전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

모두 387항목의 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 분석 화학, 종합 전자 부품, 비파괴 검사, 계측 및 측정 합성, 길이 및 각도 측정, 광학 및 광학 측정, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 광학 장비, 금속 재료 테스트, 입자 크기 분석, 스크리닝, 반도체 개별 장치, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 범죄 예방, 방사선방호, 유체 흐름 측정, 고무 및 플라스틱 제품, 원자력공학, 방사선 측정, 홈 자동 제어 장치, 전기 및 전자 테스트, 반도체 소재, 태양광 공학, 비철금속, 수공구, 수질, 페인트 및 바니시, 광전자공학, 레이저 장비, 밥을 먹이다, 물리학, 화학, 우유 및 유제품, 제공하다, 통신 종합, 전등 및 관련 기기, 건물 내 시설, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 수력공학, 종이와 판지, 플라스틱, 회사(기업)의 조직 및 관리, 정보 기술(IT) 종합, 용어(원칙 및 조정), 단열재, 전기 장치, 전송 및 배전망, 환경 보호, 건강 및 안전, 의료 장비, 노동, 고용, 경보 및 경고 시스템, 어휘, TV 방송 및 라디오 방송, 회로망, 식용유지, 유지종자, 기계 안전, 산업자동화 시스템, 전기공학종합, 소독 및 살균, 석유제품 종합, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

GB/T 31470-2015 오제(Auger) 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 테스트에서 검출 신호에 해당하는 샘플 영역을 결정하기 위한 일반 규칙
GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정
GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
GB/T 26533-2011 Auger 전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
GB/T 28893-2012 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
GB/T 29556-2013 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X-선 광전자 분광법 분석기로 감지할 수 있는 측면 분해능, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
GB/T 25187-2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
GB/T 32266-2015 원자형광분광기 성능 측정 방법
GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
GB/Z 32494-2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 화학 정보 해석
GB/T 30702-2014 표면 화학 분석 균질 물질의 정량 분석에서 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에 대해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자를 사용하는 방법에 대한 가이드
GB/T 31472-2015 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
GB/T 29731-2013 표면 화학 분석 고해상도 오거 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 스케일 교정
GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 29558-2013 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 분광법 강도 척도의 반복성과 일관성
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 25185-2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 전하 제어 및 전하 보정 방법 보고서
GB/T 25188-2010 X선 광전자 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 초박형 실리콘 산화물 층 두께 측정
GB/T 28633-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 강도 척도의 반복성과 일관성
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
GB/T 29732-2013 표면 화학 분석을 위한 중해상도 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정
GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
GB/T 17359-2023 원자번호 11 이상 원소의 마이크로빔 분석 및 정량 분석을 위한 에너지 분광법
GB/T 43598-2023 X선 광전자 분광법을 이용한 나노기술 그래핀 분말의 산소 함량 및 탄소-산소 비율 측정
GB/T 14218-1993 전자 조광 장비의 성능 매개변수 및 테스트 방법
GB/T 2679.11-2008 종이 및 판지용 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 분광학
GB/T 17361-2013 마이크로빔 분석을 이용한 퇴적암 내 진위성 점토광물의 동정을 위한 주사형 전자현미경 및 에너지 분광계 방법
GB/T 2679.11-1993 종이 및 판지의 무기 충진제 및 무기 코팅의 정성 분석 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
GB/T 39560.8-2021 전기 및 전자 제품의 특정 물질 측정 8부: 가스 크로마토그래피-질량 분석법(GC-MS) 및 열 열분해/열 탈착을 이용한 가스 크로마토그래피-질량 분석법(Py/TD-GC-MS)을 통한 중합체 측정
GB/T 32869-2016 나노기술 단일벽 탄소 나노튜브의 주사전자현미경 및 에너지 분산형 X선 분광학 특성 분석 방법
GB/T 25189-2010 마이크로빔 분석주사형 전자현미경 에너지 분광계의 정량 분석 매개변수 결정 방법
GB/T 32281-2015 2차 이온 질량 분석법을 통한 태양광 등급 실리콘 웨이퍼 및 재료의 산소, 탄소, 붕소 및 인 측정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

