주사전자현미경과 광학현미경

모두 194항목의 주사전자현미경과 광학현미경와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 주사전자현미경과 광학현미경와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 어휘, 공기질, 길이 및 각도 측정, 광학 및 광학 측정, 분석 화학, 비철금속, 기르다, 열역학 및 온도 측정, 전자 디스플레이 장치, 범죄 예방, 표면 처리 및 도금, 건축 자재, 섬유 섬유, 페인트 및 바니시, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 철강 제품, 세라믹, 물리학, 화학.

Professional Standard - Commodity Inspection, 주사전자현미경과 광학현미경

SN/T 4388-2015 가죽 식별 주사전자현미경 및 광학현미경
SN/T 2649.1-2010 수출입 화장품 내 석면 측정 1부: X선 회절-주사 전자현미경

Group Standards of the People's Republic of China, 주사전자현미경과 광학현미경

T/SPSTS 032-2023 주사 전기화학 현미경에 대한 일반 사양
T/QGCML 1940-2023 주사형 전자현미경 현장 고온 기계 시험 장치
T/SPSTS 030-2023 주사전자현미경을 이용한 그래핀 소재 시트 크기 측정

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 주사전자현미경과 광학현미경

JIS K 0132:1997 주사전자현미경의 일반 원리
JIS K 3850-1:2006 공기 중 섬유 분자 측정 1부: 광학 현미경 및 주사 전자 현미경
JIS K 3850-1:2000 공기 중의 섬유상 입자 측정 방법 1부: 광학 현미경 및 주사전자현미경
JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
JIS K 0147-2:2017 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어
JIS R 1633:1998 주사전자현미경 관찰을 위한 파인 세라믹 및 세라믹 분말의 시료 준비 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 주사전자현미경과 광학현미경

KS D ISO 22493:2012 마이크로빔 분석주사 전자 현미경 용어
KS D ISO 22493-2012(2017) 마이크로빔 분석 주사전자현미경 용어집
KS D ISO 22493:2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
KS I 0051-1999(2019) 주사전자현미경의 일반 규칙
KS M 0044-1999 주사전자현미경의 일반 규칙
KS D 2713-2016 NSOM(근거리 주사광학현미경)의 공간 분해능 평가
KS D 2713-2016(2021) NSOM(근거리 주사광학현미경)의 공간 분해능 평가
KS I 0051-1999 주사전자현미경 시험 방법의 일반 원칙
KS D ISO 16700:2013 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
KS D ISO 16700-2013(2018) 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 이미지 확대 교정 가이드
KS D ISO 9220:2009 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
KS D ISO 9220-2009(2022) 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
KS D ISO 9220-2009(2017) 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정

International Organization for Standardization (ISO), 주사전자현미경과 광학현미경

ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별
ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경법 영상선명도 평가법
ISO/WD TR 23683:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 전기 스캐닝 프로브 현미경을 사용하여 반도체 장치의 캐리어 농도를 실험적으로 정량화하는 방법에 대한 가이드
ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
ISO 9220:2022 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
ISO 9220:1988 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경
ISO 11039:2012 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 드리프트 속도 결정을 위한 표준
ISO 18115-2:2021 표면 화학 분석 용어집 2부: 주사 탐침 현미경 용어
ISO 28600:2011 표면 화학 분석 - 스캐닝 프로브 현미경을 위한 데이터 전송 형식
ISO 21466:2019 마이크로빔 분석 주사전자현미경 CD-SEM을 통한 임계 크기 평가 방법
ISO 21222:2020 표면 화학 분석 주사 탐침 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차.
ISO 11775:2015 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 일반적인 캔틸레버 스프링 상수 결정
ISO 19749:2021 나노기술 주사전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정
ISO 18115-2:2010 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어.
ISO 11952:2019 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 측정: 측정 시스템 교정
ISO 11952:2014 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
ISO 14966:2019 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
ISO 18115-2:2013 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어.
ISO 14966:2002 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
ISO 14966:2002/cor 1:2007 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법 기술 정오표 1

American Society for Testing and Materials (ASTM), 주사전자현미경과 광학현미경

ASTM E2382-04 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 품목에 대한 안내
ASTM E2382-04(2012) 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 항목에 대한 표준 가이드
ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
ASTM E986-04 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2010) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
ASTM C1723-16(2022) 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM C1723-10 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM C1723-16 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E766-14e1 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
ASTM B748-90(1997) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
ASTM B748-90(2006) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
ASTM E1588-95(2001) 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-08 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-10 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-95 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2142-08(2015) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E2142-08 주사전자현미경을 이용한 철 내 개재물의 등급 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E2142-08(2023) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
ASTM B748-90(2010) 주사전자현미경 단면 측정을 통한 금속 코팅 두께 측정을 위한 표준 시험 방법
ASTM B748-90(2021) 주사전자현미경을 이용한 단면적 측정을 통한 금속코팅 두께 측정의 표준시험방법
ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
ASTM E2142-01 주사전자현미경을 이용한 철강의 불순물 등급 및 분류를 위한 표준 테스트 방법
ASTM B748-90(2016) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 시험방법
ASTM E2090-06 광학 및 주사 전자 현미경을 사용하여 클린룸 와이퍼에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 구별 계수를 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2090-12(2020) 광학 및 주사 전자 현미경을 사용하여 클린룸 와이퍼에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 구별 계수를 위한 표준 테스트 방법
ASTM B748-90(2001) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 표준시험방법

