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분광계 8

모두 500항목의 분광계 8와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 분광계 8와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 광섬유 통신, 통신특수측정장비, 지질학, 기상학, 수문학, 어휘, 금속 광석, 태양광 공학, 계측 및 측정 합성, 방사선 측정, 비파괴 검사, 토양질, 토양과학, 의료 장비, 금속 재료 테스트, 화학 제품, 광전자공학, 레이저 장비, 길이 및 각도 측정, 실험실 의학, 수질, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 품질, 종합 전자 부품, 검은 금속, 원자력공학, 입자 크기 분석, 스크리닝, 기술 도면, 광학 장비, 페인트 성분, 비철금속, 유기화학, 천문학, 측지학, 지리학, 섬유제품, 발전소 종합, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 방사선방호, 물리학, 화학, 공기질, 표면 처리 및 도금, 석유제품 종합, 연료, 세라믹, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 가죽 기술, 부피, 질량, 밀도 및 점도 측정, 전등 및 관련 기기, 음료수, 우유 및 유제품, 플라스틱, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 농업 및 임업.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 분광계 8

  • GB/T 21191-2007 원자형광분광계
  • GB/T 42027-2022 기상 분자 흡수 분광계
  • GB/T 32266-2015 원자형광분광기 성능 측정 방법
  • GB/T 25481-2010 온라인 UV/가시광선 분광계
  • GB/T 21186-2007 푸리에 변환 적외선 분광계
  • GB/T 6495.8-2002 광전지 장치 8부: 광전지 장치의 스펙트럼 응답 측정
  • GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
  • GB/T 36244-2018 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광계
  • GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • GB/T 31364-2015 에너지 분산형 X선 형광 분광기의 주요 성능 시험 방법
  • GB/T 33252-2016 나노기술 레이저 공초점 라만 현미경 성능 테스트
  • GB/Z 42358-2023 철광석에 대한 파장분산형 X선 형광분광기의 정확도 결정
  • GB/T 12085.8-2010 광학 및 광학 기기의 환경 테스트 방법 - 파트 8: 고압, 저압, 침수
  • GB/T 4325.8-2013 몰리브덴의 화학적 분석 방법 8부: 코발트 함량 측정 코발트 시약 분광광도법 및 불꽃 원자 흡수 분광법
  • GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
  • GB/T 3260.8-2013 주석의 화학적 분석 방법 8부: 아연 함량 측정 불꽃 원자 흡수 분광법
  • GB/T 20127.8-2006 강철 및 합금 미량원소 측정 8부: 수소화물 생성-원자 형광 분광법을 통한 안티몬 함량 측정.
  • GB/T 14849.8-2015 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 - 8부: 원자 흡수 분광법을 통한 구리 함량 측정
  • GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광계 8

