에 대한 IEEE 표준
• IEEE Std 1222-2019 전력선용 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광케이블의 테스트 및 성능에 대한 IEEE 표준
• IEEE 1222-2011 유틸리티 송전선용 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광섬유 케이블에 대한 테스트 및 성능 표준
• IEEE Std 400.1-2007 5kV 이상 정격의 높은 DC 전압 적층 유전체 차폐 전원 케이블 시스템의 현장 테스트를 위한 IEEE 가이드
• IEEE Std 1222-2011 전력선용 ADSS(All-Dielectric Self-Supporting) 광케이블의 테스트 및 성능 IEEE 표준 Redline

GB-REG, 유전체

• REG NASA-LLIS-0800--2000 교훈 두꺼운 유전체 충전/내부 정전기 방전(IESD)

Group Standards of the People's Republic of China, 유전체

• T/CSTM 00751-2022 마이크로파 대역에서 고체 유전 물질의 유전 특성을 테스트하기 위한 폐쇄 공동 방법

British Standards Institution (BSI), 유전체

• BS EN 62631-1:2011 고체 절연 재료의 유전성 및 저항성 특성 개요
• BS DD IEC/TS 61994-1:2007 주파수 제어 및 선택을 위한 압력 장치 및 유전체 장치 압전 유전체 공진기
• BS IEC 61196-11:2022 동축 통신 케이블용 폴리에틸렌(PE) 유전체 반경질 케이블 단면 사양
• BS IEC 61196-13:2023 동축 통신 케이블용 실리카 유전체 반경질 케이블 섹션 사양
• BS EN 12373-17:2001 알루미늄 및 알루미늄 합금 양극 산화 절연 파괴 가능성 측정
• BS EN 12373-17:2001(2002) 알루미늄 및 알루미늄 합금 양극 산화 절연 파괴 가능성 측정
• BS IEC 61196-11-1:2022 동축 통신 케이블 폴리에틸렌(PE) 유전체 반경질 케이블에 대한 빈 세부 사양
• BS IEC 61196-1-125:2022 동축 통신 케이블 전기 테스트 방법 유전체의 등가 유전 상수 및 등가 손실 계수 테스트
• BS EN 61308:2006 고주파 유전 가열 장치 전력 출력 결정을 위한 테스트 방법
• BS EN 60076-3:2013 전력 변압기 절연 수준, 절연 테스트 및 공기 중 외부 간격
• 13/30295430 DC BS EN 61196-11 동축 통신 케이블용 폴리에틸렌(PE) 유전체 반강체 케이블 단면 사양
• BS IEC 61196-8-1:2023 동축 통신 케이블용 불소중합체 유전체 반유연성 케이블의 공백 상세 사양
• BS EN 60384-9:2015 전자 장비용 고정 커패시터 단면적 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2
• BS EN 60519-9:2006 전기 가열 장치의 안전 제9부: 고주파 유전 가열 장치에 대한 특별 요구사항
• BS EN 60519-9:2005 전기 가열 장치의 안전 파트 9: 고주파 유전 가열 장치에 대한 특별 요구 사항
• 20/30430614 DC BS IEC 61196-11 동축 통신 케이블 파트 11: 폴리에틸렌(PE) 유전체 반강체 케이블에 대한 섹션 사양
• BS EN 50289-3-17:2002 통신 케이블 테스트 방법 사양 기계적 테스트 방법 유전체 및 피복 접착
• BS EN 60247:2004 절연액체, 비유전율, 유전손실률(tan), DC 저항률 측정

Professional Standard - Electron, 유전체

• SJ/T 10143-1991 고체 유전체 재료의 마이크로파 복합 유전율 테스트 방법 재진입 공동 방법
• SJ/T 10142-1991 유전체의 마이크로파 복합 유전율 시험 방법 동축선 단자 개방 회로 방법