GB/T 41072-2021 표면 화학 분석 전자 분광학 UV 광전자 분광학 안내서
GB/T 41073-2021 표면 화학 분석을 위한 기본 요구 사항 전자 에너지 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅 보고서
GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법
GB/T 35099-2018 마이크로빔 분석 주사전자현미경-에너지분광학 단일입자 형태학 및 대기 미세입자의 원소 분석
GB/T 36504-2018 인쇄 회로 기판의 표면 오염 물질 분석 오거 전자 분광법
GB/T 29732-2021 중해상도의 원소 분석을 위한 에너지 스케일 보정 표면 화학 분석을 위한 오거 전자 분광기
GB/T 36533-2018 오제(Auger) 전자 분광법을 이용한 규산염 내 미립자 철의 화학적 상태 측정
GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
GB/T 14218-2018 전자 조광 장비의 성능 매개변수 및 테스트 방법
GB/T 41105.3-2021 비파괴 검사를 위한 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 에너지 분광학

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

KS D 2518-2005 카드뮴 광전자 분광학
KS D 2518-1982 카드뮴 광전자 분광학
KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성
KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 18118-2005(2020) 표면 화학 분석에서 균질 물질의 정량 분석을 위해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자 사용에 대한 지침 오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법
KS D ISO 15471-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 - 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 19319:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
KS D ISO 17973-2011(2016) 표면 화학 분석에서 중해상도 오제 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
KS C 8525-1995 결정질 태양전지 스펙트럼 응답 측정 방법
KS D ISO 19318-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 전하 제어 및 전하 보정 방법 보고서
KS D ISO 17974-2011(2016) 표면 화학 분석을 위한 고해상도 오제 전자 분광계의 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
KS D ISO TR 17270:2007 마이크로빔분석-분석투과전자현미경-전자에너지손실분광학 실험변수결정 기술보고서
KS D ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 17973-2011(2021) 표면 화학 분석 - 보통 분해능 오거 전자 분광계 - 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
KS D ISO 17973:2011 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 17974-2011(2021) 표면 화학 분석 - 고해상도 오제 전자 분광계 - 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
KS D ISO 17974:2011 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

JJG(教委) 09-1992 전자 에너지 분광계의 교정 절차

Professional Standard - Education, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

JY/T 013-1996 전자 분광계 방법의 일반 원리

Professional Standard - Agriculture, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

JJG(教委) 013-1996 전자 에너지 분광계의 교정 절차

Professional Standard - Electron, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

SJ/T 10458-1993 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 위한 시료 처리를 위한 표준 가이드
SJ/T 10457-1993 Auger 전자 분광법의 심층 분석을 위한 표준 지침
SJ/T 10714-1996 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하는 표준 방법
SJ 3240-1989 전자 등급 아르곤에서 미량의 수소와 메탄 측정 아르곤 이온화 가스 크로마토그래피 방법

German Institute for Standardization, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
DIN ISO 16242:2020-05 표면 화학 분석은 AES(Auger Electron Spectroscopy)로 데이터를 기록하고 보고합니다.
DIN ISO 16242:2020 표면 화학 분석을 위한 AES(Auger 전자 분광학)의 데이터 기록 및 보고(ISO 16242:2011), 영어 텍스트
DIN 49860-2:2000-01 자연광과 유사한 스펙트럼 에너지 분포를 갖춘 메탈할라이드 램프 2부: 스포츠 조명
DIN 44402-1:1974-02 전자관 및 밸브의 전기적 특성 측정, 측정방법 관련 주의사항

British Standards Institution (BSI), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
BS ISO 15471:2016 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 분광법을 위해 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 20903:2019 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고 시 필요한 정보
BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
PD ISO/TR 18394:2016 표면 화학 분석 오거 전자 분광법을 통한 화학 정보 도출
BS ISO 18118:2015 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
20/30380369 DC BS ISO 23420 마이크로빔 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 에너지 분해능 결정
23/30461294 DC BS ISO 18118 표면 화학 분석 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용하는 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 사용하여 균질 물질의 정량 분석을 위한 가이드
21/30404763 DC BS ISO 24639 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정 절차
BS ISO 17973:2016 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
PD ISO/TR 23173:2021 표면 화학 분석 전자 분광학 나노입자 코팅의 두께 및 조성 측정
BS ISO 16242:2011 표면 화학 분석 - AEC(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고
BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
BS ISO 29081:2010 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 전하 제어 및 전하 조정 보고 방법.
BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
BS ISO 20903:2011 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 광전자 분광법(XPS) 및 원자 방출 분광법(AES)의 깊이 프로파일링에서 이온 빔 교정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
BS ISO 19318:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
20/30423741 DC BS ISO 19318 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
BS ISO 17973:2003 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
BS ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 추정 및 균질 재료의 원소 검출 한계 보고
BS 3288-1:1997 가공 전력 절연체 및 가공 전력 도체 1부: 성능 및 일반 요구 사항
BS 3288-1:2014 가공 전력 절연체 및 가공 전력 도체 1부: 성능 및 일반 요구 사항
19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
BS EN IEC 80601-2-71:2018 의료 전기 장비 기능성 근적외선 분광기(NIRS) 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구 사항
DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
BS ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
BS EN IEC 61010-2-061:2021 측정, 제어 및 실험실용 전기 장비에 대한 안전 요구 사항 열 원자화 및 이온화 기능을 갖춘 실험실 원자 분광계에 대한 특별 요구 사항

