엑스레이 에너지 분광계 1

모두 238항목의 엑스레이 에너지 분광계 1와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 엑스레이 에너지 분광계 1와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 광학 및 광학 측정, 방사선 측정, 원자력공학, 길이 및 각도 측정, 금속 광석, 비파괴 검사, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 계측 및 측정 합성, 천문학, 측지학, 지리학, 금속 재료 테스트, 의료 장비, 표면 처리 및 도금, 범죄 예방, 예술과 공예, 페인트 성분, 광학 장비, 종합 전자 부품, 방사선방호, 석유제품 종합, 조잡한, 연료, 수질, 무기화학, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 비료, 반도체 소재, 발전소 종합, 쓰레기, 버너, 보일러, 토양질, 토양과학, 곡물, 콩류 및 그 제품.

American Society for Testing and Materials (ASTM), 엑스레이 에너지 분광계 1

ASTM E1217-11(2019) Auger 전자 분광계 및 일부 X선 광전자 분광계에서 감지된 신호의 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E2108-16 X선 광전자 분광계의 전자 결합 에너지 척도에 대한 표준 사례
ASTM E902-94(1999) X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
ASTM E996-04 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-10 Auger 전자 분광계 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM D5381-93(2014) 안료 및 필러의 X선 형광(XR) 분광법에 대한 표준 가이드
ASTM E1172-22 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
ASTM E1172-16 파장 분산형 X선 분광계를 설명하고 지정하기 위한 표준 관행
ASTM E996-10(2018) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E996-19 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 데이터 보고에 대한 표준 관행
ASTM E902-05 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하기 위한 표준 사례
ASTM E2120-10 페인트 필름의 납 함량 측정을 위한 휴대용 X선 형광 분광계의 성능 평가를 위한 표준 작업 절차
ASTM E995-16 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 배경 빼기 기술에 대한 표준 가이드
ASTM E2735-14(2020) X선 광전자 분광법에 필요한 교정 선택을 위한 표준 가이드
ASTM E995-11 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법에서 배경 제거 기술 적용을 위한 표준 가이드
ASTM E2120-00 페인트 필름의 납 함량 측정을 위한 휴대용 X선 형광 분광계의 성능 평가에 대한 표준 사례
ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1217-11 X선 광전자 분광계 및 오거 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 작업 절차
ASTM E1217-00 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E1217-05 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계를 사용하여 검출 신호에 영향을 미치는 샘플 영역을 결정하기 위한 표준 관행
ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
ASTM F1375-92(1999) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 에너지 분산형 X선 분광법(EDX)에 대한 표준 테스트 방법
ASTM F1375-92(2020) 가스 분배 시스템 구성 요소의 금속 표면 상태에 대한 에너지 분산형 X선 분광법(EDX)에 대한 표준 테스트 방법
ASTM D6445-99 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 가솔린 내 황 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6445-99(2004)e1 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 가솔린 내 황 측정을 위한 표준 테스트 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

