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주파장 하위파장

모두 419항목의 주파장 하위파장와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 주파장 하위파장와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 회로망, 지질학, 기상학, 수문학, 광섬유 통신, 광학 및 광학 측정, 통신 종합, 의료 장비, 무선 통신, 광학 장비, 농업용 건물, 구조물 및 설비, 통신 시스템, 지상 서비스 및 수리 장비, 천문학, 측지학, 지리학, 광전자공학, 레이저 장비, 분석 화학, 조선 및 해양 구조물 통합, 기르다, 통신특수측정장비, 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 플라스틱, 길이 및 각도 측정, 정보 기술 응용, 항공기 및 우주선 통합, 통신 단말 장비, 금속 재료 테스트, 무기화학, 유기화학, 음향 및 음향 측정, 화학 제품, 금속 광석, 설탕, 설탕제품, 전분, 석유제품 종합, 범죄 예방, 연료, 비철금속, 계측 및 측정 합성, 석탄, 수질, 어휘, 농업 및 임업, 잠그는 물건, 합금철.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 주파장 하위파장

• JJF 1206-1990 Kr 광파장 부참조 운용 기술 사양
• JJF 1203A-1990 0.633 미크론 파장 하위 참조 작동 기술 사양
• JJF 1203B-1990 0.633 미크론 파장 하위 참조 작동 기술 사양
• JJF 1992-2022 일사계 교정 사양
• JJF 1703-2018 공진 파장 측정기의 교정 사양
• JJF 1201-1990 3.39 마이크론 파장 기준 작동 기술 사양
• JJF 1202-1990 0.633 미크론 파장 기준 작동 기술 사양
• JJF 1204-1990 0.612 미크론 파장 기준 작동 기술 사양
• JJF 1205-1990 0.640 미크론 파장 기준 작동 기술 사양

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 주파장 하위파장

• IEEE 1902.1-2009 장파장 무선 네트워크 프로토콜
• IEEE Std 1902.1-2009 IEEE 장파 무선 네트워크 프로토콜 표준
• IEEE Std 347-1972*ANSI S4.6-1973 중파장 자기음향 기록 자속을 측정하기 위한 IEEE 표준 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 주파장 하위파장

• GB/T 33701-2017 일사계
• GB/T 34081-2017 파장 선택 스위치

RU-GOST R, 주파장 하위파장

• GOST R 50314-1992 광학 기준 파장
• GOST R ISO 7944-2013 광학 및 광학 기기 기준 파장
• GOST R 53203-2008 석유 제품 - 파장 산란 X선 형광 분광법을 통한 황 측정
• GOST R IEC 60793-1-44-2013 광섬유 1-44부 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• GOST R 8.780-2012 국가 측정 일관성 보증 시스템 에너지, 에너지 분포 밀도, 펄스 지속 시간 및 파장 범위 0.3~2.0m의 레이저 파장 측정 방법에 대한 국가 검증 프로그램
• GOST R EN ISO 14596-2008 석유 제품 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 황 함량 측정 방법
• GOST ISO 14596-2016 석유 제품 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
• GOST 8.197-2005 ГСИ 파장 범위 0.04~0.25μm에서 광 방사 강도 스펙트럼 밀도를 측정하기 위한 국가 특별 벤치마크 및 전 소련 교정 시스템입니다.
• GOST 8.197-1986 ГСИ 0.04~0.25μm 파장 범위에서 광 방사 강도 스펙트럼 밀도를 측정하기 위한 국가 특수 기준 장비 및 전 소련 교정 시스템

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 주파장 하위파장

• JJG(邮电) 045-1999 광파장/주파수 측정기
• JJG 963-2022 통신용 광파장 측정기
• JJG 963-2202 통신용 광파장 측정기
• JJG 963-2001 통신에 사용되는 광파장 측정기의 교정 절차
• JJG 348-1984 공진 파장 측정기의 시험 교정 절차
• JJG 810-1993 파장 분산형 X선 형광 분광계의 교정 절차

Group Standards of the People's Republic of China, 주파장 하위파장

• T/CEMIA 013-2018 단파장 파장 분할 다중화 다중 모드 광섬유
• T/ZKJXX 00032-2023 장파 수신기 기술 요구 사항 및 테스트 방법
• T/ZZB 042-2015 파장 범위가 확장된 비분산 이동 단일 모드 광섬유
• T/CVIA 86-2021 레이저 디스플레이용 파장 변환 장치의 기술 사양
• T/ZZB 0182-2017 확장된 파장 범위를 갖는 비분산 이동 단일 모드 광섬유 프리폼
• T/QGCML 885-2023 통신용 파장 범위가 확장된 비분산 이동 단일 모드 광섬유
• T/ZNZ 183-2023 감자 아밀로스 및 아밀로펙틴 이중 파장 분광 광도법 측정
• T/CSBM 0012-2021 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 생체의학 재료의 원소 측정
• T/GXAS 222-2021 이중 파장 분광광도법을 이용한 감자의 아밀로펙틴 및 아밀로스 함량 측정

IETF - Internet Engineering Task Force, 주파장 하위파장

• RFC 7446-2015 파장 전환 광 네트워크에 대한 라우팅 및 파장 할당 정보 모델
• RFC 7581-2015 파장 전환 광 네트워크에 대한 라우팅 및 파장 할당 정보 인코딩
• RFC 7449-2015 WSON(Wavelength Switched Optical Network) 라우팅 및 파장 할당을 위한 PCEP(경로 계산 요소 통신 프로토콜) 요구 사항
• RFC 7689-2015 파장 전환 광 네트워크를 위한 신호 확장

Professional Standard - Electron, 주파장 하위파장

• SJ 20839-2002 장파 지상파 전송 채널 계산 방법
• SJ 20862-2003 중파 및 장파 전술 무전기의 일반 사양
• SJ 20642.7-2000 반도체 광전자소자 GR1325J형 장파장 발광다이오드 어셈블리 상세사양