American Society for Testing and Materials (ASTM), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

ASTM E996-10(2018) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-19 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E995-11 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에서 배경 제거 기술 적용을 위한 표준 가이드
ASTM E995-16 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 배경 빼기 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E2108-16 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도에 대한 표준 사례
ASTM E996-04 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-10 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
ASTM E722-94(2002) 전자 방사선 강도 테스트를 위한 등가 단일 준위 중성자 플루언스를 결정하는 데 사용되는 에너지 준위 중성자 에너지 플루언스 스펙트럼의 특성
ASTM E722-04e2 전자 방사선 강도 테스트를 위한 등가 단일 준위 중성자 플루언스를 결정하는 데 사용되는 에너지 준위 중성자 에너지 플루언스 스펙트럼의 특성
ASTM E722-09 전자 방사선 강도 테스트를 위한 등가 단일 준위 중성자 플루언스를 결정하는 데 사용되는 에너지 준위 중성자 에너지 플루언스 스펙트럼의 특성
ASTM E1217-11(2019) Auger 전자 분광계 및 일부 X선 광전자 분광계에서 감지된 신호의 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E1127-91(1997) Auger 전자 분광학의 깊이 프로파일링을 위한 표준 가이드
ASTM E1127-08(2015) Auger 전자 분광학의 깊이 프로파일링을 위한 표준 가이드
ASTM E1127-08 Auger 전자 분광학의 깊이 프로파일링을 위한 표준 가이드
ASTM E722-04 전자 방사선 강도 시험을 위한 등가 단일 준위 중성자 플럭스의 에너지 준위 중성자 에너지 플럭스 스펙트럼의 특성을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E722-04e1 전자 방사선 강도 시험을 위한 등가 단일 준위 중성자 플럭스의 에너지 준위 중성자 에너지 플럭스 스펙트럼의 특성을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E721-11 중성자 센서의 중성자 스펙트럼 결정을 위한 전자 방사선 경도 테스트에 대한 표준 가이드
ASTM E721-01 전자 방사선 강도 테스트를 위한 중성자 활성 포일에서 중성자 분광법을 결정하기 위한 표준 가이드
ASTM E721-94 전자 방사선 강도 테스트를 위한 중성자 활성 포일에서 중성자 분광법을 결정하기 위한 표준 가이드
ASTM E721-07 전자 방사선 강도 테스트용 중성자 검출기를 사용한 중성자 스펙트럼 측정을 위한 표준 가이드
ASTM E721-16 전자 방사선 경도 테스트용 중성자 센서의 중성자 에너지 스펙트럼 결정을 위한 표준 가이드
ASTM E722-09e1 전자 방사선 강도 테스트를 위한 등가 단일 준위 중성자 플럭스의 에너지 수준 중성자 플럭스 스펙트럼 특성을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E2735-14(2020) X선 광전자 분광법에 필요한 교정 선택을 위한 표준 가이드
ASTM E721-22 전자 장비의 방사선 경도 테스트를 위한 중성자 센서를 사용한 중성자 분광학 측정을 위한 표준 가이드
ASTM E902-94(1999) X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
ASTM E1523-97 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E1523-15 X선 광전자 분광학의 전하 제어 및 전하 기준 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E984-95(2001) Auger 전자 분광법에서 화학 및 매트릭스 효과를 식별하기 위한 표준 가이드
ASTM E984-95 Auger 전자 분광법에서 화학 및 매트릭스 효과를 식별하기 위한 표준 가이드
ASTM E984-12(2020) Auger 전자 분광법에서 화학 및 매트릭스 효과를 식별하기 위한 표준 가이드
ASTM E984-06 화학적 효과 및 매트릭스 효과 식별에 오제 전자 분광법 적용을 위한 표준 가이드
ASTM E984-12 Auger 전자 분광법을 사용하여 화학 및 매트릭스 효과를 식별하기 위한 표준 가이드
ASTM E2994-21 스파크 원자 방출 분광법 및 글로우 방전 원자 방출 분광법(특성 기반 방법)을 사용한 티타늄 및 티타늄 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E722-14 전자 방사선 경도 테스트를 위한 등가 단일 에너지 중성자 플루언스의 중성자 플루언스 스펙트럼 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E722-19 전자 장비의 방사선 경도 테스트를 위해 등가 단일 에너지 중성자 플루언스를 사용하여 중성자 플루언스 스펙트럼을 특성화하기 위한 표준 관행
ASTM E944-19 원자로 모니터링을 위한 중성자 스펙트럼 조정 방법 적용을 위한 표준 가이드
ASTM E944-13e1 원자로 모니터링을 위한 중성자 스펙트럼 조정 방법 적용을 위한 표준 가이드
ASTM D4128-06(2012) 전자 충격 질량 분석법과 결합된 가스 크로마토그래피를 사용하여 물 속 유기 화합물을 식별하고 정량화하기 위한 표준 가이드
ASTM E2594-20 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법을 사용한 니켈 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법(특성 기반)
ASTM E2994-16 스파크 원자 방출 분광법 및 글로우 방전 원자 방출 분광법을 이용한 티타늄 및 티타늄 합금 분석의 표준 시험 방법(성능 기반 방법)
ASTM E2236-02 집광 장치가 없는 다중접합 태양전지 및 모듈의 전기적 특성 및 분광 감도에 대한 표준 테스트 방법
ASTM E1588-95(2001) 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-08 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-10 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-95 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2823-17 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 통한 니켈 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법(성능 기반)
ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2236-10(2015) 비집중형 다중 연결 태양광 전지 및 모듈의 전기적 특성 및 분광 감도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D4128-06 가스 크로마토그래피 및 전자 충격 분광법을 이용한 물 속 유기 화합물의 식별 및 정량 측정을 위한 표준 관행
ASTM D4128-94 가스 크로마토그래피 및 전자 충격 분광법을 이용한 물 속 유기 화합물의 식별 및 정량 측정을 위한 표준 관행
ASTM E3061-17 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법을 이용한 알루미늄 및 알루미늄 합금 분석을 위한 표준 시험 방법(성능 방법)
ASTM E2594-09 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(특성 기반 방법)을 사용한 니켈 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM C1284-10 알파 분광법에 의한 악티나이드 전착 특성 측정을 위한 표준 관행
ASTM E2371-13 직류플라즈마 및 유도결합플라즈마 원자방출분광법을 이용한 티타늄 및 티타늄 합금의 분석을 위한 시험방법(물성기반 시험방법)
ASTM E1588-16a 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
ASTM E1588-17 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
ASTM E2594-09(2014) 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(특성 기반 방법)을 사용한 니켈 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

