4개 프로브 테스트 벤치

모두 69항목의 4개 프로브 테스트 벤치와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 4개 프로브 테스트 벤치와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 전자 장비용 기계 부품, 금속 재료 테스트, 반도체 소재, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 반도체 개별 장치, 비철금속, 복합강화재료, 도체 재료, 플라스틱, 길이 및 각도 측정, 비파괴 검사, 세라믹, 농업 및 임업, 전기 및 전자 테스트, 치과, 토양질, 토양과학, 공작 기계, 종합 전자 부품, 항공우주 전기 장비 및 시스템, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 4개 프로브 테스트 벤치

JJG 508-2004 4개 프로브 저항률 테스터
JJG 508-1987 4개 프로브 저항률 테스터의 교정 절차

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 4개 프로브 테스트 벤치

GB/T 15394-1994 다중 프로브 테스트 벤치의 일반 기술 조건
GB/T 1552-1995 인라인 4개 프로브 방법을 사용한 실리콘 및 게르마늄 단결정 저항률 측정
GB/T 26074-2010 게르마늄 단결정 저항률 DC 4탐침 측정 방법
GB/T 14141-2009 실리콘 에피택셜 층, 확산층 및 이온 주입층의 시트 저항 측정 인라인 4-프로브 방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 4개 프로브 테스트 벤치

GB/T 1551-2021 직류 4탐침법과 직류 2탐침법을 이용한 실리콘 단결정의 저항률 측정

Professional Standard - Electron, 4개 프로브 테스트 벤치

SJ/T 10314-1992 DC 4개 프로브 저항률 테스터의 일반 기술 조건
SJ/T 31122-1994 4개 프로브 테스터에 대한 무결성 요구사항과 검사 및 평가 방법
SJ/T 31123-1994 자동 다중 프로브 테스트 벤치에 대한 무결성 요구 사항과 검사 및 평가 방법
SJ/T 10481-1994 실리콘 에피택시층 저항률을 위한 표면 접촉 3개 프로브 테스트 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 4개 프로브 테스트 벤치

KS D 0260-1999 단결정 실리콘 웨이퍼의 저항률을 테스트하기 위한 4점 프로브 방법
KS L 1619-2013(2018) 4개 프로브 어레이 전도성 세라믹 박막 저항률 테스트 방법
KS C 0256-2002(2022) 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼 저항률에 대한 4점 프로브 테스트 방법
KS D 0260-1989(1994) 4점 프로브를 이용한 단결정 실리콘 웨이퍼의 비저항 테스트 방법
KS C 0256-2002(2017) 4점 프로브를 이용한 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼의 비저항 테스트 방법
KS B 0535-2005 초음파 프로브 성능 테스트 방법
KS M ISO 9950-2003(2018) 냉각 특성 - 산업용 담금질 오일 측정을 위한 니켈 합금 프로브 테스트 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 4개 프로브 테스트 벤치

T/ZGIA 001-2019 분말 전기 전도성 측정을 위한 그래핀 테스트 방법 4개 프로브 방법
T/CASAS 019-2021 마이크로나노금속소결체 비저항 측정법 4탐침법
T/CSTM 00252-2020 탄소섬유 체적저항률 시험법 4탐침법
T/BEA 43002-2023 Langmuir 단일 프로브 플라즈마 테스터 교정 사양

RU-GOST R, 4개 프로브 테스트 벤치

GOST 24392-1980 단결정 실리콘 및 게르마늄 4개 프로브 방법을 통한 저항률 측정
GOST R ISO 7492-2009 치과용 프로브 기술 요구 사항 및 테스트 방법
GOST 19912-2012 토양 현장 테스트 방법: 침투 테스트 및 동적 탐지
GOST R ISO 22476-12-2017 지반공학 조사 및 테스트 현장 테스트 12부: 기계적 프로브를 위한 정적 지지대

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 4개 프로브 테스트 벤치

JIS K 7194:1994 4점 프로브 배열 방식을 이용한 전도성 플라스틱의 저항률 측정 테스트 방법
JIS H 0602:1995 4점 탐침법을 이용한 실리콘 결정 및 실리콘 웨이퍼 저항률 테스트 방법
JIS R 1637:1998 4점 탐침 배열법에 의한 전도성 파인 세라믹 박막의 비저항 측정 시험 방법

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 4개 프로브 테스트 벤치

DB13/T 5255-2020 그래핀 전도성 잉크의 면저항 측정을 위한 4탐침 방법
DB13/T 5026.3-2019 그래핀 전도성 슬러리의 물성 측정 방법 3부: 슬러리 극편 저항률 측정 4탐침 방법

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 4개 프로브 테스트 벤치

DB32/T 4027-2021 그래핀 분말의 전도도를 측정하기 위한 동적 4탐침 방법
DB32/T 4378-2022 기판 표면의 나노 및 서브 마이크론 규모의 박막 시트 저항에 대한 비파괴 테스트를 위한 4개 프로브 방법

KR-KS, 4개 프로브 테스트 벤치

KS L 1619-2013(2023) 4점 프로브 어레이를 이용한 전도성 세라믹 박막의 저항률 테스트 방법

IN-BIS, 4개 프로브 테스트 벤치

IS 1401-1970 접근성 테스트 프로브 사양

German Institute for Standardization, 4개 프로브 테스트 벤치

DIN 50431:1988 반도체 재료의 테스트 프로브를 직선으로 배열한 4-프로브/DC 방식을 사용하여 단결정 실리콘 또는 게르마늄 단결정의 저항률을 측정합니다.
DIN 50435:1988 반도체 재료 테스트: 4-프로브/DC 방법을 사용하여 실리콘 웨이퍼 및 게르마늄 웨이퍼의 저항률의 방사형 변화 측정

