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DE광전자 분광학 및 X선 분광학
모두 18항목의 광전자 분광학 및 X선 분광학와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 광전자 분광학 및 X선 분광학와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 비파괴 검사, 분석 화학, 종합 전자 부품, 광학 및 광학 측정.
American Society for Testing and Materials (ASTM), 광전자 분광학 및 X선 분광학
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 광전자 분광학 및 X선 분광학
- GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정
- GB/T 28893-2012 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
- GB/T 29556-2013 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X-선 광전자 분광법 분석기로 감지할 수 있는 측면 분해능, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
- GB/T 30702-2014 표면 화학 분석 균질 물질의 정량 분석에서 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에 대해 실험적으로 결정된 상대 민감도 인자를 사용하는 방법에 대한 가이드
Professional Standard - Electron, 광전자 분광학 및 X선 분광학
未注明发布机构, 광전자 분광학 및 X선 분광학
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 광전자 분광학 및 X선 분광학
British Standards Institution (BSI), 광전자 분광학 및 X선 분광학
- BS ISO 20903:2019 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고 시 필요한 정보
- BS ISO 18118:2015 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 표면 화학 분석 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용하는 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 사용하여 균질 물질의 정량 분석을 위한 가이드
International Organization for Standardization (ISO), 광전자 분광학 및 X선 분광학
- ISO/TR 19319:2003 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
- ISO/DIS 18118:2023 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
- ISO/FDIS 18118:2023 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드