ZH
EN
ES

сканирующий электронный микроскоп высокого поля

сканирующий электронный микроскоп высокого поля, Всего: 6 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к сканирующий электронный микроскоп высокого поля, являются: Оптическое оборудование.

American Society for Testing and Materials (ASTM), сканирующий электронный микроскоп высокого поля

ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

工业和信息化部, сканирующий электронный микроскоп высокого поля

SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия