ZH

EN

JP

ES

RU

DE

에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

모두 118항목의 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 분석 화학, 종합 전자 부품, 방사선 측정, 플라스틱, 광전자공학, 레이저 장비, 방사선방호, 원자력공학, 우유 및 유제품, 고무 및 플라스틱 제품, 부피, 질량, 밀도 및 점도 측정, 비파괴 검사, 길이 및 각도 측정, 석유제품 종합, 토양질, 토양과학.


International Organization for Standardization (ISO), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • ISO 1112:1974 타이밍 도구 기능적 및 비기능적 원석
  • ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
  • ISO/FDIS 179-1 플라스틱 "샤르피 충격 특성 결정" 파트 1: 비기기 충격 시험
  • ISO 6603-1:2000 경질 플라스틱의 펀칭 특성 결정 - 1부: 비기기 충격 시험
  • ISO 179-1:2000 플라스틱 단순 지지 빔의 충격 특성 결정 1부: 비계장 충격 테스트
  • ISO 15471:2004 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 15471:2016 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO 8655-7:2005 피스톤 유형 용량 측정 장비 7부: 장비 성능 평가를 위한 비중량 측정 방법
  • ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • ISO/CD 25178-602 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 평면 섹션 602: 비접촉(공초점 크로마토그래피 프로브) 장비의 공칭 특성
  • ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
  • ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
  • ISO 8655-7:2005/cor 1:2008 피스톤 유형 용량 측정 장비 7부: 장비 성능 평가를 위한 비중량 방법 기술 정오표 1
  • ISO 13196:2013 토양 품질. 휴대용 또는 휴대용 기기를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택된 요소에 대한 토양 스크리닝
  • ISO/CD 13196:2023 토양 품질 휴대용 또는 휴대용 장비를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택된 요소에 대한 토양을 스크리닝합니다.

Group Standards of the People's Republic of China, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • T/CSTM 00964-2022 원자 분광기 성능 평가를 위한 일반 원칙
  • T/CAIA YQ003-2016 분광기용 선형 어레이 CCD의 광전 성능에 대한 일반적인 테스트 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • GB/T 20726-2006 반도체 검출기 X선 분광기의 일반 원리
  • GB/T 25187-2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
  • GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
  • GB/T 1043.1-2008 플라스틱 단순 지지 빔의 충격 특성 결정 1부: 비계장 충격 테스트
  • GB/T 11685-2003 반도체 X선 검출기 시스템 및 반도체 X선 에너지 분광계의 측정 방법
  • GB/T 31836-2015 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 운송 탐지 및 식별을 위한 스펙트럼 분석 기반 포털 모니터링 시스템

Professional Standard - Electron, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

German Institute for Standardization, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • DIN IEC 62484:2014 방사선 방호 장비 분광학 방사성 물질의 불법 운송을 위한 스펙트럼 기반 입구 모니터(IEC 62484-2010)
  • DIN ISO 15632:2022-09 에너지 분산형 X선 분광계 사양 및 검사를 위해 선택된 기기 성능 매개변수의 마이크로빔 분석
  • DIN EN ISO 179-1:2010-11 플라스틱의 샤르피 충격 특성 측정 1부: 비기기 충격 테스트
  • DIN 10478:2003 적외선 분광법을 이용한 가공되지 않은 우유의 영양 함량 측정 장비 기능 테스트
  • DIN EN ISO 6603-1:2000 플라스틱 경질 플라스틱의 펀칭 저항 측정 1부: 비기기 충격 시험
  • DIN 51577-4:1994 광유 및 유사 제품의 탄화수소 검사 염소 및 브롬 함량 측정 저가형 기기의 에너지 산란 X선 분광계를 사용한 분석
  • DIN EN ISO 179-1:2023-10 플라스틱의 샤르피 충격 특성 결정 1부: 비기기 충격 테스트(ISO 179-1:2023), 독일어 버전 EN ISO 179-1:2023
  • DIN EN ISO 179-1:2010 플라스틱 진자 충격 특성 결정 1부: 비계장 충격 테스트(ISO 179-1-2010) 독일어 버전 EN ISO 179-1-2010
  • DIN EN ISO 8655-7:2005 피스톤 유형 용량 측정 장비 7부: 장비 성능 평가를 위한 비중량 방법(ISO 8655-1-2005), 독일 버전 EN ISO 8655-1-2005
  • DIN EN ISO 13196:2015-11 토양 품질 휴대용 또는 휴대용 장비를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택된 요소에 대한 토양을 스크리닝합니다.

