광학주사현미경으로 스캔하는 경우

모두 239항목의 광학주사현미경으로 스캔하는 경우와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 광학주사현미경으로 스캔하는 경우와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 비철금속, 길이 및 각도 측정, 어휘, 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 기르다, 열역학 및 온도 측정, 공기질, 전자 디스플레이 장치, 범죄 예방, 표면 처리 및 도금, 건축 자재, 비파괴 검사, 기계적 테스트, 섬유 섬유, 페인트 및 바니시, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 철강 제품, 광전자공학, 레이저 장비, 세라믹, 물리학, 화학, 문서 이미징 기술, 페인트 성분.

Professional Standard - Commodity Inspection, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

SN/T 4388-2015 가죽 식별 주사전자현미경 및 광학현미경
SN/T 2649.1-2010 수출입 화장품 내 석면 측정 1부: X선 회절-주사 전자현미경

Group Standards of the People's Republic of China, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

T/SPSTS 032-2023 주사 전기화학 현미경에 대한 일반 사양
T/QGCML 1940-2023 주사형 전자현미경 현장 고온 기계 시험 장치
T/SPSTS 030-2023 주사전자현미경을 이용한 그래핀 소재 시트 크기 측정

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

JIS K 0132:1997 주사전자현미경의 일반 원리
JIS K 3850-1:2006 공기 중 섬유 분자 측정 1부: 광학 현미경 및 주사 전자 현미경
JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
JIS K 3850-1:2000 공기 중의 섬유상 입자 측정 방법 1부: 광학 현미경 및 주사전자현미경
JIS K 0147-2:2017 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어
JIS R 1633:1998 주사전자현미경 관찰을 위한 파인 세라믹 및 세라믹 분말의 시료 준비 방법

International Organization for Standardization (ISO), 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별
ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
ISO/WD TR 23683:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 전기 스캐닝 프로브 현미경을 사용하여 반도체 장치의 캐리어 농도를 실험적으로 정량화하는 방법에 대한 가이드
ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경법 영상선명도 평가법
ISO 11039:2012 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 드리프트 속도 결정을 위한 표준
ISO 18115-2:2021 표면 화학 분석 용어집 2부: 주사 탐침 현미경 용어
ISO 28600:2011 표면 화학 분석 - 스캐닝 프로브 현미경을 위한 데이터 전송 형식
ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
ISO 9220:2022 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
ISO 9220:1988 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경
ISO 11775:2015 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 일반적인 캔틸레버 스프링 상수 결정
ISO 21466:2019 마이크로빔 분석 주사전자현미경 CD-SEM을 통한 임계 크기 평가 방법
ISO 18115-2:2010 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어.
ISO 11952:2019 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 측정: 측정 시스템 교정
ISO 11952:2014 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
ISO 19749:2021 나노기술 주사전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정
ISO 21222:2020 표면 화학 분석 주사 탐침 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차.
ISO 18115-2:2013 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어.
ISO 14966:2019 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
ISO 14966:2002 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
ISO 14966:2002/cor 1:2007 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법 기술 정오표 1
ISO 13083:2015 표면 화학 분석 주사형 프로브 현미경 2D 도핑 이미징과 같은 응용 분야를 위한 SSRM 및 SCM과 같은 주사형 전자 프로브 현미경(ESPM)의 공간 분해능 및 교정 표준 정의
ISO 16000-27:2014 실내 공기 파트 27: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면 섬유 먼지 측정(직접 방법)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

KS D 2714-2016(2021) 스캐닝 프로브 현미경 - 측면 힘 현미경
KS D ISO 22493:2012 마이크로빔 분석주사 전자 현미경 용어
KS D 2714-2016 횡력 현미경 스캐닝 프로브 현미경 방법
KS D 2713-2016 NSOM(근거리 주사광학현미경)의 공간 분해능 평가
KS D 2713-2016(2021) NSOM(근거리 주사광학현미경)의 공간 분해능 평가
KS D ISO 22493-2012(2017) 마이크로빔 분석 주사전자현미경 용어집
KS D ISO 22493:2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
KS I 0051-1999(2019) 주사전자현미경의 일반 규칙
KS M 0044-1999 주사전자현미경의 일반 규칙
KS I 0051-1999 주사전자현미경 시험 방법의 일반 원칙
KS D 2714-2006 스캐닝 프로브 현미경.횡방향 전단력 측정 방법
KS D ISO 16700-2013(2018) 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 이미지 확대 교정 가이드
KS D ISO 16700:2013 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
KS D ISO 9220:2009 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
KS D ISO 9220-2009(2022) 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
KS D ISO 9220-2009(2017) 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정

American Society for Testing and Materials (ASTM), 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