American National Standards Institute （ANSI), 유전체

• ANSI/SCTE 59-2012 유전체의 중앙 맞대기 접합에 대한 테스트 방법
• ANSI/ASTM D5213:2012 전기 절연 및 유전체 응용 분야용 고분자 수지 필름 사양
• ANSI/ASTM D3426:1995 충격파를 이용한 전기고체절연재료의 절연파괴전압 및 절연내력 측정시험방법(10.02)
• ANSI/IEEE 404:2006 정격 전압이 2500-500000V인 압출 유전체 케이블 글랜드 및 적층 유전체 케이블 글랜드
• ANSI/ASTM D150:2011 고체 전기 절연 재료의 AC 손실 특성 및 유전 상수에 대한 테스트 방법(유전율)
• ANSI/ASTM D2413:2000 액체 유전체가 함침된 종이 및 판지의 전기적 테스트 및 절연체 준비를 위한 테스트 방법

Lithuanian Standards Office , 유전체

• LST IEC 60475:2002 액체 유전체 샘플링 방법(IEC 60475:1974와 동일)
• LST EN 61308-2006 고주파 유전 가열 장치의 전력 출력을 결정하기 위한 테스트 방법(IEC 61308:2005)
• LST EN 131700-2001 하위 사양: 얇은 금속 호일 전극과 폴리카보네이트 필름 유전체를 갖춘 DC 고정 커패시터
• LST EN IEC 63185:2021 저손실 유전체 기판의 평형 디스크 공진기의 복소 유전율 측정 방법(IEC 63185:2020)

PL-PKN, 유전체

• PN T80004-1968 고정 세라믹 유전체. 클래스 I 커패시터. 일반 요구 사항 및 테스트
• PN T80004-1988 전자 부품. 클래스 1 세라믹 유전체 고정 커패시터. 일반 요구 사항 및 테스트
• PN T80013-1988 전자 부품. 고정 폴리스티렌 필름 유전체 커패시터. 일반 요구 사항 및 테스트
• PN T80012-1972 전자 부품. 공기 유전체. 회전 가변 커패시터. 일반 요구 사항 및 테스트
• PN T80010-1988 전자 부품. 클래스 2 세라믹 유전체 고정 커패시터에 대한 일반 요구 사항 및 테스트
• PN-EN IEC 63185-2021-08 E 저손실 유전체 기판의 평형 디스크 공진기의 복소 유전율 측정 방법(IEC 63185:2020)
• PN T80016-1987 전자 부품. 직류용 고정 금속 테레프탈레이트 폴리에틸렌 필름 유전체 커패시터입니다. 일반 요구 사항 및 테스트

TIA - Telecommunications Industry Association, 유전체

• 258-1962 반유연성 공기 유전체 동축 케이블 및 커넥터 50Ω

KR-KS, 유전체

• KS C IEC 60679-1-2018(2023) 압전, 유전체 및 정전기 발진기의 품질 평가 1부: 일반 사양
• KS C IEC 62884-2-2019 압전, 유전체 및 정전기 발진기의 측정 기술 2부: 위상 지터 측정 방법
• KS C IEC 62884-3-2023 압전, 유전체 및 정전기 발진기의 측정 기술 3부: 주파수 노화 테스트 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 유전체

