투과전자현미경 매개변수

모두 158항목의 투과전자현미경 매개변수와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 투과전자현미경 매개변수와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 및 광학 측정, 계측 및 측정 합성, 분석 화학, 광학 장비, 기르다, 광전자공학, 레이저 장비, 금속 재료 테스트, 기술 도면, 표면 처리 및 도금, 복합강화재료, 물리학, 화학, 공기질, 범죄 예방, 전자 디스플레이 장치, 길이 및 각도 측정, 위험물 보호, 페인트 및 바니시, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 종이와 판지.

Professional Standard - Machinery, 투과전자현미경 매개변수

JB/T 5586-1991 투과전자현미경 분류 및 기본 매개변수
JB/T 9352-1999 투과전자현미경 시험 방법
JB/T 5383-1991 투과전자현미경 기술 조건
JB/T 5584-1991 투과전자현미경 배율 시험방법
JB/T 5585-1991 투과전자현미경 분해능 시험방법

Group Standards of the People's Republic of China, 투과전자현미경 매개변수

T/CSTM 00162-2020 투과전자현미경 교정방법
T/CSTM 00166.3-2020 그래핀 재료 특성화 3부 투과전자현미경

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 투과전자현미경 매개변수

JJG(地质) 1016-1990 투과전자현미경 교정 절차
JJG(教委) 12-1992 투과전자현미경 교정 절차

Professional Standard - Education, 투과전자현미경 매개변수

JY/T 011-1996 투과전자현미경 방법의 일반 원리
JY/T 0581-2020 투과전자현미경 분석 방법에 대한 일반 규칙

International Organization for Standardization (ISO), 투과전자현미경 매개변수

ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO 19214:2017 마이크로빔 분석분석전자현미경투과전자현미경을 통해 사상 결정의 중요한 성장 방향을 결정하는 방법
ISO 21363:2020 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
ISO 13794:2019 주변 공기 - 석면 섬유 측정 - 간접 전달 투과 전자 현미경
ISO 10312:2019 주변 공기 석면 섬유 측정 직접 전달 투과 전자 현미경.
ISO/TS 10797:2012 나노기술 투과전자현미경을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명
ISO/TS 22292:2021 나노기술 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 3차원 이미지 재구성
ISO 20263:2017 마이크로빔 분석 - 분석 투과 전자 현미경 - 적층 재료의 단면 이미지에서 계면 위치 결정 방법
ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석 투과 전자 현미경 방법 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 보정된 이미지 확대 방법
ISO 14966:2019 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
ISO/FDIS 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
ISO 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법

British Standards Institution (BSI), 투과전자현미경 매개변수

BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
PD ISO/TS 10797:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
15/30292710 DC 투과전자현미경에 의한 선형 결정 성장 방향 결정을 위한 BS ISO 19214 가이드
BS ISO 13794:2019 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
BS ISO 10312:2019 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
BS EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
BS ISO 21363:2020 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
PD ISO/TS 22292:2021 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 막대 모양 나노 물체의 3D 이미지를 재구성합니다.
BS PD ISO/TS 22292:2021 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 막대로 지지된 나노 물체의 3D 이미지를 재구성합니다.
18/30351714 DC BS ISO 21363 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정
19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
BS ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석적 투과전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 교정하는 방법.
BS ISO 10312:1995 주변 공기 석면 섬유 측정 직접 전달 투과 전자 현미경
BS ISO 14966:2019 주사전자현미경을 통한 대기 중 무기섬유 입자의 농도 수치 측정
BS ISO 29301:2017 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
BS ISO 29301:2023 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 투과전자현미경 매개변수

GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
GB/T 21637-2008 코로나바이러스 투과전자현미경 형태학적 동정방법
GB 7667-1996 전자현미경 X선 누출량
GB 7667-2003 전자현미경 X선 누출량
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 28044-2011 나노물질의 생물학적 효과에 대한 투과전자현미경 검출 방법에 대한 일반 규칙
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/Z 21738-2008 1차원 나노물질의 기본구조, 고해상도 투과전자현미경 검출방법
GB/T 43610-2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 투과전자현미경 방법
GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 30543-2014 나노기술 단일벽 탄소 나노튜브의 투과전자현미경 특성 분석
GB/T 30705-2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 분광법의 실험 매개변수 결정을 위한 지침
GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
GB/T 2679.11-2008 종이 및 판지용 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 분광학
GB/T 2679.11-1993 종이 및 판지의 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 에너지 분광학

