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광학적으로 얇은 시스템

모두 500항목의 광학적으로 얇은 시스템와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 광학적으로 얇은 시스템와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 금속 재료 테스트, 광학 및 광학 측정, 유기화학, 길이 및 각도 측정, 광학 장비, 기술 도면, 화학 생산, 방사선 측정, 종이 제품, 광전자공학, 레이저 장비, 표면 처리 및 도금, 태양광 공학, 어휘, 인쇄 기술, 통신 시스템, 의료 장비, 전등 및 관련 기기, 문자 세트 및 메시지 인코딩, 고무 및 플라스틱 제품, 건물 내 시설, 광섬유 통신, 항공우주 제조용 재료, 데이터 저장 장치, 종이와 판지, 입자 크기 분석, 스크리닝, 비철금속 제품, 플라스틱.


International Organization for Standardization (ISO), 광학적으로 얇은 시스템

  • ISO 16808:2022 금속 재료 시트 및 스트립 광학 측정 시스템을 사용한 팽창 테스트를 통해 이축 응력-변형 곡선 결정.
  • ISO 21094:2008 광학 및 포토닉스 포토닉스 시스템 야간 투시 장치 사양
  • ISO 20711:2017 광학 및 포토닉스 환경 요구 사항 텔레포커스 시스템
  • ISO/TR 21477:2017 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 작성 표면 결함 사양 및 측정 시스템
  • ISO 9039:1994 광학 및 광학 기기의 광학 시스템 품질 평가 왜곡 측정
  • ISO/TR 16743:2013 광학 및 포토닉스 파면 센서를 사용한 광학 시스템 및 광학 부품의 특성화
  • ISO 10110-1:2019 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반
  • ISO 8576:1996 광학 및 광학 기기 현미경 편광 현미경용 참조 시스템
  • ISO/TR 14999-1:2005 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 1부: 용어, 정의 및 기본 관계
  • ISO 10110-1:2006 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반 원리
  • ISO 10110-12:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 12부: 비구면 표면
  • ISO 10110-1:1996 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 1부: 일반
  • ISO 9358:1994 광학 및 광학 기기 이미징 시스템의 미광 정의 및 측정 방법
  • ISO 23216:2021 탄소 기반 필름 엘립소메트리에 의한 비정질 탄소 필름의 광학 특성 결정
  • ISO 10110-12:2019 광학 및 포토닉스 광학 요소 및 시스템 도면 준비 12부: 비구면 표면
  • ISO 10110-6:2015 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 준비 6부: 중심 공차
  • ISO/TR 14999-2:2019 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 - 2부: 측정 및 평가 기술
  • ISO 10109-4:2001 광학 및 광학 기기에 대한 환경 요구 사항 4부: 텔레포커스 시스템
  • ISO 9039:1994/Cor 1:2004 광학 및 광학 기기 광학 시스템의 품질 평가 왜곡 확인 기술 정오표 1
  • ISO 10110-6:1996 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 6부: 중심 공차
  • ISO/FDIS 10110-16 광학 부품 및 시스템 도면의 광학 및 포토닉스 준비 16부: 회절 표면
  • ISO 1011:1973 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 8부: 표면 구조
  • ISO 10110-8:2019 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 8부: 표면 구조
  • ISO 10110-16:2023 광학 부품 및 시스템 도면의 광학 및 포토닉스 준비 16부: 회절 표면
  • ISO 10110-8:1997 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 8부: 표면 구조
  • ISO/TR 14999-2:2005 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 2부: 측정 및 평가 기술
  • ISO 10110-17:2004 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 17부: 레이저 방사선 손상 임계값
  • ISO 10110-5:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 5부: 표면 형태 공차
  • ISO 10110-11:1996 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 11부: 무공차 데이터
  • ISO/CD 10110-11.2 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 11부: 비공차 데이터
  • ISO 10110-5:2015 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 5부: 표면 형태 공차
  • ISO 10110-11:2016 광학 및 포토닉스 도면을 이용한 광학 부품 및 시스템 준비 11부: 비공차 데이터
  • ISO 10110-12:1997 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 12부: 비구면
  • ISO 10110-13:1997 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 그래픽 준비 13부: 레이저 방사선 손상 임계값
  • ISO 10110-7:1996 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템 도면 준비 7부: 표면 결함에 대한 허용 오차
  • ISO 10110-5:1996 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 5부: 표면 형태 공차
  • ISO 10110-9:2016 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 9부: 표면 처리 및 코팅
  • ISO 10110-10:2004 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 파트 10: 광학 부품 및 접착 어셈블리에 대한 데이터 시트
  • ISO 10110-14:2003 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 그래픽 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
  • ISO 10110-14:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
  • ISO 10110-9:1996 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 9부: 표면 처리 및 코팅
  • ISO/CD 10110-6 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 6부: 센터링 및 틸트 공차
  • ISO 10110-7:2017 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 7부: 표면 결함에 대한 허용 오차
  • ISO 10110-14:2018 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
  • ISO 14490-2:2005 광학 및 광학 기기 망원경 시스템의 테스트 방법 2부: 쌍안경 시스템의 테스트 방법
  • ISO 14132-3:2014 광학 및 포토닉스 망원경 시스템 용어 3부: 스코프 용어
  • ISO 10110-12:2007/Amd 1:2013 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 12부: 비구면 표면, 수정 1
  • ISO 10110-10:1996 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 10부: 렌즈 요소 데이터 시트
  • ISO 10110-19:2015 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 준비 - 19부: 표면 및 부품 개요
  • ISO 15795:2002 광학 및 포토닉스 광학 시스템의 품질 평가 색 위상차로 인한 이미지 품질 저하 평가
  • ISO 15529:2007 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 샘플링된 이미징 시스템의 변조 전달 함수(MTF) 측정 원리
  • ISO 15529:2010 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 샘플링된 이미징 시스템의 변조 전달 함수(MTF) 측정 원리
  • ISO 14999-4:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 4부: ISO 10110에 지정된 허용 오차에 대한 설명 및 평가
  • ISO 14999-4:2015 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 4부: ISO 10110에 지정된 허용 오차에 대한 설명 및 평가
  • ISO 10110-6:1996/Cor 1:1999 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 6부: 중심 공차 기술 정오표 1
  • ISO 8624:2002 안과용 광학, 안경테, 측정 시스템 및 용어
  • ISO 8624:2011 안과용 광학, 안경테, 측정 시스템 및 용어
  • ISO 15529:1999 광학 및 광학 기기 광 전달 기능 이미징 시스템 변조 전달 기능의 측정 원리
  • ISO/TR 14999-3:2005 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 3부: 간섭계 테스트 장비 및 측정의 교정 및 검증.
  • ISO 9334:2007 광학 및 포토닉스 빛의 전달 함수 정의 및 수학적 관계
  • ISO 9334:2012 광학 및 포토닉스 빛의 전달 함수 정의 및 수학적 관계
  • ISO 10110-11:1996/cor 1:2006 광학 및 광학 기기 도면을 이용한 광학 부품 및 시스템 준비 파트 11: 비공차 데이터 기술 정오표 1
  • ISO 9345-2:2003 광학 및 광학 기기 현미경 기계적 기준면에 대한 이미지 거리 2부: 무한대 광학 보정 시스템
  • ISO 10110-2:1996 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 2부: 재료 불완전성 응력 복굴절
  • ISO 10110-3:1996 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 광학 및 광학 기기 준비 3부: 재료 불완전성 기포 및 불순물
  • ISO 15559:1998 방사선 화학 광 도파관 선량 측정 시스템 사용 지침

