ZH
EN
JP
ES
RU
DE

전자현미경 구조

모두 24항목의 전자현미경 구조와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자현미경 구조와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 금속 재료 테스트, 광학 장비, 공기질, 위험물 보호, 광학 및 광학 측정, 분석 화학.

IT-UNI, 전자현미경 구조

UNI 7329-1974 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 미세 구조 검사를 위한 복제본 준비

International Organization for Standardization (ISO), 전자현미경 구조

ISO 29301:2017 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 이미지 배율을 교정하는 방법
ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석 투과 전자 현미경 방법 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 보정된 이미지 확대 방법
ISO/FDIS 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
ISO 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별
ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자현미경 구조

ASTM D5755-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6480-99 표면 샘플링, 간접 준비 및 투과전자현미경을 통한 석면 구조수밀도 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6480-05 표면 닦기 샘플링, 간접 준비 및 투과 전자 현미경을 통한 석면 구조수 밀도 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6480-05(2010) 투과 전자 현미경을 통한 표면 닦음 샘플의 석면 구조적 값 농도의 간접 준비 및 분석을 위한 표준 테스트 방법

British Standards Institution (BSI), 전자현미경 구조

BS ISO 29301:2017 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
BS ISO 29301:2023 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
BS ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석적 투과전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 교정하는 방법.
BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석

Association Francaise de Normalisation, 전자현미경 구조

NF T25-111-4:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 4부: 주사 전자 현미경 파쇄법
NF ISO 15932:2014 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 어휘

Professional Standard - Machinery, 전자현미경 구조

JB/T 5480-1991 전자현미경용 격막
JB/T 5481-1991 전자현미경용 필라멘트

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자현미경 구조

JIS K 0132:1997 주사전자현미경의 일반 원리

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자현미경 구조

KS D ISO 22493-2012(2017) 마이크로빔 분석 주사전자현미경 용어집
KS D ISO 22493:2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘

KR-KS, 전자현미경 구조

KS D ISO 22493-2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘

©2007-2024 저작권 소유