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 분광계 8

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광계 8

Professional Standard - Machinery, 분광계 8

U.S. Air Force, 분광계 8

Group Standards of the People's Republic of China, 분광계 8

European Committee for Standardization (CEN), 분광계 8

Association Francaise de Normalisation, 분광계 8

  • NF C93-845:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
  • NF C57-328*NF EN 60904-8:2014 광전자 장비 8부: 광전자 장비의 스펙트럼 응답 측정
  • NF C57-328:1999 광전자 장비 8부: 광전자 장비의 스펙트럼 응답 측정
  • NF S11-687:1997 광학 및 광학 기기, 콘택트 렌즈, 분광학 및 광선 투과율 측정
  • NF EN 60904-8:2014 태양광 장비 - 8부: 태양광(PV) 장비의 스펙트럼 응답 측정
  • NF EN 60904-8-1:2017 광전지 장치 - 부품 8-1: 다중접합 광전지(PV) 장치의 분광 감도 측정
  • NF S10-008-8:1998 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 8부: 표면 구조
  • NF M60-827:2014 수질 우라늄 동위원소 알파분광계를 이용한 시험방법
  • NF EN 62129-1:2016 파장 측정 장치/광 주파수 측정 장치의 교정 1부: 스펙트럼 분석기
  • NF EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 디지털 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF C93-805-2-1:1998 광섬유 강화기 기본 사양 파트 2-1: 광전자 매개변수에 대한 테스트 방법 광학 스펙트럼 분석기
  • NF ISO 7530-8:2007 니켈 합금 화염 원자 흡수 분광법을 이용한 분석 8부: 실리콘 측정
  • NF C93-805-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • NF C93-805-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 스펙트럼 분석기 교정 테스트 및 측정 절차 2부: 수동 광 네트워크(ATM-PON) 트랜시버
  • NF C93-805-5-1:2001 광섬유 강화기 기본 사양 파트 5-1: 반사 매개변수에 대한 테스트 방법 광학 스펙트럼 분석기
  • NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 광섬유 강화기의 기본 사양 2-2부: 광전자 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 테스트 방법
  • NF EN 15111:2007 식품 내 미량 원소 측정 고주파 유도 플라즈마 방출 분광법 및 질량 분석법(ICP-MS)을 통한 요오드 측정
  • NF EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • NF T51-182*NF ISO 10640:2011 플라스틱 FTIR 및 UV/가시광선 분광학을 사용하여 폴리머의 광노화 정도를 평가하는 방법입니다.
  • NF C93-805-1-1:1998 광섬유 부스터 기본 사양 파트 1-1: 이득 매개변수 테스트 방법 광 스펙트럼 분석기
  • NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 광 전력 매개변수 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • NF EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 스트로브 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • NF A08-908*NF ISO 7530-8:2007 니켈 합금 불꽃 원자 흡수 분광법 분석 방법 8부: 실리콘 함량 측정
  • NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 광섬유 증폭기에 대한 테스트 방법 파트 10-4: 다중 채널 매개변수 스펙트럼 분석기에 대한 보간 소스 감소 방법
  • NF EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 10-4부: 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수에 대한 보간 소스 차감 방법
  • NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반응 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법

British Standards Institution (BSI), 분광계 8

  • BS EN 62129-1:2016 파장 교정/광 주파수 측정 장비, 스펙트럼 분석기
  • BS EN 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • BS EN 61290-5-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • BS PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산형 X선 형광 분광계 정확도 결정
  • PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
  • BS 3406-8:1997 입자 크기 분포 측정 방법 8부: 광자 일관성 분광학
  • BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
  • BS EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS EN 61280-1-1:1998 광섬유 증폭기 기본 스펙트럼 분석기 단일 모드 광 케이블용 송신기의 광 출력 전력 측정
  • BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • BS EN 61290-10-2:2009 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개 변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
  • BS EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
  • BS ISO 13166:2014 수질 우라늄 동위원소 알파분광계를 이용한 시험방법
  • 18/30382086 DC BS EN 61452 핵 계측 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정 게르마늄 분광계의 교정 및 사용
  • BS EN 61290-10-2:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기 펄스 방법
  • BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • BS EN ISO 20884:2011 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광계
  • BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • 20/30412413 DC BS EN IEC 61452 핵 계측 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정 게르마늄 분광계의 교정 및 사용
  • BS ISO 19618:2017 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) FTIR 분광계 기준 흑체를 이용한 일반 분광휘도 측정 방법
  • BS EN 61290-10-1:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
  • BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • BS EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스펙트럼 분석기를 사용한 보간 소스 감소 방법
  • 19/30401670 DC BS ISO 22863-8 불꽃놀이의 특정 화학 물질 측정을 위한 테스트 방법 파트 8 수소화물 생성 원자 형광 분광법을 통한 비소 함량 측정
  • BS EN 61290-3-1:2003 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈의 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 61290-3-1:2004 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 61290-1-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 61290-1-1:2015 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 61290-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 광학 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 12631:1999 과일 및 야채 주스 D 및 L 젖산염 에스테르의 효소 측정 NADG 분광계 방법
  • BS IEC 61452:2021 원자력 기기 감마선 방사성 핵종의 방사능 또는 방사율 측정 게르마늄 기반 분광계의 교정 및 사용
  • BS EN 1786:1997 식품 조사된 뼈 함유 식품의 검사 전자스핀공명분광법
  • 18/30352698 DC BS IEC 63085 방사선 방호 장비용 투명 및 반투명 용기에 담긴 액체의 스펙트럼 식별 시스템
  • 19/30398879 DC BS EN 61290-1-1 광 증폭기 테스트 방법 1-1부 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • BS EN 61290-5-2:2004 광섬유 증폭기 기본 사양 반사 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명