ASTM E2382-04 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 품목에 대한 안내
ASTM E2382-04(2012) 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 항목에 대한 표준 가이드
ASTM E2382-04(2020) 주사 터널링 현미경 및 원자력 현미경의 스캐너 및 팁 관련 인공물에 대한 표준 가이드
ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2010) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
ASTM C1723-16(2022) 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM C1723-10 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM C1723-16 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM E1813-96e1 스캐닝 검출 현미경 프로브의 측정 및 보고에 대한 표준 관행
ASTM E1813-96(2002) 스캐닝 검출 현미경 프로브의 측정 및 보고에 대한 표준 관행
ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM E1813-96(2007) 스캐닝 검출 현미경 프로브의 측정 및 보고에 대한 표준 관행
ASTM E766-14e1 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
ASTM B748-90(1997) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
ASTM B748-90(2006) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
ASTM E1588-95(2001) 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-08 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-10 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-95 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2142-08(2015) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E2142-08 주사전자현미경을 이용한 철 내 개재물의 등급 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E2142-08(2023) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM B748-90(2010) 주사전자현미경 단면 측정을 통한 금속 코팅 두께 측정을 위한 표준 시험 방법
ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM B748-90(2021) 주사전자현미경을 이용한 단면적 측정을 통한 금속코팅 두께 측정의 표준시험방법
ASTM E2142-01 주사전자현미경을 이용한 철강의 불순물 등급 및 분류를 위한 표준 테스트 방법
ASTM B748-90(2016) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 시험방법
ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM B748-90(2001) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 표준시험방법
ASTM E2090-06 광학 및 주사 전자 현미경을 사용하여 클린룸 와이퍼에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 구별 계수를 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2090-12(2020) 광학 및 주사 전자 현미경을 사용하여 클린룸 와이퍼에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 구별 계수를 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1438-93(1999) 가스 분배 시스템 구성 요소의 주사 터널링 현미경을 통한 표면 거칠기 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1438-93(2020) 가스 분배 시스템 구성 요소의 주사 터널링 현미경을 통한 표면 거칠기 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1372-93(1999) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1372-93(2020) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1438-93(2012) 가스 분배 시스템 구성요소의 주사 터널링 현미경을 사용한 표면 거칠기 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM D605-82(1996)e1 주사전자현미경을 사용하여 작업 환경 내 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6059-96(2011) 주사전자현미경을 사용하여 작업 환경 내 공기 중 단결정 세라믹 위스커 농도를 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E3309-21 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS)을 통한 법의학 프라이밍 총상 잔류물(pGSR) 분석 보고를 위한 표준 가이드
ASTM F1372-93(2012) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM) 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1372-93(2005) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 주사 전자 현미경(SEM) 분석을 위한 표준 테스트 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

GB/T 33834-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 생물학적 시료의 주사전자현미경 분석방법
GB/T 36052-2018 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 데이터 전송 형식

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

JJF 1916-2021 주사전자현미경 교정 사양
JJF 1351-2012 스캐닝 프로브 현미경 교정 사양

Professional Standard - Machinery, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

JB/T 6842-1993 주사전자현미경 시험방법
JB/T 5384-1991 주사전자현미경.기술적 조건

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

JJG(教委) 11-1992 주사전자현미경 교정 절차
JJG 550-1988 주사전자현미경 파일럿 교정 절차

KR-KS, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

KS D ISO 22493-2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
KS D ISO 16700-2023 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지 배율 교정 가이드
KS C ISO 19749-2023 나노기술 - 주사전자현미경을 이용한 입자 크기 및 형태 분포 측정

Professional Standard - Education, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

JY/T 0586-2020 레이저 스캐닝 공초점 현미경 분석 방법의 일반 원리
JY/T 0582-2020 주사 탐침 현미경 분석 방법의 일반 원리
JY/T 0584-2020 주사전자현미경 분석 방법의 일반 원리
JY/T 010-1996 분석용 주사전자현미경 방법의 일반 원리

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

GB/T 42659-2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 스캐닝 프로브 현미경을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
GB/T 29190-2012 스캐닝 프로브 현미경 표류율 측정 방법
GB/T 18295-2001 석유 및 가스 저장소의 사암 시료에 대한 주사전자현미경 분석 방법
GB/T 36422-2018 주사전자현미경법을 이용한 화학섬유의 미세한 형태 및 직경 측정
GB/T 19267.6-2003 범죄 수법의 흔적 증거에 대한 물리화학적 조사 제6부, 주사전자현미경
GB/T 22461.2-2023 표면 화학 분석 용어집 2부: 주사 탐침 현미경 용어
GB/T 28873-2012 나노입자 생물형태 효과에 대한 환경주사전자현미경 검출 방법의 일반 원리
GB/T 17361-2013 마이크로빔 분석을 이용한 퇴적암 내 진위성 점토광물의 동정을 위한 주사형 전자현미경 및 에너지 분광계 방법
GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법
GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
GB/T 42543-2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 캔틸레버 빔의 수직 탄성 상수 결정
GB/Z 26083-2010 흑연 표면의 옥틸옥시구리 프탈로시아닌 분자의 흡착구조 시험방법(주사터널링현미경)