• ASTM D2149-13 고체 세라믹 유전체의 유전율(유전율) 및 소산계수에 대한 표준 시험 방법
• ASTM D2413-16(2022) 액체유전체를 함침시킨 절연지 및 판지의 제조
• ASTM D5213-07 전기 절연 및 유전체용 고분자 수지 필름의 표준 규격
• ASTM D5213-19 전기 절연 및 유전체용 고분자 수지 필름의 표준 규격
• ASTM D5213-12 전기 절연 및 유전체 응용 분야용 고분자 수지 필름의 표준 사양
• ASTM D6343-99(2004) 전기 절연 및 유전체 목적을 위한 얇은 열 전도성 고체 재료에 대한 테스트 방법
• ASTM D6343-99 전기 절연 및 유전체 목적을 위한 얇은 열 전도성 고체 재료에 대한 테스트 방법
• ASTM D2149-97(2004) 주파수 10MHz 및 온도 500°C의 고체 세라믹 유전체의 유전율(유전율) 및 손실 계수 테스트 방법
• ASTM D2149-97 주파수 10MHz 및 온도 500°C의 고체 세라믹 유전체의 유전율(유전율) 및 손실 계수 테스트 방법
• ASTM D5213-04 전기 절연 및 유전체용 폴리이미드 수지 필름의 표준 규격
• ASTM D5213-99 전기 절연 및 유전체용 폴리이미드 수지 필름의 표준 규격
• ASTM D2149-13(2021) 주파수 10MHz 및 온도 500°C에서 고체 유전체의 유전 상수 및 소산 계수에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D3426-97(2012) 펄스파법을 이용한 고체 전기절연재료의 절연파괴전압 및 절연내력 측정을 위한 표준시험방법
• ASTM D2413-99(2009) 액체 유전체가 함침된 종이 및 판지의 전기 절연 준비에 대한 표준 사례
• ASTM D3300-00 펄스 조건에서 석유 유래 절연유의 절연 파괴 전압에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D3300-00(2006) 펄스 조건에서 석유 유래 절연유의 절연 파괴 전압에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D3300-12 펄스 조건에서 석유 유래 절연유의 절연 파괴 전압에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM D150-98(2004) 고체 전기 절연 재료의 AC 손실 특성 및 유전율에 대한 표준 시험 방법(유전율)
• ASTM D150-98 고체 전기 절연 재료의 AC 손실 특성 및 유전율에 대한 표준 시험 방법(유전율)

European Standard for Electrical and Electronic Components, 유전체

• CECC 31 801- 001 ISSUE 4-1989 고정 폴리프로필렌 필름 유전체 금속 호일 DC 커패시터(독일, Ne)
• CECC 30 901- 008 CEI CECC 30 901-008 문제 1. 폴리스티렌 필름 유전체 DC 고정 커패시터(영어)
• CECC 30 701-024-1986 BS CECC 30 701-024 Edition 1 클래스 2 모놀리식 회로 평면 원형 세라믹 유전체 고정 커패시터(En)(수정안 2)

Standard Association of Australia （SAA）, 유전체

• AS 1767.2.3:1999 절연 액체 테스트 방법 액체 유전체의 샘플링 방법
• IEC 61196-13:2023 동축 통신 케이블 파트 13 실리카 유전체를 사용한 반경질 케이블 단면 사양
• IEC 61196-8:2023 동축 통신 케이블 8부: 불소중합체 유전체 반유연성 케이블의 하위 사양

U.S. Military Regulations and Norms, 유전체

• ARMY MIL-PRF-39001 E-2009 확립된 신뢰성이 있거나 없는 운모 유전체가 있는 고정 커패시터에 대한 일반 사양
• ARMY QPL-39001-QPD-2009 확립된 신뢰성이 있거나 없는 운모 유전체가 있는 고정 커패시터에 대한 일반 사양
• ARMY MIL-PRF-39001/5 E-2009 신뢰성 지표가 확립된 CMR03, CMR04, CMR05, CMR06, CMR07, AND CMR08 유형 운모 유전체 고정 커패시터
• ARMY MIL-PRF-39014/5 G VALID NOTICE 1-2011 고정 세라믹 유전체(범용) 커패시터, 높은 신뢰성, 모델 CKR11, CKR12, CKR14, CKR15 및 CKR16
• ARMY MIL-PRF-39001/5 E VALID NOTICE 1-2013 커패시터, 고정형, MICA 유전체, 고신뢰성, 유형 CMR03, CMR04, CMR05, CMR06, CMR07 및 CMR08
• ARMY MIL-PRF-55514/1 C VALID NOTICE 2-2012 고정 커패시터, 플라스틱 유전체, DC, 비금속 하우징, 높은 신뢰성, 유형 CFR02
• ARMY QPL-39001-49 NOTICE 1-2008 신뢰성이 확립된 운모 유전체와 신뢰성이 확립되지 않은 고정 커패시터에 대한 일반 사양
• ARMY MIL-PRF-55514/11 C VALID NOTICE 2-2013 커패시터, 고정형, 금속화 플라스틱 유전체, DC, 비금속 하우징, 높은 신뢰성, 유형 CFR26 및 CFR27

