소형 분광계 빔 스플리터

모두 253항목의 소형 분광계 빔 스플리터와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 소형 분광계 빔 스플리터와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 통신특수측정장비, 광섬유 통신, 화학 제품, 어휘, 분석 화학, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 광학 및 광학 측정, 종합 전자 부품, 품질, 광학 장비, 농업 및 임업, 의료 장비, 전등 및 관련 기기, 연료, 우유 및 유제품, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 내화물, 전자기 호환성(EMC), 방사선 측정, 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 석유제품 종합.

British Standards Institution (BSI), 소형 분광계 빔 스플리터

BS EN 62129-1:2016 파장 교정/광 주파수 측정 장비, 스펙트럼 분석기
BS EN 61290-5-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
BS EN 61280-1-1:1998 광섬유 증폭기 기본 스펙트럼 분석기 단일 모드 광 케이블용 송신기의 광 출력 전력 측정
BS EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
BS EN 61290-10-2:2009 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개 변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
BS EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
BS EN 61290-10-1:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
BS EN 61290-10-2:2003 광섬유 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기 펄스 방법
BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 다중 채널 매개변수 광 스펙트럼 분석기를 사용한 보간 소스 감소 방법
BS EN 61290-1-1:2006 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
BS EN 61290-1-1:2015 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
BS EN 61290-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수에 대한 광학 스펙트럼 분석기 방법
BS EN 61290-3-1:2003 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈의 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
BS EN 61290-3-1:2004 광섬유 증폭기 기본 사양 노이즈 디지털 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기 방법
19/30398879 DC BS EN 61290-1-1 광 증폭기 테스트 방법 1-1부 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
BS EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 경로 매개변수 광 스위치 및 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
18/30387381 DC BS EN 61290-1-1 Ed.4.0 광 증폭기 테스트 방법 1-1부 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
BS EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기 기본 사양 반사 매개변수 테스트 방법 전자 스펙트럼 분석기에 의한 반사 허용 오차 결정
BS EN 61290-5-2:2004 광섬유 증폭기 기본 사양 반사 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기 방법
BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS 1902-9.2:1987 내화 재료의 시험 방법 파트 9.2: 기기 화학 분석 방법 섹션 2: X선 형광 분광법을 이용한 규산 내화 재료 분석
BS EN 61290-3-2:2003 광섬유 증폭기 기본 사양 잡음 지수 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기 방법
PD IEC TR 61292-2:2003 광 증폭기 기술 보고서 전기 스펙트럼 분석기를 사용하여 잡음 지수를 평가하기 위한 이론적 배경
BS EN 61290-1-2:2005 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-2부: 전력 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
BS EN 61290-1-2:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-2부: 전력 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 소형 분광계 빔 스플리터

EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
EN 61290-1-1:2015 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법 IEC 61290-5-1
EN 61290-3-1:2003 광섬유 증폭기의 테스트 방법 파트 3-1: 잡음 지수 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법 IEC 61290-3-1:2003
EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-4: 다중 채널 매개변수 광 스펙트럼 분석기를 사용한 보간 방사체 감소 방법
EN 61290-3-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 3-2부: 잡음 지수 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
EN 61290-5-2:2004 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 5-2: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법 IEC 61290-5-2-2003
EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기의 기본 사양 파트 5-3: 반사 매개변수 테스트 방법 광전자 스펙트럼 분석기를 사용한 반사 허용 오차 테스트 방법 IEC 61290-5-3-2002
EN 61290-1-2:2005 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 전력 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법 [대체: CENELEC EN 61290-2-1]

Association Francaise de Normalisation, 소형 분광계 빔 스플리터

NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
NF EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
NF C93-805-2-1:1998 광섬유 강화기 기본 사양 파트 2-1: 광전자 매개변수에 대한 테스트 방법 광학 스펙트럼 분석기
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 디지털 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
NF EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
NF C93-805-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
NF EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
NF C93-805-1-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
NF C93-845-2*NF EN 62150-2:2011 스펙트럼 분석기 교정 테스트 및 측정 절차 2부: 수동 광 네트워크(ATM-PON) 트랜시버
NF EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
NF C93-805-5-1:2001 광섬유 강화기 기본 사양 파트 5-1: 반사 매개변수에 대한 테스트 방법 광학 스펙트럼 분석기
NF C93-805-2-2*NF EN 61290-2-2:1998 광섬유 강화기의 기본 사양 2-2부: 광전자 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 테스트 방법
NF C93-805-1-1:1998 광섬유 부스터 기본 사양 파트 1-1: 이득 매개변수 테스트 방법 광 스펙트럼 분석기
NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 광 전력 매개변수 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
NF EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 스트로브 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
NF C93-805-10-4*NF EN 61290-10-4:2007 광섬유 증폭기에 대한 테스트 방법 파트 10-4: 다중 채널 매개변수 스펙트럼 분석기에 대한 보간 소스 감소 방법
NF EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 10-4부: 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수에 대한 보간 소스 차감 방법
NF C93-805-10-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
NF C93-805-10-2*NF EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 광 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
NF C93-805-5-2*NF EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반응 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
NF EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사율 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
NF EN 61290-3-2:2009 광 증폭기 테스트 방법 3-2부: 잡음 지수 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
NF C93-805-5-3*NF EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기 기본 사양 파트 5-3: 반사 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 반사 허용 오차 감지
NF EN 61290-1-2:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 전력 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
NF C93-805-1-2:1998 광섬유 부스터 기본 사양 파트 1-2: 이득 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기
NF EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-3부: 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 반사율 매개변수 반사 허용오차 테스트 방법