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 투과전자현미경 매개변수

GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 투과전자현미경 매개변수

DB31/T 315-2004 투과전자현미경 배율 교정 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 투과전자현미경 매개변수

KS D 2716-2008(2018) 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
KS D 2716-2008 나노입자 직경 측정 기술 투과전자현미경
KS D 8544-2006 금속 코팅 코팅 두께 측정 투과 전자 현미경
KS D 8544-2016(2021) 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 투과 전자 현미경
KS I ISO 10312-2008(2018) 직접투과전자현미경을 통한 주변 공기 석면 섬유 측정
KS D ISO TR 17270:2007 마이크로빔분석-분석투과전자현미경-전자에너지손실분광학 실험변수결정 기술보고서
KS I ISO 13794-2008(2018) 간접투과전자현미경을 통한 대기 중의 석면 섬유 함량 측정

KR-KS, 투과전자현미경 매개변수

KS D 2716-2023 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
KS D ISO TR 17270-2007 마이크로빔분석-분석투과전자현미경-전자에너지손실분광학 실험변수결정 기술보고서
KS C ISO 21363-2023 나노기술 - 투과전자현미경을 사용하여 입자 크기 및 모양 분포 측정
KS D ISO 15632-2023 마이크로빔 분석 주사전자현미경(SEM) 또는 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)와 함께 사용하기 위한 에너지 분산형 X선 분광계(EDS)에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사

工业和信息化部, 투과전자현미경 매개변수

YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

American Society for Testing and Materials (ASTM), 투과전자현미경 매개변수

ASTM E3143-18a 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
ASTM E3143-18 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
ASTM E3143-18b 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
ASTM E3143-18b(2023) 리포솜의 저온 투과 전자 현미경 검사를 수행하기 위한 표준 관행
ASTM D7201-06(2020) 위상차 현미경(투과 전자 현미경 옵션 포함)을 사용하여 작업장에서 석면 섬유를 포함한 부유 섬유를 샘플링하고 계산하는 표준 관행
ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM D7201-06(2011) 위상차 현미경(선택적으로 투과 전자 현미경)을 사용하여 작업장을 샘플링하고 공기 섬유(석면 섬유 포함) 함량을 계산하기 위한 표준 작업 절차
ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
ASTM E986-04 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2010) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5756-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 질량 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5756-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 질량 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6056-96(2011) 작업 조건에서 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 투과 전자 현미경으로 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5755-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5756-02(2008) 투과전자현미경을 통한 미세 진공 샘플링 및 먼지 내 석면 블록의 표면 부하에 대한 간접 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5755-03 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-09 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-09(2014)e1 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM D6480-05 표면 닦기 샘플링, 간접 준비 및 투과 전자 현미경을 통한 석면 구조수 밀도 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E766-14e1 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM D6480-05(2010) 투과 전자 현미경을 통한 표면 닦음 샘플의 석면 구조적 값 농도의 간접 준비 및 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6281-06 투과전자현미경을 이용한 직접 전달 방법을 통해 주변 및 실내 공기 중 석면 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6281-04 투과전자현미경을 이용한 직접 전달 방법을 통해 주변 및 실내 공기 중 석면 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6281-15 투과전자현미경(TEM)을 통해 주변 및 실내 대기의 공기 중 석면 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6281-09 투과전자현미경을 이용한 직접 전달 방법을 통해 주변 및 실내 공기 중 석면 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
ASTM D6281-98 투과 전자 현미경 직접 전달(TEM)에 의해 결정된 주변 및 실내 설정의 공기 중 석면 농도에 대한 표준 테스트 방법
ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM D8526-23 투과전자현미경을 이용한 대기중 탄소나노튜브 및 탄소나노튜브 함유 입자의 농도 측정을 위한 분석절차의 표준시험방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 투과전자현미경 매개변수

GB/T 34331-2017 오이녹색반점모자이크바이러스의 투과전자현미경 검출방법
GB/T 34168-2017 금, 은 나노입자 소재의 생물학적 효과를 투과전자현미경으로 검출하는 방법
GB/T 33839-2017 탄소기반 나노물질의 생물학적 효과를 이용한 생체시료의 투과전자현미경 검출방법
GB/T 34002-2017 마이크로빔 분석 투과전자현미경을 위한 주기구조 표준물질을 이용한 이미지 배율 보정 방법