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 광학적으로 얇은 시스템

Professional Standard - Chemical Industry, 광학적으로 얇은 시스템

  • HG/T 6207-2023 Optical functional film with optical brightening film on top
  • HG/T 6205-2023 Optical functional film Anti-laser eavesdropping transparent film
  • HG/T 6206-2023 Optical functional film without protective film optical prism film
  • HG/T 6203-2023 Optical functional film Low orientation angle polyester film
  • HG/T 4608-2014 광학 기능성 필름의 색상 측정 방법
  • HG/T 4951-2016 광학 기능성 필름의 명암 측정 방법
  • HG/T 5077-2016 광학 기능성 필름의 근적외선 분광 투과도 측정 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 광학적으로 얇은 시스템

Association of German Mechanical Engineers, 광학적으로 얇은 시스템

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 광학적으로 얇은 시스템

  • KS B ISO 21094:2011 광학 및 포토닉스 포토닉스 시스템 야간 투시 장치 사양
  • KS B ISO 9039:2013 광학 및 광학 기기 광학 시스템의 품질 평가 편향 측정
  • KS B ISO 9039:2003 광학 및 광학 기기 광학 시스템의 품질 평가 편향 측정
  • KS B ISO 9039:2018 광학 및 포토닉스 - 광학 시스템의 품질 평가 - 왜곡 측정
  • KS B ISO TR 14999-1-2011(2021) 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 1부: 용어, 정의 및 기본 관계
  • KS B ISO TR 14999-1-2011(2016) 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 1부: 용어, 정의 및 기본 관계
  • KS B ISO 21094-2011(2021) 광학 및 포토닉스 망원경 시스템용 야간 투시 장치 사양
  • KS B ISO 21094-2011(2016) 광학 및 포토닉스 망원경 시스템용 야간 투시 장치 사양
  • KS B ISO 10110-1:2017 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반
  • KS B ISO 8576:2006 광학 및 광학기기 현미경 편광현미경용 기준 시스템
  • KS B ISO 10110-1:2007 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반 원리
  • KS B ISO 10110-1-2017(2022) 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반 원리
  • KS B ISO 9358-2006(2016) 광학 및 광학 기기 - 이미징 시스템의 눈부심 눈부심 정의 및 측정 방법
  • KS B ISO 9358:2006 광학 및 광학 기기 이미징 시스템의 미광 정의 및 측정 방법
  • KS B ISO 8576-2006(2021) 광학 및 광학 기기 현미경 검사 편광 현미경 검사를 위한 기준 시스템.
  • KS B ISO 10110-12:2018 광학 및 포토닉스 광학 요소 및 시스템 도면 준비 12부: 비구면 표면
  • KS B ISO TR 14999-2-2011(2021) 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 2부: 측정 및 평가 기술
  • KS B ISO TR 14999-2-2011(2016) 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 2부: 측정 및 평가 기술
  • KS B ISO 10109-4:2006 광학 및 광학 기기 환경 요구 사항 4부: 텔레포커스 시스템
  • KS B ISO 10110-6:2007 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 6부: 중심 공차
  • KS B ISO 9358-2006(2021) 광학 및 광학기기 이미징 시스템의 눈부심을 가리는 정의 및 측정 방법
  • KS B ISO 10110-11:2013 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 11부: 공차 없는 데이터
  • KS B ISO 10110-12:2008 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 12부: 비구면 표면
  • KS B ISO 10110-12:2013 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 12부: 비구면 표면
  • KS B ISO 10110-11:2008 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 11부: 공차 없는 데이터
  • KS B ISO 10110-8:2017 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 8부: 표면 구조
  • KS B ISO 10110-6:2017 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 6부: 센터링 공차
  • KS B ISO 10110-6-2017(2022) 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 6부: 센터링 공차
  • KS B ISO 10110-8-2017(2022) 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 8부: 표면 구조
  • KS B ISO 10110-17:2006 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 17부: 레이저 방사선 손상 임계값
  • KS B ISO 10110-17-2006(2016) 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 준비 - 17부: 레이저 조사 손상 임계값
  • KS B ISO 10110-17-2006(2021) 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 17부: 레이저 조사 손상 임계값
  • KS B ISO 10110-5:2013 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 5부: 표면 형태 공차
  • KS B ISO 10110-5:2008 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 5부: 표면 형태 공차
  • KS B ISO 10110-14-2010(2020) 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
  • KS B ISO 10110-5:2018 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템의 도면 준비 - 5부: 표면 형태 공차
  • KS B ISO 10110-10:2008 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 파트 10: 광학 부품 및 접착 어셈블리에 대한 데이터 시트
  • KS B ISO 10110-10:2013 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 파트 10: 광학 부품 및 접착 어셈블리에 대한 데이터 시트
  • KS B ISO 10110-9:2007 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 9부: 표면 처리 및 코팅
  • KS B ISO 10110-14:2010 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
  • KS B ISO 10110-7:2017 광학 및 광학 기기용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 7부: 표면 결함에 대한 허용 오차
  • KS B ISO 10110-7-2017(2022) 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 7부: 표면 결함에 대한 허용 오차
  • KS B ISO 14132-3:2019 광학 및 포토닉스 - 텔레스코픽 시스템 용어집 - 3부: 텔레스코픽 조준 용어
  • KS B ISO 15795:2011 광학 및 포토닉스 광학계 품질 평가 색 위상차로 인한 화질 저하 평가
  • KS B ISO 10110-9-2017(2022) 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 9부: 표면 처리 및 코팅
  • KS B ISO 10110-9:2017 광학 및 광학 기기용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 9부: 표면 처리 및 코팅
  • KS B ISO 15529-2011(2021) 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 샘플링된 이미징 시스템의 MTF(변조 전달 함수) 측정 원리
  • KS B ISO 15795-2011(2016) 광학 및 포토닉스 분야 광학 시스템의 품질 평가 색수차로 인한 이미지 품질 저하 평가
  • KS B ISO 15795-2011(2021) 광학 및 포토닉스 광학 시스템의 품질 평가 색수차로 인한 이미지 품질 저하 평가
  • KS B ISO 15529:2011 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 샘플링된 이미징 시스템의 변조 전달 함수(MTF) 측정 원리
  • KS B ISO 15529-2011(2016) 광학 및 포토닉스 - 광학 전달 함수 - 샘플링된 이미징 시스템의 변조 전달 함수(MTF) 측정 원리
  • KS B ISO 10110-11:2018 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 0716 및 0716 시스템용 도면 준비 - 0716 부품 071611: 비공통 0716 차이 데이터
  • KS B ISO 14999-4-2016(2021) 광학 및 포토닉스 - 광학 요소 및 광학 시스템의 간섭계 - 제4부: KS B ISO 10110에 명시된 허용 오차의 해석 및 평가
  • KS B ISO 9334:2001 광학 및 광학 기기 광학 전달 함수 정의 및 수학적 관계
  • KS B ISO 9334-2016(2021) 광학 및 광학 기기의 광학 전달 함수 정의 및 수학적 관계
  • KS B ISO 9334:2016 광학 및 광학 기기의 광학 전달 함수 정의 및 수학적 관계
  • KS B ISO 9345-2:2006 광학 및 광학 기기 현미경 기계적 기준면에 대한 이미지 거리 2부: 무한 광학 보정 시스템
  • KS B ISO 10110-2-2017(2022) 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 2부: 재료 결함 응력 복굴절
  • KS B ISO 10110-2:2017 광학 및 광학 기기용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 2부: 재료 결함으로 인해 복굴절이 강조됨
  • KS B ISO 9345-2:2016 기계적 기준면에 대한 광학 및 광학 기기 현미경의 이미지 거리 2부: 무한 광학 보정 시스템
  • KS B ISO 10109-4-2006(2021) 광학 및 광학 기기 환경 요구 사항 4부: 텔레스코픽 시스템에 대한 테스트 요구 사항
  • KS B ISO 14132-4:2019 광학 및 포토닉스 망원경 시스템의 용어 4부: 천문 망원경 용어
  • KS G ISO 8624:2011 안과용 광학, 안경테, 측정 시스템 및 용어
  • KS G ISO 8624-2011(2021) 안과용 광학 프레임 측정 시스템 및 용어
  • KS G ISO 8624-2011(2016) 안과용 광학 프레임 측정 시스템 및 용어
  • KS B ISO 14999-4:2011 광학 및 포토닉스 광학 요소 및 광학 시스템의 간섭계 측정 4부: KS B ISO 10110에 명시된 허용 오차에 대한 설명 및 평가
  • KS B ISO 10110-10:2018 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템을 위한 도면 준비 - 10부: 광학 4568 부품 및 시멘트질 조립품에 대한 데이터 4568을 나타내는 표
  • KS B ISO 14999-4:2016 광학 및 포토닉스 분야의 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 제4부: KS B ISO 10110에 명시된 공차에 대한 설명 및 평가
  • KS B ISO 10110-2:2007 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 2부: 재료 결함 응력 복굴절
  • KS B ISO 10110-3:2007 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 3부: 재료 결함 기포 및 불순물
  • KS B ISO 10110-3-2017(2022) 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 3부: 재료 결함 기포 및 함유물
  • KS B ISO 10110-3:2017 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 3부: 재료 결함 기포 및 함유물