British Standards Institution (BSI), 주파장 하위파장

• BS EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정기 교정 Michelson 간섭계 단일 파장 측정기
• BS EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• BS EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기 기준 파장
• BS EN 60793-1-44:2002 광섬유 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• BS EN 62129-1:2016 파장 교정/광 주파수 측정 장비, 스펙트럼 분석기
• BS EN IEC 60793-1-44:2023 광섬유 측정 방법 및 테스트 절차 컷오프 파장
• BS PD ISO/TS 22077-3:2015 건강 정보학의료 파형 형식장기 심전도
• BS EN 62343-3-3:2014 동적 모듈, 성능 사양 템플릿, 파장 선택형 스위치
• PD ISO/TS 22077-3:2015 건강 정보학 의료 파형 형식 장기 EKG
• BS EN IEC 62343-3-3:2020 동적 모듈 성능 사양 템플릿 파장 선택형 스위치
• BS ISO 22077-3:2023 건강 정보학 의료 파형 형식 - 장기 ECG
• BS EN 60793-1-44:2011 광섬유 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• BS EN 62343-4-1:2016 동적 모듈, 하드웨어 및 소프트웨어 인터페이스, 1 x 9 파장 선택 스위치
• BS ISO 7059:2023 산업용 카프로락탐의 290nm 파장에서의 흡광도 측정
• BS ISO 23201:2015 알루미늄 생산에 주로 사용되는 산화알루미늄 미량원소 측정 파장분산 X선 형광 분광법
• BS EN 61290-4-1:2011 광 증폭기 테스트 방법 과도 매개변수 획득 2파장 방법
• BS EN 61290-4-1:2016 광 증폭기 테스트 방법 과도 매개변수 획득 2파장 방법
• BS PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산형 X선 형광 분광계 정확도 결정
• PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
• PD ISO/TR 20772:2018 안과 광학 안경 렌즈 단파장 가시 태양 복사 및 눈
• BS ISO 4443:2022 빙정석은 주로 알루미늄 생산에 사용됩니다 압축 분말 정제를 사용하는 파장 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 알루미늄 원소를 측정합니다.
• 23/30445732 DC BS ISO 7059 산업용 카프로락탐의 290 nm에서의 흡광도 측정
• BS EN 15063-2:2006 구리 및 구리 합금 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 통한 주요 원소 및 불순물 측정 일반적인 방법
• BS EN ISO 14596:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• PD CEN/TR 10377:2023 파장 분산형 X선 형광 분광법을 위한 표준 루틴 방법 준비 가이드
• BS EN 15063-1:2006 구리 및 구리 합금 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 통한 주요 원소 및 불순물 측정 일반 방법 안내
• BS EN 15063-1:2014 구리 및 구리 합금 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 통한 주요 원소 및 불순물 측정 일반 방법 안내
• 20/30420126 DC BS ISO 4443 알루미늄 생산에 주로 사용되는 빙정석 압축 분말 정제를 사용한 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 알루미늄 원소 측정
• BS ISO 13605:2018 고체 화석연료 비산회 및 코크스재 내 주요 및 미량원소의 파장분산형 X선 형광분광법
• BS ISO 21475:2019 스펙트럼 분산 방사선을 사용하여 플라스틱의 파장 의존적 열화를 확인하는 노출 방법
• BS PD IEC/TS 62129-3:2014 파장/광주파수 측정기의 교정, 광주파수 빗을 이용한 광주파수 측정기
• BS EN ISO 24442:2011 화장품 자외선 차단제 테스트 방법 자외선 차단제의 UVA 보호에 대한 생체 내 측정
• 23/30452592 DC BS ISO 22077-3 건강 정보학을 위한 의료 파형 형식 3부: 장기 심전도
• BS EN ISO 14597:1999 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정
• PD IEC TR 62343-6-12:2023 동적 모듈 설계 가이드 1×N 파장 선택형 스위치 성능 지표 조사 결과
• PD IEC/TR 62343-6-9:2015 동적 모듈 설계 가이드 파장 선택 스위치의 누화에 대한 메커니즘 및 측정 연구

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 주파장 하위파장

• GJB 8917-2017 장파 타이밍 기술 요구 사항
• GJB 9210-2017 장파 타이밍 수신기의 일반 사양
• GJB 5954-2007 통신 범위의 중파 및 장파 무선국에 대한 일반 테스트 절차
• GJB 5954-2007(XG1-2015) 통신 범위에 대한 일반 테스트 절차의 장파 무선국에 대한 수정 시트 1-2015
• GJB 960A-2020 장지연 표면 탄성파 장치용 인공 수정 기판 사양

CZ-CSN, 주파장 하위파장

• CSN 36 7109-1984 장파 및 중파 대역의 고정 방송 송신기, 자동화를 위한 주요 매개변수, 일반 기술 요구 사항, 측정 방법

U.S. Military Regulations and Norms, 주파장 하위파장

• ARMY MIL-DTL-15665/48 VALID NOTICE 3-2013 인시그니아 합참의장 겸 부의장
• ARMY MIL-DTL-15665/50 VALID NOTICE 3-2013 휘장, 공군 합참의장 보좌관
• ARMY MIL-DTL-14631/17 C VALID NOTICE 2-2013 부문, 자동차, 개인, 합참의장, 부의장