ES-UNE, 소형 분광계 빔 스플리터

UNE-EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
UNE-EN 61290-3-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
UNE-EN 61290-1-1:2015 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
UNE-EN 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
UNE-EN 61290-5-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법(IEC 61290-5-1:2006)
UNE-EN 61290-10-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 게이트 스펙트럼 분석기를 사용한 다중 채널 매개변수 펄스 방법
UNE-EN 61290-5-2:2004 광 증폭기 테스트 방법 5-2부: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
UNE-EN 61290-3-2:2008 광 증폭기 테스트 방법 3-2부: 잡음 지수 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
UNE-EN 61290-1-2:2005 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 전력 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
UNE-EN 61290-10-4:2007 광 증폭기 테스트 방법 10-4부: 스펙트럼 분석기를 사용하여 다중 채널 매개변수에 대한 보간된 소스 차감 방법(IEC 61290-10-4:2007)
UNE-EN 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-3부: 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 반사율 매개변수 반사 허용오차 테스트 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 소형 분광계 빔 스플리터

KS M ISO 6286:2010 분자 흡수 분광법 용어집 일반 원리 기기
KS M ISO 6286-2010(2020) 분자 흡수 분광법 어휘 일반 기기
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) 광 증폭기 테스트 방법 10-1부: 다중 채널 파라메트릭 광 스위치 및 스펙트럼 분석기 펄스 방법
KS C IEC 61290-3-1:2005 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 3-1: 노이즈 디지털 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
KS D ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS C IEC 61290-5-1:2007 광섬유 증폭기 기본 사양 파트 5-1: 반사 매개변수 테스트 방법 스펙트럼 분석기
KS C IEC 61290-10-2-2005(2020) 광 증폭기 테스트 방법 10-2부: 다중 채널 매개변수 게이트 스펙트럼 분석기 펄스 방법
KS P ISO 9913-1-2014(2019) 광학 및 광학 기기 콘택트 렌즈 파트 1: 산소 투과도 및 투과율의 폴라로그래픽 측정
KS C IEC 61754-10:2008 광섬유 커넥터 인터페이스 파트 10: 소형 MPO 커넥터 시리즈
KS C IEC 61754-10-2008(2018) 광섬유 커넥터 인터페이스 파트 10: 소형 MPO 커넥터 시리즈
KS C IEC 61290-10-1:2005 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) 광 증폭기 테스트 방법 - 파트 3-2: 잡음 지수 매개변수 - 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 방법
KS C IEC 61290-10-2:2005 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
KS B ISO 8038-2-2006(2016) 광학 및 광학 기기 현미경 대물 렌즈 및 관련 헤드용 스레드 부품 2: M25×0.75mm 스레드 유형
KS B ISO 8038-2-2006(2021) 광학 및 광학 기기 현미경 대물 렌즈 및 관련 헤드용 스레드 부품 2: M25×0.75mm 스레드 유형
KS D ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS B ISO 8038-1:2006 광학 및 광학 기기 현미경 대물 렌즈 및 대물 렌즈 홀더 스레드 1부: 스레드 유형 RMS(4/5in × 1/36in)
KS B ISO 8038-1-2006(2021) 광학 및 광학 기기 현미경 대물 렌즈 및 관련 헤드용 스레드 1부: 스레드 RMS(4/5in × 1/36in)
KS B ISO 8038-1-2006(2016) 광학 및 광학 기기 현미경 대물 렌즈 및 관련 헤드용 스레드 부품 1: RMS 유형 스레드(4/5in × 1/36in)
KS B ISO 8038-2:2006 광학 및 광학 기기 현미경 대물 렌즈 및 관련 접안렌즈 어댑터용 나사산 2부: M형 나사산 25 × 0.75mm
KS C IEC 61290-5-3-2003(2018) 광섬유 증폭기의 기본 테스트 방법 - 5-3부: 반사 매개변수 테스트 방법 - 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 허용 반사 값 테스트 방법
KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS C IEC 61290-5-3:2003 광섬유 증폭기 기본 사양 파트 5-3: 반사 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 반사 허용 오차 테스트 방법