RO-ASRO, 광학적으로 얇은 시스템

工业和信息化部, 광학적으로 얇은 시스템

  • HG/T 4185-2022 폴리비닐알코올 광학필름
  • JB/T 13358-2018 광학박막대역통과 간섭필터
  • HG/T 5855-2021 광학 기능성 필름 TAC(트리아세틸셀룰로오스) 눈부심 방지 필름
  • HG/T 5858-2021 광학 등급 폴리에스터 필름(PET) 편광판 보호 필름
  • HG/T 5856-2021 광학 기능성 필름 방오 경화 필름
  • HG/T 5675-2020 광학 기능성 필름 자가치유형 경화필름
  • HG/T 5854-2021 광학 기능성박막 코팅형 반사필름
  • HG/T 5659-2019 광학 기능성 필름의 황변 측정 방법
  • HG/T 5880-2021 광학 기능성 필름 열 굴곡 성형 보호 필름
  • HG/T 5857-2021 광학 기능성 필름 커버용 투명 경화 필름
  • HG/T 5507-2018 광학 기능성 박막 액정 디스플레이 백라이트 모듈은 확산 필름을 사용합니다.
  • HG/T 5657-2019 광학 기능성 필름으로 덮인 보호 필름 프리즘 휘도 향상 필름

British Standards Institution (BSI), 광학적으로 얇은 시스템

  • BS ISO 9039:2007 광학 및 포토닉스 광학 시스템의 품질 평가 왜곡 측정
  • BS ISO 10110-1:2006 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 일반 원리
  • BS ISO 9039:2008 광학 및 포토닉스 광학 시스템의 품질 평가 왜곡 측정
  • PD ISO/TR 21477:2017 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 표면 결함 사양 및 측정 시스템
  • PD ISO/TR 14999-1:2005 광학 및 포토닉스 분야의 광학 부품 및 광학 시스템에 대한 간섭계 용어, 정의 및 기본 관계
  • BS ISO 10110-1:2019 광학 및 포토닉스 분야의 광학 부품 및 시스템 도면 준비 개요
  • PD ISO/TR 16743:2013 광학 시스템 및 광학 부품 특성화를 위한 광학 및 포토닉스 Wavefront 센서
  • BS ISO 10110-7:2008 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 표면 결함 공차
  • BS ISO 10110-12:2019 광학 및 포토닉스 비구면용 광학 부품 및 시스템 도면 준비
  • BS ISO 10110-12:2008 광학 및 포토닉스 분야의 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 비구면 표면
  • BS ISO 10110-12:2007+A1:2013 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 비구면 표면
  • BS ISO 10110-8:2019 광학 및 포토닉스 분야의 광학 부품 및 시스템 도면을 위한 표면 질감 준비
  • BS ISO 10110-16:2023 광학 및 포토닉스. 광학 부품 및 시스템의 도면을 준비합니다. 회절면
  • BS ISO 10110-7:2017 광학 부품 및 시스템 표면 결함의 광학 및 포토닉스 준비 도면
  • BS ISO 10110-6:2015 광학 부품 및 시스템의 광학 및 포토닉스 준비 도면 중심 공차
  • BS EN ISO 12625-7:2007 티슈 페이퍼 및 티슈 제품 광학적 특성 결정
  • PD ISO/TR 14999-2:2019 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 광학 시스템에 대한 간섭계 측정 및 평가 기술
  • BS ISO 10110-17:2004 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 레이저 방사선 손상 임계값
  • BS ISO 10110-8:1998 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 표면 질감
  • BS ISO 10110-5:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 표면 형태 공차
  • BS ISO 10110-8:2010 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 표면 질감
  • BS ISO 10110-11:2016 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 비공차 데이터 준비
  • BS EN ISO 23216:2022 탄소 기반 필름에 대한 분광 타원편광법을 사용한 비정질 탄소 필름의 광학 특성 결정
  • BS ISO 23216:2021 탄소 기반 필름에 대한 분광 타원편광법을 사용한 비정질 탄소 필름의 광학 특성 결정
  • PD IEC TS 62989:2018 집광형 태양광 발전 시스템용 기본 광학 장치
  • BS ISO 10110-11:1996 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 비공차 데이터
  • BS ISO 10110-14:2018 광학 부품 및 시스템의 광학 및 포토닉스 준비 도면 파면 변형 변화
  • BS ISO 10110-5:2015 광학 부품 및 시스템의 광학 및 포토닉스 준비 도면 표면 형태 공차
  • BS ISO 14490-2:2005 광학 및 광학 기기 망원경 시스템의 테스트 방법 쌍안경 시스템의 테스트 방법
  • BS ISO 14132-3:2014 광학 및 포토닉스 망원경 시스템 용어 스코프 용어
  • BS ISO 14132-3:2021 광학 및 포토닉스 망원경 시스템 용어집 범위 용어
  • BS ISO 10110-13:1998 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 레이저 조사 손상 임계값
  • BS ISO 10110-9:2016 광학 부품 및 시스템 표면 처리 및 코팅을 위한 광학 및 포토닉스 준비 도면
