ZH
EN
ES

увеличение электронного микроскопа

увеличение электронного микроскопа, Всего: 23 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к увеличение электронного микроскопа, являются: Оптическое оборудование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия.

American Society for Testing and Materials (ASTM), увеличение электронного микроскопа

ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, увеличение электронного микроскопа

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

Professional Standard - Machinery, увеличение электронного микроскопа

JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), увеличение электронного микроскопа

KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения

International Organization for Standardization (ISO), увеличение электронного микроскопа

ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.

Association Francaise de Normalisation, увеличение электронного микроскопа

NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

British Standards Institution (BSI), увеличение электронного микроскопа

BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), увеличение электронного микроскопа

JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, увеличение электронного микроскопа

GB/T 34002-2017 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.