Association Francaise de Normalisation, 주파장 하위파장

• NF C93-846-2*NF EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정 장비의 교정 파트 2: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기.
• NF C93-918*NF EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• NF EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치 – 일반 사양
• NF S10-020*NF EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• NF EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기 - 기준 파장
• NF EN 50130-5:2011 파장 측정 장치/광 주파수 측정 장치의 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정 장치
• NF EN 302998-1:2011 파장 측정 장치/광 주파수 측정 장치의 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정 장치
• NF EN 62129-2:2011 파장 측정 장치/광 주파수 측정 장치의 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정 장치
• NF DTU 40.37:2011 파장 측정 장치/광 주파수 측정 장치의 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정 장치
• NF EN 181104:1998 특별 사양 프레임워크: 장비 유형: 선택적 파장, 별 전송
• NF C93-840-1-44*NF EN 60793-1-44:2012 광섬유 1-44부: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• FD S11-490*FD ISO/TR 20772:2019 안과 광학 안경 렌즈 단파장 가시 태양 복사 및 눈
• NF EN 60793-1-44:2012 광섬유 파트 1-44: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• NF EN 181103:1998 특별 사양 프레임워크: 장비 유형: 비선택적 파장, 별 전송
• NF C93-344-3-3*NF EN IEC 62343-3-3:2020 동적 모듈 3-3부: 성능 사양 템플릿 파장 선택 스위치
• NF C93-344-3-3*NF EN 62343-3-3:2014 동적 모듈 3-3부: 성능 사양 템플릿 파장 선택 스위치
• NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
• NF EN IEC 62343-3-3:2020 동적 모듈 3-3부: 성능 사양 템플릿 파장 선택형 스위치
• FD ISO/TR 20772:2019 안과 광학. 안경렌즈. 눈과 단파장 가시 태양 복사
• NF U51-156:1985 농경지 배수용 미가소화 폴리염화비닐 주름관의 하중 신율 측정
• NF M07-080*NF EN ISO 14596:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• NF C93-832:1995 빈 세부 사양 광섬유 분배기 모델: 파장에 따라 전송 시작 선택
• XP A06-379*XP CR 10299:1999 파장 분산형 X선 형광 분광법을 위한 표준 루틴 방법 준비 가이드
• NF M07-080:1998 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• NF EN ISO 14597:1999 석유 제품 - 바나듐 및 니켈 함량 - 파장 분산형 X선 형광 분광법.
• NF EN ISO 14596:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• NF A08-701-2*NF EN 15063-2:2006 구리 및 구리 합금 파장 분포 X선 형광 분광법(XRF)을 통한 1차 구조 및 불순물 측정 2부: 일상적인 측정
• NF EN 15063-2:2006 파장 분산형 X선 형광(XRF) 분광법에 의한 구리 및 구리 합금의 주요 원소 및 불순물 측정 2부: 일반적인 방법
• NF C93-805-4-1:2011 광 증폭기 테스트 방법 파트 4-1: 과도 이득 매개변수 이중 파장 방법
• NF C93-838*NF EN 181104:1998 광섬유 분기 장치 유형 통신 파장 선택적 전송 위성에 대한 빈 세부 사양
• NF C93-805-4-1*NF EN 61290-4-1:2017 광 증폭기 테스트 방법 4-1부: 과도 매개변수 이중 파장 획득 방법
• NF EN 15485:2007 가솔린 블렌딩 베이스인 에탄올에 사용되는 황의 양, 파장분산형 X선 형광법
• NF EN 61290-4-1:2017 광 증폭기 테스트 방법 4-1부: 과도 이득 매개변수 2파장 방법
• NF EN 181101:1995 특별 사양 프레임 - 파이버 커플러 유형: 비파장 선택형, 스타 전송.
• NF T75-613*NF EN ISO 24442:2012 화장품 자외선 차단제 테스트 방법 자외선 차단제의 UVA 보호에 대한 생체 내 측정
• NF C93-831*NF EN 181101:1995 공백 상세 사양 광섬유 분할 장치 모델: 비파장 선택적 전송 스타
• NF EN 62343-4-1:2018 동적 모듈 4-1부: 소프트웨어 및 하드웨어 인터페이스 1x 9 파장 선택 스위치

International Electrotechnical Commission (IEC), 주파장 하위파장

• IEC 62129-2:2011 파장/측정 장비 교정 2부 Michelson 단일 파장 측정기 간섭계
• IEC 62129-1:2016 측정 장비의 파장/교정 파트 1: 스펙트럼 분석기
• IEC 60793-1-44:2001 광섬유 파트 1-44: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• IEC 60793-1-44:2011 광섬유 1-44부: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• IEC 60793-1-44:2023 광섬유 파트 1-44: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• IEC 60793-1-44:2023 CMV 광섬유 1-44부: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• IEC 60875-3:1987 광섬유 스플리터 파트 3: 표준 이하의 파장 선택 스플리터
• IEC 62343-3-3:2020 RLV 동적 모듈 3-3부: 성능 사양 템플릿 파장 선택형 스위치
• IEC 62343-3-3:2020 동적 모듈 3-3부: 성능 사양 템플릿 파장 선택형 스위치
• IEC 60875-3:1992 광섬유 스플리터 파트 3: 표준 이하의 파장 선택 스플리터
• IEC 60875-2:1992 광섬유 스플리터 파트 2: 비파장 선택적 스플리터 사양
• IEC 61290-4-1:2016 광 증폭기 - 테스트 방법 - 부품 4-1: 과도 매개변수 이득 - 이중 파장 방법
• IEC 61290-4-1:2011 광 증폭기 테스트 방법 파트 4-1: 과도 매개변수를 얻기 위한 이중 파장 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 주파장 하위파장

• JIS C 5912:2006 파장 전환에 대한 일반 규칙
• JIS C 6187-2:2014 광학 파장 측정기 2부: 교정
• JIS C 6187:1999 광파장 측정기의 테스트 방법
• JIS B 7090:1999 광학 및 광학 기기 기준 파장
• JIS C 6187-1:2016 광학 파장 측정기 1부: 테스트 방법
• JIS T 1205:2005 축 길이에 대한 초음파 안구 측정 시스템
• JIS C 5910-3:2015 비파장 선택성 광섬유 분기 장치 3부: 연결되지 않은 단일 모드 1xN 및 2xN 비파장 선택성 분기 장치
• JIS C 5910:2006 광 분배기(비파장 선택적 분배기)에 대한 일반 규칙
• JIS C 5910-1:2014 비파장 선택적 광 분배기 파트 1: 일반 사양
• JIS C 5910-1:2019 비파장 선택적 광 분배기 파트 1: 일반 사양
• JIS C 61280-1-3:2010 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 중심 파장 및 스펙트럼 폭 측정