GB/T 25184-2010 X선 광전자 분광계 식별 방법
GB/T 20726-2006 반도체 검출기 X선 분광기의 일반 원리
GB/T 11685-2003 반도체 X선 검출기 시스템 및 반도체 X선 에너지 분광계의 측정 방법
GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
GB/T 31364-2015 에너지 분산형 X선 형광 분광기의 주요 성능 시험 방법
GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
GB/Z 42358-2023 철광석에 대한 파장분산형 X선 형광분광기의 정확도 결정
GB/T 28633-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 강도 척도의 반복성과 일관성
GB/T 17723-1999 금제품의 코팅성분에 대한 X선 에너지 분광법 측정방법
GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
GB/T 26594-2011 비파괴 검사 장비용 산업용 X선관 성능 시험 방법
GB/T 26592-2011 비파괴검사기 산업용 X선 탐상기 성능시험방법
GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정
GB/T 26593-2011 비파괴 검사 장비 산업용 X선 CT 장치의 성능 테스트 방법
GB/T 17606-1998 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 원유 내 황 함량 측정
GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
GB/T 17606-2009 원유의 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 선량계 및 선량률 측정기 교정과 에너지 반응 결정을 위한 X선 및 감마 기준 방사선 4부: 저에너지 X선 기준 방사선장에서 현장 선량계 및 개인 선량계 교정
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 선량계 및 선량률 측정기 교정과 에너지 반응 결정을 위한 X선 및 감마 기준 방사선 4부: 저에너지 X선 기준 방사선장에서 현장 선량계 및 개인 선량계 교정
GB/T 12162.4-2010 선량계 및 선량률 측정기 교정과 에너지 반응 결정을 위한 X선 및 감마 기준 방사선 4부: 저에너지 X선 기준 방사선장에서 현장 선량계 및 개인 선량계 교정
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 17040-1997 석유 제품의 황 함량 측정(에너지 분산형 X선 형광 분광법)
GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 31470-2015 오제(Auger) 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 테스트에서 검출 신호에 해당하는 샘플 영역을 결정하기 위한 일반 규칙
GB/T 25188-2010 X선 광전자 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 초박형 실리콘 산화물 층 두께 측정
GB/T 17040-2008 석유 및 석유 제품의 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법

Professional Standard - Machinery, 엑스레이 에너지 분광계 1

JB/T 11145-2011 X선 형광 분광계
JB/T 6215-2011 비파괴 검사 장비 산업용 X선관 시리즈 유형 스펙트럼
JB/T 11602.3-2013 비파괴 검사 장비의 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 에너지 스펙트럼 테스트
JB/T 12457-2015 비파괴검사장비 회로기판 검사용 엑스선 검출기의 성능시험방법

German Institute for Standardization, 엑스레이 에너지 분광계 1

DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
DIN ISO 15632:2022-09 에너지 분산형 X선 분광계 사양 및 검사를 위해 선택된 기기 성능 매개변수의 마이크로빔 분석
DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
DIN 51577-4:1994 광유 및 유사 제품의 탄화수소 검사 염소 및 브롬 함량 측정 저가형 기기의 에너지 산란 X선 분광계를 사용한 분석
DIN EN ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
DIN EN ISO 8754:2003-12 석유 제품 - 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법
DIN IEC 62709:2015 방사선 방호 장비 인원의 안전 차폐 X선 시스템의 영상 성능 측정(IEC 62709-2014)
DIN ISO 15632:2015 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 발산 X선 분광계에 대한 기기 사양(ISO 15632-2012)

British Standards Institution (BSI), 엑스레이 에너지 분광계 1

BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산형 X선 형광 분광계 정확도 결정
PD ISO/TR 18231:2016 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
BS ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
BS IEC 62945:2018 방사선 방호 계측을 통해 X선 컴퓨터 단층촬영(CT) 보안 검사 시스템의 영상 성능을 측정합니다.
BS IEC 62709:2014 방사선 방호 장비 인력의 안전 차폐 X선 시스템의 영상 성능 측정
BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
BS EN ISO 8754:2003 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정
BS EN ISO 20884:2011 석유 제품 자동차 연료의 황 함량 측정 파장 분산형 X선 형광 분광계
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
19/30354872 DC BS ISO 16795 핵 X선 형광 분광법을 통한 가돌리늄 연료 펠렛의 Gd2O3 함량 측정
BS ISO 23547:2022 방사성 측정을 위한 감마선 분광기 교정에 대한 표준 사양 감마 방출 방사성 핵종 기준 측정
BS EN ISO 23547:2023 방사성 측정을 위한 감마선 분광기 교정에 대한 표준 사양 감마 방출 방사성 핵종 기준 측정
19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
22/30451249 DC BS IEC 62709 직원의 안전 점검을 위한 방사선 보호 장비 X선 시스템의 이미징 성능 측정