British Standards Institution (BSI), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • ISO 179-1:2023 플라스틱의 샤르피 충격 특성 측정 비기기 충격 시험
  • BS ISO 15471:2016 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 분광법을 위해 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • BS EN IEC 62484:2021 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하고 식별하기 위한 방사선 방호 계측 스펙트럼 방사선 포털 모니터(SRPM)
  • BS EN ISO 6603-1:2000 플라스틱 경질 플라스틱 복합재의 축방향 충격 특성 측정 비기기 충격 테스트
  • BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
  • BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
  • BS ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • 18/30373525 DC BS IEC 62484 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 밀매를 탐지하고 식별하기 위한 스펙트럼 기반 포털 모니터
  • 18/30385699 DC BS IEC 62484 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 밀매를 탐지하고 식별하기 위한 스펙트럼 기반 포털 모니터
  • BS EN 62618:2016 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하기 위한 분광학 기반 경보 기반 개인용 방사선 탐지기(SPRD)
  • 22/30449754 DC BS EN ISO 179-1 플라스틱의 샤르피 충격 특성 결정 파트 1: 비기기 충격 테스트
  • 20/30420915 DC BS IEC 62618 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하기 위한 스펙트럼 기반 경보 개인용 방사선 탐지기(SPRD)
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
  • 19/30405967 DC BS EN IEC 62618 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하기 위한 스펙트럼 기반 경보 개인용 방사선 탐지기(SPRD)
  • BS ISO 13196:2013 토양 품질휴대용 기기를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택한 요소에 대한 토양 스크리닝
  • BS EN ISO 13196:2015 토양 품질 휴대용 또는 휴대용 장비를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택된 요소에 대한 토양을 스크리닝합니다.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • KS C IEC 61452:2017 원자력 계측 "방사성 핵종의 감마선 방사율 측정" 게르마늄 에너지 분광계의 교정 및 사용
  • KS D ISO 15471-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 - 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • KS M ISO 179-1-2012(2017) 플라스틱의 샤르피 충격 특성 측정 1부: 비기기 충격 테스트
  • KS M ISO 179-1:2022 플라스틱 샤르피 충격 특성 결정 1부: 비기기 충격 테스트
  • KS C IEC 62484-2014(2019) 방사선 방호 장비 - 방사성 물질의 불법 밀매를 탐지하고 식별하기 위한 스펙트럼 기반 포털 모니터
  • KS C IEC 62484:2014 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 밀매를 탐지하고 식별하기 위한 분광학 기반 포털 모니터
  • KS D ISO 15471:2005 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • KS D ISO 15632:2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
  • KS M ISO 6603-1-2002(2022) 플라스틱 경질 플라스틱의 펑크 충격 특성 결정 1부: 비기기 충격 테스트
  • KS D ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • KS M ISO 6603-1-2002(2017) 플라스틱 - 경질 플라스틱의 펑크 충격 특성 결정 - 1부: 비기기 충격 테스트

International Electrotechnical Commission (IEC), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • IEC 61455:1995 원자력 기기의 원자력 에너지 분광법을 위한 다중 채널 분석기 히스토그램 데이터 교환 형식
  • IEC 62484:2020 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 밀매를 탐지하고 식별하기 위한 스펙트럼 방사선 입구 모니터
  • IEC 62618:2022 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하기 위한 스펙트럼 기반 경보 개인용 방사선 탐지기(SPRD)

Professional Standard - Aviation, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • HB 7097-1994 민간 항공기의 자기적으로 불안정한 방향 계측기에 대한 최소 성능 요구 사항
  • HB 7100-1994 민간 항공기용 자이로 안정화 비자기 방향 계측기의 최소 성능 요구 사항