International Telecommunication Union (ITU), 주파장 하위파장

• ITU-R V.431-7-2000 통신의 주파수 및 파장 명명
• ITU-T L.37-2007 광섬유(비파장 선택형) 분배기
• ITU-T L.403-2007 광학 분기 구성요소(파장 선택 불가능)
• ITU-R RESOLUTION 49-2000 전파통신 자문단 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• ITU-R RESOLUTION 49 ARABIC-2000 전파통신 자문단 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• ITU-R RESOLUTION 49 CHINESE-2000 전파통신 자문단 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• ITU-T L.301-2000 신호를 전달하는 광섬유의 유지 파장
• ITU-T G.694.2 RUSSIAN-2003 WDM 애플리케이션을 위한 스펙트럼 그리드: CWDM 파장 그리드
• ITU-T RESOLUTION 35 CHINESE-2008 ITU-T 연구 그룹 및 TSAG 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• ITU-T G.9802 AMD 1-2015 다중 파장 수동 광 네트워크(MW-PON) 수정안 1
• ITU-R RESOLUTION 15-3 CHINESE-2000 전파통신연구그룹 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• ITU-R RESOLUCION 15-4 SPANISH-2000 전파통신 연구반 의장 및 부의장의 최대 임명 기간 및 임기
• ITU-R V.431-8-2015 통신 서비스의 주파수 및 대역 파장에 대한 용어
• ITU-T L.37 FRENCH-2007 광섬유(비파장 선택성) 분기 장치 연구 그룹 6
• ITU-T L.37 SPANISH-2007 광섬유(비파장 선택성) 분기 장치 연구 그룹 6
• ITU-T G.654-2006 차단파장변환 단일모드 광케이블 15그룹의 특성에 관한 연구
• ITU-T G.694.1 SPANISH-2002 WDM 애플리케이션용 스펙트럼 그리드: DWDM 주파수 그리드 파장 분할을 위한 다중화 애플리케이션용 스펙트럼 평면: 파장 분할을 위한 다중화 주파수 계획
• ITU-T G.654 (REV 1)-1993 파장 1550mm에서 손실이 최소인 단일모드 광섬유 케이블의 특성 (연구 15개 그룹) 6pp
• ITU-R RESOLUTION 15-4 ARABIC-2007 전파통신 연구 그룹, 어휘 조정 위원회 및 전파통신 자문 그룹의 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• ITU-R RESOLUTION 15-4 RUSSIAN-2007 전파통신 연구 그룹, 어휘 조정 위원회 및 전파통신 자문 그룹의 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• ITU-R M.1312-1997 해상 이동 서비스에서 156~174MHz 대역의 활용 효율성을 향상시키는 장기적인 솔루션

Danish Standards Foundation, 주파장 하위파장

• DS/EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• DS/EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기
• DS/EN ISO 7944:1999 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• DS/EN 60793-1-44:2011 광섬유 파트 1-44: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• DS/EN ISO 14596:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• DS/EN 15063-2:2007 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 구리 및 구리 합금의 주요 성분 및 불순물 측정 2부: 일반적인 방법
• DS/ISO/TS 13605:2012 고체 화석 연료의 주요 및 부원소 석탄재 및 코크스재 파장 분산형 X선 형광 분광법
• DS/EN 61290-4-1:2011 광 증폭기 테스트 방법 4-1부: 과도 매개변수 이중 파장 획득 방법
• DS/EN ISO 14597:1999 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정

German Institute for Standardization, 주파장 하위파장

• DIN EN 62099:2002-03 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• DIN EN 62129-2:2012-03 파장/광주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기
• DIN EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기 기준 파장
• DIN EN 62099:2002 광섬유 파장 스위치 일반 사양(IEC 62099:2001)
• DIN EN ISO 7944:1998-07 광학 및 광학 기기 - 기준 파장(ISO 7944:1998)
• DIN EN 62129-2:2012 파장/광 주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 단일 파장 간섭계(IEC 62129-2-2011) 독일어 버전 EN 62129-2-2011
• DIN EN 60793-1-44:2012 광섬유 파트 1-43: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• DIN EN IEC 62343-3-3:2021-03 동적 모듈 3-3부: 성능 사양 템플릿 파장 선택형 스위치
• DIN EN ISO 14596:2007 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• DIN EN ISO 14596:2007-12 석유 제품 - 황 함량 측정 - 파장 분산형 X선 형광 분광법
• DIN EN 15063-2:2007-01 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 통한 구리 및 구리 합금의 주요 성분 및 불순물 측정 2부: 일반적인 방법
• DIN EN 15063-2:2007 구리 및 구리 합금 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 주성분 및 불순물 측정 2부: 일반 방법
• DIN EN 61290-4-1:2017-06 광 증폭기 테스트 방법 4-1부: 과도 매개변수 이중 파장 획득 방법
• DIN EN 15063-1:2015-03 구리 및 구리 합금 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 주성분 및 불순물 측정 1부: 일반 방법 안내
• DIN EN 181101:1995-02 공백 상세 사양 : 광섬유 분기 유닛 - 유형 : 비파장 선택적 전송 스타
• DIN EN 62343-4-1:2017-02 동적 모듈 4-1부: 소프트웨어 및 하드웨어 인터페이스 1x 9 파장 선택 스위치
• DIN EN ISO 14597:1999-03 석유 제품 - 바나듐 및 니켈 함량 측정 - 파장 분산형 X선 형광 분광법

ES-UNE, 주파장 하위파장

• UNE-EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치의 일반 사양
• UNE-EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기
• UNE-EN 60793-1-44:2011 광섬유 파트 1-44: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• EN IEC 60793-1-44:2023 광섬유 파트 1-44: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• UNE-EN IEC 62343-3-3:2020 동적 모듈 3-3부: 성능 사양 템플릿 파장 선택형 스위치
• UNE-EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
• UNE-EN 62541-13:2015 구리 및 구리 합금 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 주성분 및 불순물 측정 1부: 일반 방법 안내
• UNE-EN 61290-4-1:2016 광 증폭기 테스트 방법 4-1부: 과도 매개변수 이중 파장 획득 방법
• UNE-EN 62343-4-1:2016 동적 모듈 4-1부: 소프트웨어 및 하드웨어 인터페이스 1x 9 파장 선택 스위치