International Organization for Standardization (ISO), 엑스레이 에너지 분광계 1

ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
ISO/TR 18231:2016 철광석 파장 분산 X선 형광 분광계 정확도 결정
ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
ISO 16795:2004 원자력 X선 형광 분광법을 이용한 가돌리늄 연료 펠릿의 Gd2O3 함량 측정
ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
ISO 15632:2021 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
ISO/DIS 16795 원자력 X-선 형광 분광법을 이용한 산화우라늄 함유 펠렛의 Gd2O3 함량 측정
ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
ISO 15632:2002 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법
ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고

SE-SIS, 엑스레이 에너지 분광계 1

SIS SS IEC 759:1986 핵실험 장비. 반도체 X선 에너지 분광계 검출 프로그램
SIS SS IEC 463:1983 핵실험 장비. 방사선 보호를 위한 휴대용 저에너지 X 또는 감마선 노출 선량계

CZ-CSN, 엑스레이 에너지 분광계 1

CSN 35 6575 Z1-1997 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 엑스레이 에너지 분광계 1

KS C IEC 60759:2009 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차
KS C IEC 60759-2009(2019) 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차
KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성
KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
KS M 0017-1995 X선 형광 분광 분석에 대한 일반 규칙
KS D ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 3497-2002(2017) 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - X선 분광계 방법
KS A IEC 61137-2003(2013) 방사선 방호 장비 - 설치자 표면 오염 모니터링 키트 - 저에너지 X선 및 감마선 방출기
KS C IEC 61452:2017 원자력 계측 "방사성 핵종의 감마선 방사율 측정" 게르마늄 에너지 분광계의 교정 및 사용
KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
KS D ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
KS A ISO 14146:2007 방사선 방호: X선 및 감마선과 함께 사용하기 위한 개인 선량계 프로세서의 주기적인 평가 기준 및 성능 한계
KS M ISO 8754:2003 석유 제품 황 함량 측정 에너지 분산형 X선 형광 분광법

International Electrotechnical Commission (IEC), 엑스레이 에너지 분광계 1

IEC 60759:1983 반도체 X선 분광계의 표준 테스트 절차
IEC 60759:1983/AMD1:1991 반도체 X선 분광기 표준 시험 절차 수정 1
IEC 62709:2014 방사선 방호 장비 직원 안전 차폐 X선 시스템의 영상 성능 측정
IEC 61137:1992 방사선 방호 장비 고정형 개인 표면 오염 모니터링 장치 저에너지 X선 및 감마선 방출기
IEC 62945:2018 방사선 방호 장비 X선 컴퓨터 단층촬영(CT) 보안 검사 시스템의 영상 성능 측정

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

JJF 2024-2023 에너지 분산형 X선 형광 분광계의 교정 사양
JJF 2067-2023 에너지선 분광계의 교정 사양
JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 엑스레이 에너지 분광계 1

ANSI/IEEE Std 759-1984 반도체 X선 분광계에 대한 IEEE 표준 테스트 절차
IEEE 759-1984 반도체 X선 에너지 스펙트럼 분석기의 테스트 절차
IEEE N42.14-1999 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정을 위한 게르마늄 분광계의 교정 및 사용
IEEE N42.14-1990 방사성 핵종의 감마선 방사율 측정을 위한 게르마늄 분광계의 교정 및 사용

未注明发布机构, 엑스레이 에너지 분광계 1

BS ISO 21270:2004(2010) 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계강도 규모 선형성
BS ISO 18516:2006(2010) 표면 화학 분석 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 측면 분해능 결정

工业和信息化部/国家能源局, 엑스레이 에너지 분광계 1

JB/T 12962.2-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 파트 2: 원소 분석기
JB/T 12962.3-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 3부: 코팅 두께 분석기
JB/T 12962.1-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 1부: 일반 기술