British Standards Institution (BSI), 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
BS ISO 18115-2:2013 표면 화학 분석 용어집 스캐닝 프로브 현미경에 대한 용어
BS ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
BS ISO 28600:2011 표면 화학 분석 - 스캐닝 프로브 현미경을 위한 데이터 전송 형식
BS ISO 18115-2:2021 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 표면 화학 분석 용어집
BS EN ISO 9220:1989 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
BS EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 이용한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
BS ISO 18115-2:2010 표면 화학 분석 용어집 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어입니다.
BS ISO 11775:2015 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 일반적인 캔틸레버 스프링 상수 결정
21/30394409 DC BS ENISO 9220 금속 코팅의 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
BS ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 사용하여 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
BS ISO 11952:2019 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
BS EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
BS ISO 21222:2020 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차
BS ISO 14966:2019 주사전자현미경을 통한 대기 중 무기섬유 입자의 농도 수치 측정
BS IEC 62906-5-5:2022 레이저 디스플레이 래스터 스캐닝 망막 직접 투영 레이저 디스플레이용 광학 측정 방법
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어
19/30351707 DC BS ISO 21222 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자력 현미경 및 2점 JKR 방법을 사용하여 규정 준수 재료의 탄성 계수 결정을 위한 절차
18/30351679 DC BS ISO 19749 나노기술 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정
BS ISO 14966:2002 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
18/30375050 DC BS ISO 14966 대기 중 무기 섬유 입자의 수치 농도 측정 주사 전자 현미경
DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
BS ISO 13083:2015 표면 화학 분석 주사형 프로브 현미경 2D 도핑 이미징과 같은 응용 분야를 위한 SSRM 및 SCM과 같은 주사형 전자 프로브 현미경(ESPM)의 공간 분해능 및 교정 표준 정의
BS DD ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명.
BS EN ISO 17751-2:2023 주사전자현미경을 이용한 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 이들의 혼방의 정량분석
BS ISO 11698-2:2000 현미경 이미지 조리개 카드 스캐너로 생성된 이미지의 품질을 측정하는 방법 품질 표준 및 제어
21/30432306 DC BS EN IEC 62906-5-5 레이저 디스플레이 파트 5-5 래스터 스캐닝 직접 망막 프로젝션 레이저 디스플레이를 위한 광학 측정 방법
20/30423331 DC BS EN IEC 62906-5-5 레이저 디스플레이 파트 5-5 래스터 스캐닝 직접 망막 프로젝션 레이저 디스플레이를 위한 광학 측정 방법
BS EN ISO 17751-2:2016 섬유 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 이들의 혼방의 정량 분석 주사전자현미경
12/30228339 DC BS ISO 16000-27 실내 공기 파트 27: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면 침전된 섬유성 먼지 측정(직접 방법)

Professional Standard - Petroleum, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

SY/T 5162-2014 암석시료의 주사전자현미경 분석방법
SY/T 5162-1997 암석시료의 주사전자현미경 분석방법
SY 5162-2014 암석시료의 주사전자현미경 분석방법

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

DB31/T 297-2003 주사전자현미경 배율 교정 방법

国家能源局, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

SY/T 5162-2021 암석시료의 주사전자현미경 분석방법

Association Francaise de Normalisation, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

NF X21-010:2009 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
NF X21-069-2:2010 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어.
NF X21-005:2006 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
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NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
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NF T25-111-4:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 4부: 주사 전자 현미경 파쇄법
NF EN ISO 19749:2023 나노기술 - 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정
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NF ISO 16000-27:2014 실내 공기 - 27부: SEM(주사전자현미경)을 통한 표면 퇴적된 섬유성 먼지 측정(직접 방법)
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Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

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European Committee for Standardization (CEN), 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

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RU-GOST R, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

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GOST R 8.630-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 원자력 주사 검출 현미경, 검증 방법
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Danish Standards Foundation, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

DS/EN ISO 9220:1995 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
DS/ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

German Institute for Standardization, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

DIN EN ISO 9220:2022-05 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사전자현미경
DIN EN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)
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DIN EN ISO 19749:2023-07 나노기술 - 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정(ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220:1988), 독일어 버전 EN ISO 9220:1994
DIN ISO 16000-27:2014-11 실내공기 파트 27: SEM(Scanning Electron Microscopy)을 이용한 표면에 부착된 섬유성 먼지 측정(직접법)

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ES-UNE, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

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UNE-EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.

Association of German Mechanical Engineers, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

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AENOR, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

UNE-EN ISO 9220:1996 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정(ISO 9220:1988)

Lithuanian Standards Office , 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

LST EN ISO 9220:2001 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220:1988)

AT-ON, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

OENORM EN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)

BE-NBN, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

NBN EN ISO 9220:1995 금속 보호층. 보호층 두께 측정: 주사전자현미경(ISO 9220-1988) 사용

GOSTR, 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

American National Standards Institute （ANSI), 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

ANSI/ASTM D6059:2001 주사전자현미경을 이용하여 작업환경 공기 중 단결정 세라믹 위스커의 농도를 측정하는 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 광학주사현미경으로 스캔하는 경우

IEC 62906-5-5:2022 레이저 디스플레이 5-5부: 래스터 스캐닝 망막 직접 투사 레이저 디스플레이를 위한 광학 측정 방법

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JIS K 0182:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 캔틸레버 일반 스프링 상수 결정
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