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 주사전자현미경과 광학현미경

JJF 1916-2021 주사전자현미경 교정 사양

Professional Standard - Machinery, 주사전자현미경과 광학현미경

JB/T 6842-1993 주사전자현미경 시험방법
JB/T 5384-1991 주사전자현미경.기술적 조건

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 주사전자현미경과 광학현미경

JJG(教委) 11-1992 주사전자현미경 교정 절차
JJG 550-1988 주사전자현미경 파일럿 교정 절차

KR-KS, 주사전자현미경과 광학현미경

KS D ISO 22493-2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
KS D ISO 16700-2023 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지 배율 교정 가이드
KS C ISO 19749-2023 나노기술 - 주사전자현미경을 이용한 입자 크기 및 형태 분포 측정

British Standards Institution (BSI), 주사전자현미경과 광학현미경

BS ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
BS ISO 18115-2:2013 표면 화학 분석 용어집 스캐닝 프로브 현미경에 대한 용어
BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
BS EN ISO 9220:1989 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
BS ISO 28600:2011 표면 화학 분석 - 스캐닝 프로브 현미경을 위한 데이터 전송 형식
BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
BS EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 이용한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
BS ISO 18115-2:2021 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 표면 화학 분석 용어집
21/30394409 DC BS ENISO 9220 금속 코팅의 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
BS ISO 18115-2:2010 표면 화학 분석 용어집 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어입니다.
BS ISO 11775:2015 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 일반적인 캔틸레버 스프링 상수 결정
BS ISO 21222:2020 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차
18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
BS ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 사용하여 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
19/30351707 DC BS ISO 21222 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자력 현미경 및 2점 JKR 방법을 사용하여 규정 준수 재료의 탄성 계수 결정을 위한 절차
BS EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
BS ISO 14966:2019 주사전자현미경을 통한 대기 중 무기섬유 입자의 농도 수치 측정
BS ISO 11952:2019 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
18/30351679 DC BS ISO 19749 나노기술 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정
DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어
BS ISO 14966:2002 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
18/30375050 DC BS ISO 14966 대기 중 무기 섬유 입자의 수치 농도 측정 주사 전자 현미경
BS DD ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명.

工业和信息化部, 주사전자현미경과 광학현미경

SJ/T 11759-2020 태양전지 전극 그리드 라인 종횡비 레이저 스캐닝 공초점 현미경 측정

Professional Standard - Education, 주사전자현미경과 광학현미경

JY/T 0584-2020 주사전자현미경 분석 방법의 일반 원리
JY/T 010-1996 분석용 주사전자현미경 방법의 일반 원리
JY/T 0586-2020 레이저 스캐닝 공초점 현미경 분석 방법의 일반 원리

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 주사전자현미경과 광학현미경

GB/T 33834-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 생물학적 시료의 주사전자현미경 분석방법
GB/T 36052-2018 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 데이터 전송 형식

Professional Standard - Petroleum, 주사전자현미경과 광학현미경

SY/T 5162-2014 암석시료의 주사전자현미경 분석방법
SY/T 5162-1997 암석시료의 주사전자현미경 분석방법
SY 5162-2014 암석시료의 주사전자현미경 분석방법

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경과 광학현미경

DB31/T 297-2003 주사전자현미경 배율 교정 방법

国家能源局, 주사전자현미경과 광학현미경

SY/T 5162-2021 암석시료의 주사전자현미경 분석방법

Professional Standard - Public Safety Standards, 주사전자현미경과 광학현미경

GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학
GA/T 909-2010 흔적 증거물 추출 및 포장 방법 총격 잔재물 검출을 위한 주사전자현미경/에너지분광법

Professional Standard - Judicatory, 주사전자현미경과 광학현미경

SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

Association Francaise de Normalisation, 주사전자현미경과 광학현미경

NF X21-005:2006 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경을 이용한 이미지 선명도 평가 방법
XP ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 - 주사 전자 현미경 - 이미지 선명도 평가 방법
NF A91-108:1995 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
NF EN ISO 9220:2022 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
NF X21-069-2:2010 표면 화학 분석 용어집 2부: 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 용어.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
NF T25-111-4:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 4부: 주사 전자 현미경 파쇄법
NF EN ISO 19749:2023 나노기술 - 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정
FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 주사전자현미경과 광학현미경