International Electrotechnical Commission (IEC), 분광계 8

  • IEC PAS 62129:2004 스펙트럼 분석기 교정
  • IEC 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정 방법
  • IEC 61976:2000 핵 장비 분광법 HPGe 핵 감마선 분광법의 스펙트럼 배경 특성
  • IEC 60904-8:1998 광전지 장치 8부: 광전지 장치의 스펙트럼 응답 측정
  • IEC 60904-8:2014 광전지 장치 8부: 광전지 장치의 스펙트럼 응답성 측정
  • IEC 62129-1:2016 측정 장비의 파장/교정 파트 1: 스펙트럼 분석기
  • IEC 60904-8:1995 광전자 장치 8부: 광전자 장치의 스펙트럼 응답 측정 지침
  • IEC 60904-8-1:2017 태양광 장비 8-1부: 다중 접촉 태양광(PV) 장비의 스펙트럼 응답성 측정
  • IEC 61239:1993 원자력 장비 조사를 위한 휴대용 감마 복사계 및 분광계의 정의, 요구 사항 및 교정
  • IEC TR3 61276:1994 핵 계측 계측이 지원하는 핵 방사선 분광학 시스템 선택 가이드
  • IEC 61290-3-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 3-1: 노이즈 디지털 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-1-1:2020 RLV 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 - 테스트 방법 - 파트 1-1: 전력 및 이득 매개변수 - 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-2-1:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 2-1부: 광 전력 매개변수 측정 방법 광 스펙트럼 분석기
  • IEC 61290-1-1:2015 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-1-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 61290-10-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기 펄스 방법
  • IEC 61290-10-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
  • IEC 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
  • IEC 61428:1998 핵 장비용 오류 탐지 장치를 갖춘 감마선 분광법용 시료 용기
  • IEC 61290-1-1:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 1-1부: 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기의 측정 방법
  • IEC 61290-5-1:2000 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-1부: 반사 매개변수의 측정 방법 광 스펙트럼 분석기
  • IEC 61290-1-2:2005 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 광 전력 매개변수 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • IEC 62321-8:2017 전기기술 제품의 특정 물질 측정 8부: 가스 크로마토그래피 질량 분석기(GC-MS), 열 분해/열 탈착 액세서리가 장착된 가스 크로마토그래피 질량 분석기(Py/TD-GC-MS) 사용 폴리머 내 프탈레이트 측정
  • IEC 61290-2-2:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 2-2부: 광 전력 매개변수 전기 스펙트럼 분석기의 측정 방법
  • IEC 61290-5-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-2: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법

Danish Standards Foundation, 분광계 8

  • DS/EN 62129/Corr. 1:2007 스펙트럼 분석기 교정
  • DS/EN 62129:2006 스펙트럼 분석기 교정
  • DS/EN 60904-8:1999 광전지 장비 8부: 광전지(PV) 장비의 스펙트럼 응답 측정
  • DS/EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN 15483:2009 FTIR 분광계를 사용한 지구 근처 대기 측정
  • DS/EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN 61290-1-1:2007 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • DS/EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
  • DS/EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • DS/EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 10-4부: 스펙트럼 분석기의 보간된 소스 차감을 사용한 다중 채널 매개변수

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 분광계 8

  • JIS C 6192:2008 스펙트럼 분석기 교정
  • JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
  • JIS C 8904-8:2019 광전지 장치 8부: 광전지(PV) 장치의 스펙트럼 응답성 측정
  • JIS C 6183-1:2019 스펙트럼 분석기 1부: 테스트 방법
  • JIS C 6183:1992 광섬유 스펙트럼 분석기의 테스트 방법
  • JIS H 1632-3:2014 티타늄 ICP 플라즈마 방출 분광계 3부: 붕소 측정
  • JIS K 0162:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • JIS C 6122-1-1:2011 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 1-1: 이득 매개변수 및 전력 광 스펙트럼 분석기 방법
  • JIS C 6122-3-1:2011 광 증폭기 테스트 방법 파트 3-1: 잡음 지수 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • JIS C 6122-10-1:2007 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용하는 펄스 방법
  • JIS H 1632-1:2014 티타늄 ICP 플라즈마 방출 분광계 1부: 일반 요구 사항 및 시료 분해
  • JIS C 6122-5-1:2001 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 테스트 방법
  • JIS K 0161:2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명

中国气象局, 분광계 8

IN-BIS, 분광계 8

  • IS 6471-1971 분광계 사양(학생형)
  • IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법
  • IS 12737-1988 반도체 X선 에너지 분광계의 표준 테스트 절차

