ZH
EN
KR
JP
ES
DE

СЭМ электрон

СЭМ электрон, Всего: 13 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к СЭМ электрон, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Качество воздуха.

British Standards Institution (BSI), СЭМ электрон

• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
• BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

GSO, СЭМ электрон

• GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

International Organization for Standardization (ISO), СЭМ электрон

• ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
• ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
• ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, СЭМ электрон

• GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), СЭМ электрон

• KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения

Association Francaise de Normalisation, СЭМ электрон

• NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.

Professional Standard - Public Safety Standards, СЭМ электрон

• GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

American Society for Testing and Materials (ASTM), СЭМ электрон

• ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
• ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ электрон

• DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.

Другие:   СЭМ-ЭДС, СЭМ, Сканирующая электронная микроскопия Электронная спектроскопия, Сканирующая электронная микроскопия - энергетическая спектроскопия, Сканирующая электронная микроскопия Электронная спектроскопия, Электрон СЭМ 55, Электрон для СЭМ, Полевой электронный СЭМ, СЭМ электрон, СЭМ электрон, СЭМ, Сканирующий электронный микроскоп Электронный зонд, электронный зонд, сканирующий электронный микроскоп, Электроны в сканирующем электронном микроскопе, Электроны сканирующего электронного микроскопа, Сканирующая электронная микроскопия Электронный анализ, электронный зонд, сканирующий электронный микроскоп, СЭМ-анализ, Какие электроны обнаруживает сканирующий электронный микроскоп.