  • BS 7012-12:1997 광학현미경 편광현미경 참조 시스템
  • 20/30400316 DC BS ISO 23216 탄소 기반 필름의 분광 타원편광법을 통한 비정질 탄소 필름의 광학 특성 결정
  • BS ISO 20711:2017 광학 및 포토닉스 환경 요구 사항 망원경 시스템에 대한 테스트 요구 사항
  • BS ISO 10110-6:1996 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 6부: 센터링 공차
  • BS ISO 14490-2:2006 광학 및 광학 기기 망원경 시스템의 테스트 방법 쌍안경 시스템의 테스트 방법
  • BS ISO 14999-4:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 ISO 10110에 지정된 허용 오차에 대한 해설 및 평가
  • BS ISO 14999-4:2015 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 ISO 10110에 지정된 허용 오차 해석 및 평가
  • BS ISO 9358:1995 광학 및 광학 기기 - 눈부심을 다루는 이미지 형성 시스템 - 측정 정의 및 방법
  • BS ISO 15795:2002 광학 및 광학 기기 광학계 품질 평가 색수차로 인한 화질 저하 평가
  • BS ISO 10109-4:2001 광학 및 광학 기기 환경 요구 사항 망원경 시스템에 대한 테스트 요구 사항
  • BS ISO 14490-8:2011 광학 및 광학 기기 시스템 테스트 방법 야간 투시 장비 테스트 방법
  • PD ISO/TR 14999-3:2005 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 간섭계 테스트 장비 및 측정의 교정 및 검증
  • BS ISO 10110-10:2005 광학 부품 및 시스템 도면 광학 부품 및 접착 어셈블리에 대한 데이터 설명 시트 준비
  • BS ISO 9345-2:2003 광학 및 광학 기기 현미경 기계적 기준면에 대한 이미지 거리 무한 광학 보정 시스템
  • BS ISO 10110-10:2004 광학 광학 부품 및 시스템 도면 준비 광학 부품 및 접착 어셈블리에 대한 데이터 설명 시트
  • BS ISO 10110-19:2015 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 표면 및 부품에 대한 일반적인 설명
  • 18/30332797 DC BS ISO 10110-12 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 12부. 비구면
  • BS ISO 9358:1994 광학 및 광학 기기 이미징 시스템을 위한 유약 정의 및 측정 방법을 다루고 있습니다.
  • BS ISO 14490-9:2019 광학 및 포토닉스 망원경 시스템의 테스트 방법 필드 곡률 테스트 방법
  • 16/30324510 DC BS ISO 20711 광학 및 포토닉스 환경 요구 사항 텔레스코픽 시스템에 대한 테스트 요구 사항
  • BS ISO 14490-5:2021 광학 및 광자 망원 시스템에 대한 테스트 방법 투과율 테스트 방법
  • BS ISO 10110-9:1996 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 9부: 표면 처리 및 코팅
  • 22/30430316 DC BS ISO 10110-16 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 16부: 회절 표면
  • BS ISO 9334:2012 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 정의 및 수학적 관계
  • BS EN 61280-2-2:2012 광섬유 통신 하위 시스템에 대한 테스트 절차, 디지털 시스템, 광학 아이 다이어그램, 파형 및 소광비 측정
  • BS ISO 14490-1:2005 광학 및 광학 기기의 망원 시스템에 대한 테스트 방법 기본 특성에 대한 테스트 방법
  • BS ISO 9334:1996 광학 및 광학 기기 광 전송 기능 정의 및 수학적 관계
  • BS ISO 14490-6:2005 광학 및 광학 기기 망원경 시스템의 테스트 방법 화면 눈부심 지수의 테스트 방법
  • BS ISO 14490-6:2014 광학 및 포토닉스 망원경 시스템의 테스트 방법 스크림의 눈부심 지수 테스트 방법
  • BS ISO 10110-2:1996 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 2부: 재료 결함 응력 복굴절
  • BS ISO 10110-3:1996 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 3부: 재료 결함 기포 및 불순물
  • BS ISO 15529:2010 광학 및 광학 기기 광학 전달 함수 샘플 이미징 시스템의 변조 전달 함수(MTF) 측정 원리
  • BS EN ISO 8624:2011 안과용 광학, 안경테, 측정 시스템 및 용어
  • BS ISO 13099-2:2012 콜로이드 시스템, 전기 전위차법, 광학적 방법
  • BS EN ISO 8624:2020 안과 광학 프레임 측정 시스템 및 용어
  • BS EN ISO 12625-7:2021 D65/10°를 이용한 티슈 페이퍼 및 티슈 제품의 광학 특성 측정 밝기 및 색상 측정(야외 일광)

GOSTR, 광학적으로 얇은 시스템

  • GOST R 58566-2019 광학 및 포토닉스 광학 및 전자 시스템을 위한 렌즈 테스트 방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 광학적으로 얇은 시스템

  • GB/T 40293-2021 적외선 칼코게나이드 광학필름 굴절률 테스트 방법
  • GB/T 37384-2019 광학 기능성 필름용 셀룰로오스 트리아세테이트
  • GB/T 37382-2019 액정 디스플레이 백라이트 모듈용 광학 기능성 박막에 사용되는 필름의 고온 고습 노화 특성 측정 방법