RU-GOST R, 분광계 8

  • GOST 27176-1986 광학 분광 장비 용어 및 정의
  • GOST 22091.8-1984 X선 장비 스펙트럼 성분 및 스펙트럼 상대 오염 수준을 측정하는 방법
  • GOST 14828-1969 물리적 및 화학적 양을 측정하기 위한 장비 방사선 분광계 용어
  • GOST 4.450-1986 제품 품질 표시 시스템 스펙트럼 분석용 기기 카탈로그 용어
  • GOST 8.197-2013 측정의 일관성을 보장하는 국가 시스템 스펙트럼 범위 0.001 um ~ 1.600 um의 분광 복사, 분광 복사 전력, 분광 복사, 분광 복사 강도, 전력 및 복사 강도 측정 장비에 대한 조건 검증 프로그램
  • GOST R IEC 60904-8-2013 측정의 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 광전지 장치 8부. 광전지 장치의 스펙트럼 응답 측정
  • GOST 17173-1981 분광계 간격 및 액세서리 기본 매개변수 및 치수 기술 요구 사항
  • GOST 26874-1986 전리방사선 에너지 분광계 기본변수 결정방법
  • GOST R ISO 7530-8-2017 니켈 합금 불꽃 원자 흡수 분광법 8부 실리콘 함량 측정
  • GOST R EN ISO 14596-2008 석유 제품 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 황 함량 측정 방법

RO-ASRO, 분광계 8

  • STAS 12814-1990 알루미늄 및 알루미늄 합금. 광학 방출 분광계
  • STAS 11564-1982 분광광도계를 이용한 신속한 공구강 배출 분석
  • STAS 11607-1981 저합금 탄소강 및 중합금 탄소강의 분광 광도계 분석

Professional Standard - Ocean, 분광계 8

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 분광계 8

  • JJF 1544-2015 라만 분광계 교정 사양
  • JJF 1329-2011 과도 분광계 교정 사양
  • JJF 1601-2016 확산 반사율 측정 분광계의 교정 사양
  • JJF 2024-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광계의 교정 사양
  • JJF 1603-2016 (0.1~2.5)THz 테라헤르츠 분광계 교정 사양
  • JJF 1818-2020 라만 분광계 교정 장치의 교정 사양
  • JJF 1319-2011 푸리에 변환 적외선 분광계 교정 사양
  • JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양
  • JJF 1929-2021 회전 디스크 전극 방출 분광계의 교정 사양
  • JJF 1953-2021 황 화학발광 검출기를 갖춘 가스 크로마토그래프의 교정 사양
  • JJF(石化)057-2021 가스 내 미량 황 크로마토그래피 분석기(화염 광도 검출기)에 대한 교정 사양