IN-BIS, 엑스레이 에너지 분광계 1

IS 12737-1988 반도체 X선 에너지 분광계의 표준 테스트 절차
IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 엑스레이 에너지 분광계 1

JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
JIS K 0162:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성

RU-GOST R, 엑스레이 에너지 분광계 1

GOST 22091.14-1986 X선기기 X선 에너지속밀도(광속밀도) 측정방법
GOST 22091.7-1984 X선 장비. X선 조사장 에너지 자속 밀도 분포의 균일성을 위한 측정 방법
GOST 25645.118-1984 개별 소스의 X선 방사선 에너지 스펙트럼 및 각도 좌표
GOST 22091.6-1984 X선 장치 X선 노광 파워 및 펄스당 노광량을 측정하는 방법
GOST 22091.0-1984 X선 장치 - 매개변수 측정을 위한 일반 요구 사항
GOST 22091.8-1984 X선 장비 스펙트럼 성분 및 스펙트럼 상대 오염 수준을 측정하는 방법
GOST 29025-1991 비파괴 검사X선 전자 광학 변환기 및 전자 X선 그래픽 결함 검사 장비를 갖춘 X선 TV 결함 검사 장비일반 기술 요구 사항
GOST 34239-2017 석유 제품 단색 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
GOST R 51947-2002 석유 및 석유 제품 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 엑스레이 에너지 분광계 1

GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
GB/T 36015-2018 비파괴 검사 장비 산업용 X선 디지털 영상 장치 성능 및 검사 규칙

KR-KS, 엑스레이 에너지 분광계 1

KS D ISO 15472-2003(2023) 표면화학분석-X선 광전자분광기-에너지 규모 교정
KS D ISO 15632-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
KS D ISO 15632-2023 마이크로빔 분석 주사전자현미경(SEM) 또는 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)와 함께 사용하기 위한 에너지 분산형 X선 분광계(EDS)에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

JJG(地质) 1006-1990 유형 3080E X선 형광 분광계의 교정 절차
JJG 810-1993 파장 분산형 X선 형광 분광계의 교정 절차

Professional Standard - Electron, 엑스레이 에너지 분광계 1

SJ/T 10714-1996 X선 광전자 분광계의 작동 특성을 확인하는 표준 방법
SJ/T 10458-1993 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 위한 시료 처리를 위한 표준 가이드

Association Francaise de Normalisation, 엑스레이 에너지 분광계 1

NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
NF ISO 16795:2006 핵 X-선 형광 분광법을 통한 가돌리늄 연료 펠렛의 Gd2O3 측정
NF M60-460*NF ISO 16795:2006 원자력용 X-선 형광 분광법을 이용한 가돌리늄 연료 펠릿의 Gd2O3 함량 측정
NF M07-053*NF EN ISO 8754:2003 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정
NF X21-008:2012 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계의 기기 사양
NF EN ISO 8754:2003 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)의 데이터 로깅 및 보고

Group Standards of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

T/CSTM 00901-2023 휴대용 X선 형광 분광계의 교정 사양
T/CSTM 01199-2024 다층 금속박막층 구조 측정 및 분석 방법 X선 광전자 분광법
T/KJFX 002-2017 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 쌀 및 그 제품의 카드뮴 신속한 측정

Standard Association of Australia （SAA）, 엑스레이 에너지 분광계 1

AS 2563:1996 파장 분산형 X선 형광 분광계. 정확도 측정
AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
AS 2563:2019 철광석 파장분산형 X선 형광분광기의 정밀 측정
AS ISO 15472:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 에너지 규모의 교정