工业和信息化部, 주파장 하위파장

• YD/T 2970-2015 가변 대역폭 파장 선택 스위치
• YD/T 4113-2022 파장 교환형 광 네트워크(WSON) 테스트 방법
• YD/T 3348-2018 컷오프 파장 이동 단일 모드 광섬유 특성
• YD/T 4022-2022 100Gb/s 단일 파장 광 트랜시버 모듈
• YD/T 3598-2019 파장 교환 광 네트워크(WSON) 기술 요구 사항
• YD/T 2718-2014 파장 선택형 스위칭 기술(WSS) 기술 조건
• YD/T 3128-2016 통신용 파장 검출 기반 파이버 브래그 격자
• YD/T 3917-2021 액세스 네트워크 장비 테스트 방법 파장 라우팅 방법 WDM-PON
• YD/T 3070-2016 Nx100Gbit/s 초장거리 광파장 분할 다중화(WDM) 시스템 기술 요구 사항
• YD/T 3345.1-2018 액세스 네트워크 기술 요구 사항 파장 라우팅 방법 WDM-PON 1부: 전체
• YS/T 483-2022 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법
• YD/T 3345.2-2018 액세스 네트워크 기술 요구 사항 파장 라우팅 방법 WDM-PON 파트 2: PMD 계층
• YD/T 3345.3-2018 액세스 네트워크 기술 요구 사항 파장 라우팅 방법 WDM-PON 파트 3: TC 계층
• YB/T 6026-2022 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 선철의 규소, 망간, 인, 황 및 티타늄 함량 측정
• YD/T 3129.1-2016 통신용 통합 광 방출 부품 1부: 조정 가능한 파장 10Gb/s 강도 변조

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 주파장 하위파장

• EN 62129-2:2011 파장/광주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기
• EN 60793-1-44:2002 광섬유 파트 1-44: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• EN 60875-1:2001 비파장 선택형 광섬유 분기 장치 1부: 일반 사양

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 주파장 하위파장

• GB/T 24288-2009 종이 및 판지 주파장 및 여기 순도 결정 D65/10° 확산 반사법
• GB/T 10050-2009 광학 및 광학 기기 기준 파장
• GB/T 29230.1-2012 플라스틱 광섬유 시스템용 광-전기-광 양방향 파장 변환기 1부: 100M 이더넷 650nm 및 1550nm/1310nm/850nm 파장 변환기
• GB/T 15489.3-1995 필터 유리 시험 방법 차단 파장 온도 계수
• GB/T 32212-2015 액체 크로마토그래피용 고정 파장 광도 검출기의 테스트 방법
• GB/Z 42358-2023 철광석에 대한 파장분산형 X선 형광분광기의 정확도 결정
• GB/T 11140-2008 석유 제품의 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• GB 3974-1983 대용량 장거리 아날로그 마이크로파 통신 트렁크 전화 전송 간섭 내성
• GB/T 9771.2-2008 통신용 단일모드 광섬유 2부: 차단파장편이 단일모드 광섬유 특성

International Organization for Standardization (ISO), 주파장 하위파장

• ISO/CD 7944 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• ISO/DIS 7944:2023 광학 및 광학 기기 - 기준 파장
• ISO 7944:1984 광학 및 광학 기기 기준 파장
• ISO 3355:1975 신발 사이즈.길이 척도(Mondo Point 시스템 기준)
• ISO 7944:1998/Cor 1:2009 광학 및 광학 기기 기준 파장 기술 정오표 1
• ISO/DIS 7059 산업용 카프로락탐 - 290 nm 파장에서 흡광도 측정
• ISO 7059:2023 290 nm 파장에서 산업용 카프로락탐의 흡광도 측정
• ISO/PRF 7059:2023 290 nm 파장에서 산업용 카프로락탐의 흡광도 측정
• ISO 7059:1982 290 nm 파장에서 산업용 카프로락탐의 흡광도 측정
• ISO 23201:2015 알루미늄 생산에 주로 사용되는 산화알루미늄 미량원소 측정 파장분산 X선 형광 분광법
• ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산 X선 형광 분광계 정확도 결정
• ISO/FDIS 22077-3 건강 정보학 "의료 파형 형식" 3부: 장기 심전도
• ISO/TS 22077-3:2015 건강 정보학 의료 파형 형식 3부: 장기 심전도 검사
• ISO 22077-3:2023 건강 정보학 의료 파형 형식 3부: 장기 ECG
• ISO 14596:2007 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• ISO 14596:1998 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• ISO 21475:2019 플라스틱.분광적으로 분산된 방사선을 사용하여 파장 의존적 열화를 결정하는 노출 방법
• ISO 24442:2011 화장품 자외선 차단제 테스트 방법 자외선 차단제의 UVA 보호에 대한 생체 내 측정
• ISO 14597:1997 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 주파장 하위파장

• KS B ISO 7944:2011 광학 및 광학 기기 기준 파장
• KS B ISO 7944-2011(2021) 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• KS B ISO 7944-2011(2016) 광학 및 광학 기기용 기준 파장
• KS C IEC 60875-3:2012 광분배기 3부 : 파장 선택형 사양
• KS M ISO 14596:2009 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• KS C IEC 60875-2:2012 광섬유 분기 장치 기사 2: 파장 선택 분기 장치 사양
• KS M ISO 14596-2009(2019) 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 제품의 황 함량 측정
• KS C IEC 60875-3-2002(2007) 광섬유 분기 장치 3부: 파장 선택형 분기 장치 사양

Xinjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, 주파장 하위파장

• DB65/T 3546-2013 음파가속기 작동에 관한 기술규정

未注明发布机构, 주파장 하위파장

• BS EN ISO 7944:1998(1999) 광학 및 광학 기기 - 기준 파장

PL-PKN, 주파장 하위파장

• PN T06561-1971 마이크로파 측정 장비. 공진기 파장 측정기. 일반 요구 사항 및 테스트
• PN C45301-05-1993 카프로락탐 테스트 방법. 290nm 파장에서의 흡광도 측정

ZA-SANS, 주파장 하위파장

• SANS 62099:2002 광섬유 파장 선택 스위치. 일반적인 크기
• SANS 60793-1-44:2001 광섬유. 파트 1.44: 측정 방법 및 테스트 절차. 컷오프 파장

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 주파장 하위파장

• RESOLUTION 49-2000 전파통신 자문단 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• RESOLUTION 15-3-2000 전파통신연구그룹 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• RESOLUTION 15-4-2007 전파통신 연구 그룹 어휘 조정 위원회 및 전파통신 자문 그룹의 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기 어휘

