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투과전자현미경 방향 분석

모두 31항목의 투과전자현미경 방향 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 투과전자현미경 방향 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 기르다, 광학 장비, 광학 및 광학 측정, 금속 재료 테스트, 공기질, 위험물 보호.

International Organization for Standardization (ISO), 투과전자현미경 방향 분석

ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
ISO 20263:2017 마이크로빔 분석 - 분석 투과 전자 현미경 - 적층 재료의 단면 이미지에서 계면 위치 결정 방법
ISO 19214:2017 마이크로빔 분석분석전자현미경투과전자현미경을 통해 사상 결정의 중요한 성장 방향을 결정하는 방법
ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석 투과 전자 현미경 방법 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 보정된 이미지 확대 방법

British Standards Institution (BSI), 투과전자현미경 방향 분석

BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
BS ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 이용한 방위각 측정 기준
BS ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석적 투과전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 교정하는 방법.

Professional Standard - Education, 투과전자현미경 방향 분석

JY/T 0581-2020 투과전자현미경 분석 방법에 대한 일반 규칙

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 투과전자현미경 방향 분석

GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 43610-2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 투과전자현미경 방법

工业和信息化部, 투과전자현미경 방향 분석

YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 투과전자현미경 방향 분석

GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별

American Society for Testing and Materials (ASTM), 투과전자현미경 방향 분석

ASTM D5756-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 질량 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5756-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 질량 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6480-05(2010) 투과 전자 현미경을 통한 표면 닦음 샘플의 석면 구조적 값 농도의 간접 준비 및 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5756-02(2008) 투과전자현미경을 통한 미세 진공 샘플링 및 먼지 내 석면 블록의 표면 부하에 대한 간접 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5755-03 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-09 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-09(2014)e1 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6480-05 표면 닦기 샘플링, 간접 준비 및 투과 전자 현미경을 통한 석면 구조수 밀도 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D8526-23 투과전자현미경을 이용한 대기중 탄소나노튜브 및 탄소나노튜브 함유 입자의 농도 측정을 위한 분석절차의 표준시험방법