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 분광계 8

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 분광계 8

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 분광계 8

American Society for Testing and Materials (ASTM), 분광계 8

  • ASTM E388-04(2023) 형광 분광계의 파장 정확도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1507-98 광학 방출 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 가이드
  • ASTM E388-04(2015) 형광 분광계의 파장 정확도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 표준 테스트 방법
  • ASTM E3029-15(2023) 형광 분광계 방출 신호의 상대 스펙트럼 보정 계수 결정을 위한 표준 실습
  • ASTM E356-78(1996) 분광계 설명 및 지정 연습
  • ASTM E1217-11 X선 광전자 분광계 및 오거 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 작업 절차
  • ASTM E3029-15 형광 분광계 방출 신호에 대한 상대 스펙트럼 보정 계수 결정을 위한 표준 실습
  • ASTM E1217-00 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1217-05 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1866-97 분광계 성능 테스트를 위한 표준 지침 수립
  • ASTM E1683-02(2014)e1 스캐닝 라만 분광계 성능에 대한 표준 사례
  • ASTM E1866-97(2002) 분광계 성능 테스트를 위한 표준 지침 수립
  • ASTM E1866-97(2007) 분광계 성능 테스트를 위한 표준 지침 수립
  • ASTM E996-04 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E996-10 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E958-13 UV-가시광선 분광 광도계의 스펙트럼 대역폭을 평가하기 위한 표준 사례
  • ASTM E2529-06(2022) 라만 분광계의 분해능 테스트를 위한 표준 가이드
  • ASTM E2529-06e1 라만 분광계의 분해능 테스트를 위한 표준 가이드
  • ASTM E1770-95 전열 원자 흡수 분광계 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM E1770-95(2006) 전열 원자 흡수 분광계 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM E2911-23 라만 분광기의 상대 강도 교정을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2911-13 라만 분광기의 상대 강도 교정을 위한 표준 가이드
  • ASTM D5381-93(2014) 안료 및 필러의 X선 형광(XR) 분광법에 대한 표준 가이드
  • ASTM E2529-06(2014) 라만 분광계의 분해능 테스트를 위한 표준 가이드
  • ASTM E1840-96(2022) 분광계 교정을 위한 라만 시프트 표준에 대한 표준 가이드
  • ASTM E2529-06 라만 분광계의 분해능 테스트를 위한 표준 가이드
  • ASTM E902-05 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
  • ASTM D8340-20a 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 인증을 위한 표준 관행
  • ASTM D8340-20 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 인증을 위한 표준 관행
  • ASTM E1683-02(2022) 라만 분광기 스캐닝 성능 테스트에 대한 표준 관행
  • ASTM D8340-22 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 인증을 위한 표준 관행
  • ASTM E1016-07(2020) 정전기 전자 분광계의 특성을 설명하기 위한 문헌 표준 가이드
  • ASTM E932-89(2002) 분산형 적외선 분광계의 성능을 설명하고 측정하기 위한 표준 사례
  • ASTM E932-89(1997) 분산형 적외선 분광계의 성능을 설명하고 측정하기 위한 표준 사례
  • ASTM E1840-96(2002) 분광계 교정을 위한 라만 시프트 표준에 대한 표준 가이드
  • ASTM E932-89(2021) 분산형 적외선 분광계의 성능을 설명하고 측정하기 위한 표준 사례
  • ASTM E932-89(2013) 분산형 적외선 분광계의 성능을 설명하고 측정하기 위한 표준 사례
  • ASTM E1770-14 전열 원자 흡수 분광법의 기기 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM D8340-21 광 스펙트럼 분석기 시스템의 성능 기반 인증을 위한 표준 사례
  • ASTM E1812-96 화염 원자 흡수 분광 장비의 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM D7751-12 방사선 형광 분광 분석을 통한 윤활유 첨가제 표준 시험 방법
  • ASTM G138-96 표준 방사선원을 사용하여 분광복사계를 교정하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1217-11(2019) Auger 전자 분광계 및 일부 X선 광전자 분광계에서 감지된 신호의 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1009-95(2000) 탄소강 및 저합금강 분석을 위한 광학 방출 진공 분광계 평가를 위한 표준 사례
  • ASTM D6122-21 다변수 온라인, 온라인, 현장 및 실험실 적외선 분광 광도계와 라만 분광계 기반 분석기 시스템의 성능 검증을 위한 표준 사례
  • ASTM D6122-20a 다변수 온라인, 온라인, 현장 및 실험실 적외선 분광 광도계와 라만 분광계 기반 분석기 시스템의 성능 검증을 위한 표준 사례
  • ASTM D6122-20 다변수 온라인, 온라인, 현장 및 실험실 적외선 분광 광도계와 라만 분광계 기반 분석기 시스템의 성능 검증을 위한 표준 사례
  • ASTM D6122-22 다변수 온라인, 온라인, 현장 및 실험실 적외선 분광 광도계와 라만 분광계 기반 분석기 시스템의 성능 검증을 위한 표준 사례
  • ASTM E827-07 Auger 전자 분광계의 피크를 사용하여 원소를 식별하는 표준 관행
  • ASTM E932-89(2007) 산란 적외선 분광계의 성능 설명 및 측정에 대한 표준 사례
  • ASTM E902-94(1999) X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
  • ASTM E1172-22 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1770-19 흑연로 원자 흡수 분광법 장비 최적화를 위한 표준 사례
  • ASTM E1172-16 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1832-08 DC 플라즈마 원자 방출 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E1832-08(2017) DC 플라즈마 원자 방출 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
  • ASTM E2108-16 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도에 대한 표준 사례
  • ASTM E327-94 Point-to-Plan 기법을 이용한 18-8형 스테인리스강의 광학 방출 분광학 분석을 위한 테스트 방법(1999년 철회)
  • ASTM E2056-04(2010) 대리 혼합물을 사용하여 보정된 다변량 분석에서 적격 분광계 및 분광 광도계에 대한 표준 관행
  • ASTM E2056-04(2016) 대리 혼합물을 사용하여 보정된 다변량 분석에서 적격 분광계 및 분광 광도계에 대한 표준 관행
  • ASTM E2120-10 페인트 필름의 납 함량 측정을 위한 휴대용 X선 형광 분광계의 성능 평가를 위한 표준 작업 절차
  • ASTM D7417-17 특수 4부분 통합 시험기(원자 방출 분광법, 적외선 분광법, 점도 및 레이저 입자 계수기)를 사용하여 사용 중인 윤활유를 분석하는 표준 시험 방법
  • ASTM E1479-16 유도 결합 플라즈마 원자 방출 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행