IX-IX-IEC, 투과전자현미경 매개변수

IEC TS 62607-6-17:2023 나노제조의 주요 제어 특성 6-17부: 그래핀 기반 재료 주문 매개변수: X선 회절 및 투과 전자 현미경

German Institute for Standardization, 투과전자현미경 매개변수

DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
DIN EN ISO 21363:2022-03 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정(ISO 21363:2020)

PH-BPS, 투과전자현미경 매개변수

PNS ISO 21363:2021 나노기술 투과전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정

Danish Standards Foundation, 투과전자현미경 매개변수

DS/ISO/TS 10797:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
DS/ISO/TS 22292:2021 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 나노기술 3D 이미지 재구성

Association Francaise de Normalisation, 투과전자현미경 매개변수

FD T16-209:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
NF T16-404:2020 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 형상 분포 측정
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
NF ISO 13794:2020 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 중 석면 섬유 측정
NF ISO 10312:2020 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
NF X43-050:2021 투과전자현미경 간접법을 이용한 석면섬유 농도의 공기질 측정
NF EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정

European Committee for Standardization (CEN), 투과전자현미경 매개변수

EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
prEN ISO 21363:2021 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포의 나노기술 측정(ISO 21363:2020)

AENOR, 투과전자현미경 매개변수

UNE 77236:1999 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정

ES-UNE, 투과전자현미경 매개변수

UNE-EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.

International Electrotechnical Commission (IEC), 투과전자현미경 매개변수

ISO TS 10797:2012 나노기술 투과전자현미경을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명
ISO TS 22292:2021 나노기술 – 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 3D 이미지 재구성
IEC TS 62607-6-2:2023 나노제조 중요한 제어 특성 파트 6-2: 그래핀 층 수: 원자력 현미경, 광학 투과, 라만 분광학

AT-ON, 투과전자현미경 매개변수

OENORM EN ISO 21363:2021 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포의 나노기술 측정(ISO 21363:2020)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 투과전자현미경 매개변수

JIS K 3850-3:2000 공기 중 섬유 입자 측정 방법 3부: 간접 전달 투과 전자 현미경
JIS K 3850-2:2000 공기 중 섬유상 입자 측정 방법 2부: 직접 전달 투과 전자 현미경
JIS K 0189:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산형 X선 분광법을 위한 실험 매개변수 결정.

未注明发布机构, 투과전자현미경 매개변수

DIN EN ISO 21363:2022 나노기술 – 투과전자현미경을 이용한 입자 크기 및 입자 형태 분포 측정
DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Nanotechnology Measurement of Particle Size and Shape Distribution by Transmission Electron Microscopy (Draft)

Professional Standard - Judicatory, 투과전자현미경 매개변수

SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

GOSTR, 투과전자현미경 매개변수

PNST 507-2020 투과전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 사용하여 특성화한 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

Professional Standard - Public Safety Standards, 투과전자현미경 매개변수

GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 909-2010 흔적 증거물 추출 및 포장 방법 총격 잔재물 검출을 위한 주사전자현미경/에너지분광법
GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학

VN-TCVN, 투과전자현미경 매개변수

TCVN 6502-1999 주변 공기 석면 섬유 측정 직접 전달 투과 전자 현미경.

RU-GOST R, 투과전자현미경 매개변수

GOST R 8.697-2010 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 결정의 평면 간격 투과 전자 현미경을 사용한 측정 방법

Professional Standard - Commodity Inspection, 투과전자현미경 매개변수

SN/T 2649.1-2010 수출입 화장품 내 석면 측정 1부: X선 회절-주사 전자현미경

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 투과전자현미경 매개변수

GJB 5384.22-2005 불꽃 특성 테스트 방법 - 파트 21: 전자 현미경을 통한 연기 고체 입자 수 농도 측정

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 투과전자현미경 매개변수

GJB 8684.22-2015 불꽃 특성 테스트 방법 - 파트 22: 전자 현미경을 통한 연기 고체 입자 수 농도 측정

American National Standards Institute （ANSI), 투과전자현미경 매개변수

ASTM D6281-23 투과 전자 현미경 직접 전송(TEM)을 통해 주변 및 실내 대기의 공기 중 석면 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법(표준 + 레드라인 PDF 패키지)