German Institute for Standardization, 광학적으로 얇은 시스템

  • DIN ISO/TR 21477:2018-08*DIN SPEC 13477:2018-08 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 표면 결함 사양 및 측정 시스템
  • DIN ISO 9039:2008-08 광학 및 포토닉스 분야 광학 시스템의 품질 평가 왜곡 확인
  • DIN ISO 8576:2002-06 광학 및 광학 기기 현미경 검사법 편광 현미경 기준 시스템
  • DIN ISO 14490 Beiblatt 1:2016-06 광학 및 광학 기기 망원경 시스템의 테스트 방법
  • DIN ISO 10110-1:2020-09 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 개요
  • DIN ISO 10110-1:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반 원리
  • DIN EN ISO 23216:2023-01 탄소 기반 필름 - 분광 타원편광법을 통한 비정질 탄소 필름의 광학 특성 결정
  • DIN ISO 9358:2021-08 광학 및 광학 기기 이미징 시스템의 미광 정의 및 측정 방법
  • DIN ISO 10110-12:2021-09 광학 부품 및 시스템 도면의 광학 및 포토닉스 준비 12부: 비구면 표면
  • DIN 58186:1982 광학 시스템의 품질 평가 눈부심 측정
  • DIN ISO 10110-17:2004 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 17부: 레이저 조사 손상 임계값
  • DIN ISO 20711:2018-01 광학 및 포토닉스 환경 요구 사항 텔레스코픽 시스템에 대한 테스트 요구 사항
  • DIN ISO 10110-6:2016 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 패턴 준비 6부: 중심 공차
  • DIN ISO 10110-6:2016-06 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 6부: 중심 공차
  • DIN ISO 8576:2002 광학 및 광학 기기 현미경 검사 편광 현미경 검사용 기준 시스템(ISO 8576:1996)
  • DIN ISO 10110-6:2000 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 그래픽 준비 6부: 중심 공차
  • DIN ISO 10110-12:2009 광학 및 포토닉스 광학 요소 및 시스템 도면 준비 12부: 비구면 표면
  • DIN ISO 10110-17:2004-12 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 17부: 레이저 조사 손상 임계값
  • DIN EN ISO 23216:2023 탄소 기반 필름 분광 타원편광법을 통한 비정질 탄소 필름의 광학 특성 결정(ISO 23216:2021)
  • DIN ISO 10110-10:2004 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템의 그래픽 준비 파트 10: 광학 부품 및 접합 어셈블리에 대한 데이터 시트
  • DIN ISO 10110-1:2020 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반(ISO 10110-1:2019)
  • DIN ISO 10110-11:2000 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템의 패턴 준비 파트 11: 비공차 데이터
  • DIN ISO 15795:2008-04 광학 및 포토닉스 분야 광학 시스템의 품질 평가 색수차로 인한 이미지 품질 저하 평가
  • DIN ISO 10110-14:2019-09 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
  • DIN ISO 10110-5:2016-04 광학 부품 및 시스템 도면의 광학 및 포토닉스 준비 5부: 표면 형태 공차
  • DIN 58739-2:2002-01 광학 공학 생산 광학 공작물 수용 부분 2: 필름이 있는 척
  • DIN ISO 15795:2008 광학 및 포토닉스 광학 시스템의 품질 평가 색수차로 인한 이미지 품질 저하 평가
  • DIN ISO 10110-12:2021 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 12부: 비구면 표면(ISO 10110-12:2019)
  • DIN ISO 20711:2018 광학 및 포토닉스 환경 요구 사항 텔레스코픽 시스템에 대한 테스트 요구 사항(ISO 20711:2017)
  • DIN ISO 10110-7:2018 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 7부: 표면 결함(ISO 10110-7-2017)
  • DIN ISO 10110-8:2020 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 8부: 표면 질감(ISO 10110-8:2019)
  • DIN ISO 10110-9:2000 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템의 패턴 준비 9부: 표면 처리 및 코팅
  • DIN ISO 10109-7:2002 광학 및 광학 기기 환경 요구 사항 파트 7: 광학 측정 시스템에 대한 테스트 요구 사항(ISO 10109-7:2001)
  • DIN ISO 15529:2010-11 광학 및 포토닉스 변조 전달 함수(MTF) 광학 전달 함수 샘플링 이미징 시스템의 측정 원리
  • DIN ISO 10110-11:2016 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 파트 11: 비공차 데이터(ISO 10110-11-2016)
  • DIN ISO 14999-4 Beiblatt 1:2020-04 광학 및 포토닉스 - 광학 요소 및 광학 시스템의 간섭계 - 4부: ISO 10110에 지정된 허용 오차 해석 및 평가
  • DIN EN 61280-2-9:2009 광섬유 통신 하위 시스템 테스트 절차 2-9부: 디지털 시스템 고밀도 파장 분할 다중화 시스템에서 광섬유 신호 대 잡음비 측정
  • DIN ISO 9334:2008 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 정의 및 관계
  • DIN EN 60856/A2:1998-08 사전 기록된 광학 반사 비디오 디스크 시스템 "Laser Vision" 50Hz/625라인
  • DIN ISO 10110-5:2016 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템의 패턴 준비 5부: 표면 형태 공차(ISO 10110-5-2015)
  • DIN ISO 10110-2:2000 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템의 패턴 준비 2부: 재료 결함 응력 복굴절
  • DIN ISO 10110-9:2016 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 9부: 표면 처리 및 코팅(ISO 10110-9-2016)
  • DIN ISO 10110-3:2000 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템의 패턴 준비 3부: 재료 결함 기포 및 불순물
  • DIN ISO 9345-2:2005 광학 및 광학 기기 현미경 기계적 기준면에 대한 이미지 거리 파트 2: 완전히 보정된 광학 시스템
  • DIN ISO 10110-14:2019 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형에 대한 허용 오차(ISO 10110-14:2018)
  • DIN ISO 10110-19:2016-04 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 작성 파트 19: 표면 및 부품에 대한 일반 설명
  • DIN EN ISO 12625-16:2023-06 티슈 페이퍼 및 티슈 제품 파트 16: 광학 특성 결정 불투명도
  • DIN ISO 14132-4:2016-07 광학 및 포토닉스 망원경 시스템 용어집 4부: 천문 망원경 용어
  • DIN EN ISO 8624:2020-11 안과 광학 프레임 측정 시스템 및 용어
  • DIN ISO 9358:2021 광학 및 광학 기기 화상 형성 시스템에 대한 눈부심의 정의 및 측정 방법(ISO 9358:1994)
  • DIN ISO 14490-5:2007 광학 및 광학 기기 망원 시스템의 테스트 방법 파트 5: 빛 투과율 테스트 방법
  • DIN ISO 9358:2020 광학 및 광학 기기 화상 형성 시스템에 대한 눈부심의 정의 및 측정 방법(ISO 9358:1994)
  • DIN 58196-4:1996 광학 필름 4부: 지우개 내마모성 테스트
  • DIN ISO 14999-4:2016 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 4부: ISO 10110(ISO 14999-4-2015)에 지정된 허용 오차에 대한 설명 및 평가
  • DIN ISO 15529:2010 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 샘플링된 이미징 시스템의 변조 전달 함수(MTF) 측정 원리(ISO 15529-2010)
  • DIN ISO 14490-2:2006 광학 및 광학 기기 망원경 시스템의 테스트 방법 2부: 쌍안경 시스템의 테스트 방법(ISO 14490-2:2005)