T/CAIA YQ004-2018 원자형광분광법을 결합한 액체 크로마토그래피의 성능 시험 방법
T/CAIA YQ006-2018 이온 크로마토그래프 성능 시험 방법
T/CSTM 00962-2022 불꽃 방전 원자 방출 분광계의 성능 평가 방법
T/CSTM 00964-2022 원자 분광기 성능 평가를 위한 일반 원칙
T/GDCKCJH 046-2021 헬륨 질량 분석계 누출 감지기 성능 요구 사항 및 감지 방법
T/CAS 577-2022 스마트 가전 지식 그래프 활용 가이드
T/ZSA 39-2020 그래핀 테스트 방법 일함수 결정 UV 광전자 분광법
T/ZGIA 002-2020 그래핀 테스트 방법 일함수 결정 UV 광전자 분광법
T/CSTM 01199-2024 다층 금속박막층 구조 측정 및 분석 방법 X선 광전자 분광법
T/CSTM 00229-2020 페인트의 그래핀 재료 측정 주사 전자현미경-에너지 분광법
T/CAIA YQ003-2016 분광기용 선형 어레이 CCD의 광전 성능에 대한 일반적인 테스트 방법
T/CASME 502-2023 국경 간 전자 상거래 지능형 전자 창고 관리 및 서비스 요구 사항
T/SZAS 59-2022 e스포츠 이용자 분석 및 운용능력 요구사항
T/CMA SB053-2020 전자식 수도미터의 성능평가 및 시험을 위한 기술규격
T/CSTM 00346-2021 강철 및 통계적 주사전자현미경 분광학의 개재물 자동 분류
T/CEC 474-2021 해수 양수 발전소의 금속 구성 요소 표면 재료의 부식 방지 특성에 대한 전기 화학적 임피던스 분광학 테스트 지침
T/CSTM 01194-2024 폴리에틸렌 테레프탈레이트 표면의 수소 함량 측정 방법 반사 전자 에너지 손실 분광법
T/SYECA 0006-2017 전자상거래 지능형 속달단말기 관리 및 서비스 사양
T/GAIA 017-2022 주사전자현미경 및 에너지 분광학을 통한 알루미늄 및 알루미늄 합금 표면 코팅의 불소 함량 측정
T/GDCKCJH 068-2022 이온블로워 제전기의 성능요구사항 및 검출방법
T/BSRS 027-2020 원자력 발전소의 가스상 배출물에 포함된 불활성 가스의 감마 분광학 분석을 위한 기술 사양
T/CATIS 002-2021 국경 간 전자상거래 실무자의 기술 분류 및 평가