Lithuanian Standards Office , 주파장 하위파장

• LST EN 62129-2-2011 파장/광주파수 측정 장비 교정 2부: Michelson 간섭계 단일 파장 측정기(IEC 62129-2:2011)
• LST EN 62099-2002 광섬유 파장 스위치에 대한 일반 사양(IEC 62099:2001)
• LST EN ISO 7944:2000 광학 및 광학 기기용 기준 파장(ISO 7944:1998)
• LST EN ISO 7944:2000/AC:2009 광학 및 광학 기기용 기준 파장(ISO 7944:1998/Cor 1:2009)
• LST EN 181102-2001 공백 상세 사양 광섬유 분기 장비 유형: 파장 선택적 전송 스타
• LST EN 15063-2-2007 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 구리 및 구리 합금의 주요 성분 및 불순물 측정 2부: 일반적인 방법
• LST EN 181101-2001 공백 상세 사양 파이버 분기 장비 유형: 비파장 선택적 투과형 스타

(U.S.) Ford Automotive Standards, 주파장 하위파장

• FORD FLTM AI 103-02-2000 바니시의 UVA 보유 특성

Professional Standard - Post and Telecommunication, 주파장 하위파장

• YD/T 824-1996 케이블형 광섬유의 차단파장 시험방법
• YD/T 5256-2023 파장 교환형 광 네트워크(WSON) 엔지니어링 기술 사양
• YD/T 592-1992 단일 모드 광섬유 파장 분산 테스트 방법 간섭계
• YD/T 504-1991 단파장 광시간 영역 반사계의 기술 조건
• YDJ 5-1985 장거리 통신사업자 전화설비 설치를 위한 설계시방서
• YD/T 1182-2002 2.5Gb/s DWDM용 특정 파장 광 송신기 모듈의 기술 조건
• YD/T 1960-2009 N×10Gbit/s 초장거리 파장분할다중화(WDM) 시스템 기술 요구사항
• YD/T 1527-2006 광전자(파장/모드) 변환기 기술 요구 사항 및 테스트 방법
• YD/T 1527-2013 광전자(파장/모드) 변환기 기술 요구 사항 및 테스트 방법
• YD/T 5122-2005 장거리 광케이블 파장 분할 다중화(WDM) 전송 시스템 엔지니어링 수용 사양
• YD/T 5092-2005 장거리 광케이블 파장분할다중화(WDM) 전송 시스템의 엔지니어링 설계 사양
• YDB 060-2011 액세스 네트워크 기술에는 파장 조정이 가능한 고밀도 파장 분할 다중화 기술을 기반으로 한 수동형 광 네트워크 사용이 필요합니다.
• YD/T 5092-2000 장거리 광케이블 파장분할다중화(WDM) 전송시스템 엔지니어링 설계에 관한 임시규정

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 주파장 하위파장

• EN 62099:2001 광섬유 파장 스위치 일반 사양 IEC 62099:2001
• EN 60793-1-44:2011 광섬유 파트 1-44: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장
• EN IEC 62343-3-3:2020 동적 모듈 3-3부: 성능 사양 템플릿 파장 선택 스위치
• EN 62343-3-3:2014 동적 모듈 3-3부: 성능 사양 템플릿 파장 선택 스위치
• EN 62129-1:2016 파장/광주파수 측정기 교정 1부: 스펙트럼 분석기
• EN 181102:1994 공백 상세 사양: 광섬유 분배기 유형: 파장 선택형 스타 송신기
• EN 181101:1994 공백 상세 사양: 광섬유 분배기 유형: 비파장 선택적 스타 송신기
• EN 61290-4-1:2011 광 증폭기 테스트 방법 파트 4-1: 과도 이득 매개변수 이중 파장 방법
• EN 61290-4-1:2016 광 증폭기 테스트 방법 파트 4-1: 과도 이득 매개변수 이중 파장 방법

Professional Standard - Electricity, 주파장 하위파장

• DL/T 2223-2021 장파면 임펄스 전압 테스트에 대한 기술 지침

ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector, 주파장 하위파장

• RESOLUTION 35-2008 ITU-T 연구 그룹 및 TSAG 의장 및 부의장의 임명 및 최대 임기
• ITU-T G.9802-2015 다중 파장 수동 광 네트워크(MW-PON)(연구 그룹 15)
• ITU-T B.15 SPANISH-1996 통신에 사용되는 주파수 대역 및 파장의 명명법
• SERIES G SUPP 64-2018 파장당 10Gbit/s 이상의 PON 전송 기술(연구 그룹 15)

United States Navy, 주파장 하위파장

• NAVY MIL-S-29594 NOTICE 1-1997 7파장 레이저 눈 보호 전단지 안경
• NAVY MIL-S-29594 (1)-1993 7파장 레이저 눈 보호 전단지 안경
• NAVY MIL-S-29594-1992 7파장 레이저 눈 보호 전단지 안경
• NAVY MIL-PRF-29580 C-1998 EDU-5/P 다파장 레이저 보호 파일럿 안경
• NAVY MIL-PRF-29610-1996 조종사용 다파장 레이저 보호 마스크 어셈블리
• NAVY MIL-V-29591 NOTICE 1-1997 조종사용 7파장 레이저 고글 구성품 일반 규격
• NAVY MIL-V-29591-1992 조종사용 7파장 레이저 고글 구성품 일반 규격

AENOR, 주파장 하위파장

• UNE-EN ISO 7944:1999 광학 및 광학 기기용 기준 파장(ISO 7944:1998)
• UNE-EN 15063-2:2008 파장 분산형 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 구리 및 구리 합금의 주요 성분 및 불순물 측정 2부: 일반적인 방법

European Committee for Standardization (CEN), 주파장 하위파장

• EN ISO 7944:1998 광학 및 광학 기기 기준 파장 ISO 7944-1998
• EN ISO 7944:1998/AC:2009 광학 및 광학 기기 수정 AC를 포함한 기준 파장, 2009
• EN ISO 14596:2007 석유 제품 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• CEN/TR 10377:2023 파장 분산형 X선 형광 분광법을 위한 표준 루틴 방법 준비 가이드
• EN ISO 14597:1999 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정
• EN ISO 24442:2022 화장품 자외선 차단제 테스트 방법 자외선 차단제의 UVA 보호에 대한 생체 내 측정
• EN ISO 24442:2011 화장품 자외선 차단제 테스트 방법 자외선 차단제의 UVA 보호에 대한 생체 내 측정

