сканирующий электронный микроскоп

сканирующий электронный микроскоп, Всего: 42 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к сканирующий электронный микроскоп, являются: Линейные и угловые измерения, Оптическое оборудование, Качество воздуха, Оптика и оптические измерения, Строительные материалы, Словари, Образование, Аналитическая химия, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры.

BE-NBN, сканирующий электронный микроскоп

NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

British Standards Institution (BSI), сканирующий электронный микроскоп

18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

German Institute for Standardization, сканирующий электронный микроскоп

DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.

International Organization for Standardization (ISO), сканирующий электронный микроскоп

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), сканирующий электронный микроскоп

KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-2019 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь

Association Francaise de Normalisation, сканирующий электронный микроскоп

NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), сканирующий электронный микроскоп

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

American Society for Testing and Materials (ASTM), сканирующий электронный микроскоп

ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Professional Standard - Machinery, сканирующий электронный микроскоп

JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

KR-KS, сканирующий электронный микроскоп

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

GSO, сканирующий электронный микроскоп

GSO ISO 22493:2015 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
BH GSO ISO 22493:2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

SCC, сканирующий электронный микроскоп

BS ISO 22493:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас

Professional Standard - Education, сканирующий электронный микроскоп

JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, сканирующий электронный микроскоп

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.

Professional Standard - Public Safety Standards, сканирующий электронный микроскоп

GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

Professional Standard - Petroleum, сканирующий электронный микроскоп

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

国家能源局, сканирующий электронный микроскоп

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Judicatory, сканирующий электронный микроскоп

SF/T 0139-2023 Исследование почвы сканирующим электронным микроскопом/рентгеновской энергетической спектрометрией

Group Standards of the People's Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