International Organization for Standardization (ISO), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
ISO 23420:2021 마이크로빔 분석분석용 전자 현미경전자 에너지 손실 분광학 분석을 위한 에너지 분해능 결정 방법
ISO/TR 19319:2003 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
ISO/TR 18394:2016 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 화학 정보 추출
ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
ISO/DIS 18118:2023 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
ISO/FDIS 18118:2023 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
ISO/DIS 17973:2023 표면 화학 분석에서 원소 분석 에너지 분해능 수준의 교정 오거 전자 분광계
ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
ISO/CD 17973 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
ISO 24639:2022 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광법을 통한 원소 분석을 위한 에너지 스케일링 절차
ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
ISO 16242:2011 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고
ISO 29081:2010 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 전하 제어 및 전하 조정 보고 방법.
ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
ISO 20903:2019 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 결과 보고 시 필요한 피크 강도 및 정보를 결정하는 데 사용되는 방법
ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES(원자 방출 분광학) 및 XPS(광전자 분광학)의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 보정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 X선 에너지 분광학을 이용한 단일암 탄소나노튜브의 특성 규명.
ISO 17973:2016 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
ISO 17973:2002 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
ISO 20903:2011 표면 화학 분석 오제 전자 에너지 분광법 및 X선 광전자 분광법 결과 보고에 필요한 피크 강도 결정 방법 및 정보
ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 균질 물질의 원소 검출 한계 추정 및 보고
IEC/DIS 80601-2-71:2011 의료 전기 장비 2-71부: 기능적 근적외선 분광법(기능적 NIRS) 장비의 기본 안전 및 필수 성능에 대한 특별 요구사항
ISO 17974:2002 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

GB/T 35158-2017 오거 전자 분광계 교정 방법
GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
GB/T 32565-2016 표면 화학 분석을 위한 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고에 대한 사양 요구 사항
GB/T 32998-2016 Auger 전자 분광학 전하 제어 보고를 위한 사양 요구 사항 및 표면 화학 분석을 위한 수정 방법
GB/T 33502-2017 표면 화학 분석을 위한 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고에 대한 사양 요구 사항
GB/T 34826-2017 사중극자 유도결합 플라즈마 질량분석기의 성능 측정 방법

未注明发布机构, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

BS ISO 18516:2006(2010) 표면 화학 분석 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 측면 분해능 결정
BS ISO 21270:2004(2010) 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계강도 규모 선형성
BS ISO 17974:2002(2010) 표면 화학 분석과 원소 및 화학 상태 분석을 위한 고해상도 오제 전자 분광계의 에너지 레벨 교정

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

IPC WP-008-2005 이온 크로마토그래피 역량 확립

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

IPC WP-008 CD-2005 이온 크로마토그래피 기능 설정

Professional Standard - Machinery, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

JB/T 6976-1993 오거 전자분광법 소자 식별 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

JIS Z 8826:2005 입자 크기 분석, 광자 상관 분광학
JIS K 0167:2011 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 균질 물질의 정량 분석을 위한 상대 감도 인자의 실험실 결정 사용에 대한 지침
JIS C 8944:2009 다중접합 태양전지의 스펙트럼 응답 측정 방법
JIS K 0161:2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성
JIS K 0165:2011 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
JIS C 8936:1995 비정질 태양전지 및 모듈의 스펙트럼 응답을 측정하는 방법
JIS C 8915:1998 결정질 태양전지 및 모듈의 스펙트럼 응답을 측정하는 방법
JIS C 8915 AMD 1:2005 결정질 태양전지 및 모듈의 스펙트럼 응답 측정 방법(수정안 1)
JIS K 0166:2011 표면 화학 분석 고해상도 나선형 전자 분광계 원소 및 화학 상태 분석을 위한 에너지 척도 교정
JIS C 8936 AMD 1:2005 비정질 태양전지 및 모듈의 스펙트럼 응답 측정 방법(변형 1)
JIS B 9961:2008 기계 안전 안전 관련 전기, 전자 및 프로그래밍 가능한 전자 제어 시스템의 기능적 안전

