ZH
EN
ES

глубина xps

глубина xps, Всего: 4 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к глубина xps, являются: Аналитическая химия.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, глубина xps

• GB/T 34326-2017 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.

British Standards Institution (BSI), глубина xps

• BS ISO 16531:2020 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.
• 19/30399949 DC BS ISO 16531. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для определения профиля глубины в AES и XPS.

International Organization for Standardization (ISO), глубина xps

• ISO 16531:2013 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Методы выравнивания ионного пучка и связанное с этим измерение тока или плотности тока для профилирования по глубине в AES и XPS.

Другие:   глубина xps, xps+ глубина, Измерение глубины xps, xps измерить глубину, Измерение глубины xps, xps измерить глубину, глубина xps, xps измерить глубину, глубина xps, глубина xps, анализ глубины xps aes, глубина поверхности xps, xps+ глубина поверхности, глубина поверхности xps, анализ глубины xps, глубина поверхности xps, анализ глубины xps, глубина xps, поверхность xps, но глубина, Глубина измерена xps.