International Organization for Standardization (ISO), 소형 분광계 빔 스플리터

ISO 6286:1982 분자 흡수 분광법 어휘 일반 기기
ISO 16331-1:2012 광학 및 광학 기기 실험 조사 및 건설 계측을 위한 실험실 절차 1부: 휴대용 레이저 거리 측정기 성능
ISO 16331-1:2017 광학 및 광학 기기 실험 조사 및 건설 계측을 위한 실험실 절차 1부: 휴대용 레이저 거리 측정기 성능
ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 8038-2:2001 광학 및 광학 기기 현미경 대물 렌즈 및 현미경 홀더 스레드 파트 2: 스레드 유형 M25×0.75mm
ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 8038-1:1997 광학 및 광학 기기 현미경 대물 렌즈 및 대물 렌즈 홀더 스레드 1부: 스레드 유형 RMS(4/5인치 × 1/36인치)
ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 소형 분광계 빔 스플리터

T/CSTM 00964-2022 원자 분광기 성능 평가를 위한 일반 원칙

International Electrotechnical Commission (IEC), 소형 분광계 빔 스플리터

IEC 62129-1:2016 측정 장비의 파장/교정 파트 1: 스펙트럼 분석기
IEC 61290-3-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 3-1: 노이즈 디지털 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
IEC 61290-1-1:2020 RLV 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
IEC 61290-2-1:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 2-1부: 광 전력 매개변수 측정 방법 광 스펙트럼 분석기
IEC 61290-1-1:2020 광 증폭기 - 테스트 방법 - 파트 1-1: 전력 및 이득 매개변수 - 스펙트럼 분석기 방법
IEC 61290-1-1:2015 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
IEC 61290-1-1:2006 광 증폭기 테스트 방법 1-1부: 전력 및 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기 방법
IEC 61290-10-1:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
IEC 61290-10-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기 펄스 방법
IEC 61290-10-1:2009 광 증폭기 테스트 방법 파트 10-1: 다중 채널 매개변수 광 스위치 및 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
IEC 61290-1-1:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 1-1부: 이득 매개변수 광 스펙트럼 분석기의 측정 방법
IEC 61290-5-1:2000 광섬유 증폭기의 기본 사양 5-1부: 반사 매개변수의 측정 방법 광 스펙트럼 분석기
IEC 61290-1-2:2005 광 증폭기 테스트 방법 1-2부: 광 전력 매개변수 및 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
IEC 61290-2-2:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 2-2부: 광 전력 매개변수 전기 스펙트럼 분석기의 측정 방법
IEC 61290-10-2:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-2: 다중 채널 매개변수 게이트형 광 스펙트럼 분석기를 사용한 펄스 방법
IEC 61290-5-2:2003 광 증폭기 테스트 방법 파트 5-2: 반사 매개변수 전기 스펙트럼 분석기 방법
IEC 61290-10-4:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 10-4: 다중 채널 매개변수 광 스펙트럼 분석기를 사용한 보간 방사기 감소 방법
IEC 61290-3-2:2003 광 증폭기 3-2부: 잡음의 디지털 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기 방법
IEC 61290-1-2:1998 광섬유 증폭기의 기본 사양 1-2부: 이득 매개변수 전기 스펙트럼 분석기의 측정 방법
IEC TR 61292-2:2003 광 증폭기 기술 보고서 2부: 전기 스펙트럼 분석기로 잡음 지수를 평가하기 위한 이론적 배경
IEC 61290-5-3:2002 광섬유 증폭기 기본 사양 파트 5-3: 반사 매개변수 테스트 방법 전기 스펙트럼 분석기를 사용한 반사 허용 오차 테스트 방법

Professional Standard - Electron, 소형 분광계 빔 스플리터

SJ/Z 3206.3-1989 방출 스펙트럼 분석용 기기 및 성능 요구 사항

CZ-CSN, 소형 분광계 빔 스플리터

CSN 35 6535-1983 전자 측정 장비. 연속 공정 스펙트럼 분석기. 매개변수 이름 지정

German Institute for Standardization, 소형 분광계 빔 스플리터

DIN EN 61290-5-1:2007 광섬유 증폭기 테스트 방법 파트 5-1: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기
DIN EN 61290-5-1:2007-03 광 증폭기 테스트 방법 5-1부: 반사 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
DIN EN 61290-3-1:2004 광 증폭기 테스트 방법 3-1부: 잡음 지수 매개변수 스펙트럼 분석기 방법
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