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

GJB 3495-1998 고속중성자펄스로의 중성자 에너지 스펙트럼 측정방법
GJB 9562-2018 내방사선 강화를 위한 시뮬레이션된 장 중성자 스펙트럼 및 플루언스 측정 방법: 임계값 검출 방법
GJB 7073-2010 신관 전자 안전 및 무장 해제 장치의 전자파 환경 및 성능 시험 방법
GJB 1387-1992 항공 전자 장비 및 시스템의 열 성능 인증에 대한 일반 요구 사항

Association Francaise de Normalisation, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

NF ISO 24236:2006 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 스펙트럼 에너지 준위의 반복성과 불변성
NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
NF ISO 16242:2012 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 로깅 및 보고
NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고
NF EN ISO 22184:2021 Lait et produits laitiers 자당 측정 음이온 크로마토그래피 전류 측정 펄스 검출을 통한 고급 성능(HPAEC-PAD)
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)의 데이터 로깅 및 보고
NF X21-058:2006 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정에 사용되는 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
NF ISO 29081:2010 표면 화학 분석을 위한 오제 전자 분광법의 전하 제어 및 보정에 사용되는 방법 표시
NF ISO 17974:2009 원소 및 화학적 상태 분석을 위한 표면 화학 분석을 위한 고해상도 Auger 전자 분광계의 에너지 스케일 교정
NF V04-280:1991 치즈 및 치즈 껍질 나타마이신 함량 측정 분자 흡수 분광법 및 고성능 액체 크로마토그래피.
XP CEN/TS 15754:2008 동물 사료 - 당 함량 측정 - 펄스 전류측정 검출과 결합된 고성능 음이온 교환 크로마토그래피(HPAEC-PAD)
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 표면 화학 분석 중간 해상도 나선형 전자 분광계 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정
NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
CWA 16234-3:2014 유럽 e-역량 프레임워크 버전 3.0 3부: e-역량 프레임워크 구축에 대한 건전한 접근 방식과 전문가 기여 결합
NF ISO 16796:2022 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법(ICP-AES)을 사용하여 분말 혼합물 및 가돌리늄 연료 펠릿에서 Gd2O3의 원자력 측정
XP T90-140:2013 유도 결합 플라즈마 질량 분석기(ICP-Ms)와 결합된 고압 액체 크로마토그래피(HPLC)를 사용하여 수질 내 비소의 4가지 화학적 형태 측정
FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

KR-KS, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

KS D ISO 15472-2003(2023) 표면화학분석-X선 광전자분광기-에너지 규모 교정
KS D ISO TR 17270-2007 마이크로빔분석-분석투과전자현미경-전자에너지손실분광학 실험변수결정 기술보고서
KS D ISO 15632-2023 마이크로빔 분석 주사전자현미경(SEM) 또는 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)와 함께 사용하기 위한 에너지 분산형 X선 분광계(EDS)에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 15632-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사

Professional Standard - Judicatory, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

Professional Standard - Nuclear Industry, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

EJ/T 20123-2016 에너지 스펙트럼형 중성자 주변 선량당량(율) 측정기

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

CNS 8830-1998 중성자 플럭스 속도, 플럭스 및 에너지 스펙트럼 결정 - 방사성 활성화 기술 결정
CNS 14882-2005 전자 클램프 및 절단 플라이어 - 단일 기능 절단 플라이어
CNS 14883-2005 전자 클램프 및 가위 - 단일 기능 클램프
CNS 8413-2002 핵 등급 질산플루토늄 용액에 대한 화학, 질량 분석, 분광화학, 핵 및 방사화학 분석 방법

Professional Standard - Public Safety Standards, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 909-2010 흔적 증거물 추출 및 포장 방법 총격 잔재물 검출을 위한 주사전자현미경/에너지분광법
GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학
GA/T 1418-2017 법과학 증거유리의 원소 조성 조사 주사전자현미경/에너지분광학

Professional Standard - Petroleum, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

SY/T 5693-1995 탄소-산소 비율 에너지 스펙트럼 로깅 도구의 유지 관리 및 교정에 대한 기술 규정

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

Standard Association of Australia （SAA）, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

AS ISO 15472:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 에너지 규모의 교정
AS 2134.1:1999 화학 분석 원자 흡수 분광법에 권장되는 작업 절차 불꽃 원자 흡수 분광법
AS ISO 19319:2006 표면 화학 분석. Augur 전자 분광학 및 X선 광전자 분광학. 분석가의 측면 해상도 육안 검사, 분석 영역 및 샘플 영역
AS ISO 18118:2006 표면 화학 분석. 오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법. 균질 물질의 정량 분석에서 실험적으로 결정된 상대 감도 계수의 사용에 대한 안내
AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