ZA-SANS, 유전체

• SANS 5502:1980 케이블 유전체 및 외부 멤브레인의 연소 및 화염 확산 테스트
• SANS 6101:2007 가공선 다발의 지지 코어 도체에 유전체 접착
• SANS 60076-3:2000 전력 변압기. 3부: 절연 수준, 절연 테스트 및 공기 중 외부 간격
• SANS 5502:2009 케이블 미디어 및 외부 피복의 소각 테스트

German Institute for Standardization, 유전체

• DIN IEC/TS 61994-4-2:2012 주파수 제어, 선택 및 감지를 위한 압전, 유전체 및 정전기 장비 및 관련 재료 용어집 4-2부: 압전 및 유전체 재료 압전 세라믹(IEC/TS 61994-4-2-2011)
• DIN EN 60384-9:2015-12 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2에 대한 하위 사양
• DIN EN 60384-8:2015-12 전자 장비용 고정 커패시터 파트 8: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 1의 하위 사양
• DIN EN 60384-8 Berichtigung 1:2018-02 전자 장비용 고정 커패시터 파트 8: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 1의 하위 사양
• DIN EN 60247:2005 절연액체 비유전율, 유전손실계수(tanδ), DC 저항률 측정
• DIN EN 131700:1998-10 하위 사양: 얇은 금속 호일 전극과 폴리카보네이트 필름 유전체를 갖춘 DC 고정 커패시터
• DIN EN 131802:1998-10 공백 상세 사양: 고정 폴리프로필렌 필름 유전체 금속 포일 DC 커패시터 - 평가 등급 EZ

未注明发布机构, 유전체

• BS EN 60384-9-1:2005(2010) 공백 상세 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터, 클래스 2 - 평가 클래스 EZ
• BS IEC 61196-8:2023 동축 통신 케이블 8부: 불소중합체 유전체 반유연성 케이블의 하위 사양
• BS EN 60384-8:2015(2017) 전자 장비에 사용되는 고정 커패시터 파트 8: 하위 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터, 클래스 1

BE-NBN, 유전체

• NBN C 27-002-1972 액체 및 기체 유전체, 절연유의 전기적 강성을 제한하는 방법
• NBN C 27-001-1972 액체 및 기체 유전체, 절연유의 산화 안정성을 평가하는 방법
• NBN-IEC 502:1994 에너지 전송 라인은 1~30kW의 지정된 전압을 갖는 유전체로 절연됩니다.

United States Navy, 유전체

• NAVY MIL-I-22834 A NOTICE 1-1998 절연 유전체 플라스틱 필름 및 합성 섬유 매트 프레스
• NAVY MIL-I-22834 A (1)-1964 절연 유전체 플라스틱 필름 및 합성 섬유 매트 프레스
• NAVY MIL-I-22834 A-1962 절연 유전체 플라스틱 필름 및 합성 섬유 매트 프레스

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 유전체

• KS C IEC 61308:2012 고주파 유전체 가열 장비 출력 전력 결정을 위한 테스트 방법
• KS C IEC 62884-2:2019 압전, 유전체 및 정전기 발진기의 측정 기술 2부: 위상 지터 측정 방법
• KS C IEC 60519-9:2012 전기 가열 장비의 안전 제9부: 고주파 유전 가열 장비에 대한 특별 요구사항

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, 유전체

• ECA 198-2-E-1998 클래스 I, II, III 및 IV 세라믹 유전체 커패시터 - 2부: EIA 198-D를 대체하는 테스트 방법
• ECA 198-3-E-1998 클래스 I, II, III 및 IV 세라믹 유전체 커패시터 - 3부: 개별 사양은 EIA 198-D를 대체합니다.
• ECA EIA-60384-9-2014 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 세라믹 유전체 고정 커패시터에 대한 하위 사양, 클래스 2