Society of Automotive Engineers (SAE), 4개 프로브 테스트 벤치

SAE TS351-1-1985 TS351 전기 커넥터 테스트 프로브 손상 테스트
SAE J2826-2022 동력 구동 부품과 접촉하는 Snowmobile 프로브 테스트

SE-SIS, 4개 프로브 테스트 벤치

SIS SS-IEC 1032:1992 하우징 보호 검사 테스트 프로브

American Society for Testing and Materials (ASTM), 4개 프로브 테스트 벤치

ASTM F390-11 공선형 4-프로브 방법을 통한 금속 박막의 시트 저항 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F390-98(2003) 동일선상 4탐침법을 이용한 금속필름의 필름 내구성 테스트 방법
ASTM E499-95(2006) 검출기 프로브 방법을 사용하는 질량 분석계 누출 감지기를 사용한 누출 감지 테스트 방법
ASTM F390-98 동일 선상에 있는 4개 프로브 배열을 사용한 금속 박막의 면저항에 대한 표준 테스트 방법
ASTM D5334-00(2004) 핫니들 프로브법에 의한 토양 및 암석의 열전도도 표준시험방법
ASTM D5334-22 열침 탐침법에 의한 토양 및 암석의 열전도도 측정을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5334-22a 핫니들 프로브법에 의한 토양 및 암석의 열전도도 표준시험방법
ASTM D5334-22ae1 열침 탐침법에 의한 토양 및 암석의 열전도도 측정을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6230-98 프로브형 경사계를 사용하여 지면의 움직임을 모니터링하는 표준 테스트 방법
ASTM D6230-13 프로브형 경사계를 사용하여 지면의 움직임을 모니터링하는 표준 테스트 방법
ASTM F397-93(1999) 2점 프로브를 사용하여 실리콘 막대의 저항률을 측정하는 표준 테스트 방법
ASTM D6230-98(2005) 프로브형 경사계를 이용한 지반운동 검출 표준시험방법
ASTM D8153-22 유전 상수 프로브를 사용한 토양 수분 함량에 대한 표준 테스트 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 4개 프로브 테스트 벤치

IEC TR 61032:1990 보호 하우징에 가까운 테스트 프로브 검사

ECIA - Electronic Components Industry Association, 4개 프로브 테스트 벤치

RS-364-25A-1983 TP-25A 전기 커넥터 프로브 손상 테스트 절차

Association Francaise de Normalisation, 4개 프로브 테스트 벤치

XP P94-123:1999 토양: 조사 및 테스트 - 시추공 로깅 - 중성자 프로브 방법

AT-ON, 4개 프로브 테스트 벤치

ONORM M 1348-1995 측정 제어 및 테스트 장비. 전동 선형 측정 프로브 테스트 지침

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 4개 프로브 테스트 벤치

YS/T 602-2007 존 용융 게르마늄 잉곳 저항률 테스트 방법 2개 프로브 방법
YS/T 602-2017 존 용융 게르마늄 잉곳 저항률 테스트 방법 2개 프로브 방법

British Standards Institution (BSI), 4개 프로브 테스트 벤치

BS PD ISO/TS 17865:2016 제품 기하학적 사양(GPS) 단일 프로브 및 다중 프로브 접촉 프로빙 시스템을 사용하여 좌표 측정기(CMM) 테스트 불확실성을 평가하기 위한 지침
BS EN 2591-6415:2002 전기 및 광학 연결 부품에 대한 테스트 방법 - 광학 부품 테스트 프로브의 손상
BS EN 2591-415:2001 전기 및 광학 연결 구성 요소 테스트 방법 테스트 프로브 손상(잭 접점)

Indonesia Standards, 4개 프로브 테스트 벤치

SNI 05-1196-1989 고정 높이 벤치탑 수직 드릴링 기계 테스트 방법

Underwriters Laboratories (UL), 4개 프로브 테스트 벤치

UL RP 3002-2017 테이블 톱 회전 블레이드와 접촉하는 테스트 프로브의 절단 깊이를 결정하기 위한 안전 UL 표준(초판)

SAE - SAE International, 4개 프로브 테스트 벤치

SAE J2826-2016 동력 구동 부품과 접촉하는 Snowmobile 프로브 테스트

海关总署, 4개 프로브 테스트 벤치

SN/T 5315-2021 광촉매 자가세정 세라믹 성능 시험 방법 형광 프로브 방법

IEC - International Electrotechnical Commission, 4개 프로브 테스트 벤치

PAS 62203-2000 수위 전기 테스트를 위한 표준 프로브 패드 치수 및 레이아웃 지침(버전 1.0)

International Organization for Standardization (ISO), 4개 프로브 테스트 벤치

ISO 230-10:2011/Amd 1:2014 공작 기계 테스트 절차 10부: CNC 공작 기계 감지 시스템의 측정 성능 결정 수정 사항 1: 스캐닝 프로브가 장착된 감지 시스템의 측정 성능

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 4개 프로브 테스트 벤치

GJB 5309.22-2004 불꽃 시험 방법 22부: 폭발 동시성 결정을 위한 프로브 방법