DB44/T 1216-2013 주사전자현미경과 X선 분광법을 이용한 그래핀 특성 규명
DB44/T 1215-2013 주사전자현미경과 X선 에너지 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명
DB4401/T 208-2023 작동 중인 전자 교류 에너지 미터의 상태 평가 및 교체에 대한 기술 사양

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

IEEE 1900 SERIES-2008 동적 스펙트럼 액세스 정의 및 개념: 새로운 무선 네트워크 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE 1900.1-2008 동적 스펙트럼 액세스 정의 및 개념: 새로운 무선 네트워크 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE 1900.1-2019 동적 스펙트럼 액세스 정의 및 개념: 새로운 무선 네트워크 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE 1900 SERIES-2018 동적 스펙트럼 액세스 정의 및 개념: 새로운 무선 네트워크 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE P1900.1/D1-2018 동적 스펙트럼 액세스 정의 및 개념에 대한 표준 초안: 새로운 무선 네트워크 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE P1900.1/D2-2018 동적 스펙트럼 액세스 정의 및 개념에 대한 표준 초안: 새로운 무선 네트워크 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어

RU-GOST R, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

GOST R 52181-2003 식수 입자 크로마토그래피 및 모세관 전기영동을 통한 음이온 함량 측정.
GOST R 51038-1997 사료 및 혼합 사료 근적외선 분광법을 통한 대사 에너지 측정.
GOST 26874-1986 전리방사선 에너지 분광계 기본변수 결정방법
GOST R IEC 61508-7-2012 전기, 전자 및 프로그래밍 가능한 전자 안전 시스템의 기능적 안전 7부: 기술 및 방법
GOST R ISO 16242-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고
GOST R IEC 62061-2013 기계 안전 안전 관련 전기, 전자 및 프로그래밍 가능한 전자 제어 시스템의 기능적 안전
GOST R IEC 62061-2015 기계 안전 안전 관련 전기, 전자 및 프로그래밍 가능한 전자 제어 시스템의 기능적 안전
GOST R ISO 16243-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고

International Electrotechnical Commission (IEC), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

IEC TS 62607-5-4:2022 나노제조 중요한 제어 특성 5-4부: 전자 에너지 손실 분광법(EELS)을 통한 나노물질의 에너지 밴드 갭 측정

Guangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

DB45/T 2108-2019 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법을 이용한 구리 인듐 갈륨 셀레나이드 태양광 전지 타겟의 갈륨 함량 측정

Professional Standard - Medicine, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

YY/T 1766.3-2023 X-ray 컴퓨터 단층촬영 장비의 영상 품질 평가 방법 3부: 이중 에너지 영상 및 에너지 스펙트럼 응용의 성능 평가

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

IEEE Std 1900.1-2008 동적 스펙트럼 액세스에 대한 IEEE 표준 정의 및 개념: 신흥 무선 네트워크, 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE Std 1900.1-2019 동적 스펙트럼 액세스 정의 및 개념에 대한 IEEE 표준: 신흥 무선 네트워크, 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE Unapproved Draft Std P1900.1/D4.00, Mar 2008 동적 스펙트럼 액세스에 대한 IEEE 초안 표준 정의 및 개념: 신흥 무선 네트워크, 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE Unapproved Draft Std P1900.1/D2.0, Aug 2007 신흥 무선 네트워크, 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 동적 스펙트럼 액세스 정의 및 개념 용어에 대한 IEEE 초안 표준
P1900.1/D1, September 2018 동적 스펙트럼 액세스에 대한 IEEE 초안 표준 정의 및 개념: 신흥 무선 네트워크, 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE P1900.1/D1, September 2018 동적 스펙트럼 액세스에 대한 IEEE 초안 표준 정의 및 개념: 신흥 무선 네트워크, 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE P1900.1/D2, September 2018 동적 스펙트럼 액세스 정의 및 개념에 대한 IEEE 승인 초안 표준: 신흥 무선 네트워크, 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어
IEEE 1900.1a-2012 동적 스펙트럼 액세스에 대한 정의 및 개념: 무선 네트워크 형성, 시스템 기능 및 스펙트럼 관리와 관련된 용어 수정 1: 새로운 용어 및 관련 정의 추가

Military Standards (MIL-STD), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