Lithuanian Standards Office , 분광계 8

  • LST EN 60904-8-2001 광전지 장비 8부: 광전지(PV) 장비의 스펙트럼 응답 측정(IEC 60904-8:1998)
  • LST EN 62129-2006 광학 스펙트럼 분석기 교정(IEC 62129:2006)
  • LST EN 62129-2006/AC-2007 광학 스펙트럼 분석기 교정(IEC 62129:2006)
  • LST EN 15483-2009 FTIR 분광계를 사용한 지구 근처 대기 측정
  • LST EN 61290-5-1-2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-5-1:2006)
  • LST IEC 61239:2008 핵 장비 탐사용 휴대용 감마 복사계 및 분광계의 정의, 요구 사항 및 교정(IEC 61239:1993, 동일)
  • LST EN 61290-3-1-2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-3-1:2003)
  • LST EN 61290-1-1-2007 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-1-1:2006)
  • LST EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-1-1:2020)

ZA-SANS, 분광계 8

GM Daewoo, 분광계 8

Professional Standard - Meteorology, 분광계 8

  • QX/T 159-2012 지상 기반 푸리에 변환 초분광계에 의한 대기 스펙트럼 관측 사양
  • QX/T 172-2012 Brewer 분광기를 이용한 오존 컬럼의 총량을 관찰하는 방법
  • QX/T 206-2013 위성 저분광 분해능 적외선 장비의 성능 지표 계산 방법

German Institute for Standardization, 분광계 8

  • DIN EN 60904-8:2015 광전지 장치 8부: 광전지 장치의 스펙트럼 응답 측정(IEC 60904-8-2014), 독일어 버전 EN 60904-8-2014
  • DIN EN 62129:2007 광학 스펙트럼 분석기 교정(IEC 62129-2006)
  • DIN EN 60904-8:1998 광전지 장치 8부: 광전지 장치의 스펙트럼 응답 측정
  • DIN EN 60904-8-1:2018 광발전 장비 8-1부: 다중 접촉 광발전(PV) 장비의 스펙트럼 응답성 측정(IEC 60904-8-1-2017), 독일 버전 EN 60904-8-1-2017
  • DIN 51820:2013-12 적외선 분광계를 사용한 그리스의 적외선 분광학의 윤활제 테스트 기록 및 해석
  • DIN ISO 10110-8:2012 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 그래픽 준비 8부: 표면 질감 거칠기 및 물결 모양(ISO 10110-8-2010)
  • DIN ISO 9022-8:2000 광학 및 광학 기기 환경 테스트 방법 파트 8: 고압, 저압 및 침수
  • DIN EN 62129 Berichtigung 1:2008 광학 스펙트럼 분석기 교정 기술 정오표 DIN EN 62129-2007-01
  • DIN ISO 10109-8:2007 광학 및 광학 기기 환경 요구 사항 파트 8: 중요한 사용 조건에 대한 테스트 요구 사항
  • DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
  • DIN EN 61290-5-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기
  • DIN EN 62129-1:2016 파장/광 주파수 측정 장비 교정 파트 1: 스펙트럼 분석기(IEC 62129-1-2016), 독일어 버전 EN 62129-1-2016
  • DIN IEC 62484:2014 방사선 방호 장비 분광학 방사성 물질의 불법 운송을 위한 스펙트럼 기반 입구 모니터(IEC 62484-2010)
  • DIN EN 61290-5-1:2007-03 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN 51008-2:2001-12 직접 판독 분광계(OES) 2부: 화염 및 플라즈마 시스템 용어
  • DIN EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN EN 61290-3-1:2004-05 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN EN ISO 8655-8:2020 피스톤 체적계 8부: 체적 결정을 위한 광도 기준 측정 절차(ISO/DIS 8655-8:2020)
  • DIN EN 61290-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • DIN EN 15483:2009-02 FTIR 분광계를 사용한 지표면 근처 대기질 측정
  • DIN ISO 15632:2022-09 에너지 분산형 X선 분광계 사양 및 검사를 위해 선택된 기기 성능 매개변수의 마이크로빔 분석
  • DIN EN 61290-10-1:2010-01 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • DIN EN 12938:2000 주석 기반 합금의 분석 방법 원자 분광계 방법에 의한 합금 불순물 함량 측정
  • DIN 10478:2003 적외선 분광법을 이용한 가공되지 않은 우유의 영양 함량 측정 장비 기능 테스트
  • DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
  • DIN EN 61290-10-4:2008 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-4: 다중 채널 매개변수 광 스펙트럼 분석기를 위한 보간 소스 감소 방법
  • DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
  • DIN EN 12441-8:2005-03 아연 및 아연 합금의 화학적 분석 8부: 재활용 아연 내 주석 측정 화염 원자 흡수 분광법 독일어 버전 EN 12441-8:2004
  • DIN EN 61290-10-4:2008-02 광 증폭기 테스트 방법 10-4부: 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수에 대한 보간 소스 차감 방법
  • DIN EN IEC 61290-1-1:2019 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법(IEC 86C/1563/CD:2018)
  • DIN EN 61290-10-2:2008-07 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • DIN EN IEC 61290-1-1:2022-07 광 증폭기 - 테스트 방법 - 파트 1-1: 전력 및 이득 매개변수 - 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-1-1:2020)
  • DIN EN 61290-10-2:2008 광섬유 증폭기 테스트 방법 10-2부 게이트 광 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개 변수 펄스 방법