Professional Standard - Agriculture, 엑스레이 에너지 분광계 1

JJG(教委) 016-1996 파장 분산형 X선 형광 분광계의 교정 절차

Professional Standard - Medicine, 엑스레이 에너지 분광계 1

YY/T 0724-2009 이중 에너지 X선 골밀도 측정기의 특수 기술 조건

Professional Standard - Nuclear Industry, 엑스레이 에너지 분광계 1

EJ/T 684-2016 휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분석기

国家药监局, 엑스레이 에너지 분광계 1

YY/T 0724-2021 이중 에너지 X선 골밀도 측정기의 특수 기술 조건

Professional Standard - Judicatory, 엑스레이 에너지 분광계 1

SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 엑스레이 에너지 분광계 1

GB/T 40196-2021 X선 형광 분광법을 이용한 목재 방부제 및 목재 방부제의 CCA 및 ACQ 측정 방법
GB/T 41073-2021 표면 화학 분석을 위한 기본 요구 사항 전자 에너지 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅 보고서
GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
GB/T 41105.3-2021 비파괴 검사를 위한 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 에너지 분광학

Qinghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

DB63/T 1678-2018 X-선 형광 분광법(에너지 분광법)을 통한 탕카의 미네랄 색소 측정

Professional Standard - Public Safety Standards, 엑스레이 에너지 분광계 1

GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학

Professional Standard - Petrochemical Industry, 엑스레이 에너지 분광계 1

SH/T 0742-2004 휘발유의 황 함량 측정(에너지 분산형 X선 형광 분광법)

GOSTR, 엑스레이 에너지 분광계 1

GOST ISO 8754-2013 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

DB44/T 1826-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 합금 주얼리 구성 요소 측정
DB44/T 1216-2013 주사전자현미경과 X선 분광법을 이용한 그래핀 특성 규명

BR-ABNT, 엑스레이 에너지 분광계 1

ABNT NBR 14533-2011 석유 및 석유 제품 - 황 X선 형광 분광법(에너지 분산형)

Danish Standards Foundation, 엑스레이 에너지 분광계 1

DS/EN ISO 8754:2004 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 석유 제품의 황 함량 측정

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

DB61/T 1162-2018 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 토양 내 중금속 원소 측정
DB61/T 1580-2022 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 토양 및 퇴적물 내 무기 원소 측정

国家质量监督检验检疫总局, 엑스레이 에너지 분광계 1

SN/T 4567-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 산업용 황인 내 인 및 비소 측정

Henan Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

DB41/T 1706-2018 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 복합 비료의 칼륨 함량 측정
DB41/T 1705-2018 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 복합비료의 인 함량 측정

Professional Standard - Energy, 엑스레이 에너지 분광계 1

NB/SH/T 6043-2021 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 가솔린 내 납, 철, 망간 함량 측정

VN-TCVN, 엑스레이 에너지 분광계 1

TCVN 3172-2008 석유 및 석유 제품 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 황 측정

BE-NBN, 엑스레이 에너지 분광계 1

NBN-ISO 8754:1993 석유 제품. 황 함량 측정. 에너지 분산형 X선 형광 분광법

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

CNS 14472-2000 석유 제품의 황 함량 측정(에너지 분산 X선 형광 분광법)

Professional Standard - Electricity, 엑스레이 에너지 분광계 1

DL/T 1653-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 인산염 에스테르 저항성 연료의 염소 함량 측정

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

DB53/T 423-2012 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 통한 철인의 인, 망간, 티타늄, 크롬, 구리 및 바나듐 측정
DB53/T 549-2014 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 산업용 황인의 인 및 비소 함량 측정

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 엑스레이 에너지 분광계 1

DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

工业和信息化部, 엑스레이 에너지 분광계 1

HG/T 6114-2022 폐산 내 중금속의 신속한 검출 방법: 에너지 분산형 X선 형광 분광법

Lithuanian Standards Office , 엑스레이 에너지 분광계 1

LST EN ISO 8754:2003 석유 제품 - 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법(ISO 8754:2003)

AENOR, 엑스레이 에너지 분광계 1

UNE-EN ISO 8754:2004 석유 제품 - 황 함량 측정 - 에너지 분산형 X선 형광 분광법(ISO 8754:2003)