GB/T 42659-2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 스캐닝 프로브 현미경을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
GB/T 18295-2001 석유 및 가스 저장소의 사암 시료에 대한 주사전자현미경 분석 방법
GB/T 36422-2018 주사전자현미경법을 이용한 화학섬유의 미세한 형태 및 직경 측정
GB/T 19267.6-2003 범죄 수법의 흔적 증거에 대한 물리화학적 조사 제6부, 주사전자현미경
GB/T 17361-2013 마이크로빔 분석을 이용한 퇴적암 내 진위성 점토광물의 동정을 위한 주사형 전자현미경 및 에너지 분광계 방법
GB/T 28873-2012 나노입자 생물형태 효과에 대한 환경주사전자현미경 검출 방법의 일반 원리
GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
GB/T 17361-1998 퇴적암 내 자성점토광물의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 동정 방법

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경과 광학현미경

DB32/T 3459-2018 그래핀 필름의 미세 영역 커버리지를 테스트하기 위한 주사 전자 현미경 방법

RU-GOST R, 주사전자현미경과 광학현미경

GOST R ISO 27911-2015 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
GOST R 8.594-2009 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 주사전자현미경
GOST R 8.636-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 주사형 전자현미경, 교정 방법
GOST 8.594-2009 국가 측정 균일성 보증 시스템 주사전자현미경 식별방법
GOST R 8.631-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템 주사형 전자 측정 현미경 검증 방법

SE-SIS, 주사전자현미경과 광학현미경

SIS SS-ISO 9220:1989 금속 코팅. 코팅 두께 측정. 주사전자현미경 방법
SIS SS CECC 00013-1985 기본 사양. 반도체 칩의 주사전자현미경 관찰

European Committee for Standardization (CEN), 주사전자현미경과 광학현미경

EN ISO 9220:2022 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
EN ISO 9220:1994 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220-1988)
EN ISO 19749:2023 나노기술 주사전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정
prEN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)

Danish Standards Foundation, 주사전자현미경과 광학현미경

DS/EN ISO 9220:1995 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
DS/ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

German Institute for Standardization, 주사전자현미경과 광학현미경

DIN EN ISO 9220:2022-05 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사전자현미경
DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
DIN EN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)
DIN EN ISO 19749:2023-07 나노기술 - 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정(ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220:1988), 독일어 버전 EN ISO 9220:1994

ES-UNE, 주사전자현미경과 광학현미경

UNE-EN ISO 9220:2022 금속코팅의 코팅두께 측정을 위한 주사전자현미경 방법
UNE-EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.

AENOR, 주사전자현미경과 광학현미경

UNE-EN ISO 9220:1996 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정(ISO 9220:1988)

Lithuanian Standards Office , 주사전자현미경과 광학현미경

LST EN ISO 9220:2001 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220:1988)

未注明发布机构, 주사전자현미경과 광학현미경

JIS K 0182:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 캔틸레버 일반 스프링 상수 결정
BS CECC 13:1985(1999) 전자 부품 품질 평가를 위한 통합 시스템: 기본 사양: 반도체 칩의 주사 전자 현미경 검사

AT-ON, 주사전자현미경과 광학현미경

OENORM EN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)

BE-NBN, 주사전자현미경과 광학현미경

NBN EN ISO 9220:1995 금속 보호층. 보호층 두께 측정: 주사전자현미경(ISO 9220-1988) 사용

Association of German Mechanical Engineers, 주사전자현미경과 광학현미경

VDI 3861 Blatt 2-2008 주사전자현미경을 이용한 고정 소스에서 방출되는 배기가스 내 무기 섬유 입자 측정
VDI 3492-2004 실내 공기 측정 - 주변 공기 측정 - 무기 섬유 입자 측정 - 주사 전자 현미경
VDI 3492-2013 실내 공기 측정 - 주변 공기 측정 - 무기 섬유 입자 측정 - 주사 전자 현미경

GOSTR, 주사전자현미경과 광학현미경

PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

American National Standards Institute （ANSI), 주사전자현미경과 광학현미경

ANSI/ASTM D6059:2001 주사전자현미경을 이용하여 작업환경 공기 중 단결정 세라믹 위스커의 농도를 측정하는 방법

未注明发布机构, 주사전자현미경과 광학현미경

JIS K 0182:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 캔틸레버 일반 스프링 상수 결정
BS CECC 13:1985(1999) 전자 부품 품질 평가를 위한 통합 시스템: 기본 사양: 반도체 칩의 주사 전자 현미경 검사