DOD MIL-HDBK-237 D VALID NOTICE 1-2013 획득 프로세스의 전자기 환경 영향 및 스펙트럼 지원 기능에 대한 지침

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

ETSI TS 102 887-2-2013 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 트랜잭션(ERM) 단거리 장치 지능형 측정 무선 액세스 프로토콜 2부: 데이터 링크 계층(MAC 하위 계층) 버전 1.1.1
ETSI TS 102 887-1-2013 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 트랜잭션(ERM) 단거리 장치 지능형 측정 무선 액세스 프로토콜 1부: 물리 계층 버전 1.1.1

Danish Standards Foundation, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

DS/CWA 16234-3:2011 유럽 e-Competency Framework 2.0 3부: e-Competency Framework 구축을 위한 건전한 접근 방식과 전문가의 기여 결합
DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

Zhejiang Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

DB33/T 979-2015 전자상거래 특급 배송 지능형 단말기 기술 및 관리 요구 사항

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

YS/T 644-2007 백금-루테늄 합금 필름의 테스트 방법 X선 광전자 분광법을 통한 합금 백금 및 합금 루테늄 함량 측정.

GOSTR, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브
PNST 507-2020 투과전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 사용하여 특성화한 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

ETSI - European Telecommunications Standards Institute, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

EG 201 788-2001 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), ETSI 시스템 참조 문서(V1.1.1)의 성능
TR 102 886-2011 전자기 호환성 및 무선 스펙트럼 문제(ERM), UHF 대역의 스마트 계량(SM) 단거리 장치(SRD)의 기술적 특성, 시스템 참조 문서 스마트 계량 P에 대한 유럽 액세스 사양에 대한 SRD 스펙트럼 요구 사항

Professional Standard - Commodity Inspection, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

SN/T 2003.4-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬 측정 4부: 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 정성 스크리닝 방법
SN/T 2003.5-2006 전자 및 전기 제품의 납, 수은, 크롬, 카드뮴 및 브롬 측정 5부: 에너지 분산형 X선 형광 분광법 정량 스크리닝 방법

VN-TCVN, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

TCVN 7033-2002 인스턴트 커피 유리 및 총 탄수화물 함량 측정 고성능 음이온 크로마토그래피

Qinghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

DB63/T 1820-2020 유도 결합 플라즈마 광학 방출 분광법을 통한 토양 내 이용 가능한 칼륨 및 느리게 작용하는 칼륨 측정

Indonesia Standards, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

SNI 04-3878-1995 이중 목적 표시 기능을 갖춘 전자 측정 장비 및 액세서리에 대한 기술 사양입니다.

International Telecommunication Union (ITU), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

ITU-R SM.2405-1,ITU-R SM.2405-2020 인지 가능 무선 시스템을 통한 주파수 대역에 대한 동적 액세스와 관련된 스펙트럼 관리 원칙, 과제 및 문제

European Committee for Standardization (CEN), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

EN ISO 9167-1:1995 유채씨 글루코사이드 함량 측정 1부: 고성능 액체 크로마토그래피(ISO 9167-1-1992)

American National Standards Institute （ANSI), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

ANSI/ASTM D5296:1997 고성능 크기 배제 크로마토그래피를 이용한 폴리스티렌의 평균 분자량 및 분자량 분포를 시험하는 방법 (08.03)

Underwriters Laboratories (UL), 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

UL 61010A-2-061-2002 실험실용 안전한 전기 장비에 대한 UL 표준, 파트 2: 열 원자화 및 이온화 기능을 갖춘 실험실 원자 분광계에 대한 특별 요구 사항(초판)

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

GJB 6239.12-2008 군수용 함침활성탄의 성능 시험방법 제12부: 구리 함유 플라즈마 방출 분석법
GJB 6239.13-2008 군수용 함침활성탄의 성능시험방법 제13부: 아연함유 플라즈마 방출분광법
GJB 6239.14-2008 군용 함침 활성탄의 성능 시험 방법 14부: 몰리브덴 함유 플라즈마 방출 분광법
GJB 6239.15-2008 군수용 함침활성탄의 성능 시험방법 제15부: 은 함유 플라즈마 방출 분광법

Professional Standard - Petrochemical Industry, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

NB/SH/T 0828-2010 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광법을 통한 엔진 냉각수 내 실리콘 및 기타 원소 함량 측정

商务部, 전자 에너지 분광학 및 에너지 분광학

SB/T 10922-2012 유도 결합 플라즈마 질량 분석법을 통해 육류 및 육류 제품의 크롬, 구리, 총 비소, 카드뮴, 총 수은 및 납 측정