Professional Standard - Meteorology, 주파장 하위파장

• QX/T 187-2013 방출된 장파 방사선 제품의 교정 방법

American Society for Testing and Materials (ASTM), 주파장 하위파장

• ASTM E388-04(2009) 형광 분광계의 파장 정밀도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 테스트 방법
• ASTM G178-16 장대 통과 필터 또는 분광 기술을 사용하여 물질 활성화 스펙트럼(노출 소스 파장에 대한 감도)을 결정하기 위한 표준 관행
• ASTM D2238-92(2004) 메틸기를 함유한 폴리에틸렌의 파장 1378cm-1의 광파에 대한 흡광도 시험방법
• ASTM E1685-20 초음파 펄스 에코 기술을 사용하여 볼트 길이의 변화를 측정하는 표준 사례
• ASTM E1172-87(2003) 파장 확산 X선 분광계에 대한 설명 및 사양
• ASTM E1172-87(2001) 파장 확산 X선 분광계 설명에 대한 표준 사례
• ASTM D2238-92(1999) 파장 1378cm의 빛에 대한 메틸기를 함유한 폴리에틸렌의 흡광도에 대한 표준 시험 방법
• ASTM D2238-92(2012)e1 파장 1378cm의 빛에 대한 메틸기를 함유한 폴리에틸렌의 흡광도에 대한 표준 시험 방법
• ASTM D2238-22 파장 1378cm의 빛에 대한 메틸기를 함유한 폴리에틸렌의 흡광도에 대한 표준 시험 방법
• ASTM E388-72(1998) 형광 분광계의 스펙트럼 대역폭 및 파장 정확도를 결정하기 위한 표준 방법
• ASTM E1172-87(1996) 파장 분산형 X선 분광계의 설명 및 사양에 대한 표준 사례
• ASTM E1657-98(2006) 액체 크로마토그래피용 가변 파장 광도 검출기 테스트에 대한 표준 실습
• ASTM E685-93 액체 크로마토그래피용 고정 파장 광도 검출기의 표준 사례
• ASTM E685-93(2013) 액체 크로마토그래피용 고정 파장 광도 검출기의 표준 사례
• ASTM E388-04(2023) 형광 분광계의 파장 정확도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM E685-93(2021) 액체 크로마토그래피용 고정 파장 광도 검출기의 표준 사례
• ASTM E1621-13 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM C1118-89(2000) 파장 분산형 X선 형광(XRF) 시스템용 구성 요소 선택을 위한 표준 가이드
• ASTM E388-04 스펙트럼 대역폭 형광 분광계의 파장 정밀도에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM UOP1013-16 파장 분산형 X선 형광법을 이용한 액체 탄화수소의 총 염화물 측정
• ASTM E1172-22 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
• ASTM E1172-16 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
• ASTM C1118-07 파장 분산형 X선 형광(XRF) 시스템용 구성 요소 선택을 위한 표준 가이드
• ASTM D2332-84(1999) 파장 분산 X선 형광을 이용한 수중 퇴적물 분석의 표준 사례
• ASTM E1657-98 액체 크로마토그래피용 가변 파장 광도 검출기 테스트를 위한 표준 사례
• ASTM D6334-98 파장 분포 X선 형광법을 이용한 가솔린 내 황 측정의 표준 시험 방법
• ASTM D6334-98(2003)e1 파장 분포 X선 형광법을 이용한 가솔린 내 황 측정의 표준 시험 방법
• ASTM E1657-98(2001) 액체 크로마토그래피용 가변 파장 광도 검출기 테스트를 위한 표준 사례
• ASTM E1172-87(2011) 파장 확산 X선 분광계의 설명 및 사양에 대한 표준 실습
• ASTM E1657-98(2019) 액체 크로마토그래피용 가변 파장 광도 검출기 테스트를 위한 표준 사례
• ASTM E1657-98(2011) 액체 크로마토그래피용 가변 파장 광도 검출기 테스트를 위한 표준 운영 절차
• ASTM E388-04(2015) 형광 분광계의 파장 정확도 및 스펙트럼 대역폭에 대한 표준 테스트 방법
• ASTM G178-03 날카로운 차단 개방형 필터 또는 분광학 방법을 사용하여 재료의 활성화 스펙트럼(조사 소스에 대한 파장 감도)을 결정하기 위한 표준 실습
• ASTM F398-92(1997) 플라즈몬 공명의 최소 파수 또는 파장을 측정하여 반도체의 다수 캐리어 농도를 결정하는 표준 테스트 방법
• ASTM E1621-94(1999) 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM D2332-08 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석의 표준 사례
• ASTM E1621-22 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
• ASTM E1685-13 초음파 펄스 에코 기술을 사용한 패스너 길이 변화 측정에 대한 표준 사양
• ASTM D2332-13 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석을 위한 표준 작업 절차
• ASTM D2332-84(2003) 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석을 위한 표준 작업 절차

Professional Standard - Education, 주파장 하위파장

• JY/T 016-1996 파장 분산형 X선 형광 분광법에 대한 일반 규칙
• JY/T 0569-2020 파장 분산형 X선 형광 분광법의 일반 원리

Professional Standard - Traffic, 주파장 하위파장

• JT/T 696-2007 장강 해양 단파 단파대 무선 성능 요구 사항

Professional Standard - Military and Civilian Products, 주파장 하위파장

• WJ 2279-1995 저압 석영 수은 램프 파장 표준에 대한 교정 절차
• WJ 2278-1995 분광 광도계의 파장 교정에 사용되는 간섭 필터의 교정 절차

Standard Association of Australia （SAA）, 주파장 하위파장

• AS 2563:1996 파장 분산형 X선 형광 분광계. 정확도 측정
• AS 4392.1:1996 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 티타늄 광석
• AS 2563:2019 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
• AS 4392.2:1997 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 석재
• AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
• AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
• AS 2879.7:1997(R2013) 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 산화알루미늄의 미량 원소 측정

Professional Standard - Medicine, 주파장 하위파장

• YY/T 1896-2023 분광 방사선 치료 장비의 파장 범위를 정의하는 방법

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 주파장 하위파장

• DB13/T 5711-2023 장거리 밀리미터파 교통 레이더 애플리케이션에 대한 기술 요구 사항

TH-TISI, 주파장 하위파장

• TIS 2026-2000 산업용 카프로락탐 290 nm 파장에서 흡광도 측정
• TIS 2058-2000 광섬유 분기 장치 3부: 부품 사양 파장 선택 분기 장치
• TIS 2057-2000 광섬유 분기 장치 파트 2: 사양 비파장 선택 분기 장치