Association Francaise de Normalisation, 광학적으로 얇은 시스템

  • NF S10-042:1998 광학 및 광학 기기 광학 시스템의 품질 평가 왜곡 측정
  • NF ISO 9039:2009 광학 및 포토닉스. 광학 시스템 품질 평가. 왜곡의 결정
  • NF ISO 10110-1:2020 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 가이드 1부: 개요
  • NF EN ISO 23216:2022 탄소 기반 필름에 대한 분광 타원편광법을 사용한 비정질 탄소 필름의 광학 특성 결정
  • NF ISO 10110-8:2020 광학 부품 및 시스템 도면에 대한 광학 및 포토닉스 가이드 8부: 표면 마감
  • NF S10-008-1:2006 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반 원리
  • NF S10-008-1*NF ISO 10110-1:2020 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반 원리
  • NF S10-008-5:2008 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 5부: 표면 형태 공차
  • NF S10-008-5*NF ISO 10110-5:2015 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 5부: 표면 형태 공차
  • NF S10-008-1:1996 광학 및 광학 기기 도면을 통한 광학 부품 및 시스템 준비 1부: 일반 원리
  • NF ISO 10110-12:2020 광학 부품 및 시스템 도면의 광학 및 포토닉스 준비 12부: 비구면 표면
  • NF ISO 10110-7:2017 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 안내 - 7부: 표면 결함
  • NF ISO 10110-6:2015 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 지침 - 6부: 정렬 공차
  • NF S10-008-17*NF ISO 10110-17:2005 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 17부: 레이저 조사 손상 임계값
  • NF A91-156*NF ISO 23216:2021 탄소 기반 필름에 대한 엘립소메트리를 사용한 비정질 탄소 필름의 광학 특성 결정
  • NF S10-008-6*NF ISO 10110-6:2015 광학 및 포토닉스 도면을 바탕으로 광학 부품 및 시스템 준비 6부: 센터링 공차
  • NF S10-008-7*NF ISO 10110-7:2017 광학 및 포토닉스용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 7부: 표면 결함
  • NF S10-008-8*NF ISO 10110-8:2020 광학 부품 및 시스템 도면의 광학 및 포토닉스 준비 8부: 표면 질감
  • NF S10-043*NF ISO 9358:1998 광학 및 광학 기기 이미징 시스템의 블랙 플래시 정의 및 측정 방법
  • NF S10-008-12:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템의 그래픽 준비 12부: 비구면 표면
  • NF S10-008-11*NF ISO 10110-11:2016 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 11부: 비공차 데이터
  • NF S10-008-6:1996 광학 및 광학 기기 도면을 통한 광학 부품 및 시스템 준비 6부: 센터링 공차
  • NF S10-008-8:1998 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 8부: 표면 구조
  • NF ISO 10110-5:2015 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 지침 - 5부: 표면 형태 공차
  • NF ISO 10110-17:2005 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 17부: 레이저 방사선 손상 임계값
  • NF S10-008-10:2005 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 파트 10: 광학 부품 및 접합 어셈블리에 대한 데이터 시트
  • NF S10-008-12/A1:2013 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 12부: 비구면 수정 1
  • NF S10-008-11:1996 광학 및 광학 기기 도면을 이용한 광학 부품 및 시스템 준비 파트 11: 비공차 데이터
  • NF S10-008-14*NF ISO 10110-14:2018 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 시스템에 대한 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
  • NF ISO 10110-14:2018 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 준비 - 14부: 파면 왜곡 허용 오차
  • NF ISO 10110-11:2016 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 지침 - 11부: 허용할 수 없는 데이터
  • NF ISO 10110-9:2016 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 안내 - 9부: 표면 처리 및 코팅
  • NF C43-890*NF EN 62471:2008 램프 및 램프 시스템의 광생물학적 안전성
  • NF S10-008-14:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 14부: 파면 변형 허용 오차
  • NF S10-008-9*NF ISO 10110-9:2016 광학 부품 및 시스템 도면의 광학 및 포토닉스 준비 9부: 표면 처리 및 코팅
  • NF S10-008-5:1996 광학 및 광학 기기 도면을 통한 광학 부품 및 시스템 준비 5부: 표면 형태 공차
  • NF S10-008-7:1996 광학 및 광학 기기 도면을 통한 광학 부품 및 시스템 준비 7부: 표면 결함에 대한 허용 오차
  • NF S10-008-12:1998 광학 및 광학 기기 광학 부품 및 시스템 도면 준비 12부: 비구면 표면
  • FD ISO/TR 14999-2:2019 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템의 간섭계 - 2부: 측정 및 평가 기술
  • NF ISO 15795:2002 광학 및 포토닉스. 광학 시스템의 품질 평가. 색수차로 인한 화질 저하 추정
  • NF Q34-030-7:2007 티슈 페이퍼 및 티슈 제품 파트 7: 광학 특성 결정
  • NF S10-051*NF ISO 15795:2002 광학 및 광학 기기의 품질 평가 광학 시스템 변색으로 인한 이미징 품질 저하 평가
  • NF S10-008-9:1996 광학 및 광학 기기 도면으로 준비된 광학 부품 및 시스템 9부: 표면 처리 및 코팅
  • NF ISO 9358:1998 광학 및 광학 기기. 이미징 시스템에서 미광을 확산시킵니다. 정의 및 측정 방법.
  • NF S10-050*NF ISO 15529:2011 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 샘플링 이미징 시스템의 변조 전달 함수(MIF) 측정 원리
  • NF ISO 10110-19:2015 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 안내 - 19부: 표면 및 부품에 대한 일반 설명
  • NF ISO 15529:2011 광학 및 포토닉스 - 광학 전달 함수 - 샘플링된 이미징 시스템의 변조 전달 함수(MTF) 측정 원리
  • NF S10-009-4:2007 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 4부: ISO 10110에 지정된 허용 오차에 대한 설명 및 평가
  • NF S10-009-4*NF ISO 14999-4:2015 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 4부: ISO 10110에 지정된 허용 오차 해석 및 평가
  • NF S10-008-3:1996 광학 및 광학 기기 도면으로 준비된 광학 부품 및 시스템 2부: 재료 결함 기포 및 함유물
  • NF S10-040:1998 광학 및 광학 기기 광학 변환 기능 정의 및 수학적 관계
  • NF S11-520*NF EN ISO 8624:2020 안과 광학 프레임 측정 시스템 및 용어
  • NF EN ISO 8624:2020 안과용 광학, 안경테, 측정 시스템 및 용어
  • NF S10-008-19*NF ISO 10110-19:2015 광학 및 포토닉스 광학 구성 요소 및 시스템에 대한 도면 준비 파트 19: 표면 및 구성 요소에 대한 일반 설명
  • NF S10-008-2:1996 광학 및 광학 기기 도면을 통한 광학 부품 및 시스템 준비 2부: 재료 결함 응력 복굴절