Professional Standard - Military and Civilian Products, 분광계 8

  • WJ 2300-1995 평면 격자 분광기의 교정 절차
  • WJ 2299-1995 유도 결합 플라즈마 순차 주사 분광계의 교정 절차

Professional Standard - Agriculture, 분광계 8

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 분광계 8

  • EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
  • EN 60904-8:2014 광전지 장비 8부: 광전지(PV) 장비의 스펙트럼 응답성 측정
  • EN 60904-8-1:2017 광전지 장치 8-1부: 다중접합 광전지(PV) 장치의 스펙트럼 응답성 측정
  • EN 62129:2006 광학 스펙트럼 분석기 교정, 2006년 12월 정오표 포함
  • DIN EN 62321-8:2017 전기기술 제품의 특정 물질 측정 8부: 가스 크로마토그래피 질량 분석기(GC-MS), 열 분해/열 탈착 액세서리가 장착된 가스 크로마토그래피 질량 분석기(Py/TD-GC-MS) 사용 폴리머 내 프탈레이트 측정 (IEC 62321-8-2017), 독일어 버전 EN 62321-8-2017
  • EN 61290-1-1:2015 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법 IEC 61290-5-1

ES-UNE, 분광계 8

  • UNE-EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
  • UNE-EN 60904-8-1:2018 태양광 장치 8-1부: 다중접합 태양광(PV) 장치의 스펙트럼 응답성 측정
  • UNE-EN 61290-3-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • UNE-EN 61290-1-1:2015 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
  • UNE-EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-5-1:2006)
  • UNE-EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • UNE-EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법

工业和信息化部/国家能源局, 분광계 8

Indonesia Standards, 분광계 8

  • SNI 06-6992.8-2004 퇴적물 파트 8: 원자 흡수 분광법(AAS)을 이용한 산으로 손상된 아연(Zn) 테스트 방법
  • SNI 04-6205.8-2000 광전지 도구 8부: 광전지 장치의 스펙트럼 응답 측정 지침
  • SNI 06-6596-2001 수처리 금속 분석, 원자 흡수 분광계
  • SNI 12-7181-2006 가죽의 총 크롬 함량 시험 방법 원자흡광분석기(AAS법)
  • SNI 06-6989.54-2005 물 및 폐수 파트 54: 원자 흡수 분광계(AAS 방법)를 통한 비소 함량 측정
  • SNI 06-6989.39-2005 물 및 폐수 파트 39: 원자 흡수 분광계(AAS 방법)를 사용한 바륨(BA) 함량 측정.

