ZH
EN
ES
сканирующий электронный микроскоп
сканирующий электронный микроскоп, Всего: 8 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к сканирующий электронный микроскоп, являются: Качество воздуха, Аналитическая химия.
British Standards Institution (BSI), сканирующий электронный микроскоп
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
Professional Standard - Commodity Inspection, сканирующий электронный микроскоп
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
American Society for Testing and Materials (ASTM), сканирующий электронный микроскоп
- ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
International Organization for Standardization (ISO), сканирующий электронный микроскоп
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), сканирующий электронный микроскоп
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.