KR-KS, 광학적으로 얇은 시스템

  • KS B ISO 9039-2018 광학 및 포토닉스 - 광학 시스템의 품질 평가 - 왜곡 측정
  • KS B ISO 9039-2023 광학 및 포토닉스 광학 시스템의 품질 평가 왜곡 확인
  • KS B ISO 10110-12-2023 광학 부품 및 시스템의 광학 및 포토닉스 도면 12부: 비구면 표면
  • KS B ISO 10110-1-2017 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템 도면 준비 1부: 일반
  • KS B ISO 10110-11-2023 광학 부품 및 시스템의 광학 및 포토닉스 도면 11부: 비공차 데이터
  • KS B ISO 8576-2023 광학 및 광학 기기 현미경 검사 편광 현미경 검사를 위한 기준 시스템.
  • KS B ISO 10110-12-2018 광학 및 포토닉스 광학 요소 및 시스템 도면 준비 12부: 비구면 표면
  • KS B ISO 10110-5-2023 광학 부품 및 시스템의 광학 및 포토닉스 도면 5부: 표면 형태 공차
  • KS B ISO 10110-10-2023 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 10부: 광학 부품 및 접착 어셈블리 데이터시트
  • KS B ISO 10110-6-2017 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 6부: 센터링 공차
  • KS B ISO 10110-8-2017 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 8부: 표면 구조
  • KS B ISO 10110-17-2023 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 시스템 도면 준비 17부: 레이저 조사 손상 임계값
  • KS B ISO 10110-5-2018 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템의 도면 준비 - 5부: 표면 형태 공차
  • KS B ISO 10110-7-2017 광학 및 광학 기기용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 7부: 표면 결함에 대한 허용 오차
  • KS B ISO 9358-2023 광학 및 광학 기기 이미지 형성 시스템에서 반사된 눈부심 측정 정의 및 방법
  • KS B ISO 14132-3-2019 광학 및 포토닉스 - 텔레스코픽 시스템 용어집 - 3부: 텔레스코픽 조준 용어
  • KS B ISO 10110-9-2017 광학 및 광학 기기용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 9부: 표면 처리 및 코팅
  • KS B ISO 9334-2023 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 정의 및 수학적 관계
  • KS B ISO 10110-11-2018 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 0716 및 0716 시스템용 도면 준비 - 0716 부품 071611: 비공통 0716 차이 데이터
  • KS B ISO 15795-2023 광학 및 광학 기기 광학계의 품질 평가 색수차로 인한 화질 저하 평가
  • KS B ISO 15529-2023 광학 및 포토닉스 광학 전달 함수 샘플링된 이미징 시스템의 변조 전달 함수(MTF) 측정 원리
  • KS B ISO 14999-4-2016 광학 및 포토닉스의 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 제4부: KS B ISO 10110에 규정된 공차의 해석 및 평가
  • KS B ISO 9334-2016 광학 및 광학 기기의 광학 전달 함수 정의 및 수학적 관계
  • KS B ISO 10110-2-2017 광학 및 광학 기기용 광학 부품 및 시스템 도면 준비 2부: 재료 결함으로 인해 복굴절이 강조됨
  • KS B ISO 14132-4-2019 광학 및 포토닉스 망원경 시스템의 용어 4부: 천문 망원경 용어
  • KS B ISO 10109-4-2023 광학 및 광학 기기 환경 요구 사항 4부: 텔레스코픽 시스템에 대한 테스트 요구 사항
  • KS G ISO 8624-2022 안과 광학 안경테 측정 시스템 및 어휘
  • KS B ISO 10110-10-2018 광학 및 포토닉스 - 광학 부품 및 시스템을 위한 도면 준비 - 10부: 광학 4568 부품 및 시멘트질 조립품에 대한 데이터 4568을 나타내는 표
  • KS B ISO 10110-3-2017 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 3부: 재료 결함 기포 및 함유물

Group Standards of the People's Republic of China, 광학적으로 얇은 시스템

  • T/NDAS 41-2021 광학 진동 감지 시스템
  • T/SGMY 0001-2021 자가 치유 광학 필름 코팅
  • T/SZIEIA 02-2022 AOI 자동광학검사 시스템
  • T/CEC 727-2022 가정용 태양광발전시스템의 박막부품 시험규격
  • T/CEC 470-2021 가정용 태양광 발전 시스템용 박막 모듈 선택 지침
  • T/CEC 471-2021 가정용 박막 태양광 발전 시스템의 운영 및 유지 관리 절차
  • T/GDSBME 007-2023 의료용 근적외선 광학 포지셔닝 시스템
  • T/CSTM 00313-2021 스펙트럼 반전에 기초한 광학박막 상수 시험 방법
  • T/ZZB 0696-2018 광학 등급 청색 이축 배향 폴리에스테르 필름
  • T/CECS 630-2019 건물에 구리 인듐 갈륨 셀레나이드 박막 광전지 시스템을 적용하기 위한 기술 규정
  • T/CEC 5043-2021 가정용 태양광발전시스템용 박막모듈 장착 기술규격
  • T/GDMDMA 0003-2021 초등 및 중등 교실을 위한 시력 관리 조명 시스템
  • T/ZS 0110-2020 구조 기하 매개변수 광학 측정 시스템
  • T/CEC 728-2022 가정용 벽체형 박막 태양광 발전 시스템의 운영 및 유지 관리 절차
  • T/CEC 5081-2022 가정용 벽체형 박막 태양광 발전 시스템 설치 및 시운전 사양
  • T/CPIA 0036.1-2022 광전지 모듈용 방향성 반사 광학 필름 1부: 주석 도금 솔더 스트립 표면용 필름
  • T/ZZB 0514-2018 박막 트랜지스터 액정 디스플레이용 광학 반사 필름

International Telecommunication Union (ITU), 광학적으로 얇은 시스템

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 광학적으로 얇은 시스템

  • JIS Z 4339:2004 광학 자극 발광 선량 측정 시스템
  • JIS B 7261:2005 광학 및 광학 기기 환경 요구 사항 망원 시스템에 대한 테스트 요구 사항
  • JIS B 7263-2:2007 광학 및 광학 기기 망원 시스템의 테스트 방법 파트 2: 쌍안경 시스템의 테스트 방법
  • JIS C 61281-1:2010 광섬유 통신 하위 시스템의 일반 사양
  • JIS C 7550:2011 램프 및 램프 시스템의 광생물학적 안전성
  • JIS B 7281:2003 안과용 광학, 안경테, 측정 시스템 및 용어