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 주파장 하위파장

• ASHRAE AN-04-6-2-2004 루버 블라인드층의 유효 장파 복사 특성 계산 방법
• ASHRAE AN-04-6-1-2004 효과적인 장파복사 특성을 이용한 판간 블라인드 열전달 해석

American National Standards Institute （ANSI), 주파장 하위파장

• ANSI/TIA/EIA 455-80B-1998 전송 전력을 이용하여 분산된 단일 모드 광섬유의 차단 파장 측정
• ANSI S4.6-1982 중파 및 장파 자기 기록에서 기록된 자속을 측정하는 방법
• ANSI/TIA/EIA 455-80-C-2003 전송전력을 이용한 단일모드 광케이블의 차단파장 측정
• ANSI/TIA/EIA 526-19-2000 조밀한 파장 영역 다중화 시스템을 위한 광 신호 대 잡음비 측정 절차
• ANSI/TIA-455-80-C-2003 전송전력을 이용하여 케이블로 고정되지 않은 단일모드 광섬유의 차단파장 측정
• ANSI/TIA-455-80-D-2020 IEC-60793-1-44 광섬유 파트 1-44: 측정 방법 및 테스트 절차 차단 파장

Professional Standard - Agriculture, 주파장 하위파장

• JJG(教委) 016-1996 파장 분산형 X선 형광 분광계의 교정 절차

US-FCR, 주파장 하위파장

• FCR COE CERC-91-12 FINAL REPORT-1991 장기 파도에 대한 정박된 선박의 반응을 측정하기 위한 로스앤젤레스 항과 롱비치 모델 개선 프로그램
• FCR COE CHL-98-21 FINAL REPORT-1998 로스앤젤레스 항 및 롱비치 모델 개선 프로그램: 프로토타입 파도 데이터 요약

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 주파장 하위파장

• CNS 13806-1997 발광 다이오드 칩의 발광 파장 및 휘도 측정 방법
• CNS 14862-2004 휘발유 황 함량 시험 방법(파장 분포 X선 형광 분광법)

TIA - Telecommunications Industry Association, 주파장 하위파장

• EIA/TIA-455-170-1989 FOTP-170 단일모드 광섬유의 케이블 차단파장 (전송전력에 따름)
• TSB62-6-1995 ITM-6 OTDR을 통해 단일 모드 광섬유의 모드 필드 직경과 차단 파장을 특성화합니다.
• TIA-455-80A-1996 FOTP-80은 케이블이 연결되지 않은 단일 모드 광섬유의 차단 파장을 전송 전력으로 측정합니다.
• TIA-455-8-2000(2008) FOTP-80은 케이블이 연결되지 않은 단일 모드 광섬유의 차단 파장을 전송 전력으로 측정합니다.

UNKNOWN, 주파장 하위파장

• GB/T 32211-2015 액체 크로마토그래피용 가변 파장 광도 검출기의 테스트 방법
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Professional Standard - Machinery, 주파장 하위파장

• JB/T 9358-1999 액체 크로마토그래피 고정 파장(254nm) 자외선 흡수 검출기 테스트 방법

ABS - American Bureau of Shipping, 주파장 하위파장

• ABS 238-2016 장기 확률론적 방법을 통한 설계 파동 선택에 대한 지침 노트

Professional Standard - Public Safety Standards, 주파장 하위파장

• GA/T 1995-2022 법의학 금속 검사 파장 분산형 X선 형광 분광법
• GA/T 1654-2019 법의학 논문 원소 조성 테스트 파장 분산형 X선 형광 분광법

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, 주파장 하위파장

• DB51/T 2181-2016 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 가솔린 내 인 함량 측정

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 주파장 하위파장

• YS/T 483-2005 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법

Defense Logistics Agency, 주파장 하위파장

• DLA MIL-PRF-49291/1 B (2)-2013 광섬유, 광학, 유형 I, 클래스 I, 구성 요소 A, 크기 III, 파장 B, 방사선 강화(미터법)

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 주파장 하위파장

• TIA TSB62-6-1995 ITM-6 OTDR을 이용한 단일모드 광섬유의 모드 필드 직경 및 차단 파장 특성
• TIA/EIA-526-19-2000 OFSTP-19. 조밀한 파장 영역 다중화 시스템을 위한 광 신호 대 잡음비 측정 절차

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., 주파장 하위파장

• IEEE 347-1972 중파장 자기음향 녹음의 녹음 자속 측정을 위한 표준 방법

Professional Standard - Commodity Inspection, 주파장 하위파장

• SN/T 2780-2011 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 알루미나의 납, 카드뮴 및 크롬 측정
• SN/T 3322.1-2012 수출입용 티타늄 정광의 화학적 분석 방법 1부: 1차 및 2차 성분 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• SN/T 3321.3-2015 석회석 및 백운석 분석 방법 3부: 1차 및 2차 성분 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광법
• SN/T 1118-2002 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 크롬 광석 내 크롬, 규소, 철, 알루미늄, 마그네슘 및 칼슘 측정

Professional Standard - Environmental Protection, 주파장 하위파장

• HJ 1211-2021 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 고형 폐기물 내 무기 원소 측정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 주파장 하위파장

• GB/T 9771.2-2020 통신용 단일모드 광섬유 2부: 컷오프 파장 이동 단일모드 광섬유 특성

KR-KS, 주파장 하위파장

• KS M ISO 14597-2003(2023) 석유제품 - 바나듐 및 니켈 함량 측정 - 파장분산형 X선 형광 분광법

GOSTR, 주파장 하위파장

• GOST 33194-2014 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 석유 및 석유 제품의 황 함량 측정

国家能源局, 주파장 하위파장

• NB/SH/T 0977-2019 단일 파장 분산형 X선 형광 분광법을 통한 경유의 염소 함량 측정

기타:   이중 파장 분석 하위 파장, 이중파장 주파장, 주파장 하위파장, 서브파장, 주파장 하위파장, 2차 파장은 일반적으로 1차 파장보다 길다., 2차 파장과 주파장.