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투과전자현미경의 선택된 영역 회절

모두 35항목의 투과전자현미경의 선택된 영역 회절와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 투과전자현미경의 선택된 영역 회절와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 광학 및 광학 측정, 분석 화학, 금속 재료 테스트, 공기질.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
  • GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
  • GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
  • GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
  • GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
  • GB/T 28044-2011 나노물질의 생물학적 효과에 대한 투과전자현미경 검출 방법에 대한 일반 규칙

International Organization for Standardization (ISO), 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
  • ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
  • ISO 19214:2017 마이크로빔 분석분석전자현미경투과전자현미경을 통해 사상 결정의 중요한 성장 방향을 결정하는 방법
  • ISO 21363:2020 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
  • ISO 13794:2019 주변 공기 - 석면 섬유 측정 - 간접 전달 투과 전자 현미경
  • ISO 10312:2019 주변 공기 석면 섬유 측정 직접 전달 투과 전자 현미경.

British Standards Institution (BSI), 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
  • BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
  • 15/30292710 DC 투과전자현미경에 의한 선형 결정 성장 방향 결정을 위한 BS ISO 19214 가이드
  • BS ISO 13794:2019 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
  • BS ISO 10312:2019 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

KR-KS, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

工业和信息化部, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

American Society for Testing and Materials (ASTM), 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • ASTM E3143-18a 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E3143-18 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E3143-18b 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
  • ASTM E3143-18b(2023) 리포솜의 저온 투과 전자 현미경 검사를 수행하기 위한 표준 관행

IX-IX-IEC, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • IEC TS 62607-6-17:2023 나노제조의 주요 제어 특성 6-17부: 그래핀 기반 재료 주문 매개변수: X선 회절 및 투과 전자 현미경

Professional Standard - Commodity Inspection, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • SN/T 2649.1-2010 수출입 화장품 내 석면 측정 1부: X선 회절-주사 전자현미경

European Committee for Standardization (CEN), 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜

German Institute for Standardization, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법

AENOR, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • UNE 77236:1999 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정

Association Francaise de Normalisation, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절

  • NF ISO 10312:2020 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정

  투과전자현미경의 선택된 영역 회절, 투과전자현미경의 선택된 영역 회절.

 



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