European Committee for Standardization (CEN), 광학적으로 얇은 시스템

  • EN ISO 16808:2022 금속 재료, 얇은 판 및 스트립, 양방향 응력-변형 곡선 결정 및 광학 측정 시스템의 팽창 테스트 방법
  • EN ISO 23216:2022 탄소 기반 필름 엘립소메트리에 의한 비정질 탄소 필름의 광학 특성 결정
  • EN 12625-7:2000 티슈 페이퍼 및 티슈 제품 파트 7: 광학 특성 결정
  • EN ISO 16808:2014 금속 재료 얇은 판 및 스트립 광학 측정 시스템을 위한 양방향 응력-변형 곡선 및 팽창 테스트 방법 결정(ISO 16808:2014)
  • EN ISO 8624:1996 안과용 광학, 안경테, 측정 시스템 및 용어
  • EN ISO 8624:2020 안과용 광학, 안경테, 측정 시스템 및 용어
  • EN ISO 8624:2011 안과용 광학, 안경테, 측정 시스템 및 용어

IEC - International Electrotechnical Commission, 광학적으로 얇은 시스템

  • TS 62989-2018 집광형 태양광 시스템용 기본 광학 장치(버전 1.0)

International Electrotechnical Commission (IEC), 광학적으로 얇은 시스템

ES-UNE, 광학적으로 얇은 시스템

CZ-CSN, 광학적으로 얇은 시스템

SAE - SAE International, 광학적으로 얇은 시스템

International Commission on Illumination (CIE), 광학적으로 얇은 시스템

Society of Automotive Engineers (SAE), 광학적으로 얇은 시스템

VDE - VDE Verlag GmbH@ Berlin@ Germany, 광학적으로 얇은 시스템

未注明发布机构, 광학적으로 얇은 시스템

  • BS ISO 9358:1994(2000) 광학 및 광학 기기 이미징 시스템의 미광 정의 및 측정 방법
  • BS ISO 10110-13:1997(1999) 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 13부: 레이저 조사 손상 임계값
  • BS 4995:1973(2011) 렌즈 및 광학 시스템의 미광 지수 측정에 대한 권장 사항
  • BS ISO 10110-2:1996(1999) 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 2부: 재료 결함 응력 복굴절
  • BS ISO 10110-3:1996(1999) 광학 부품 및 광학 및 광학 기기 시스템의 도면 준비 3부: 재료 결함 기포 및 함유물

American National Standards Institute (ANSI), 광학적으로 얇은 시스템

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 광학적으로 얇은 시스템

  • GJB 9791-2020 광학 시스템에 사용되는 칼코게나이드 유리 재료 사양

ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector, 광학적으로 얇은 시스템

  • ITU-T G.664-2003 광 전송 시스템 G-시리즈의 광 안전 절차 및 요구 사항: 전송 시스템 및 미디어 디지털 시스템 및 네트워크 전송 미디어의 특성 "광 구성 요소 및 하위 시스템의 특성(연구 그룹 15)
  • ITU-T G.697-2004 DWDM 시스템의 광학 모니터링 G-시리즈: 전송 시스템 및 미디어 디지털 시스템 및 네트워크의 특성 전송 미디어 광학 구성 요소 및 하위 시스템의 특성
  • ITU-T G.664 AMD 1-2005 광 전송 시스템 수정안 1 G 시리즈에 대한 광 안전 절차 및 요구 사항: 디지털 시스템 및 네트워크 전송 미디어의 전송 시스템 및 미디어 특성 "광학 구성 요소 및 하위 시스템의 특성(연구 Gr
  • ITU-T G.664-1999 광 전송 시스템의 광 안전 절차 및 요구 사항 G-시리즈: 전송 시스템 및 미디어 디지털 시스템 및 네트워크 전송 미디어의 특성 광 구성 요소 및 하위 시스템의 특성(연구 그룹 15, 18페이지)
  • ITU-T G.693-2001 사무실 내 시스템용 광학 인터페이스 G-시리즈: 전송 시스템 및 디지털 시스템과 네트워크의 매체 특성 광학 구성 요소 및 하위 시스템의 전송 매체 특성(연구 그룹 15)

Danish Standards Foundation, 광학적으로 얇은 시스템

Professional Standard - Military and Civilian Products, 광학적으로 얇은 시스템

CU-NC, 광학적으로 얇은 시스템

  • NC 39-04-1987 국가과학기술정보시스템. 국제표준 디지털북

RU-GOST R, 광학적으로 얇은 시스템

  • GOST R 8.743-2011 국가 측정 일관성 보증 시스템 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 1부: 용어, 정의 및 기본 관계
  • GOST R 8.745-2011 국가 측정 일관성 보증 시스템 광학 및 포토닉스 광학 부품 및 광학 시스템의 간섭계 측정 2부: 측정 및 평가 기술
  • GOST R 8.829-2013 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 광학 밀도(투과율) 및 폴리머 시트 및 필름의 헤이즈 측정 방법

Aerospace Industries Association, 광학적으로 얇은 시스템

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., 광학적으로 얇은 시스템

  • NAS881-1982 인덱스 바 광학 도구 도구 모음 시스템
  • NAS882-2012 BAR 광학 도구 모음 시스템(개정 1)

(U.S.) Telecommunications Industries Association , 광학적으로 얇은 시스템

  • TIA SP 3-0142-2003 광섬유 통신 시스템을 위한 설계 지침 6부: 병렬 광 상호 연결 시스템의 비대칭 설계

Professional Standard - Medicine, 광학적으로 얇은 시스템

North Atlantic Treaty Organization Standards Agency, 광학적으로 얇은 시스템

Professional Standard - Machinery, 광학적으로 얇은 시스템

ANSI - American National Standards Institute, 광학적으로 얇은 시스템

  • INCITS 62-2017 정보 시스템 OCR(광학 문자 인식) 시스템에 사용되는 용지
  • X3.62-1979 광학문자인식(OCR) 시스템용 종이

Lithuanian Standards Office , 광학적으로 얇은 시스템

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 광학적으로 얇은 시스템

  • GJB 5437-2005 포드 광학 시스템을 조준하기 위한 일반 설계 요구 사항

IT-UNI, 광학적으로 얇은 시스템

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, 광학적으로 얇은 시스템

Standard Association of Australia (SAA), 광학적으로 얇은 시스템

IN-BIS, 광학적으로 얇은 시스템

  • IS 5920-1970 광학 부품 및 시스템 도면 준비에 대한 권장 사항

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 광학적으로 얇은 시스템

  • YS/T 718-2009 평면 마그네트론 스퍼터링 타겟 광학박막용 니오브 타겟
  • YS/T 719-2009 평면 마그네트론 스퍼터링 타겟 광학박막용 실리콘 타겟

American Society for Testing and Materials (ASTM), 광학적으로 얇은 시스템

  • ASTM E2304-03(2011) Lif 광형광 필름 계측 시스템을 사용하기 위한 표준 작동 절차

Defense Logistics Agency, 광학적으로 얇은 시스템





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