Professional Standard - Meteorology, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • QX/T 206-2013 위성 저분광 분해능 적외선 장비의 성능 지표 계산 방법

Indonesia Standards, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • SNI ISO 179-1:2011 플라스틱의 샤르피 충격 특성 측정 1부: 비기기 충격 테스트
  • SNI ISO 6603-1:2011 플라스틱 경질 플라스틱의 펑크 충격 특성 결정 1부: 비기기 충격 테스트

Danish Standards Foundation, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • DS/EN ISO 179-1:2010 플라스틱의 샤르피 충격 특성 측정 1부: 비기기 충격 테스트
  • DS/EN ISO 6603-1:2000 플라스틱 경질 플라스틱의 펑크 충격 특성 결정 1부: 비기기 충격 테스트
  • DS/EN ISO 25178-602:2010 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 평면 부품 602: 비접촉(공초점 크로마토그래피 프로브) 장비의 공칭 특성
  • DS/ISO 13196:2013 토양 품질 휴대용 또는 휴대용 장비를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택된 요소에 대한 토양을 스크리닝합니다.

KR-KS, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • KS M ISO 179-1-2022 플라스틱 샤르피 충격 특성 결정 1부: 비기기 충격 테스트
  • KS D ISO 15632-2018 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사
  • KS D ISO 15632-2023 마이크로빔 분석 주사전자현미경(SEM) 또는 전자탐침 마이크로분석기(EPMA)와 함께 사용하기 위한 에너지 분산형 X선 분광계(EDS)에 대해 선택된 기기 성능 매개변수의 사양 및 검사

American National Standards Institute (ANSI), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • BS EN ISO 179-1:2023 플라스틱의 샤르피 충격 특성 결정 비기기 충격 시험(영국 표준)

未注明发布机构, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • DIN EN ISO 179-1:2001 플라스틱의 샤르피 충격 특성 측정 1부: 비기기 충격 테스트
  • DIN EN IEC 61290-1-1:2022 광섬유 증폭기 테스트 방법 1부 1: 광학 성능 및 이득 매개변수 스펙트럼 분석기 방법

Association Francaise de Normalisation, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • NF EN 62618:2017 방사선 방호 장비 - 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하기 위한 개별 스펙트럼 방사선 경보 감지기(SPRD)
  • NF C19-484*NF EN IEC 62484:2021 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하고 식별하기 위한 방사선 방호 장비 SRPM(Spectral Radiation Portal Monitor)
  • NF C19-484*NF EN 62484:2016 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 밀매를 탐지하고 식별하기 위한 분광학 기반 포털 모니터
  • NF B35-655-7*NF EN ISO 8655-7:2006 피스톤 부피 측정 장비 7부: 장비 성능 평가를 위한 비중량 측정 방법
  • NF C19-118*NF EN 62618:2017 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하기 위한 분광학 기반 경보 개인용 방사선 탐지기(SPRD)
  • NF EN IEC 62484:2021 방사선 방호 장비 - 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하고 식별하기 위한 스펙트럼 방사선 탐지 포털(SRPM)
  • NF T51-116-1*NF EN ISO 6603-1:2000 플라스틱 제품 경질 플라스틱 제품의 파손 특성 결정 1부: 비기기 충격 시험
  • NF X31-013:2013 토양 품질. 휴대용 또는 휴대용 기기를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택된 요소에 대한 토양 스크리닝
  • NF X31-013*NF EN ISO 13196:2015 토양 품질 휴대용 또는 휴대용 장비를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택된 요소에 대한 토양을 스크리닝합니다.

ES-UNE, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • UNE-EN IEC 62484:2021 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하고 식별하기 위한 방사선 방호 장비 SRPM(Spectral Radiation Portal Monitor)
  • UNE-EN 62484:2015 방사성 물질의 불법 밀매 탐지 및 식별을 위한 방사선 방호 장비 스펙트럼 기반 포털 모니터
  • UNE-EN 62618:2016 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하기 위한 스펙트럼 기반 경보 개인용 방사선 탐지기(SPRD)
  • UNE-EN ISO 13196:2015 토양 품질 휴대용 또는 휴대용 장비를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택된 요소에 대한 토양을 스크리닝합니다.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • JIS K 7211-1:2006 플라스틱 경질 플라스틱의 펀칭 저항 측정 1부: 비기기 충격 시험
  • JIS K 0161:2010 표면 화학 분석 오제 전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
  • JIS K 0162:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • EN 62484:2015 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 밀매를 탐지하고 식별하기 위한 분광학 기반 포털 모니터
  • EN 62618:2016 방사선 방호 장비 방사성 물질의 불법 거래를 탐지하기 위한 분광학 기반 경보 개인용 방사선 검출기(SPRD)