IEC - International Electrotechnical Commission, 분광계 8

International Organization for Standardization (ISO), 분광계 8

  • ISO 8599:1994 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈의 스펙트럼 및 빛 투과율 측정
  • ISO 6286:1982 분자 흡수 분광법 어휘 일반 기기
  • ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산 X선 형광 분광계 정확도 결정
  • ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
  • ISO 10110-8:1997 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 8부: 표면 구조
  • ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
  • ISO 9022-8:1994 광학 및 광학 기기의 환경 테스트 방법 - 파트 8: 고압, 저압 및 침수
  • ISO 10109-8:1994 광학 및 광학 기기에 대한 환경 요구 사항 파트 8: 사용 조건 제한에 대한 테스트 요구 사항
  • ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
  • ISO 13166:2014 수질 우라늄 동위원소 알파분광계를 이용한 시험방법
  • ISO 21501-1:2009 입자 크기 분포 결정 단일 입자 광학 간섭 방법 1부: 광산란 에어로졸 분광계
  • ISO/TS 10867:2010 나노기술 단일벽탄소나노튜브를 이용한 근적외선 여기 분광법의 특성
  • ISO 7530-8:1992 니켈 합금 불꽃 원자 흡수 분광법 8부: 실리콘 함량 측정
  • ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
  • ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
  • ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 19618:2017 파인 세라믹스(어드밴스드 세라믹스, 어드밴스드 산업용 세라믹스) FTIR 분광계 기준 흑체를 이용한 일반 분광휘도 측정 방법
  • ISO 22309:2006 미세전자빔 분석 에너지 분산 분광계(EDS)를 이용한 정량 분석
  • ISO 10110-8:2010 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 8부: 표면 구조, 거칠기 및 물결 모양
  • ISO 14490-8:2011 광학 및 광학 기기 망원경 시스템의 테스트 방법 파트 8: 야간 투시 장비의 테스트 방법
  • ISO 8655-8:2022 피스톤 체적 계측기 8부: 체적 측정을 위한 광도 기준 측정 절차
  • ISO 17123-8:2007 광학 및 광학 기기 측지 및 지질 측량 기기에 대한 현장 테스트 절차 8부: 실시간 운동학적 차동(RTK) GNSS 현장 측정 시스템
  • ISO 17123-8:2015 광학 및 광학 기기 측지 및 지질 측량 기기에 대한 현장 테스트 절차 8부: 실시간 운동학적 차동(RTK) GNSS 현장 측정 시스템
  • ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
  • ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명

Standard Association of Australia (SAA), 분광계 8

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  • AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명

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  • EN 61290-5-1:2000 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
  • EN 61290-1-1:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 1-1부: 이득 매개변수 스펙트럼 분석기의 테스트 방법
  • EN 61290-10-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • EN 61290-2-2:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 2-2부: 광 전력 매개변수 및 전기 스펙트럼 분석기의 테스트 방법
  • EN 61290-10-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
  • EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법

未注明发布机构, 분광계 8

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AENOR, 분광계 8

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KR-KS, 분광계 8

SE-SIS, 분광계 8

Professional Standard - Electron, 분광계 8

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Shanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광계 8

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Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광계 8

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工业和信息化部, 분광계 8

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American National Standards Institute (ANSI), 분광계 8

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  • ANSI/TIA/EIA 455-221-2001 광섬유 증폭기 기본 사양 파트 5-1: 반사 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기
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Professional Standard - Textile, 분광계 8

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International Commission on Illumination (CIE), 분광계 8

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BE-NBN, 분광계 8

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Professional Standard - Energy, 분광계 8

  • NB/SH/T 0940-2016 특정 4-in-1 테스터(원자 방출 분광법, 적외선 분광법, 점도 및 레이저 입자 계수기)를 사용하여 사용 중인 윤활유를 분석하는 테스트 방법

国家能源局, 분광계 8

  • SH/T 0940-2016 특정 4-in-1 테스터(원자 방출 분광법, 적외선 분광법, 점도 및 레이저 입자 계수기)를 사용하여 사용 중인 윤활유를 분석하는 테스트 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 분광계 8

  • GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 분광계 8

  • DB44/T 1496.1-2014 LED 테스트 기기 교정 방법 1부: 통합 구형 스펙트럼 테스트 시스템

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 분광계 8

  • IEEE 1131-1987 게르마늄 반도체 감마선 분광계용 표준 저온 유지 장치 엔드 캡 치수
  • IEEE N42.14-1991 게르마늄 분광기를 이용한 방사성 핵종의 감마선 방사율 교정 및 측정

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 분광계 8

  • TIA/EIA-455-209-2000 FOTP-209 IEC 61290-2-1 광섬유 증폭기의 기본 사양 파트 2-1: 광 전력 매개변수 스펙트럼 분석기의 테스트 방법

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  • DB37/T 2888-2016 MODIS(중해상도 이미징 분광복사계) 원격 감지 이미지를 사용한 밀 성장 모니터링에 대한 기술 규정

PL-PKN, 분광계 8

  • PN-EN IEC 61290-1-1-2021-06 E 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-1-1:2020)




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