X선 에너지 스펙트럼

모두 51항목의 X선 에너지 스펙트럼와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 X선 에너지 스펙트럼와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 방사선 측정, 범죄 예방, 광학 장비, 원자력공학, 광학 및 광학 측정, 계측 및 측정 합성, 종이와 판지, 물리학, 화학, 천문학, 측지학, 지리학, 비파괴 검사, 종합 전자 부품.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X선 에너지 스펙트럼

GB/T 20726-2006 반도체 검출기 X선 분광기의 일반 원리
GB/T 17723-1999 금제품의 코팅성분에 대한 X선 에너지 분광법 측정방법
GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
GB/T 11685-2003 반도체 X선 검출기 시스템 및 반도체 X선 에너지 분광계의 측정 방법
GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
GB/T 2679.11-2008 종이 및 판지용 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 분광학
GB/T 2679.11-1993 종이 및 판지의 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정

CZ-CSN, X선 에너지 스펙트럼

CSN 35 6575 Z1-1997 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), X선 에너지 스펙트럼

IEEE 759-1984 반도체 X선 에너지 스펙트럼 분석기의 테스트 절차
ANSI/IEEE Std 759-1984 반도체 X선 분광계에 대한 IEEE 표준 테스트 절차

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X선 에너지 스펙트럼

KS C IEC 60759:2009 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차
KS C IEC 60759-2009(2019) 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차

International Electrotechnical Commission (IEC), X선 에너지 스펙트럼

IEC 60759:1983 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차
IEC 60759:1983/AMD1:1991 반도체 X선 분광기 표준 시험 절차 수정 1

Professional Standard - Judicatory, X선 에너지 스펙트럼

SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

SE-SIS, X선 에너지 스펙트럼

SIS SS IEC 759:1986 핵실험 장비. 반도체 X선 에너지 분광계 검출 프로그램

Professional Standard - Public Safety Standards, X선 에너지 스펙트럼

GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, X선 에너지 스펙트럼

DB44/T 1216-2013 주사전자현미경과 X선 분광법을 이용한 그래핀 특성 규명
DB44/T 1215-2013 주사전자현미경과 X선 에너지 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, X선 에너지 스펙트럼

DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

German Institute for Standardization, X선 에너지 스펙트럼

DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트

British Standards Institution (BSI), X선 에너지 스펙트럼

BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항

International Organization for Standardization (ISO), X선 에너지 스펙트럼

ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 X선 에너지 분광학을 이용한 단일암 탄소나노튜브의 특성 규명.
ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항

RU-GOST R, X선 에너지 스펙트럼

GOST 25645.118-1984 개별 소스의 X선 방사선 에너지 스펙트럼 및 각도 좌표

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X선 에너지 스펙트럼

GB/T 41073-2021 표면 화학 분석을 위한 기본 요구 사항 전자 에너지 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅 보고서

American Society for Testing and Materials (ASTM), X선 에너지 스펙트럼

ASTM E996-10(2018) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-19 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행

Professional Standard - Electron, X선 에너지 스펙트럼

SJ/T 10458-1993 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 위한 시료 처리를 위한 표준 가이드