European Committee for Standardization (CEN), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • EN ISO 8655-7:2022 피스톤 유형 용량 측정 장비 7부: 장비 성능 평가를 위한 비중량 측정 방법
  • EN ISO 8655-7:2005 피스톤 유형 용량 측정 장비 7부: 장비 성능 평가를 위한 비중량 측정 방법
  • EN ISO 179-1:2023 플라스틱 - 샤르피 충격 특성 결정 - 1부: 비기기 충격 테스트(ISO 179-1:2023)
  • FprEN ISO 179-1 플라스틱의 샤르피 충격 특성 결정 1부: 비기기 충격 시험(ISO/FDIS 179-1:2023)
  • EN ISO 6603-1:1996 플라스틱 경질 플라스틱의 충격 저항 측정 1부: 비기기 충격 테스트
  • EN ISO 6603-1:2000 플라스틱 경질 플라스틱의 충격 저항 측정 파트 1: 비기기 충격 테스트 ISO 6603-1-2000
  • EN ISO 13196:2015 토양 품질 휴대용 또는 휴대용 기기의 선택된 요소를 사용하여 토양 스크리닝을 위한 에너지 분산형 X선 형광 분광법(ISO 13196:2013)
  • prEN ISO 13196 rev 토양 품질 휴대용 또는 휴대용 장비를 사용하여 에너지 분산형 X선 형광 분광법을 사용하여 선택된 요소에 대한 토양을 스크리닝합니다.

Lithuanian Standards Office , 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • LST EN ISO 179-1:2010 플라스틱의 샤르피 충격 특성 결정 파트 1: 비기기 충격 테스트(ISO 179-1:2010)
  • LST EN ISO 8655-7:2006 피스톤 용적형 기기 파트 7: 장비 성능 평가를 위한 무중력 방법(ISO 8655-7:2005)
  • LST EN ISO 8655-7:2006/AC:2009 피스톤 용적형 기기 파트 7: 장비 성능 평가를 위한 무중력 방법(ISO 8655-7:2005/Cor 1:2008)
  • LST EN ISO 25178-602:2010 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 평면 부품 602: 비접촉식(공초점 크로마토그래피 프로브) 기기의 공칭 특성(ISO 25178-602:2010)

AENOR, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • UNE-EN ISO 179-1:2011 플라스틱의 샤르피 충격 특성 결정 파트 1: 비기기 충격 테스트(ISO 179-1:2010)
  • UNE-EN ISO 8655-7:2006 피스톤 용적형 기기 파트 7: 장비 성능 평가를 위한 무중력 방법(ISO 8655-7:2005)
  • UNE-EN ISO 6603-1:2001 플라스틱 경질 플라스틱의 펑크 충격 특성 결정 파트 1: 비기기 충격 테스트(ISO 6603-1:2000)
  • UNE-EN ISO 25178-602:2011 기하학적 제품 사양(GPS) 표면 질감: 평면 부품 602: 비접촉식(공초점 크로마토그래피 프로브) 기기의 공칭 특성(ISO 25178-602:2010)

Standard Association of Australia (SAA), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명

Professional Standard - Machinery, 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • JB/T 11602.3-2013 비파괴 검사 장비의 X선관 전압 측정 및 평가 3부: 에너지 스펙트럼 테스트

American Society for Testing and Materials (ASTM), 에너지 분광학 기기가 될 수 있을까요?

  • ASTM D8470-22 다변수 온라인, 온라인 및 실험실 광학 스펙트럼 분석기 시스템의 기기 성능 테스트 개발 및 구현을 위한 표준 관행




©2007-2024 저작권 소유