ES-UNE, 유전체

• UNE-EN 131700:1997 섹션 사양: 얇은 금속 호일 및 폴리카보네이트 필름 유전체 전극을 갖춘 DC 고정 커패시터
• UNE-EN 60384-8:2015 전자 장비용 고정 커패시터 파트 8: 하위 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 1
• UNE-EN 60384-8:2015/AC:2017-09 전자 장비용 고정 커패시터 파트 8: 하위 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 1
• UNE-EN 60384-9:2015 전자 장비용 고정 커패시터 파트 9: 하위 사양: 세라믹 유전체 고정 커패시터 클래스 2
• UNE-EN 61196-10:2016 동축 통신 케이블 파트 10: 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE) 유전체 반경질 케이블의 섹션 사양

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 유전체

• EN 61308:2006 고주파 유전 가열 장비 출력 전력 결정을 위한 테스트 방법 IEC 61308-2005
• EN 61196-10:2016 동축 통신 케이블 파트 10: 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE) 유전체 반강체 케이블에 대한 하위 사양
• EN 50289-1-3:2001 통신 케이블 테스트 방법 사양 1-3부: 전기 테스트 방법 절연 강도
• EN 60076-3:2013 전력 변압기 3부: 절연 수준, 절연 테스트 및 공기 중 외부 간격

AENOR, 유전체

• UNE-EN 61308:2006 고주파 유전 가열 장치의 전력 출력을 결정하기 위한 테스트 방법(IEC 61308:2005)
• UNE-EN 60519-9:2006 전기 가열 장치의 안전 제9부: 고주파 유전 가열 장치에 대한 특별 요구사항

SAE - SAE International, 유전체

• SAE AS4074/3A-2004 유형 E-1 전기 매체 인터페이스 특성
• SAE AS4074/3-1993 유형 E-1 전기 매체 인터페이스 특성
• SAE AS4074/3B-2016 유형 E-1 전기 매체 인터페이스 특성

Society of Automotive Engineers (SAE), 유전체

• SAE AS4074/3-2001 유형 E-1 전기 매체 인터페이스 특성
• SAE AS4074/3A-2011 유형 E-1 전기 매체 인터페이스 특성

Danish Standards Foundation, 유전체

• DS/EN 131700:1998 하위 사양: 얇은 금속 호일 전극과 폴리카보네이트 필름 유전체를 갖춘 DC 고정 커패시터
• DS/EN 131802:1998 공백 상세 사양: 고정 폴리프로필렌 필름 유전체 금속 포일 DC 커패시터 평가 등급 EZ
• DS/EN 62374-1/AC:2011 반도체 장치 1부: 금속간 층의 시간 의존 유전 파괴(TDDB) 테스트
• DS/EN 62374-1:2011 반도체 장치 1부: 금속간 층의 시간 의존 유전 파괴(TDDB) 테스트

RU-GOST R, 유전체

• GOST R 54371-2011 전기 가열 장치의 안전성 파트 9. 고주파 유전 가열 장치에 대한 특별 요구 사항
• GOST IEC 60519-9-2016 전기 가열 장치의 안전성 파트 9. 고주파 유전 가열 장치에 대한 세부 요구 사항
• GOST 34395-2018 페인트 재료의 전도성 기판에 있는 유전체 코팅의 연속성 검사를 위한 스파크 테스트 방법

IEC - International Electrotechnical Commission, 유전체

• IEC 61196-10/COR1:2016 동축 통신 케이블 파트 10: 폴리테트라플루오로에틸렌(PTFE) 유전체 반경질 케이블 사양(버전 1.0)

기타:   유전체, 전력 변압기 - 절연 수준, 절연 테스트 및 공기 중 외부 간격, 고체유전체의 마이크로파 복합 유전율 시험 방법, 클래스 IV 유전체, 유전 손실, 유전체 재료, 액체 유전체 샘플링 방법, 고체 유전체, 절연 내력, 유전체 재료를 측정하려면, 세라믹 유전체, 유전 손실, 유전율 및 유전 손실 인자에 대한 권장 방법.