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엑스레이 분광학

모두 70항목의 엑스레이 분광학와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 엑스레이 분광학와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 비금속 광물, 어휘, 연료, 석유, 석유 제품, 천연가스 저장 및 운송 장비, 물리학, 화학, 검은 금속, 금속 재료 테스트, 철강 제품, 비철금속, 내화물, 금속 광석, 광학 및 광학 측정, 발전소 종합, 길이 및 각도 측정, 페인트 성분.


American Society for Testing and Materials (ASTM), 엑스레이 분광학

  • ASTM E1361-90(1999) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1361-02(2021) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
  • ASTM C1271-99(2006) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM C1271-99 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM C1271-99(2020) 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM C1271-99(2012) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
  • ASTM E1621-21 X선 방출 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1621-05 X선 발산 분광학 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2465-11e1 X-선 분광학을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1031-96 X선 분광법을 이용한 제철 및 제강 슬래그 분석을 위한 표준 시험 방법(2002년 철회)
  • ASTM E572-94(2000) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-02a(2006)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-02a(2006) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-02a 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM E572-94(2000)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
  • ASTM F1375-92(2005) 가스 분배 시스템 부품의 금속 표면 상태에 대한 에너지 분산형 X선 분광 분석 시험 방법
  • ASTM D5381-93(2003) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
  • ASTM D5381-93(1998) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석

German Institute for Standardization, 엑스레이 분광학

  • DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
  • DIN 51440-1:2003 휘발유 테스트 인 함량 측정 1부: 파장 분산형 X선 분광법.
  • DIN 51431-2:2004 윤활제 테스트 마그네슘 함량 측정 2부: 파장 분산 X선 분광법(XRF)
  • DIN 51577-4:2023-07 미네랄 오일 탄화수소 및 유사 제품 테스트. 염소 및 브롬 함량 측정. 저가형 장비를 사용한 에너지 분산형 X선 분광법
  • DIN 51577-4:1994-02 광유 탄화수소 및 유사 제품 테스트, 염소 및 브롬 함량 측정, 저가 장비를 사용한 에너지 분산형 X선 분광학
  • DIN 51577-4:2023-11 광유 및 유사 제품의 탄화수소 테스트 염소 및 브롬 함량 측정 4부: 저가형 장비를 사용한 에너지 분산형 X선 분광법
  • DIN 51391:2023-09 윤활제 테스트를 위한 첨가제 원소 함량 측정 파장 분산 X선 분광법(XRS) / 참고: 출시일 2023-07-28* DIN 51391-1(1997-08), DIN 51391-2(1994-03)을 대체할 예정

British Standards Institution (BSI), 엑스레이 분광학

  • BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
  • DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
  • BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드

Danish Standards Foundation, 엑스레이 분광학

  • DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

Association Francaise de Normalisation, 엑스레이 분광학

  • FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
  • NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 엑스레이 분광학

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 엑스레이 분광학

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 엑스레이 분광학

International Organization for Standardization (ISO), 엑스레이 분광학

  • ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
  • ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
  • ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 엑스레이 분광학

RU-GOST R, 엑스레이 분광학

Professional Standard - Electricity, 엑스레이 분광학

  • DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

工业和信息化部, 엑스레이 분광학

  • YS/T 1033-2015 X선 형광 분광법을 이용한 건식 누출 방지 재료의 원소 함량 측정




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