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주사전자현미경

모두 25항목의 주사전자현미경와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 주사전자현미경와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 길이 및 각도 측정, 분석 화학, 공기질, 비철금속, 페인트 및 바니시, 섬유 섬유, 전자 디스플레이 장치, 금속 재료 테스트.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 주사전자현미경

• KS I 0051-1999(2019) 주사전자현미경의 일반 규칙
• KS M 0044-1999 주사전자현미경의 일반 규칙

American Society for Testing and Materials (ASTM), 주사전자현미경

• ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
• ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
• ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
• ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
• ASTM E766-14e1 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
• ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
• ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
• ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법

International Organization for Standardization (ISO), 주사전자현미경

• ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 주사전자현미경

• GB/T 16594-1996 미크론 수준의 길이를 주사전자현미경으로 측정하는 방법
• GB/T 17722-1999 금속캡층 두께의 주사전자현미경 측정방법
• GB/T 16594-2008 미크론 단위 길이의 주사 전자 현미경 측정 방법에 대한 일반 규칙
• GB/T 20307-2006 나노크기 길이의 주사전자현미경 측정 방법에 대한 일반 규칙
• GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
• GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
• GB/T 36422-2018 주사전자현미경법을 이용한 화학섬유의 미세한 형태 및 직경 측정

Association of German Mechanical Engineers, 주사전자현미경

• VDI 3866 Blatt 5-2004 주사 전자 현미경을 통한 기술 제품의 석면 측정
• VDI 3866 Blatt 5-2017 주사 전자 현미경을 통한 기술 제품의 석면 측정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 주사전자현미경

• GB/T 38783-2020 귀금속 복합재료의 코팅 두께 측정을 위한 주사전자현미경 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 주사전자현미경

• T/CSTM 00229-2020 페인트의 그래핀 재료 측정 주사 전자현미경-에너지 분광법
• T/GAIA 017-2022 주사전자현미경 및 에너지 분광학을 통한 알루미늄 및 알루미늄 합금 표면 코팅의 불소 함량 측정

British Standards Institution (BSI), 주사전자현미경

• 18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)

SE-SIS, 주사전자현미경

• SIS SS CECC 00013-1985 기본 사양. 반도체 칩의 주사전자현미경 관찰

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